【課題】電子機器本体側で測距時に撮像された測距光の円状パターンにおける輝度が均一で比較的レベルを高くすることによって、制御端末と電子機器本体との距離を高精度に測定する。
【解決手段】撮像デバイス３２を含む電子機器本体（表示装置２およびカメラ部３）と、これを制御するリモートコントローラ４とを有し、リモートコントローラ４は、赤外線ＬＥＤ４１と、赤外線ＬＥＤ４１を外部からの操作に応じて円を描くように回転移動する駆動部４２とを有し、カメラ部３は、撮像デバイス３２の撮影像を画像処理部３３が画像処理することによって、撮影像内で赤外線ＬＥＤ４１の回転移動によるピーク光量部分の軌跡が描く円状パターンの最大径を検出し、最大径に基づいてカメラ部３とリモートコントローラ４との距離を測定する。
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