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Fターム[2F065FF09]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 測定方法 (22,691) | 3角法 (1,730)

Fターム[2F065FF09]に分類される特許

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【課題】撮像部の 内部パラメータと外部パラメータを容易に較正できる車載カメラシステムの較正方法を得ること。
【解決手段】車載カメラシステム1の較正方法は、撮像部307〜310により撮像された画像から予め設定された直線部分を有する認識対象物を認識し、画像から認識対象物の特徴点を抽出し、その特徴点を仮想球面に投影して仮想球面601に形成された特徴点列の形状に基づいて撮像部307〜310の内部パラメータを推定し、推定した内部パラメータを較正するとともに、特徴点に基づいて画像の俯瞰視点を算出し、その算出した俯瞰視点に基づいて撮像部307〜310の外部パラメータを推定し、その推定した外部パラメータを較正することを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】ノイズ光が入射した場合に誤った計測が行われるのを防止して、計測の精度を確保する。
【解決手段】検出用の光を投光する投光部101と、投光された光に対する反射光を受光する受光部102と、変位を計測する計測処理部として機能するCPU10とを具備するセンサ1のCPU10に、受光量の変化を表すパラメータまたは受光量の増減に応じて調整される感度を示すパラメータの値があらかじめ定めた許容範囲に入るか否かを判別する判別手段の機能を付与する。CPU10は、判別対象のパラメータの値が許容範囲に入っていると判別した場合には、計測処理を行って結果を出力するが、判別対象のパラメータの値が許容範囲を逸脱すると判別した場合には、計測結果が出力されないように制御する。 (もっと読む)


【課題】回路規模および演算時間の増大を招くことなくキャリブレーションずれを再補正する。
【解決手段】キャリブレーションによって補正された左右のカメラステレオ平行化後画像間のずれ量を、キャリブレーションずれ再補正部15を含む対応点探索部9による対応点の探索処理中において、キャリブレーションずれ再補正部15によるキャリブレーションずれ再補正処理で得られるデータを用いて再補正する。こうして、距離計測装置1における内部ハードウェアの回路規模および演算時間を増大させることなく計測精度を高めることができる。また、上記右カメラステレオ平行化後画像を上下にずらして、左右のカメラステレオ平行化後画像の上下方向のずれを再補正する。こうして、問題になり易い上下方向のキャリブレーションずれを低減することができる。その際に、対応点の探索を行う際の右カメラステレオ平行化後画像の最適位置を確実に見出すことができる。 (もっと読む)


【課題】物体の形状認識を正確に、かつ、高速に行うことのできる部品実装装置を提供する。
【解決手段】撮像部10と、輝度変化光を斜めから照射する照射部20と、対象物および基準点42を撮像部および照射部に対し第二方向に相対的に移動させて、対象物および基準点を撮像対象領域に対して通過させる移動部40と、基準点データと対象物データとを取得するデータ取得部と、それぞれの撮像のタイミングT1〜T4での基準点位置と基準点基位置との位置ずれを導出する位置ずれ導出部と、それぞれの撮像のタイミングの対象物基位置に対して、導出された位置ずれを加算して得られた対象物の測定部位の位置に対応する輝度値を取得する輝度値取得部と、取得された輝度値に基づいて、位相シフト法による波形を作成する波形作成部とを備える。 (もっと読む)


【課題】特異な輝度を持つ画素に影響されない重心位置算出を行い、変位測定の精度を向上する変位測定方法および変位測定装置を得る。
【解決手段】計測対象1にスリット光3を照射するスリット光照射装置2と、スリット光3を計測対象1に照射することによって生成される光切断線4を撮影するカメラ5と、カメラ5により得られた光切断線像から計測対象1の変位を求める画像処理装置7と、を備え、画像処理装置7は、カメラ5により得られた光切断線像の重心位置演算方向の各画素の輝度を最小二乗法で理想的な輝度分布に近似させた後、さらに輝度値と近似値の差分を用いて重み付き最小二乗法で理想的な輝度分布に再近似させ、その分布の期待値から光切断線像の重心位置を算出して計測対象1の変位を求める。 (もっと読む)


【課題】小型化の3次元形状データ取得装置の光学測定ヘッドを提供する。
【解決手段】投射光学系および撮像光学系は、プリズム型偏光ビームスプリッタ14と、ワイヤーグリッド偏光ビームスプリッタ17と、プリズム型偏光ビームスプリッタ14とワイヤーグリッド偏光ビームスプリッタ17との間に配置される結像光学系15とを有し、MEMS13と撮像手段16は、互いにプリズム型偏光ビームスプリッタ14の偏光分離面を挟み互いに交差する方向に配置され、ワイヤーグリッド偏光ビームスプリッタ17は、MEMS13から出射され結像光学系15を透過した光を透過し、ミラー18により被測定物表面に投射され被測定物表面で反射された光は、ワイヤーグリッド偏光ビームスプリッタ17の偏光分離面で結像光学系15に向けて反射させる構成とし、ワイヤーグリッド偏光ビームスプリッタ17の偏光分離面と、ミラー18の反射面とは互いに非平行とした。 (もっと読む)


【課題】天候及び距離によらず好適に物体までの距離を算出する。
【解決手段】画像処理装置は、取得された第1の車両の前方の画像から、第1の車両の前方の第2の車両の画像を検出する車両検出部と、第1の車両と第2の車両との距離を算出するために必要な複数のパラメータのうち、第2の車両の画像と前方の画像とから取得できないパラメータを判定する状況判定部と、第2の車両の画像と前方の画像とからパラメータを取得し、取得されたパラメータによって第1の車両と第2の車両との距離を算出する少なくとも一つの距離測定部と、を備え、状況判定部が、取得できないパラメータを判定した場合、少なくとも一つの距離測定部は、状況判定部によって判定された取得できないパラメータ以外のパラメータを用いて第1の車両と第2の車両との距離を算出するため、第2の車両の画像と前方の画像とを取得する。 (もっと読む)


【課題】電子部品の電極の導電性積層膜の膜厚を安価な装置で高速に測定する。
【解決手段】絶縁膜1上に上下に積層された導電層2,3(積層膜、例えばNi層およびその上のAu層)からなる半導体基板の電極に対して、段差を触針で測る場合やレーザ光を用いる場合など公知の方法で導電層2,3の厚さ(電極高さ)を測定するステップと、4端針法により電極の表面抵抗を測定するステップとを有し、二つのステップから得られた積層膜の膜厚(電極高さ)と表面抵抗値から、上下に積層した導電層2,3からなる電極の上部皮膜である導電層3の膜厚を計算式から算出する。 (もっと読む)


【課題】基板表面の高さレベルを決定する際のより多くの融通性及び/又は効率的レベルセンサ技術を提供する。
【解決手段】基板W表面の高さレベルを決定するように構成されたレベルセンサであって、基板W上の反射後に測定ビームを受光するように配置された検出ユニットを備え、検出ユニットは、各検出素子が測定エリア81、82、83、84の測定サブエリア8a上に反射した測定ビームの一部を受光するように配置された検出素子のアレイを備え、それぞれの検出素子によって受光された測定ビームの部分に基づいて測定信号を提供するように構成され、処理ユニットは、測定サブエリア8aでの選択された解像度に応じて、測定サブエリア8aの高さレベルを計算し、又は複数の測定サブエリア8aの組合せの高さレベルを計算するように構成された、レベルセンサを提供する。 (もっと読む)


【課題】3次元形状の測定精度をより改善できる3次元形状測定装置を提供すること。
【解決手段】本発明の3次元測定装置は、測定対象物を固定するワークステージと、光源、光源から照射された光を透過させる格子及び格子の格子イメージを測定対象物に結像させる投影レンズを含み、測定対象物に対して格子イメージを第1方向にN回入射した後、測定対象物に格子イメージを第2方向にN’回入射する投影部と(N及びN’は2以上の自然数)、結像レンズ及びカメラを含み、測定対象物によって反射される第1方向反射イメージ及び第2方向反射イメージを受信するイメージ取り込み装置と、イメージ取り込み装置に受信された第1方向反射イメージ及び第2方向反射イメージを用いて測定対象物の影領域を補償して測定対象物の3次元状態を算出する制御部と、を含む。 (もっと読む)


【課題】単眼ステレオ視に基づく運動量推定を実施するに当たり、演算負荷を軽減しつつ、運動量及び三次元座標を高精度に算出する方法を提供する。
【解決手段】単眼カメラによって撮像された画像を用いるステレオ視に基づく運動量推定を行うに当たり、個々のオプティカルフローの向きを考慮して、異なる向きを有するオプティカルフローを形成する特徴点を効率的にサンプリングして基礎行列の算出に用いる。具体的には、基礎行列の算出に用いるオプティカルフローを形成する特徴点のサンプリングにおいて、サンプリングされた特徴点をオプティカルフローの向きに基づいて所定数のグループに振り分け、複数の特徴点が振り分けられたグループについては特徴点を1つに収束させ、特徴点が振り分けられなかったグループについては改めて特徴点を選択する処理を繰り返して、全てのグループに特徴点が1個ずつ属する状態とし、これらの特徴点に基づいて基礎行列を算出する。 (もっと読む)


【課題】計測精度を向上する。
【解決手段】形状測定装置は、光源からの光に照らされている被検物を撮像する撮像素子と、撮像素子の受光面(A17)と共役な共役面(A0)を受光面と非平行になるように形成する結像光学系と、撮像素子による撮像の結果から光に照らされている部分の像の位置を検出することにより、被検物の形状に関する情報を取得する形状情報取得部と、を備える。結像光学系は、像を形成する光束が通る範囲において、受光面を含む面と共役面を含む面との交線に直交する直交面上の像面の略中心と物体面の略中心とを直線で結んだときの軸に関して断面形状が非対称であり、かつ交線から最も遠い部分と、交線から最も近い部分とについて、遠い部分から近い部分に向うにつれて直交面上の断面形状の寸法が縮小又は拡大するレンズ要素(52、53)を含むレンズ群(50)を有する。 (もっと読む)


【課題】補正用治具の交換なしに形状測定装置の組み付け誤差をX方向、Y方向、θ方向のすべてについて補正できるようにする。
【解決手段】ワーク支持部1と、これに支持されたワークの外周縁にレーザ光を照射し、そこからの反射光を受光して測定データを出力するレーザ変位計2と、ワーク支持部1をX方向に直線移動させるX方向移動部4と、ワーク支持部1をY方向に直線移動させるY方向移動部5と、ワークをθ方向に回転移動させるθ方向移動部6と、を備える形状測定装置の組み付け誤差を補正する場合に、X方向およびY方向の組み付け誤差を補正するための円弧状の外周縁と、θ方向の組み付け誤差を補正するための直線状の外周縁を有する補正用治具を用いる。 (もっと読む)


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