【課題】 液晶パネルのセル厚分布を全体的に把握できるとともに、セル厚の基準値に対するずれ量（差異）を容易に把握できる測定方法及び測定装置を提供する。
【解決手段】 ＣＣＤカメラ２４は偏光板２３から射出される透過光を受けて所定のカラー画像を取得し、このカラー画像データをコンピュータ装置２６に送出する。コンピュータ装置２６は、あらかじめＲＯＭやハードディスク等に格納されたデータ処理プログラムを実行することにより、ＣＣＤカメラ２４から出力されたカラー画像データに演算処理を加えて後述するセル厚相関データに変換し、このセル厚相関データを用いて変換画像をモニタ２７に出力する。 （もっと読む）

【課題】 照明変化や背景変化等の影響が及びにくくして、メータの指針の検査が容易にできるようにした。
【解決手段】 電流計や電圧計等の計測器本体１１はＸ，Ｙ移動機構に載置されて横方向Ｘ、縦方向Ｙに移動されるように構成される。計測器本体１１の指針部分と目盛りなどの背景部分は、カラービデオカメラ１２で観測撮影され、撮影されたビデオ信号は画像処理装置１３に入力される。この画像処理装置１３では、入力されたビデオ信号から背景部分や指針部分の画像処理が行われる。画像処理装置１３で処理された画像処理信号は、色抽出部１４に入力される。この色抽出部１４では、指針部分と背景部分との識別化をＵＣＳ色度図と呼ばれる色表現方法を利用して行う。その後、指針部分だけを判定部１５で判定して抽出する。 （もっと読む）

【課題】 液晶分子が存在する液晶層のみのリタデーション（ｄＬＣ・△ｎ）を求めることができ、セル厚を求めることができる液晶表示装置、そのセル厚測定装置及び測定法並びに位相差板を提供する。
【解決手段】 液晶領域中の液晶分子が電圧無印加時に略垂直に配向する液晶層と、液晶層を挾持する１対の基板と、を備える液晶表示装置の液晶セル５の厚さを測定するセル厚測定装置において、面内にリタデーションを有する１対の１軸性位相差板をその遅相軸方向をそろえて両外側表面に取付けた液晶セルを搭載するステージ１と、偏光子２３を有し、かつ、位相差板の遅相軸方向に対して方位角方向４４°〜４６°の偏光光を出射する光源２と、偏光光に対して偏光子とクロスニコルに配設された検光子３１を有し、かつ、偏光光の透過光量を検出する光検出器３と、位相差板に垂直な方向から偏光光の極角方向入射角を変化させる回転装置４と、を備える。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、白ねぎのぼけ部の端部の検出を定量的に行うことができる白ねぎのぼけ部検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 白ねぎ３を拡散照明する蛍光管７および拡散板８と、赤外線を吸収し青色の光のみ透過する光学フィルタ４と、拡散照明された白ねぎ３の反射光を光学フィルタ４を介して入力し、白ねぎのぼけ部３Ｂおよびその近傍を撮影するＣＣＤカメラ５と、ＣＣＤカメラ５の画像信号により、白ねぎの軟白部３Ａよりぼけ部３Ｂに移るぼけ部端部を検出する検出装置11を備える。この構成によれば、ぼけ部３Ｂの輝度データから、常に同一のしきい値によりぼけ部３Ｂの端部が検出されることにより、選別過程で等級選別に大きく係る軟白部３Ａの長さＬが自動で定量的に検出され、人間の主観に依存することなく、均一な白ねぎ３の等級の判定が可能となり、白ねぎ３の品質を安定して均一に維持できる。 （もっと読む）

【課題】 被写体や照明光の影響を受けることなく、正確な３次元情報の入力が可能である３次元情報入力カメラを提供する。
【解決手段】 ３次元情報入力カメラは、被写体または照明光についての撮影条件を検出する撮影条件検出手段を備える。投影手段１は、２種以上のパターン光を選択可能に投影できるように構成される。投影手段１は、撮影条件検出手段による被写体または照明光についての撮影条件検出結果に基づいて、投影するパターン光の種類を選択して投影する。 （もっと読む）

【課題】ディスク収納ユニットを精度よく、しかも容易に測定できるディスク収納ユニットの寸法測定装置を提供する。
【解決手段】複数枚のディスク収納棚で構成されたディスク収納ユニットの寸法測定装置において、ディスク収納ユニットを水平に保持する保持手段と、ディスク収納ユニットにおける複数枚のディスク収納棚の先端部の水平部を撮像するＣＣＤカメラと、ＣＣＤカメラを固定する固定部と、固定部を上下方向へ移動させる移動手段と、固定部の移動距離を表示する表示手段とを有する測定器と、ＣＣＤカメラの映像をコントロールするコントロールユニットと、ＣＣＤカメラの映像を表示する画面を有し、画面の略中央部に基準線が設けられた映像表示部とからなり、ＣＣＤカメラを移動させ基準線と先端部との距離関係を映像表示部に表示してなることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 インラインでカラーフィルターの画素幅を測定することができる、カラーフィルターの画素幅測定方法を提供すること。
【解決手段】 カラーフィルターの基板上に赤色、緑色、青色の各色の着色画素を順次形成する際に、画素領域の外側に、画素幅測定用のダミー画素のパターンを、各ダミー画素が重ならないように間隔をあけて形成し、各ダミー画素の幅を測定することにより、前記各色の着色画素の幅を測定する。 （もっと読む）

【課題】 電子部品のパッケージの撮影画像に含まれるむらや捺印文字等の影響を受けず、真の欠陥のみを確実に判別できる、電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体を提供する。
【解決手段】 撮像手段１０３と、撮影した画像を複数の単位領域に分割して、各単位領域毎に、撮影した画像の濃淡レベルの分布をそれぞれ求める手段１０６と、各単位領域内における濃淡レベルの分布中、最多頻度の濃淡レベルから予め設定されたオフセット値を差し引いて、各単位領域における二値化レベルを求める手段１０７と、撮影した画像の各座標における二値化レベルを、各単位領域における二値化レベルに基づいて補間演算により求める手段１０８と、撮影した画像の各座標における各濃淡レベルと、求めた二値化レベルとを比較して、欠陥の存在を判定する二値化手段１０７とを具備する。 （もっと読む）

少なくとも一つの三次元座標系（５；２４）内の本体（３６）の位置と方向を検出する装置であり、この装置は、Ａ）位置検出センサー（１）；およびＢ）少なくとも一つの座標系（５；２４；２６）内で本体（３６）の位置と方向を算定するために位置検出センサー（１）へ接続したコンピュータ（８）を含み、Ｃ）前記装置は重力ベクトル（１９）の方向を算定する補助手段（２５）を含む。重力または地球の磁場に関連した影響から生ずる欠陥に関して磁気光学Ｘ線写真（３５）を修正する方法であり、この方法は以下の段階：ａ）重力ベクトル（１９）の方向を検出する段階；ｂ）Ｘ線器械（２８）の位置と方向を算定する段階；ｃ）重力により引き起こされたＸ線器械（２８）の機械的変形によるＸ線写真（３５）のゆがみを算定する段階；ｄ）地球の局所的磁場により引き起こされたＸ線写真（３５）の欠陥を算定する段階；ｅ）受像機（２９）に生成するＸ線写真（３５）の光学的変形を算定する段階；およびｆ）コンピュータ（８）を用いて、段階ｃ）、ｄ）およびｅ）で算定された欠陥に関してデジタル化したＸ線写真を修正する段階を含む。 （もっと読む）

高周波成分をＳ₁＝ｃｏｓ（ω・ｔ）と理想化できる変調された周期的波形を有する光エネルギーを放射してターゲットを照射することにより、距離及び／または輝度を測る、好ましくはＣＭＯＳで実施可能な方法とシステム。放射された光エネルギーの一部分は、ターゲットにより反射され、複数の半導体光検出器のうち少なくとも一つにより検出される。光検出器の量子効率は、検出した信号を処理してターゲットと光検出器を隔てる距離ｚに比例するデータを作り出すために変調されている。検出は、放射された光エネルギーと反射された光エネルギーの一部分の間の位相変化の測定することを含む。量子効率は固定位相法または可変位相法により変調でき、高められた光電荷収集、差動変調、空間的マルチプレクシング及び時間的マルチプレクシングを用いて高めることができる。光検出器の容量と動作周波数において共振するインダクターを使って、本システムの必要電力条件を削減することもできる。本システムはチップ上の光検出器、関連エレクトロニクス、処理を含む。 （もっと読む）