【課題】１本の伝送路で複数本の光ファイバを使用する状況においても、光スイッチを用いることなく、複数本の光ファイバのＦＢＧセンサを計測可能なＦＢＧセンサの多点計測方法および装置を提供する。
【解決手段】ＦＢＧセンサの多点計測装置において、コアに回折格子を形成した光ファイバ４と、広帯域波長光源９と、この光源からの光のうち、光ファイバ４に入射する光の時間を制御する光源側光変調器１０と、この光変調器からの出射光を入射して、光ファイバ４の回折格子からの反射光を透過する時間を制御する検出側光変調器１２と、この光変調器からの反射光を検出して得られた信号を処理して光ファイバ４からの信号を分離する波長移動量算出器１４と、この算出器の結果から被測定物の変形量を算出する温度・歪み算出器１５と、この被測定物の変形量に関する情報を表示する表示部１６とを有する。 （もっと読む）

【課題】半導体レーザ素子の共振端面の角度を容易に且つ精度良く測定することができる方法を提供する。
【解決手段】光導波路の光導波方向と交差する方向に並んだ複数の半導体レーザ素子を含む半導体レーザバー２を、共振端面２ａが所定の基準線２１ｂに沿うようにステージ２１の基準面２１ａ上に固定し、半導体レーザバー２の複数の半導体レーザ素子の共振端面からレーザ光Ｌａを出射させ、レーザ光ＬａのＦＦＰを測定し、ＦＦＰのピーク位置により定まるレーザ光Ｌａの出射方向と、所定の基準線２１ｂ及び基準面２１ａとの相対角度から、半導体レーザ素子の共振端面の角度を算出する。 （もっと読む）

【課題】ガラス基板の表面不良の判定時間を減らし、ＮＧの可能性の高い表面不良のみを検査員に提供して検査の集中度を極大化させる。
【解決手段】表面不良検査装置は、ガラス基板１の上方にそれぞれ配置され、ガラス基板表面不良に対する第１イメージおよび第２イメージをそれぞれ撮影する撮像装置１０および２０と、ガラス基板１の下方に配置され、撮像装置１０、２０側にガラス基板１を透過する暗視野照明装置３０と、第１イメージ上の不良の位置座標と、第２イメージ上の不良の位置座標とを演算する検出信号処理部４０とを備えている。ガラス基板上面に対する撮像装置１０、２０の撮影領域Ｐ１は互いに重ね合わされ、ガラス基板下面に対する撮像装置１０、２０の撮影領域Ｐ２、Ｐ３は、互いに異なるように構成されている。 （もっと読む）

【課題】広い範囲にわたって対象物体の位置を高い精度で検出することのできる光学式位置検出装置、および入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置１０の検出対象空間１０Ｒは、受発光ユニット１５Ａおよび受発光ユニット１５Ｂによる検出対象空間１０Ｒabと、受発光ユニット１５Ｃおよび受発光ユニット１５Ｄによる検出対象空間１０Ｒcdとに分割されている。受発光ユニット１５Ｂ、１５ＣはＺ軸方向で重なっており、受発光ユニット１５Ｂの受光素子１３Ｂと受発光ユニット１５Ｃの受光素子１３Ｃは、受光面を異なる方向に向けてＺ軸方向で重なるように配置されている。 （もっと読む）

【課題】ベルトの深さ方向の傷の検出精度を向上させるベルト検査装置を提供する。
【解決手段】所定方向に形成された内側平坦部２０及び外側平坦部２２と、湾曲側部２９ａ、２９ｂとを輪郭とする略矩形断面を呈する薄型金属ベルト１８の表面に存在する傷を検査するベルト検査装置３０であって、内側平坦部２０側から照明光を湾曲側部２９ａ、２９ｂに出力する赤色光源４８、５０と、外側平坦部２２側から、前記湾曲側部によって反射された照明光を撮影するカラーカメラ４０、４２と、カラーカメラ４０、４２が照明光を撮影した画像に基づいて薄型金属ベルト１８の表面状態を判定する表面状態判定部７８とを備え、表面状態判定部７８は、撮影された照明光の幅を計測し、該照明光の幅に基づいて、薄型金属ベルト１８に、所定方向を深さ方向とする傷があるか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】光源部からの指示部材の距離にかかわらず、受光素子からの出力を適正なレベルに設定することのできる位置検出システム、および入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】位置検出システム１において、指示部材Ｏｂの外周面には再帰反射部Ｓｂが設けられている。光源部１２は、基準面４１ａに平行な仮想面Ｐ１２に沿って検出光Ｌ２を出射する。受光素子１３は、仮想面Ｐ１２よりＺ軸方向の一方側Ｚ１において、受光面１３０に対する法線方向Ｌ１３０が基準面４１ａに交差するように配置されている。指示部材Ｏｂと光源部１２との距離が長い場合には、短い場合に比して、再帰反射部Ｓｂで反射した光が受光素子１３の受光面１３０に効率よく入射する。 （もっと読む）

【課題】管内面の状態や寸法によらずに管内面を検査することができる管内面検査装置およびその検査方法を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態は、管２内面の検査箇所にパターンを有するパターン光Ｐ１を管２内面の周方向にわたって投影する投影手段１１と、検査箇所に投影され反射されたパターン光を反射パターン光Ｐ２として投影する表示手段１２と、反射パターン光Ｐ２の形状を観測する観測手段１３とを備える。 （もっと読む）

【課題】検出空間を拡張した場合でも、装置を大型化せずに対象物体の位置を精度よく検出することができる光学式位置検出装置、および入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置１０では、光源部１２から検出光を出射した際、受光部１３は対象物体Ｏｂからの反射光を第１受光素子１３１および第２受光素子１３２で受光する。第１受光素子１３１および第２受光素子１３２は、第１受光素子１３１の受光面１３１ａに対する法線方向と第２受光素子１３２の受光面１３２ａに対する法線方向との交差角度θｃが９０°を超え、１８０°未満となる値、好ましくは、１２０°を超え、１４０°未満となる値に設定されている。 （もっと読む）

【課題】対象物体からの反射光を複数の受光素子で受光した際に各受光素子からの出力レベルの高低にかかわらず、対象物体の位置を精度よく検出することができる光学式位置検出装置、および入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置１０では、光源部１２から検出光を出射した際、受光部１３は対象物体Ｏｂからの反射光を第１受光素子１３１および第２受光素子１３２で受光する。信号処理部７１は、第１受光素子１３１および第２受光素子１３２から出力された信号を加算した加算信号を位置検出部５０に検出用信号として出力する際、加算出力が閾値以下のときには加算出力に第１倍率を乗じたレベルの信号を検出用信号として出力し、加算出力が閾値を超えるときには加算出力に第１倍率より小さな第２倍率を乗じたレベルの信号を検出用信号として出力する。 （もっと読む）

【課題】計測に適した条件であるかを短時間で判定できる内視鏡装置および計測方法を提供する。
【解決手段】本発明の内視鏡装置１は、第一光源４１からの照明光の出射状態を所定の周期で変化させ、第一光源４１から照明光が出射されている状態では第二光源５１からの投影光の出射を停止させ、第一光源４１からの照明光の出射が停止されている状態では第二光源５１から投影光を出射させ、照明光により被検物が照明された明視野画像を第一光源４１から照明光が出射されている状態で撮像部３０に取得させ、被検物に縞パターンが投影されたパターン投影画像を投影光が出射されている状態で撮像部３０に取得させ、撮像部３０が取得したパターン投影画像を用いて被検物の三次元形状を計測し、パターン画像を用いた計測によって得られた情報を明視野画像とともにモニター２８に表示させるメイン制御部２２を備える。 （もっと読む）

【課題】受光素子が指向性を有している場合でも、検出範囲を広く設定することのできる光学式位置検出装置、および入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置において、受光部１３は、受光素子１３０と、受光素子１３０に対する反射光Ｌ３の入射角度範囲を狭める入射角変換部１４とを備え、入射角変換部１４は、入射部１４８、第１反射面１４１、第２反射面１４２、および第３反射面１４３を備えた入射角変換用導光路１４０を有している。このため、対象物体Ｏｂで反射した検出光Ｌ２（反射光Ｌ３）は、入射部１４８から入射した後、第１反射面１４１と第２反射面１４２との間で反射を繰り返しながらＸＹ平面に沿って第１反射面１４１と第２反射面１４２との間で進行し、その後、第３反射面１４３でＺ軸方向に反射して、受光素子１３０の受光面１３１に入射する。このため、受光面１３１に対する入射角度が狭い。 （もっと読む）

【課題】広い範囲にわたって対象物体の三次元的な位置を光学的に検出することのできる光学式位置検出装置、光学式位置検出システム、および入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置１０において、第１光源モジュール１２６および第２光源モジュール１２７によって、検出光Ｌ２の放射角度範囲において強度が変化する光強度分布を形成した際の受光部１３の受光強度に基づいて対象物体ＯｂのＸＹ座標を検出する。第１光源モジュール１２６および第２光源モジュール１２７は、Ｚ軸方向で離間しており、検出光Ｌ２の放射角度範囲において強度が一定の光強度分布を形成した際の受光部１３の受光強度に基づいてＺ軸方向における対象物体Ｏｂの位置を検出する。 （もっと読む）

【課題】検出光が対象物体以外の物体で反射して受光部に入射することに起因する検出誤差の発生を防止することのできる位置検出装置、該位置検出装置を備えた入力機能付き表示システム、および位置検出方法を提供すること。
【解決手段】位置検出装置１０において、位置検出の際、受光部１３は、対象物体Ｏｂで反射した検出光Ｌ２を受光するとともに、検出光Ｌ２が対象物体以外の物体Ｓｂで反射した検出光（迷光Ｌ５）も受光する。ここで、迷光Ｌ５の強度は、検出光Ｌ２の強度に比例する。そこで、検出対象空間１０Ｒを介さずに受光部１３に入射する補償光Ｌ４を出射する補償用光源部１４を設け、検出光Ｌ２の強度を増大させたときには、補償光Ｌ４の強度を低減し、検出光Ｌ２の強度を低減させたときには、補償光Ｌ４の強度を増大させる。 （もっと読む）

【課題】受光素子に対する電気ノイズに対する影響を阻止することにより、誤検出の発生を防止することのできる光学式位置検出装置、および当該光学式位置検出装置を備えた入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置において、受光部１３は、検出光が放射状に出射された検出対象空間に位置する対象物体で反射した検出光を受光する。受光部１３には、受光素子１３０の受光面１３１を部分的に覆うシールド部材１４が設けられている。シールド部材１４において、入射部１４０は、受光面１３１に対する法線方向から一方側および反対側に傾くに伴って幅広になっている。従って、受光素子１３０での受光強度は、受光面１３１に対する法線方向から入射した検出光と、受光面１３１に対する法線方向から傾いた斜め方向から入射した検出光とにおいて差が小さい。 （もっと読む）

【課題】受光部に対する電気ノイズに対する影響を阻止することにより、誤検出の発生を防止することのできる光学式位置検出装置、および当該光学式位置検出装置を備えた入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置１０において、制御用ＩＣ７０が第１駆動ライン１２５Ａおよび第２駆動ライン１２５Ｂを介して光源部１２に高周波数の駆動パルスを順次供給すると、光源部１２からは検出光Ｌ２が放射状に出射される。その際、受光部１３は、検出光Ｌ２が出射された検出対象空間１０Ｒに位置する対象物体Ｏｂで反射した検出光Ｌ２を受光する。光学式位置検出装置１０には、受光部１３を複数の光源１２０、駆動ライン（第１駆動ライン１２５Ａ、第２駆動ライン１２５Ｂ）、および制御用ＩＣ７０から電気的にシールドするシールド部材１６が設けられている。 （もっと読む）

【課題】広い範囲にわたって対象物体の三次元的な位置を光学的に検出することのできる光学式位置検出装置、および入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置１０において、光源部１２が検出光Ｌ２をＸＹ面に沿って放射状に出射した際、第１受光部１３は、検出対象空間１０Ｒに位置する対象物体Ｏｂで反射された検出光Ｌ２を受光し、第１受光部１３での受光強度に基づいて対象物体ＯｂのＸＹ座標データを検出する。第１受光部１３に対してＺ軸方向で離間する位置には第２受光部１４が設けられ、かかる第２受光部１４も、対象物体Ｏｂで反射された検出光Ｌ２を受光する。その際、第１受光部１３での受光強度と、第２受光部１４での受光強度との差や比等の比較結果は、対象物体ＯｂのＺ軸方向の位置によって変化するので、かかる比較結果に基づいて対象物体ＯｂのＺ軸方向の位置を検出する。 （もっと読む）

【課題】観察対象物の表面の３次元ビューを表示し、表面の凹凸、寸法を取得する方法及び装置を提供する。
【解決手段】複数の表面点の第１の座標系における３次元座標を決定し、観察対象物の表面の複数の測定点を選択し、複数の測定点のうちの１つまたは複数に隣接した複数の表面点のうちの３つ以上の第１の座標系における３次元座標に基づいて基準表面２５０を決定し、基準表面および複数の測定点に基づいて第１の座標系とは異なる第２の座標系を設け、複数の表面点の第１の座標系における３次元座標を第２の座標系における３次元座標に変換し、複数の測定点に基づいて、観察対象物２０２の表面２１０の対象領域２６２内である複数の表面点のサブセットを決定し、第２の座標系の３次元座標に複数の表面点のサブセットの描画された３次元ビューを表示する。 （もっと読む）

【課題】 プローブの伸び、及び周辺空気の温度、湿度の影響を抑えた高精度な形状測定を行うことのできる形状測定用の接触式プローブおよび形状測定装置を提供する。
【解決手段】 プローブシャフト２と先端球１６を備えた接触式プローブ１において、
前記プローブシャフト２内の測長光路の少なくとも一部に透明体を設けることにより、少なくともこの部分だけ空気に暴露された光路を減らすことができる。その結果、外気の屈折率変化による測定誤差を抑え、精度を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】対象物の位置に応じて効率良く位置検出ができる光学式位置検出装置、電子機器及び表示装置等を提供する。
【解決手段】光学式位置検出装置は、Ｘ−Ｙ平面に沿って設定される検出エリアＲＤＥＴに照射光ＬＴを射出する光射出部３と、検出エリアＲＤＥＴにおいて照射光ＬＴが対象物ＯＢに反射したことによる反射光ＬＲを受光する受光部４と、受光部４の受光結果に基づいて、対象物ＯＢの位置情報を検出する検出部５０とを含む。光射出部３は、Ｘ−Ｙ平面に直交するＺ軸での対象物ＯＢのＺ座標位置に応じて、受光部４が検出する位置情報の検出精度を異ならせるように照射光ＬＴを射出する。 （もっと読む）