【課題】 受光素子の受光面上における干渉光の位置ずれに基づく撮影画像の画質の低下を抑え、従来の調整機構では解消できなかったレベルでの感度調整を行うことができ、好適で信頼度の高い断層画像や光学表面プロファイルを得ることのできる眼科撮影装置を提供する。
【解決手段】 キャリブレーション用の光束を分光光学系に導光する導光手段と、キャリブレーション用の光束を干渉させるための光学部材と、キャリブレーション用の光束を受光手段に受光させることによって得られる分光情報に基づいて導光手段からのキャリブレーション用の光束の出射位置と受光手段との相対的な位置関係を調整する調整手段と、調整手段によって相対的な位置関係が調整された後の受光手段にて得られる干渉されたキャリブレーション用の光束の分光情報に基づいて，受光手段の各画素に対する各波長成分の分布状態を補正するための補正情報を演算により求める演算手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】ワークに施された溝または穴の断面形状を高精度に検出することができる断面形状測定装置を提供する。
【解決手段】白色光を発する光源１０１と、白色光に含まれる各波長をそれぞれ集光して、溝２に向かう光軸上に複数の集光点を形成する色収差レンズ１０２と、色収差レンズ１０２とワーク１とを溝２に交差する方向に相対的に移動させる移動手段と、移動手段によって色収差レンズ１０２とワーク１とを溝２に交差する方向に相対的に移動させながら色収差レンズ１０２で溝２に光を集光させたときに、溝２の表面で反射した反射光に基づいて溝２の断面形状を測定する測定手段１２０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】光ファイバ式岩盤内変位計システムにおいて、比較的小口径のボーリング孔内に多段に変位計を設置することができるようにする。
【解決手段】地盤に形成したボーリング孔１の浅い領域に複数段に設置した浅部用アンカー３ａ〜８ａと、深い領域に複数段に設置した深部用アンカー９ａ〜１４ａと、ボーリング孔の開口部に設置されて浅部用アンカーに先端部分が結合され浅部用アンカーの変位に応じて進退する変位伝達ロッド３ｂ〜８ｂの基端部分に結合され浅部用アンカーの変位量を検出する変位量検出センサーユニット３ｃ〜８ｃと、深部用アンカーの側近に設置され深部用アンカーの変位量を検出する深部用変位計９〜１４を備え、変位伝達ロッドは、各変位伝達ロッド毎にそれぞれに専用の小口径の保護シース３ｄ〜８ｄによって１本ずつ包囲することにより変位伝達ロッドの変位がボーリング孔内に充填されるグラウト材１６によって阻害されないように構成する。 （もっと読む）

【課題】動的明条件の影響を受けることがより少なく、及び／又は三次元の対象物の動き及び／又は存在に対する感度がより高い対象物検出システムを提供する。
【解決手段】１つ又はそれより多いパターンを監視範囲上に投影し、当該監視範囲の１つ又はそれより多い生の像を捕捉し、且つ生の像内の１つ又はそれより多いパターンの変化を検出する。パターンの変化は、監視範囲内の地形的変化を、従って監視範囲内の対象物の侵入又は動きを指示し得る。パターンが監視範囲上に投影されるので、周囲の照明条件の変化は、対象物検出システムの効力への影響がより少ない。監視範囲内の対象物を検出するのを支援するため、モアレ干渉パターンが用いられる。モアレ干渉パターンは特に、そのモアレ干渉パターンを生成するのに用いられる２つ又はそれより多い基となるパターン間の相対的動きに対して感度が高い。 （もっと読む）

【課題】被検知物の存在、方向、または距離だけでなく、形状や大きさをも検知することができる超小型物体検知装置を提供する。
【解決手段】物体検知装置１は、発光素子３と、これから照射された光を線状光に変換する回折光学素子４とを回転させる回転駆動手段と、前記線状光をその線方向と直交する方向に走査することによって形成される検知領域にある被検知物から反射された反射光を受けて反射光のパターンを生成する撮像素子５と、前記撮像素子により生成された前記反射光のパターンから前記被検知物の存在、その方向、形状又は大きさを検知する検知回路６とを備える。 （もっと読む）

【課題】光ファイバに対して安定的に圧力を付与し、光ファイバを通過する光の偏光状態の経時的変動を抑える。
【解決手段】偏光コントローラ１０００は、回転部１０２０の平面部１０２１とブロック１０３０の平面部１０３２とを光ファイバ２０００に当接させ、調整ネジ１１００によって回転部１０２０とブロック１０３０とを相対的に移動させることにより、平面部１０２１と平面部１０３２との間隔を変更して光ファイバ２０００に圧力を印加する。更に、偏光コントローラ１０００は、サブファイバ３０００を有している。サブファイバ３０００は、平面部１０２１と平面部１０３２との間に配置され、光ファイバ２０００と略等しい径を有する。 （もっと読む）

【課題】駅の直ぐ先の踏切の警報時間を適正化して踏切の混雑を緩和する。
【解決手段】列車進行方向に出発信号機１４と踏切１３の存在する駅１２を通っている軌道１１に関連する鉄道設備の一部として設けられ出発信号機１４の現示と踏切１３の警報に係る制御を行う踏切警報適正化システムに、軌道１１のうち列車重量に感応して歪む部位に設置されている光ファイバセンサ（３２）を介して軌道歪情報（Ｓ１，Ｓ２）を取得する軌道歪検出装置３０と、その軌道歪情報に基づいて駅１２への列車進来時に列車停止位置（Ｐ１，Ｐ２）を検知する列車停止位置検知手段４１と、踏切１３での踏切警報継続時間を安定させるよう列車停止位置に応じて出発信号機１４の現示時素を調整する出発信号機現示時素調整手段４２，４３とを設ける。 （もっと読む）

【課題】画像のつなぎ合わせの処理が簡便で、感度、分解能などにばらつきが少ないＯＣＴ像を、高速に取得することが可能となる光断層画像の撮像方法等を提供する。
【解決手段】被検査物の断層画像を撮像する光断層画像の撮像方法であって、
走査光学系により同一方向に走査される前記複数の光からなる測定光の各スポットによる走査領域の走査方向に垂直な方向の大きさが、
各スポットのそれぞれを合計した大きさよりも小さくなるようにして、複数の光からなる測定光の各スポットを同一方向に走査し、被検査物の異なるスポット位置に照射する工程と、
前記複数の光からなる測定光による戻り光と、参照ミラーによって反射された前記複数の光からなる参照光と、による干渉信号を検出する工程と、
該検出された少なくとも２つのスポットによる干渉信号を用い、各スポットの位置ずれ量を元にして演算処理し、信号雑音比を向上させる信号処理工程と、を有する。 （もっと読む）

【課題】
光ビームの位相シフトを高速に行う方法及び装置について記述する。
【解決手段】
異なる光学的厚さを持った複数の領域を備える透明プレートを、当該領域に延びる入射経路に沿って移動する前記光ビームにより照明する。前記透明プレートを移動させるか、又は前記光ビームを偏向させることにより、入射経路を生成する。前記透明プレートを出射する前記光ビームは、当該光ビームが入射した領域に応じた瞬間位相値を持つ。好ましくは、前記位相値は、再現性があり、対応する領域内における光ビームの入射位置にかかわらず安定しており、かつ、高速な変調速度で位相変化を発生させることができる。本方法及び装置は、干渉縞投影システムなどにおいて、一対のコヒーレント光ビームの位相差を変調するのに用いることができる。 （もっと読む）

【課題】空気入りタイヤを構成する各所の歪みを状況や目的に合わせて検出すること。
【解決手段】伸縮により光の反射波長が変化する回折格子部９２が形成された光ファイバ９を内部に埋設した空気入りタイヤ１において、複数のコードを有するビードコア５１、カーカス層６、ベルト層７およびベルト補強層８などの構造体について、コードの少なくとも１つを光ファイバ９に置換する。かかる空気入りタイヤ１によれば、構造体のコードの少なくとも１つを光ファイバ９に置換したことで、構造体に生じる歪みや温度の変化を状況や目的に合わせて検出できる。 （もっと読む）

周波数走査型干渉計(１０)が検査対象物(１２)の広い推定オフセット範囲にわたる多重表面(１４,１５,１６)を同時に測定するために構成される。合成測定波長(λ_実効)に基づくアンビギュイティインターバル(Ｕ)内の中心に検査表面をおくために、検査表面の推定位置の知見が一連のアンビギュイティインターバルと比較される。
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【課題】ゾーンフォーカスにより深さ方向に画像を分割取得するに際し、複数のフォーカス位置への合焦時間の短縮化を図ることが可能となる光断層画像撮像装置を提供する。
【解決手段】所定の撮像深さ範囲内を複数のフォーカスゾーンに分け、複数のフォーカス位置を設定するフォーカス位置設定手段と、
前記所定の撮像深さ範囲内で、該撮像深さ方向の基準位置を少なくとも２つ以上設定する基準位置設定手段と、
前記フォーカス位置設定手段によるフォーカス位置情報と、前記基準位置設定手段により予め設定された２つ以上の基準位置での合焦時の合焦条件を元にして、前記複数のフォーカス位置で順次合焦が行われるように制御するフォーカス制御手段と、
を有する構成とする。 （もっと読む）

【課題】被検査物の移動部位が前記測定光の光軸方向に移動した位置情報を検出するに際し、精度を劣化させず、装置の簡素化と低価格化を図ることが可能な光断層画像撮像装置を提供する。
【解決手段】被検査物によって反射あるいは散乱された測定光による戻り光と、参照ミラーによって反射された参照光とを用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、
参照ミラーの反射位置を制御する反射位置制御手段と、
照明用の光学系によって照明された被検査物の移動部位を、シャインプルーフの原理に基づいてエリアセンサに結像させて観察する移動部位観察用の光学系を備え、該移動部位が前記測定光の光軸方向に移動した際の位置情報を検出する移動部位の位置検出手段と、
移動部位の位置検出手段によって検出された位置情報を元に、前記反射位置制御手段を駆動して参照光の光路長を制御する手段と、を有する構成とする。 （もっと読む）

本発明は光路長差判定及び光干渉断層撮影の方法に関し、次の各工程、つまり、空間単一モードにて発光するか、適切な手段（Ｆ）により発光が空間単一モードに制限される光源（ＳＱ、ＢＱ）により空間コヒーレントな光を発生させる工程と、前記光源からの光の少なくとも一部を２つの空間的に離れた光路に分割する工程と、少なくとも２つの検出器（Ｄ）か少なくとも２つの検出素子（Ｄ）を有する１つの検出器（Ｄ、Ａ）及び光線を誘導するための他の手段（Ｓ、Ｔ、ＢＰ、Ｆ、Ｑ、Ｌ、Ｇ、Ｚ）を用い、参照光路及び測定光路の光を検出器／検出素子（Ｄ）に導いて干渉させる工程と、検出器／検出素子（Ｄ）における光強度を受け取り分析してデータセットを得る工程と、データセットの数値的分析及び表示を行い、試料（Ｐ）又は試料（Ｐ）内の構造における空間的位置及び反射又は散乱の強度の両方を求める工程とを有する。
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【課題】被検査物の所定の部位における測定感度及び横分解能が高く、簡単な構成の光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法を提供する。
【解決手段】光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、前記測定光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、
前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像撮像装置であって、
前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、
前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段と、
前記被検査物の撮像を予定する部位に関し予め取得された情報に基づいて、前記光路長調整手段と前記位置調整手段とを制御する制御手段と、を有する構成とする。 （もっと読む）

【課題】チャックテーブルに載置された被加工物の上面高さ位置を広範囲に渡って同時に計測することができる高さ位置計測装置を提供する。
【解決手段】高さ位置検出手段７は多波長光源７１と、多波長光源７１が発光した検出光の波長に対応してX軸方向に直交するY軸方向に分光するグレーディングミラー７２と、グレーディングミラー７２によって分光された検出光を集光して被加工物の上面に照射する第１の色収差補正型集光レンズ７３と、第１の色収差補正型集光レンズを通して照射されチャックテーブルに保持された被加工物Ｗの上面で反射した検出光を集光する第２の色収差補正型集光レンズ７４と、第２の色収差補正型集光レンズによって集光された検出光を受光する受光手段７５と、制御手段とを具備している。制御手段は、X軸方向位置検出手段および受光手段７５からの検出信号に基づいて被加工物ＷのX,Y座標値におけるZ軸方向の位置を求める。 （もっと読む）

【課題】 迷光を除去して、精度の高い形状測定を行うことが可能な形状測定装置、及び形状測定方法を提供すること。
【解決手段】 格子パターンを有するパターン素子３０と、パターン素子３０とビームスプリッタ４０とを介して前記格子パターンを測定対象物６０に投影する投影部と、測定対象物６０に投影された格子パターンをビームスプリッタ４０を介して撮像する撮像部７０と、撮像部７０によって撮像された画像のコントラスト値に基づき測定対象物６０の形状を測定する測定部８２とを有し、ビームスプリッタ４０と測定対象物６０との間に１／４波長板５０を備え、１／４波長板５０に入射させる投影光が直線偏光であり、前記投影光と偏光方向が直交する直線偏光のみを撮像部７０に入射させるように構成されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 １つの画像から各スリット光と照射角度とを特定できる顔向き検出装置を提供する。
【解決手段】 顔向き検出装置１は、運転者の顔位置に、隣接するスリット光に対する太さの比率を他のスリット光と異ならせた基準スリットを含む複数のスリット光を照射する複数スリット光源２と、運転者の顔位置を撮像するカメラ３と、撮像したスリット光画像から基準スリット光を抽出し、基準スリット光を基準として各スリット光が複数スリット光源２からどの角度で照射されたスリット光であるのかを特定し、光切断法により運転者の顔の向きを判定する制御部４と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】短時間にスペクトル測定を行うことができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供すること。
【解決手段】本発明の第１の態様にかかる光学顕微鏡は、対物レンズ２３を介してレーザ光を試料２４に照射するステップと、対物レンズ２３を介して、試料で反射した反射光を検出するステップと、レーザ光の焦点位置を光軸方向に変化させるステップと、レーザ光の焦点位置を変化させたときの反射光の検出結果に基づいて、スペクトル測定を行う焦点位置を抽出するステップと、抽出された焦点位置になるように調整するステップと、焦点位置を調整した状態で、レーザ光の照射により試料から出射される出射光をレーザ光から分岐するステップと、レーザ光から分岐された出射光のスペクトルを分光器３１で測定するステップと、を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】二光束の光路長差が安定に一定となる構成を備えることにより光源波長の変動をｐｍ以下の精度、分解能で測定可能な波長ずれ測定装置を提供する。
【解決手段】本発明の波長ずれ測定装置は、光源から射出される光束の波長の変動量を測定する波長ずれ検出センサＷＬＣＤ１であって、光源から射出された光束を複数の光束に分割し、複数の光束のうち二光束を合成して干渉光を生成するビームスプリッタＢＳ２と、ビームスプリッタＢＳ２により分割された二光束の光路長差が一定になるように設けられたスペーサ部材ＳＰと、ビームスプリッタＢＳ２により生成された干渉光を検出する複数の光電センサＰＤＡ＋、ＰＤＢ＋とを有し、複数の光電センサＰＤＡ＋、ＰＤＢ＋は、干渉光に基づいて互いに位相がずれた複数の干渉信号を出力し、複数の干渉信号を用いて波長ずれ量を算出する。 （もっと読む）