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Fターム[2F065PP02]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 装置全体の構造 (6,881) | 検出器の支持、保持関連 (1,622) | 1次元駆動 (455)

Fターム[2F065PP02]に分類される特許

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【課題】整列状態にあることが要求される物品の列について、整列状態を乱す物品の位置ずれ、欠落、倒れなどの種々の整列不良を検出することを可能とする。
【解決手段】物品の列が整列状態にあるかどうかを検査する方法であって、準備工程では、整列状態にある物品a〜aの列Pに対しその物品の列を列方向の全幅にわたって切断するような帯状の光Rを照射して各物品a〜aの表面に各物品の輪郭に沿う光切断線Lを生成するとともに、その光切断線Lを撮像して基準となる画像を取得する。検査工程では、検査対象の物品b〜bの列Pに対し同じ帯状の光Rを照射するとともに、前記準備工程で撮像した光切断線の生成位置に対応する位置に生成された光切断線Lを撮像して検査対象画像を取得した後、その検査対象画像を前記基準となる画像と照合して、検査対象の物品b〜bの列Pが整列状態にあるかどうかを判別する。 (もっと読む)


【課題】解体対象を固定している固定部材の位置の検出精度を高めること。
【解決手段】解体対象を撮像した撮像画像から、前記解体対象を固定している固定部材の画像として予め決められている固定部材画像を検出する固定部材画像検出部と、前記固定部材画像検出部により検出された前記固定部材画像の位置を示す位置情報を算出する位置情報取得部と、前記解体対象を固定している複数の前記固定部材の予め決められた位置関係を示す配置パターンと前記位置情報とに基づき、前記固定部材画像検出部によって検出された前記固定部材画像が前記配置パターンに含まれる前記複数の固定部材に対応するか否かを判定する配置パターン対応確認部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】従来の標高計算は局所領域のミスマッチングによる誤差が生じ、精度の高い標高情報が得られず、多大な処理時間がかかるという問題点がある。
【解決手段】カラーフィルタ基板上の局所領域の標高をステレオ方式で算出し欠陥判定をする欠陥検査方法において、ステレオ画像の一方の撮像画像である基本画像から局所領域を検出する工程、ステレオ画像の他方の撮像画像であって局所領域を含む参照画像を取得する工程、局所領域を含むマッチング領域をステレオ画像から選定する工程、マッチング領域から基準マークとなる部位を選定する工程、局所領域を鮮明化する工程、鮮明化された局所領域の中心座標を求め、基準マークからの距離を算出する工程、基本画像と参照画像における局所領域間の視差を求める工程、局所領域の標高を算出する工程、とを含むことを特徴とするカラーフィルタ基板の欠陥検査方法。 (もっと読む)


【課題】管端部の加工部について、寸法精度と加工面の状態とを共に自動的に検査することができ、しかもインライン化が可能なよう検査装置全体のコンパクト化を可能にした、管端検査装置を提供する。
【解決手段】端部を加工した管2の管端加工部を検査する管端検査装置である。管端加工部の形状を計測するレーザ変位計42と、管端加工部の表面を撮影する撮像装置62と、レーザ変位計42及び撮像装置62を管端加工部の周方向に沿って移動させることにより、レーザ変位計42のレーザビームスポット及び撮像装置62の焦点を管端加工部の周方向に沿って周回させる回転テーブル(周回手段)と、を備える。 (もっと読む)


【課題】コヒーレンス走査干渉計及びこのコヒーレンス走査干渉計を用いた物体の高さ形状測定するための方法に対して、測定精度や測定特性の再現性に関する改良を行なうことである。
【解決手段】光源2と、干渉計と、経路長変更ユニットと、検出面を有するカメラ3とが備えられている。経路長変更ユニットは、測定ビームと基準ビームの光路長を変更するように構成されている。経路長変更ユニットは、経路目盛11と経路検出器12とを有しており、経路目盛11と経路検出器12とは、経路長変更ユニットによる測定ビームの光路長変更または基準ビームの光路長変更あるいはその両方の光路長変更の際に、経路検出器12の同期的な動きが経路目盛11に対して相対的に行なわれるように構成されている。 (もっと読む)


【課題】コンクリート壁等測定対象面の状態(凹凸量)を装置により自動的に、かつ精度良く測定できるようにする。
【解決手段】回転式レーザー測定装置は、レーザー光によって距離を測定する距離センサと、該距離センサを軸方向に駆動する第1の駆動手段と、同距離センサを軸周り方向に駆動する第2の駆動手段と、これら第1,第2の駆動手段を駆動制御する駆動制御手段とを備え、上記距離センサを測定対象面の長手方向と直交する面に沿って回転可能に支持するとともに、上記測定対象面の長手方向に沿って所定ピッチ毎に移動可能とし、該所定ピッチ毎に上記距離センサを移動させ、かつ所定の角度回転させながら、測定対象面の状態を自動的に測定して行くようにした。このような構成によると、自動的かつ容易に、しかも正確に凹凸その他の表面状態を測定して行くことができるようになる。 (もっと読む)


【課題】刻印試験を短時間で行うこと。
【解決手段】刻印装置1は、鋼片製品を固定する製品固定部2と、刻印試験を行うための鋼片製品と同種の鋼片試料を固定する試料固定部3と、製品固定部2および試料固定部3にそれぞれ固定された鋼片製品および鋼片試料に刻印ピン4bを押圧することによって鋼片製品および鋼片試料の表面に刻印を付与する刻印付与部4と、を備える。このような構成によれば、刻印試験を行う際、製造ラインに製品が搬送されてくるまで待機する必要がなくなるので、刻印試験を短時間で行うことができる。 (もっと読む)


【課題】受光部のフォーカス調整を容易に行う。
【解決手段】画像取得装置は、ガラス基板9上における線状の撮像領域を撮像する撮像ユニット2と、ガラス基板9を撮像領域と交差する方向に移動する移動機構とを備える。撮像ユニット2は、光照射部21および受光部23を有し、光照射部21により撮像領域に光が照射され、撮像領域からの光が受光部23のラインセンサへと導かれる。画像取得装置では、受光部回動機構が受光部23を回転することにより受光部23の光軸J2とガラス基板9の法線Nとのなす検出角θ2が変更される。撮像ユニット2は、光軸J2に沿って受光部23を移動する受光部移動機構をさらに備え、検出角θ2の変位量に基づいて受光部移動機構を制御することにより、光軸J2上においてラインセンサの受光面と共役な位置Pがガラス基板9の表面に配置される。これにより、受光部23のフォーカス調整が容易に行われる。 (もっと読む)


【課題】複数の視野に分割された対象を高精度に測定することができるマシンビジョン検査システムおよびその位置測定結果の決定方法を提供する。
【解決手段】マシンビジョン検査システムは、第1動作状態においてスケールベースの測定により第1対象FE1の位置を測定する。第2動作状態では、第1対象から第2対象に至る途中で重複画像CIA〜CICを撮影し、画像相関を利用して重複画像CIA〜CICの相互の画像変位を測定し、第1対象の位置と画像変位のセットとを合わせて第2対象FE2の位置を測定する。 (もっと読む)


【解決手段】ボンディング装置を構成する物品認識装置は、基板のバンプに照明光を照射する第1照明と、該第1照明とは異なる角度から上記バンプに照明光を照射する第2照明と、上記バンプで反射した上記照明光の反射光を撮影する第1撮影手段とを備えている。上記第2照明の輝度を固定したまま、第1照明の輝度を変化させて(S3)、上記第1撮影手段が撮影した画像のうち、バンプが最も多く認識された画像を撮影した際における第1照明の輝度を記憶する(S7)。続いて第1照明の輝度を上記記憶した輝度で固定したまま、第2照明の輝度を変化させて(S9)、上記第1撮影手段が撮影した画像のうち、バンプが最も多く認識された画像を撮影した際における上記一方の照明の輝度を記憶する(S13)。
【効果】照明の設定値の設定を容易にかつ安定して行うことができる。 (もっと読む)


【課題】貼合わせウェハ全体について厚さを測定できる装置の提供。
【解決手段】貼合わせウェハ1の厚さ測定光学系及び観察光学系と、測定光学系から出力される信号を用いて貼合わせウェハ1の厚さを算出する信号処理装置とを具え、測定光学系は、第1の波長域の測定用光源30と、この測定光を投射して光スポットを形成する対物レンズ17と、その反射光の光検出手段40とを有し、観察光学系は、前記第1の波長域とは異なる第2の波長域の観察用照明光を放出する照明光源41と、照明光を投射する対物レンズ17と、その反射光を受光して2次元画像を撮像する撮像装置48とを有する。これらで共通の対物レンズ17と測定光源及び観察光源との間の光路中には、前記測定光学系と観察光学系とを光学的に結合する波長選択性を有するカップリング素子34を配置する。撮像装置48は、前記測定光により形成された光スポットの像が重畳された像を撮像する。 (もっと読む)


【課題】1つの実施形態は、例えば、基板の表面の位置の計測精度を向上できる位置制御システム、露光装置、及び露光方法を提供することを目的とする。
【解決手段】1つの実施形態によれば、面位置計測部と制御部とを有する位置制御システムが提供される。面位置計測部は、基板の表面の高さ方向の位置を計測する。制御部は、面位置計測部による計測結果に基づいて、光学系と基板の表面との相対的な位置を制御する。面位置計測部は、複数のフォーカスセンサ41−1〜41−3と駆動部42とを有する。駆動部は、基板の表面に対する複数のフォーカスセンサの基板面内方向の位置を独立して駆動する。 (もっと読む)


【課題】計測対象面の凹凸に起因する面位置センサの計測誤差の補正データを作成し、該補正データを用いて計測精度が改善される面位置センサを用いて、移動体を高精度に2次元駆動する。
【解決手段】 X干渉計127、Y干渉計16を用いて位置を監視しながらウエハステージWSTを移動させ、センサ72a〜72dを用いてウエハステージ上面に設けられたYスケール39Y,39YのZ位置を計測する。ここで、例えば、2つの面位置センサ72a,72bの計測結果の差より、Yスケール39YのY軸方向の傾きが得られる。Yスケール39Y,39Yの全面について傾きを計測することにより、それらの2次元凹凸データが作成される。この凹凸データを用いてセンサの計測結果を補正し、該補正済みの計測結果を用いることにより、高精度にウエハステージを2次元駆動することが可能になる。 (もっと読む)


【課題】多数の板材を連続的に加工する加工機に好適な回転テーブルの回転角の誤差(ピッチエラー)を測定する方法に関し、ワークの連続加工中においても自動測定できるようにする。
【解決手段】ワークと略同形で、表面に所定角度毎に引いた放射状の計測線と、計測線の放射中心を検出させるマークを表示した測定用基板を用いる。加工機に設けられている搬入誤差検出手段により、テーブル上に搬入された測定用基板の中心の位置偏倚及び角度偏倚を検出し、次にテーブルを所定角度ずつ回動したときのカメラの画像上での各計測線の位置を検出し、先に検出した基板中心の偏差で補正した計測線の方向と、その本来の方向との差から、テーブルのピッチエラーを測定する。 (もっと読む)


【課題】小型化可能で高精度な形状測定が可能な光学式測定装置を提供する。
【解決手段】レーザ光源201が出力したビーム状の測定用光216は第2円錐ミラー207によって放射状の測定用光に変換され、ケース101の第2開口部102を通って出力された後、測定対象物220で反射され、第1開口部103を通ってケース101内へ入り、第1円錐ミラー209によって反射された後、受光レンズ213を介して光検出素子214で検出される。処理部240は、光検出素子214で検出された測定用光に基づいて測定対象物の形状を算出する。 (もっと読む)


【課題】電気転てつ機のロック狂い検知器の固定スリット部材の位置合わせを容易に行うことができる電気転てつ機のロック狂い検知器の位置調整冶具を提供する。
【解決手段】電気転てつ機本体に着脱可能で固定スリットが形成された固定スリット部材と、固定スリットに光を通過させる発光素子および受光素子と、を備えるロック狂い検知器の位置調整を行うための電気転てつ機のロック狂い検知器の位置調整冶具21において、電気転てつ機本体に着脱可能な本体部22と、固定スリット部材に着脱可能で本体部22に電気転てつ機の鎖錠カンの移動方向に移動可能に支持された移動部23と、移動部23と連結されて移動部23を鎖錠カンの移動方向に移動させるネジ部24と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】ライン光が撮影手段に向けて正反射されることがなく、撮影が困難になることを防止する。
【解決手段】被検査体1にライン光4を照射して両者を相対移動させながら撮影手段26で撮影することにより、光切断法によって被検査体1を3次元計測することができる。上記被検査体1は、ワークに予め定められた配列方向Aに配列して設けられた複数の凹凸状部分3を有しており、この凹凸状部分3は、上記配列方向Aと直交する方向の直線部分3aを有している。上記ライン光4の相対移動方向Bと、この相対移動方向に対するライン光の角度θとは、該ライン光4が上記直線部分3aに対して斜めに交差して照射されながら相対移動されるように予め設定されている。 (もっと読む)


【課題】2倍強の管径差をもつ広範な管径(350mm〜800mm)を対象に、検査対象となる配管内を円滑にかつ適正な速度で走行して、管内を斑なく的確に観察できる自走式管内検査カメラ装置を提供する。
【解決手段】走行ユニットを構成する管径変換ユニット1と管径変換ユニット1に選択的に結合される管径変換アダプタ用取付アダプタ13および第1乃至第3の管径変換アダプタ(CA1)〜(CA3)とにより複数種の管径に対応した自走式管内検査カメラ装置の管径変換ユニットを構成している。 (もっと読む)


【課題】管内面の状態や寸法によらずに管内面を検査することができる管内面検査装置およびその検査方法を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態は、管2内面の検査箇所にパターンを有するパターン光P1を管2内面の周方向にわたって投影する投影手段11と、検査箇所に投影され反射されたパターン光を反射パターン光P2として投影する表示手段12と、反射パターン光P2の形状を観測する観測手段13とを備える。 (もっと読む)


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