【課題】複雑な形状の被測定物に対して精度を高めて測定する。
【解決手段】形状測定装置（１００）は、被測定物にライン光を照射する光照射部（２１）及びライン光の照射方向とは異なる方向から被測定物に照射されたライン光を検出する光検出部（２２）を有するセンサー部（２）と、光検出部（２２）からの検出結果に基づいて被測定物の形状を測定する形状測定部（５３）と、センサー部（２）と被測定物とを相対移動させる駆動部（１１）と、測定方向に相対移動する間に形状測定部（５３）によって得られた複数回の測定の結果に基づいて、測定時のセンサー部（２）と被測定物との少なくとも一方の姿勢を制御する測定制御部（５６）とを備える。 （もっと読む）

【課題】道路のスロープ特性と渋滞予兆とを考慮して燃費を向上させるための車両の運転支援装置の提供。
【解決手段】カメラから路面映像を受信する路面映像入力手段１３５と、路面映像を鳥瞰変換する鳥瞰変換手段１３６と、鳥瞰変換された路面映像から複数個の車線を抽出する車線抽出手段１３７と、抽出された複数個の車線の傾きを算出する傾斜度算出手段１３８と、複数個の車線の傾の差異値を利用して路面傾斜度を算出する路面傾斜度算出手段１３９と、自車両の加速度を検出する手段と、検出した加速度の周波数分析から周波数に対応するパワースペクトルを算出する手段と、算出したパワースペクトルの単回帰直線を演算し、所定周波数範囲での当該単回帰直線の傾きの変化量の極大値を傾き極大値として算出する手段１３３とを備える。運転支援装置は、路面傾斜度が所定値よりも大きく、かつ傾き極大値が自車両前方での渋滞予兆を示す場合に、運転支援をおこなう。 （もっと読む）

【課題】トンネルの壁面がどの程度の高さの凹凸を持つかを知ることが可能な技術を提供することを目的とする。
【解決手段】展開図生成装置は、記憶装置１と、変換装置２と、照合装置３と、変位形状生成装置４と、描画装置５とを備える。変換装置２は、壁面４２の複数の計測点７を壁面４２の展開図に配置する座標変換を行う。変位形状生成装置４は、座標変換された複数の計測点７の座標に基づいて、壁面４２の展開平面１７に、当該展開平面１７に直交する方向の座標ｗの値を反映した凹凸形状が付与されてなる変位形状４１を生成する。描画手段５は、変位形状４１に、画像９のパターンを描画する。 （もっと読む）

【課題】検出部を被検物に対して移動させて測定位置毎に停止させて測定する場合の測定速度を向上させることができる形状測定装置を提供する。
【解決手段】形状測定装置は、被検物に対しての相対位置が変更されて被検物の表面の形状を検出する検出部（２０）と、検出部により検出された被検物の表面の形状の変位を示す情報に基づいて、被検物に対して検出部が相対的に静止しているか否かを判定する判定部（静止判定部５８）と、判定部により検出部が相対的に静止していると判定された場合の形状に基づいて、被検物の表面の形状データを算出する算出部（座標算出部５３）と、を備える。 （もっと読む）

【課題】マーカを精度良く認識する点について改善された情報処理プログラム等の提供。
【解決手段】情報処理装置のコンピュータを、画像を逐次取得する画像取得手段、取得された画像から特定対象を検出する特定対象検出手段、検出された特定対象の中央領域から得られた画素値に基づいて、当該中央領域に関連する第１領域情報を検出する第１領域情報検出手段、その検出結果が所定の条件を満たすか否かを判定する第１判定手段、特定対象のうち中央領域の周辺に存在する周辺領域から得られた画素値に基づいて、当該周辺領域に関連する第２領域情報を検出する第２領域情報検出手段、および少なくとも、第１判定手段による判定結果が肯定である場合に第２領域情報検出手段により検出された第２領域情報を出力する出力手段として機能させるための情報処理プログラム。 （もっと読む）

【課題】
計測対象物が遮蔽物によって遮蔽されている対象物を三次元計測する場合に、輪郭付近に見えている画像すべての点を使えるように、効率よく十分な候補点数を確保し、三次元計測を可能とするカメラ配置方法を提供する。
【解決手段】
本発明におけるカメラ配置方法は、遮蔽物の第一の輪郭線を近似することで得られる直線と第一のカメラの投影中心の位置とを有する第一のエピポーラ面と、第二の輪郭線を近似することで得られる直線と第一のカメラの投影中心の位置とを有する第二のエピポーラ面による交線を算出し、交線上に第二のカメラの投影中心を配置する。 （もっと読む）

【課題】ウェーハの表面に生じうる特定欠陥をより確実に検出することが可能な検出方法、検出システムおよび検出プログラムを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の特定欠陥の検出方法は、ウェーハの表面に光を照射して該ウェーハの表面上の欠陥の位置に対応して検出される輝点の面内位置情報である輝点マップを取得する工程（Ｓ１０１）と、前記輝点マップにおいて、特定欠陥の発生が予想される領域である判定対象領域と、該判定対象領域以外の所定領域である参照領域とを特定し、前記判定対象領域における輝点密度の、前記参照領域における輝点密度に対する比を算出する工程（Ｓ１０２）と、算出された前記比の値に基づいて、前記特定欠陥の発生の有無を判定する工程（Ｓ１０３）と、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、簡易な構成で、エッジ部分の画像解析により対象体の３次元位置・姿勢認識が可能な３次元位置・姿勢認識装置、３次元位置・姿勢認識方法、３次元位置・姿勢認識プログラムの提供を目的とする。
【解決手段】本発明にかかる３次元位置・姿勢認識装置は、第１画像と、第２画像とのうち少なくとも一方に撮像された対象体１の画像要素を解析し、対象体１におけるエッジの方向を検出する検出手段４と、検出結果に基づいて、第１撮像手段２及び第２撮像手段３のうち少なくとも一方と対象体１との相対位置を変化させるか否かを判断する判断手段５と、第１撮像手段２及び第２撮像手段３のうち少なくとも一方を、対象体１に対して相対的に移動させる移動手段６とを備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】回折格子の輪郭を再構築するＣＳＩアルゴリズムを開示する。
【解決手段】電流密度Ｊの体積積分式を解くには、Ｊの近似解を求めるように、Ｅ及びＪの連続成分を選択することにより、電場Ｅ^Ｓ及び電流密度Ｊに関連するベクトル場Ｆ^Ｓの暗示的構築を使用し、Ｆは１つ又は複数の材料境界にて連続している。Ｆは、少なくとも１つの方向ｘ、ｙに関して少なくとも１つの有限フーリエ級数で表され、体積積分式を数値的に解くステップは、Ｆの畳み込みによってＪの成分を決定することを含み、畳み込み演算子Ｍは、両方向の材料及び幾何構造の特性を含む。Ｊは、両方向に関して少なくとも１つの有限フーリエ級数で表すことができる。連続成分は、Ｅ及びＪに作用する畳み込み演算子Ｐ_Ｔ及びＰＮを使用して抽出することができる。 （もっと読む）

【課題】光学試験表面の誤差と適合光学系の誤差とを分離することを可能にする方法及び装置を提供する。
【解決手段】光学試験表面１４の形状を判定する方法は、測定ビーム３０の波面を適合光学系２０により光学試験表面１４の所望の形状に適合させ、光学試験表面１４の形状を適合済測定ビームにより干渉測定するステップと、適合済測定ビームを光学試験表面に種々の入射角で照射し、測定ビームの波面を光学試験表面１４との相互作用後にそれぞれ測定するステップと、個々の入射角ごとに測定された波面からの干渉測定結果に対する適合光学系２０の影響を確定するステップと、光学試験表面の形状を、適合光学系２０の確定された影響を干渉測定結果から除去することにより判定するステップとを含む。 （もっと読む）

【課題】光源によらない一定の色に補正できる画像色彩補正装置を提供する。
【解決手段】本発明における画像色彩補正装置１は、測定対象物２と複数のカラーコード付き標識ＣＴを同時に又は別時に異なる複数方向から撮影する撮影部３と、撮影部３により撮影されたカラーコード付き標識ＣＴの撮影画像から、位置検出用パターンＰ１の位置を求める位置検出部５１と、撮影画像から基準色パターンＰ２を抽出する基準色パターン抽出部５２と、撮影画像からカラーコードパターンＰ３を抽出するカラーコードパターン抽出部５３と、基準色パターン抽出部で抽出された基準色パターンのうち、少なくとも光源色補正に用いる色彩を用いて、撮影画像の光源色補正を行う色補正部７１とを備える。 （もっと読む）

【課題】高温の被計測体に発生する酸化スケール等の表面異常を精度良く識別することができる被計測体の表面異常識別装置を提供する。
【解決手段】高温の被計測体５から得られる輻射光を輻射光撮像部１８により、被計測体５が一定角度回転される毎に撮像して得た複数の輻射光画像を合成して、合成輻射光画像を作成する画像合成部１０と、前記合成輻射光画像から所定領域を抽出して、撮像中の被計測体５の温度低下に基づく前記所定領域の画像の輝度変化を補正する第１輝度補正部１２と、前記補正した所定領域の画像から所定暗部を検出し、該所定領域の画像の暗部を前記被計測体の表面異常と判定する異常判定部１４と、を備える被計測体の表面異常識別装置１を用いる。 （もっと読む）

【課題】汎用的なロボットが配置されている生産ラインであっても、コンベアトラッキング等の処理を容易に実現できる画像処理装置および画像処理システム、ならびにそれらに向けられたガイダンス装置を提供する。
【解決手段】画像処理装置は、搬送装置上のワークの位置情報を管理する管理手段と、撮像部の撮像によって得られた画像に対して計測処理を行うことで、画像中の予め登録されたワークに対応する領域の位置情報を取得する取得手段と、管理手段によって管理されているワークの位置情報を撮像部の撮像が行われたタイミングに対応する値に更新する更新手段と、更新手段による更新後の位置情報と計測処理によって取得されたワークの位置情報とを比較することで、撮像部の撮像範囲内に新たに搬送されたワークを特定する特定手段と、特定手段が特定したワークの位置情報を制御装置へ送信する送信手段とを含む。 （もっと読む）

【課題】観察対象物の表面の３次元ビューを表示し、表面の凹凸、寸法を取得する方法及び装置を提供する。
【解決手段】複数の表面点の第１の座標系における３次元座標を決定し、観察対象物の表面の複数の測定点を選択し、複数の測定点のうちの１つまたは複数に隣接した複数の表面点のうちの３つ以上の第１の座標系における３次元座標に基づいて基準表面２５０を決定し、基準表面および複数の測定点に基づいて第１の座標系とは異なる第２の座標系を設け、複数の表面点の第１の座標系における３次元座標を第２の座標系における３次元座標に変換し、複数の測定点に基づいて、観察対象物２０２の表面２１０の対象領域２６２内である複数の表面点のサブセットを決定し、第２の座標系の３次元座標に複数の表面点のサブセットの描画された３次元ビューを表示する。 （もっと読む）

【課題】光切断式形状計測装置および校正用治具を静止させた状態で、撮像手段の内部パラメーターおよび撮像手段とスリット光との相対位置を校正する。
【解決手段】光切断式形状計測装置の校正に用いる校正用治具１において、互いに平行かつ高低差が既知である参照面１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄを複数有する校正用治具１本体と、参照面１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄに設けられた参照面内における位置が既知である複数の参照孔２と、複数の参照孔２から光を射出する光源とを備える。 （もっと読む）

【課題】対象物の変化量あるいは移動量を外乱の影響なく高精度に求めることが可能な変位計測方法とその装置を提供する。
【解決手段】４つの位相シフト光路を、４分割プリズムとアレイ状に配置したフォトニック結晶λ/４素子及びフォトニック結晶偏光素子とを組み合わせて空間的に並列生成する構成とすることにより、小形の光干渉変位センサを構築し、適用対象を拡大すると共に外乱の影響を受けることなく、対象物の微小変位や表面凹凸をサブナノメートル以下の分解能でかつ高い再現性で測定する。 （もっと読む）

【課題】過度の欠陥検出を抑制することにより、不必要な欠陥修正を低減することのできる検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】センサ１０６からマスク１０１の光学画像を取得するし、光学画像におけるパターンの寸法と、判定の基準となる基準画像におけるパターンの寸法とを測定し、これらから第１の誤差を求める。マスク１０１上の光学画像と基準画像について各転写像を推定し、これらの転写像におけるパターンの寸法を測定して第２の誤差を求める。各転写像を比較し、差異が閾値を超えた場合に欠陥と判定する。欠陥と判定された箇所における第２の誤差を第１の誤差で補正する。 （もっと読む）

【課題】
本発明は集積回路、磁気ヘッド、磁気ディスク、太陽電池、光モジュール、発光ダイオード、液晶表示パネルなど基板上に発生した欠陥や異物の画像を撮像し、欠陥や異物を種類ごとに分類する欠陥分類装置において、撮像した画像に写っている欠陥の重要度を定量的に計算し、重要度の高い欠陥が写っている画像だけをデータベースに保存することで、ネットワーク負荷やデータベース負荷を低減する。
【解決手段】
本発明は、欠陥座標データを入力し、画像撮像プログラム５０１にて画像を撮像し、特徴量抽出プログラム５０２にて撮像した画像から欠陥の特徴量を抽出し、欠陥分類プログラム５０３にて欠陥を種類別に分類し、重要度予測プログラム５０４にて欠陥毎に重要度を計算し、画像選別プログラム５０６にて重要度に基づいて画像をデータベースに伝送するか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】検査対象領域を撮像して取得した多値画像の明暗が変化した場合であっても、非検出対象物であるノイズを効果的に除去し、検出対象物であるブロブ（集合体）状の傷、汚れ等の欠陥の有無、大きさ、形状等を検査する画像検査装置、画像検査方法、及びコンピュータプログラムを提供する。
【解決手段】検査対象領域の多値画像を取得し、取得した多値画像の濃度情報に基づいて基準濃度値を算出する。多値画像の各画素の濃度値と算出した基準濃度値との差分を画素ごとに算出し、基準濃度値の変化に追従して変化するように基準濃度値に対して相対的に閾値を設定して記憶する。算出した差分が閾値より大きい複数の画素を抽出し、抽出された複数の画素の輝度値の連結性に基づいて画素の集合体を特定し、特定された画素の集合体に対して、差分を用いた特徴量を算出する。算出した特徴量に基づいて、特定された画素の集合体の欠陥を判別する。 （もっと読む）

【課題】対象物に接触または近接させた複数の測定用端子の位置を撮影画像に基づいて取得する技術において、一部の測定用端子の位置を取得できなかった場合に、再度の撮影を行うことなくその位置を取得する。
【解決手段】プローブソケット１１，１２は、被験者の頭部２５に複数が装着される。プローブソケットを被験者に装着した状態を複数の方向から撮影し、その撮影画像からプローブソケットの位置を検出する。この際、ある特定の撮影画像からの検出が上手くゆかず、一部のプローブソケット位置が特定できない場合、他の撮影画像の中に写っている当該プローブソケットの撮影画像を利用して再検出を行う。これにより、検出ミスがあっても再度の撮影を行わずに済む。 （もっと読む）