【課題】より広範囲かつ高速に対象を検出することが可能な対象検出装置および対象検出方法を提供する。
【解決手段】対象検出装置１０１は、検出対象の物性に応じて予め選択された複数の波長帯について、２次元画像を撮像するための撮像部１１と、２次元画像の各画素における物質を検出するための検出部１２とを備え、撮像部１１は、設定されたラインごとに２次元画像を撮像する。 （もっと読む）

【課題】有底の凹部の状態を非破壊で検査し、製造コストを低減させる。
【解決手段】本発明のウエハ５０のビア孔５１の検査方法は、有底のビア孔５１が表面に形成されたウエハ５０に被転写材料を塗布し、この被転写材料をビア孔５１内に充填させ、被転写材料を硬化させた後、ウエハ５０から離型させることでビア孔５１がビア像７１として転写されてなる被転写体７０を形成する転写工程と、ビア像７１の表面を観察することでその表面形状の画像データを作成する表面観察工程と、ビア像７１の画像データに基づいてビア像７１の形状を評価し、ビア孔５１内の状態を検査する検査工程とを備えたところに特徴を有する。 （もっと読む）

【課題】移動体が移動する際の安全を確保するための画像処理装置を提供する。
【解決手段】移動体の予測軌道と、三次元モデルにおける移動体の位置及び大きさと、三次元モデルにおける立体物の大きさ及び位置とに基づいて、三次元モデルにおいて予測軌道上で移動体が立体物に接触するか否か判定する接触判定部２６０を備える。また、ステレオカメラの画像に基づいて距離を測定し、立体物の位置及び大きさを算出する。さらに、算出した横幅の接触量に基づいて予測軌道を変更した上で接触するか否か判定する。 （もっと読む）

【課題】所定領域内の状況を適切に把握することが可能な電子機器を提供する。
【解決手段】電子機器は、第１の所定領域にある第１物体を撮像する第１撮像部１３０又は３０と、前記第１撮像部が撮像した前記第１物体の面積に関する量を検出する検出部４２とを備え、前記第１物体の面積に関する量に基づいて第１の所定領域内の状況を把握する。さらに、第２の所定領域にある第２の物体を撮像する第２撮像部３０又は１３０とを備え、前記検出部は前記第２撮像部が撮像した前記第２物体の面積に関する量を検出する。 （もっと読む）

【課題】センサ校正に関する知識やノウハウのない作業者であっても、センサ校正用入力データを容易に取得し、精度よく校正を行うための校正用入力データであるか否かを容易に判断できるようにする。
【解決手段】撮像装置に対する位置姿勢センサの位置または姿勢を校正するための校正用入力データを処理する情報処理装置であって、撮像装置により撮像された画像を取得する画像取得部と、画像から指標情報を検出する指標検出部と、位置姿勢センサにより計測された位置姿勢センサ自身の位置または姿勢の計測値を取得する計測値取得部と、指標情報と計測値とを含む校正用入力データの推奨レベルを、指標情報と計測値とに基づいて算出する算出部と、推奨レベルを提示する提示部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】真に最適なパラメータ群を得ることができ、精度の高い３次元計測を可能にするステレオ３次元計測装置を提供する。
【解決手段】ステレオ３次元計測装置１は、第１，第２のカメラ２１，２２で計測対象物の画像を複数取得する画像取得部２と、画像取得部２から複数の画像を受けて補正するステレオ平行化部３２と、ステレオ平行化部３２で補正された複数の画像同士の対応点を探索して、対応点に基づいて複数の画像の評価値を算出する対応点探索部３３と、画像取得部２および対応点探索部３３に、予め準備しておいた複数のパラメータ群を順次入力して、上記評価値に基づいて複数のパラメータ群の中から最適なパラメータ群を選択するパラメータ選択部４とを備える。 （もっと読む）

【課題】撮像部の 内部パラメータと外部パラメータを容易に較正できる車載カメラシステムの較正方法を得ること。
【解決手段】車載カメラシステム１の較正方法は、撮像部３０７〜３１０により撮像された画像から予め設定された直線部分を有する認識対象物を認識し、画像から認識対象物の特徴点を抽出し、その特徴点を仮想球面に投影して仮想球面６０１に形成された特徴点列の形状に基づいて撮像部３０７〜３１０の内部パラメータを推定し、推定した内部パラメータを較正するとともに、特徴点に基づいて画像の俯瞰視点を算出し、その算出した俯瞰視点に基づいて撮像部３０７〜３１０の外部パラメータを推定し、その推定した外部パラメータを較正することを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置に関し、欠陥検査の検知精度の向上を図るために位相シフトを用いつつ検査時間を低減する。
【解決手段】 互いに異なった複数の波長をそれぞれ独立に変調した明暗パターンをパターン平面上で互いに変調させて合成照明パターンを合成し、前記合成した合成照明パターンを検査対象物に照射し、前記検査対象物からの前記合成照明パターンの反射パターンを撮像して波長毎の画像を一括して取得し、前記撮像した画像を波長毎に分解して前記検査対象物の表面の凹凸欠陥を判別する。 （もっと読む）