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Fターム[2F067CC05]の内容

Fターム[2F067CC05]に分類される特許

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【課題】塗膜下における鋼材の腐食部分の体積を非破壊で測定することができるようにする。
【解決手段】周波数が100〔GHz〕〜10〔THz〕の範囲の電磁波を用いて被検査物の塗膜層表面の2次元的な計測位置毎に塗膜層を介在させて電磁波測定を行って反射強度の2次元分布計測値を得て、当該2次元分布計測値における計測位置毎の反射光電界を用いて〔ア〕照射光電界反射係数lを算出して計測位置毎の侵入光電界反射係数kを求めるか若しくは〔イ〕電界減衰率mを算出して計測位置毎の侵入光電界反射係数kを求め(S5)、当該侵入光電界反射係数kを用いて計測位置毎に被検査物の塗膜層下の鋼材の腐食層の厚さdRを求め(S6)、当該腐食層の厚さdRを用いて被検査物の塗膜層下の鋼材の腐食部分の体積Vを求める(S7)ようにした。 (もっと読む)


【課題】光を透過しない皮膜および基材であって、膜厚分布の広がりが100[μm]以下の目視できない範囲内にある皮膜の膜厚均一性を簡便、且つ、迅速に評価すること。
【解決手段】金属板表面に形成された皮膜の膜厚均一性を評価する膜厚均一性評価方法は、グロー放電発光分光法を利用して金属板の構成元素の深さ方向のプロファイルを測定する測定ステップと、測定ステップにおいて測定されたプロファイルを微分することによって微分プロファイルDPを算出し、算出された微分プロファイルの主ピークの半値幅FWHMを算出する算出ステップと、算出ステップにおいて算出された主ピークの半値幅FWHMを用いて皮膜の膜厚均一性を評価する評価ステップと、を含む。これにより、光を透過しない皮膜および基材であって、膜厚分布の広がりが100[μm]以下の目視できない範囲内にある皮膜の膜厚均一性を簡便、且つ、迅速に評価することができる。 (もっと読む)


【課題】光を透過しない皮膜および基材であって、膜厚分布の広がりが100[μm]以下の目視できない範囲内にある皮膜の膜厚均一性を簡便、且つ、迅速に評価すること。
【解決手段】金属板表面に形成された皮膜の膜厚均一性を評価する膜厚均一性評価方法は、グロー放電発光分光法を利用して金属板の構成元素の深さ方向のプロファイルPを測定する測定ステップと、測定ステップにおいて測定されたプロファイルPの形状を近似する関数Fを算出する算出ステップと、算出ステップにおいて算出された関数Fを用いて皮膜の膜厚均一性を評価する評価ステップと、を含む。これにより、光を透過しない皮膜および基材であって、膜厚分布の広がりが100[μm]以下の目視できない範囲内にある皮膜の膜厚均一性を簡便、且つ、迅速に評価することができる。 (もっと読む)


【課題】バックリング検査装置に対して適切な校正を行うべく、信頼性の高い性能評価を行うことができるバックリング検査装置の評価装置及びバックリング検査装置の評価方法を提供する。
【解決手段】架台22を回転させることで、アンテナ11及び12を検査時の相対位置関係を保ったままプロセスライン外に移動する。このとき、移動後のアンテナ11及び12と校正板40との相対位置関係を、検査時におけるアンテナ11及び12と金属鋼板1との相対位置関係と同じにする。また、校正板40には、検査対象のバックリング2を模した校正用突起物40aを形成しておく。この状態で、校正装置30は、校正板40に対して検査時と同様の処理を行って、校正用突起物40aを適切に検査できているか否かを確認することで、バックリング検査装置10の検査性能を評価する。 (もっと読む)


【課題】鋼板の板厚を効率的かつ精度良く演算できるようにする。
【解決手段】鋼板1の板厚方向に透過した放射線の検出結果(放射線の減衰比I0/I)及び線吸収係数μに基づいて、下記演算式
H={(1/μ)×(ln I0/I)}×Ct
を用いて該鋼板1の板厚を演算する板厚演算装置であって、測定対象の鋼板1の出鋼グレード、目標板厚及び測定表面温度を入力する入力部101と、前記演算式に用いられる補正値Ctを、出鋼グレード、板厚及び鋼板表面温度の層別に記憶する記憶部103と、入力部101により入力された測定対象の鋼板1の出鋼グレード、目標板厚及び測定表面温度に応じて記憶部103から補正係数Ctを選択し、前記演算式を用いて板厚を演算する板厚演算部102とを備える。 (もっと読む)


【課題】マルチチャンネル方式の板厚計を採用しつつ、校正処理の高速化と板厚測定精度向上を両立させることができる鋼板の板厚測定装置およびその校正方法を提供する。
【解決手段】通板中の鋼板Sを通板方向と直交する方向に検出器4を走査して鋼板Sの厚さを幅方向に沿って測定するシングルチャンネル板厚計1と、通板中の鋼板Sの幅方向に沿う厚さを鋼板Sの幅方向に沿って配列された複数の検出器6により同時に測定するとともに、通板中の鋼板Sの長手方向に沿う厚さを所定間隔で測定することにより鋼板全体の厚さ分布を測定するマルチチャンネル板厚計2とを併設し、シングルチャンネル板厚計1の検出器4の検量線を、通板前に予め測定された校正用基準板の厚さで校正し、鋼板Sの通板中に得られるシングルチャンネル板厚計1による鋼板の幅方向の鋼板の板厚測定値で、マルチチャンネル板厚計2の各検出器6の検量線を校正する。 (もっと読む)


【課題】環境が悪くても、走行金属面上の突起物を確実に検出する。
【解決手段】突起物検出装置100は、電磁波を放射する送信用アンテナ23と、反射された電磁波を受信する受信用アンテナ24と、送信信号及び受信信号を処理する送受信信号処理部200と、を備える。前記送信用アンテナ及び前記受信用アンテナは単方向指向性を有し、前記受信用アンテナは、前記送信用アンテナから放射され前記金属面300に反射された電磁波を捉えることがなく、前記送信用アンテナから放射され前記金属面上の突起物305に反射された電磁波のみを捉えるように設置されている。 (もっと読む)


【課題】新たな設備を設けないで、被測定物の上下動による誤差を補正し、測定精度の向上を図った放射線厚さ計を提供することを目的とする。
【解決手段】被測定物3を搬送するパスライン平面と垂直な方向で、被測定物を挟むように設けるC型フレーム1dと、C型フレームの対向する一方の腕部に設ける放射線源1aと、他方の腕部に設け、透過放射線を検出する主検出器1bと、主検出器1bの周囲で、被測定物から散乱する散乱線を検出する副検出器1cとを備える検出部1と、主検出器で検出する放射線の増減による出力変化と副検出器で検出される散乱線成分の出力変化とが一致するように予め求められる補正計数を記憶し、前記被測定物が前記パスライン平面と垂直な光軸方向に移動した場合に、副検出器の出力から補正計数を選択して乗じ、さらに、主検出器と副検出器との差を求める補正演算部2aと厚さを求める厚さ演算部2bとを備える演算部2とを備える。 (もっと読む)


【課題】 対象面に浮遊物が付着することを抑制するためのガスを噴射するノズルの、当該対象面に垂直な方向の設置スペースを従来よりも小さくする。
【解決手段】 スリットノズル41bによって、センサ面31aの下方の空間の周方向全体(全周)から、センサ面31aの下方の空間に対してガスを噴射するに際し、ガス噴射軸の角度θと、ガス噴射の広がり角度γとの関係が、0<θ≦γ/2、好ましくはθ=γ/2の関係を満足するように、スリットノズル41bの形状を決定する。したがって、従来のように、センサ面31aに垂直な方向に、2種類のノズルを形成する必要がなくなる。よって、センサ面31aに垂直な方向におけるノズルの設置スペースを従来よりも小さくすることができる。 (もっと読む)


【課題】測定物の厚みと出力値の関係を示すX線検出器の校正曲線を高精度かつ安価に作成することが可能な校正曲線の作成方法を提供する。
【解決手段】測定物10の厚みとX線検出器15の出力値の関係を示す校正曲線の作成方法は、X線源14からX線検出器15に至る経路に存在する物質とX線との相互作用断面積値のデータから、X線源14とX線検出器15の間に測定物10と同材質で厚みの異なる複数の仮想試験体を通過させたときのX線検出器15の理論出力値を計算して、測定物10の厚みと理論出力値との関係を示す計算校正曲線を求める第1工程と、X線源14とX線検出器15の間に標準試験体35を通過させたときのX線検出器15の実測標準出力値を求める第2工程と、理論標準出力値を算出し実測標準出力値に一致させる換算係数を求める第3工程と、換算係数に基づいて計算校正曲線から校正曲線を求める第4工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】被測定物に放射線を照射して板厚を測定する放射線板厚測定装置において、フレーム体の熱膨張を防止して、板厚の測定誤差を防止することを目的とする。
【解決手段】放射線板厚測定装置1は、上部フレーム2aと下部フレーム2bと側部フレーム2cとから構成されたフレーム体2と、前記上部フレーム2a及び前記下部フレーム2bの一方の先端に配設した放射線発生部3と、前記上部フレーム2a及び前記下部フレーム2bの他方の先端に前記放射線発生部3と対向するように配設した放射線検出部4と、前記放射線発生部3及び前記放射線検出部4の内部に形成した冷却配管3a、4aと、を備えている。そして、表面温度が25±10℃の範囲内となるように、前記フレーム体2を断熱材2dで被覆することで、被測定物5による熱放射から前記フレーム体2を断熱して熱膨張を防止する。 (もっと読む)


【課題】簡易かつ安定してバルジングを検知することができるバルジング検知装置を提供すること。
【解決手段】連続鋳造において引き抜かれている鋳片の短辺に面して配置され、前記鋳片の短辺の厚さ方向略中央部に向かって高周波の第1電波信号を送信する第1送信アンテナと、前記第1送信アンテナの近傍に配置され、前記第1送信アンテナが送信した前記第1電波信号が前記短辺の厚さ方向略中央部によって反射して発生した第1反射電波信号を受信する第1受信アンテナと、前記第1送信アンテナおよび前記第1受信アンテナに接続し、前記第1送信アンテナに前記第1電波信号を供給するとともに、前記第1受信アンテナが受信した前記第1反射電波信号を受け付け、前記第1電波信号と前記第1反射電波信号とを用いて測定した前記短辺の厚さ方向略中央部までの第1距離の変動をもとに、前記鋳片の短辺に発生するバルジングを検知するバルジング検知手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】
金属管の残厚を測定する際に腐食部の厚さを誤差要因であるエネルギー遷移や管内・外面の散乱状況を排除して平面撮像から定量的に評価する方法が無かった。
【解決手段】
放射線量を蓄積できる輝尽性蛍光媒体を表面に塗布したイメージングプレートを用いた1回の撮影結果から、金属管の長軸方向または周方向のイメージングプレートの測定輝度値の相関回帰式と減肉の無い場合の放射線透過厚さを用いて減肉があるときの金属管の残厚を定量化する。 (もっと読む)


【課題】鋼鈑の表面に形成されている、マグネタイトを含む酸化膜の厚さを非接触で測定できるようにする。
【解決手段】表層からヘマタイト2b及びマグネタイト2aが形成されている2層構造のスケール2が表面に形成されている熱延鋼鈑1に対してテラヘルツ波3を照射することにより、ヘマタイト2bの厚さを求める。そして、熱延鋼鈑1に対してレーザ光を照射して、ヘマタイト2bを除去すると共に、マグネタイト2aを、そのマグネタイト2aと略同じ厚さのウスタイト2cに変態させる。このようにしてスケール2をウスタイト2cだけにした後、熱延鋼鈑1に対してテラヘルツ波3を照射することにより、ウスタイト2cの厚さを求める。そして、算出したヘマタイト2bの厚さとウスタイト2cの厚さとから、スケール2の全体の厚さを算出する。 (もっと読む)


【課題】 被測定物の厚さプロファイル測定装置において、測定空間に置かれる窓の厚さムラの影響を補正して、窓厚さムラの影響をなくした厚さプロファイル測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 被測定物11を挟んで対向する一方のCフレーム5腕部に設けられるX線発生器1と、他方の前記Cフレーム腕部に設けられ、被測定物を透過した透過X線を検出する多チャンネルX線検出器2と、X線発生器及び多チャンネル検出器を予め所定の被測定物の端部位置に設定する検出器設定手段(3、7、8)と、被測定物の公称厚さに相当する校正サンプル板を有しる厚さ校正サンプル板設定手段(4、6、8)と、予め所定の校正サンプル板を幅方向の測定端部位置に設定して、Cフレームの幅方向の窓厚さを予め求め、測定した前記被測定物の厚さプロファイルから窓厚さを補正する測定部9とを備える。 (もっと読む)


【課題】 成形されたフェライト鋼板の塑性変形後の変形組織から局所域における歪み量を正確に評価する方法を提供する。
【解決手段】 成形されたフェライト鋼板の塑性変形を受けた部位において、同一方向性を有する転位セルが並んだ転位セル構造からなるフェライト結晶粒について、転位セルの平均間隔を測定することにより、局所域における歪み量を評価することを特徴とする成形されたフェライト鋼板の局所域における歪み量の評価方法。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、接合された部品ごとの中立セルを生成する方法を提供するものである。
【解決手段】 この方法は、以下のステップを備えることにより、接合部品における中立セルを抽出する。
(1)CT計測データから、中立セルを抽出するステップ;
(2)各中立セル面上点から最も近い表裏の境界セル面上点どうしの距離に基づいて、擬似板厚を算出するステップ;
(3)前記擬似板厚に応じて、各中立セルを、少なくとも、非接合部分の領域と、接合部分の領域とに分類するステップ;
(4)前記接合部分の領域における前記中立セルと物体表面との間に、仮想中立セルを生成するステップ;
(5)前記仮想中立セルと、前記非接合部分の領域における前記中立セルとを接続することにより、連結セルを生成するステップ;
(6)前記連結セルから部品毎の前景セル集合を求めるステップ。 (もっと読む)


【課題】 高速度で移動する板状の被測定物の中心部の厚さと幅方向の厚さ分布とを測定する検出部の被測定物の移動方向寸法を最小にした厚さプロファイル測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 被測定物3に連続して放射線を照射する放射線源容器11乃至13と、これらの放射線源容器と被測定物を挟んで対向配置され、放射線源容器から照射された放射X線束が被測定物を透過した透過放射線を検出する多チャンネル検出器21乃至23と、多チャンネル検出器23の後部に設けられ、被測定物及び多チャンネル検出器23または被測定物を透過した透過放射線を検出する単チャンネル検出器24と、多チャンネル検出器21乃至23で検出した透過放射線の強度から被測定物の厚さプロファイルを求め、単チャンネル検出器で検出した透過放射線の強度から被測定物の中心部の厚さを求める。 (もっと読む)


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