Fターム［2F069MM09］の内容
測定手段を特定しない測長装置 (16,435) | 特定の構造について言及するもの (1,066) | 保持、支持手段、取付構造 (473) | メインスケールの (8) | スピンドルに取付けられているもの (3) | スピンドルとスケール直列型 (1)
Fターム［2F069MM09］に分類される特許
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三次元座標測定システム及びそれに用いるパートプログラム
【課題】 安価な構成で且つ直前の測定方向に左右されず、ヒステリシスの影響を一定にして高精度な測定を可能にする。
【解決手段】 被測定物にプローブが接触したときのプローブの三次元位置の情報から測定要素のパラメータを算出する三次元測定システムにおいて、プローブを被測定物の測定点に同じ方向から２回連続して接触させ、このうちプローブが後で接触したときの三次元位置の情報のみを取り込んで測定要素のパラメータを算出する。
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