説明

Fターム[2G001AA01]の内容

Fターム[2G001AA01]に分類される特許

1 - 20 / 2,457






【課題】検査結果データの目視による再確認を容易かつ有効的に行うことができる物品検査装置を提供すること。
【解決手段】物品検査装置1は、被検査物Wを検査して検出信号を出力する検査部3と、検査部3からの検出信号に基づいて被検査物Wの良否を判定する判定部5と、被検査物W毎の検査部3の検出信号、判定部5の良否判定結果および検査時刻を含む検査結果データと、装置の動作来歴データと、から構成される検査記録情報を蓄積する検査記録蓄積部9と、検査記録蓄積部9に蓄積された検査記録情報から目視再確認用の検査結果データを抽出するための抽出条件を複数記憶する記憶部7と、記憶部7に複数記憶された抽出条件から所望の抽出条件の選択操作を行う表示操作部4と、表示操作部4により選択された抽出条件を満たす検査結果データを検査記録蓄積部9から抽出する制御部8と、制御部8が抽出した検査結果データを表示する表示操作部4と、を備えた (もっと読む)


【課題】検出精度の低下を抑制できるX線装置を提供する。
【解決手段】X線装置は、物体にX線を照射して物体を通過した透過X線を検出する。X線装置は、第1空間を形成するチャンバ部材と、第1空間に配置され、物体にX線を照射するX線源と、第1空間に配置され、物体を保持するステージと、X線源から射出され、物体を通過した透過X線の少なくとも一部を検出する検出器と、第1空間に配置され、X線源及びステージを支持する支持部材と、を備える。 (もっと読む)


【課題】結晶ウェハにより製造した3次元湾曲型X線反射レンズによる分光光学系により測角器を必要としない小型化に適した蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】X線源とX線結晶分光器とX線検出器によってなる蛍光X線分析装置であって、1方向の長さが25mm以上300mm以下で板状単結晶からなる3次元形状に湾曲した1枚のX線結晶分光器と、位置敏感かつエネルギー分解能力のあるX線検出器の少なくとも何れか一方を用いることにより、結晶分光器の角度走査をすることなくX線の分光波長帯域の蛍光X線分析を行う。 (もっと読む)


【課題】 測定対象物のX線による回折環の形状が不連続の状態で検出されていても、測定対象物の残留応力を精度よく検出できるようにする。
【解決手段】 コントローラCT内に、残留応力の変化に応じて変化する複数の比較回折環の形状を表す回折環形状データ群を残留応力に対応させてそれぞれ記憶しておく。コントローラCTは、測定対象物のX線による回折環の形状を検出し、前記記憶されている回折環形状データ群によって表される複数の比較回折環の形状に対する、前記検出された測定対象物の回折環の形状の一致度合いをそれぞれ計算する。そして、コントローラCTは、前記記憶されている残留応力と、前記計算された一致度合いとの関係に基づいて、前記検出された測定対象物の回折環の形状に最も近い形状の比較回折環に対応した残留応力を測定対象物の残留応力として計算する。 (もっと読む)


【課題】装置構成が複雑化することなく、確実かつ自動的に動作モードを動作確認モードに切替えることができる物品検査装置を提供すること。
【解決手段】搬送部2に設けられ、搬送される被検査物Wの通過を検知する搬入センサ50(第1搬入センサ51、第2搬入センサ52)と、搬入センサ50により通過が検知される検知タイミングに基づいて、被検査物Wを検査する通常検査モードから検査部3の動作確認を行う動作確認モードに動作モードを切替える制御部8と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】 X線回折測定装置を容易に搬送可能に構成するとともに、測定対象物のX線による回折環を簡単に形成できるようにする。
【解決手段】 X線回折測定装置は、ケース60を備えて、ケース60内に、測定対象物OBに向けてX線を出射するX線出射器10と、イメージングプレート21が取り付けられるテーブル20と、イメージングプレート21にレーザ光を照射して、出射した光を受光して受光強度に応じた受光信号を出力するレーザ検出装置40と、テーブル20を中心軸回りに回転させるスピンドルモータ37と、テーブル20をイメージングプレート21の受光面に平行な方向に移動するフィードモータ32とを収容する。ケース60は、測定対象物OB上に載置される傾斜面壁67を有し、傾斜面壁67には出射されたX線を通過させる貫通孔67aが設けられている。傾斜面壁67は、出射されたX線の光軸方向と所定の角度をなす。 (もっと読む)


【課題】熱交換器のアルミニウムフィンに鉄が強固に固着する以前に除去する必要があるが、そのためには、冷凍装置の熱交換器の運転状態を常に監視しなければならず、装置が大規模となるほか、鉄粉の腐食による目詰まりであるか、油にごみ等が付着したために生じた目詰まりであるかを判別することはできない。
【解決手段】この発明に係る検知装置は、アルミニウムの成型品にX線を照射する照射部と、成型品から放出される蛍光X線を分析する分析部と、分析部における分析結果からアルミニウムと鉄の信号強度の比を算出する算出部とを備え、この比により成型品に固着した鉄の固着度を検知する。 (もっと読む)


【課題】実際のゴム材料から精度良くシミュレーション用のゴム材料モデルを設定して精度の良い計算結果を得るのに役立つ方法を提供する。
【解決手段】充填剤を含有するゴム材料のシミュレーション方法であって、前記ゴム材料のX線及び/又は中性子の散乱データを測定する測定工程S1と、前記散乱データからリバースモンテカルロ法によりゴム中の充填材の3次元構造を特定する可視化工程S2と、前記充填材の3次元構造に基づいてゴム材料モデルを設定するモデル設定工程S3乃至S6と、前記ゴム材料モデルに基づいて変形シミュレーションを行う工程とを含み、前記測定工程において、散乱ベクトルqが10-4nm-1よりも大かつ10nm-1よりも小の範囲の散乱データを得ることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】産業用X線CT装置のCT画像の空間分解能を高めること、及びそれに寄与するX線検出器を提供する。
【解決手段】X線を被検体に照射するX線源と、被検体を透過したX線を検出する複数のX線検出器2がアレイ化配置されて構成されたリニアアレイセンサと、そのX線源とそのX線検出器2の間に配置された被検体を水平回転させるターンテーブルと、X線検出器2で計測されたX線透過量を数値化する信号処理回路とこれらの信号を元に画像を再構成する演算装置からなるX線CT装置において、そのX線検出器2は、X線を検出するための半導体部材12と、これを埋設したベース板18と、その半導体部材12の面であって、アレイ化配置方向側の片側面に限定して装着されて漏れ電子を遮蔽する遮蔽板14を有する。 (もっと読む)


【課題】測定感度および測定精度が高く、効率の良い、半導体ウェハプロセス用希ふっ酸溶液の不純物分析方法を提供すること。
【解決手段】希ふっ酸溶液を浸漬槽から採取するA工程と、液中のSiの質量数28、Pの質量数31およびPO不純物の質量数47の質量スペクトル強度を計測するB工程と、採取した希ふっ酸溶液を乾燥濃縮して固形化するC−1工程、この固形物中のSi、P、PO元素の真空中でのエネルギー強度を測定するC−2工程と、前記固形物の真空中での質量スペクトル強度を計測するC−3工程、C−3工程で求めた目的の不純物の質量スペクトル強度とマトリックス質量のスペクトル強度とを合わせたスペクトル強度と目的の不純物の質量スペクトル強度との強度比を求め、この強度比によって前記B工程で求めた質量スペクトル強度を補正して、希ふっ酸溶液中のSi、P,POの真の不純物量を求める。 (もっと読む)


【課題】 少なくとも1回の撮像から、被検体の微分位相像または位相像を取得することができるX線撮像装置およびX線撮像方法を提供すること。
【解決手段】 本発明に係るX線撮像装置は、位相格子130と吸収格子150と検出器170と演算装置180を有する。演算装置180は、検出器で取得したモアレの強度分布をフーリエ変換することにより、空間周波数スペクトルを取得するフーリエ変換工程を実行する。また、フーリエ変換工程により得られた空間周波数スペクトルから、キャリア周波数に対応したスペクトルを分離し、逆フーリエ変換を用いて微分位相像を取得する位相回復工程を実行する。 (もっと読む)


【課題】複数種類の測定データ及び解析データを取得できるX線分析装置において、データの内容とその内容をもたらした解析ソフトウエアとを簡単且つ正確に把握できるようにする。
【解決手段】複数の測定手法を実現できる機能を持ったX線分析装置1であり、この装置は、個々の測定手法を実現して測定データを取得する測定ソフトウエア36と、その測定データに対して所定の解析を行って解析データを取得する解析ソフトウエア37と、測定データ及び解析データの個々に基づいて縮小画像42を作成する縮小画像作成手段2、38と、解析ソフトウエアを指し示すアイコン43を作成する解析アイコン作成手段2、39と、縮小画像42とアイコン43とを互いが対応関係にあることを示しつつ同じ画面9a内に表示する画像表示手段2,9とを有する。 (もっと読む)


【課題】蛍光X線分析法による成分定量において分析精度を向上できる試料の予備成形方法およびそれを用いる成分定量方法を提供することを目的とする。
【解決手段】加圧して本成形した後で蛍光X線分析法に用いられる試料を予備成形する方法であって、平均粒径D50が30μm以下の金属または合金粉末を型に充填して成形し、この成形体5のX線が照射される面5aの全面を押込み率を10〜40%にして加圧することを特徴とする試料の予備成形方法である。本発明の予備成形方法は、成形体5のX線が照射される面5aの全面を押込み率を10〜40%にして加圧する際に、成形体5のX線が照射される面の全面を加圧するパンチ4と、このパンチ4を案内するガイド3とを用いるのが好ましく、金属または合金粉末として、希土類−鉄−ホウ素系合金の酸化物粉末を用いるのが好ましい。 (もっと読む)


【課題】XPS法を用いた化学状態分析において、内殻スペクトルのピーク形状が非対称であっても、表面の化学状態を定量的に評価できる導電性材料表面化学状態の定量的評価方法を提供する。
【解決手段】表面に官能基修飾処理が施されていない導電性材料について、XPS法によって構造の異なる2種類以上の内殻スペクトルそれぞれをXY座標に表示する第一工程と、第一工程においてXY座標に表示された内殻スペクトル全ての内殻スペクトルに当て嵌まるように、それら内殻スペクトルをXY座標の2以上の対称な関数に分解し、それら2以上の対称な関数の和によってXY座標に表示された非対称なピーク関数を定義する第二工程と、測定対象の導電性材料について、非対称なピークを第二工程において定義された非対称なピーク関数を用いて分解し、そのピーク関数のXY座標の面積の和を非対称なピーク面積として算出する第三工程とを含む導電性材料表面の定量的評価方法である。 (もっと読む)


【課題】簡易な操作により容易かつ迅速に分析を行うことができるとともに、公定法との良好な相関性を得ることができる石炭灰中における砒素濃度の簡易分析方法を提供する。
【解決手段】石炭灰中における砒素濃度の簡易分析方法は、まず石炭灰にX線を照射し、該石炭灰から発せられる蛍光X線の強度を測定する蛍光X線法により得られる砒素濃度と、アメリカ環境保護庁の定める公定法(EPA Method 3051)により得られる砒素濃度との間で検量線を作成する。次いで、分析対象物としての石炭灰について前記蛍光X線法により砒素濃度を分析する。そして、蛍光X線法で得られた砒素濃度の分析値から、前記検量線に基づいて公定法により得られる石炭灰中の砒素濃度が推定可能である。 (もっと読む)


【課題】ラスタ素子のハニカム格子に起因する強度ムラを均一化することができる回折X線検出方法およびX線回折装置を提供する。
【解決手段】ポリキャピラリで形成されたラスタ素子10を介して行なう回折X線検出方法であって、試料により回折させたX線をラスタ素子10に入射させ、試料中心Sからの距離を維持しX線の回折角度に対するラスタ素子10の位置を変えつつ、ラスタ素子10を通過したX線を検出器20により検出する。これにより、回折角度ごとに生じるハニカム格子による影響が分散され、ハニカム格子に起因する強度ムラを均一化することができる。その結果、ラスタ素子を応用し、試料の周りからの散乱線を排除したり、いわゆる微小角入射X線回折測定で分解能を向上させたりする測定を有効に行なうことができる。 (もっと読む)


1 - 20 / 2,457