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Fターム[2G001AA03]の内容

Fターム[2G001AA03]に分類される特許

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【課題】 元素分布および状態分布を二次元的に把握しやすく、また、一度の観測で多数の特定元素分布データを得ることができる、STEMを用いたEELS分析方法およびEELS分析装置を実現する。
【解決手段】 試料表面の座標(X,Y)の各点でそれぞれ、EELSスペクトルデータを採取する。各EELSスペクトルデータのコア・ロス吸収端及びELNES吸収端を探索し、両者のエネルギー損失量の差Edを(X,Y,Ed)の分布像として表示する。Edは伝導帯の状態密度を反映するので、(X,Y,Ed)は状態分布像に相当する。また、各座標のコア・ロス吸収端のデータから元素同定して元素濃度Cを(X,Y,C)の分布像として表示する。各座標ごとにEELSスペクトルデータを採取しているので、一度の観測で複数の元素の濃度分布を計算することができる。 (もっと読む)


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