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Fターム[2G001BA11]の内容

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【課題】検出精度の低下を抑制できるX線装置を提供する。
【解決手段】X線装置は、物体にX線を照射して物体を通過した透過X線を検出する。X線装置は、第1空間を形成するチャンバ部材と、第1空間に配置され、物体にX線を照射するX線源と、第1空間に配置され、物体を保持するステージと、X線源から射出され、物体を通過した透過X線の少なくとも一部を検出する検出器と、第1空間に配置され、X線源及びステージを支持する支持部材と、を備える。 (もっと読む)


【課題】検査結果データの目視による再確認を容易かつ有効的に行うことができる物品検査装置を提供すること。
【解決手段】物品検査装置1は、被検査物Wを検査して検出信号を出力する検査部3と、検査部3からの検出信号に基づいて被検査物Wの良否を判定する判定部5と、被検査物W毎の検査部3の検出信号、判定部5の良否判定結果および検査時刻を含む検査結果データと、装置の動作来歴データと、から構成される検査記録情報を蓄積する検査記録蓄積部9と、検査記録蓄積部9に蓄積された検査記録情報から目視再確認用の検査結果データを抽出するための抽出条件を複数記憶する記憶部7と、記憶部7に複数記憶された抽出条件から所望の抽出条件の選択操作を行う表示操作部4と、表示操作部4により選択された抽出条件を満たす検査結果データを検査記録蓄積部9から抽出する制御部8と、制御部8が抽出した検査結果データを表示する表示操作部4と、を備えた (もっと読む)


【課題】装置構成が複雑化することなく、確実かつ自動的に動作モードを動作確認モードに切替えることができる物品検査装置を提供すること。
【解決手段】搬送部2に設けられ、搬送される被検査物Wの通過を検知する搬入センサ50(第1搬入センサ51、第2搬入センサ52)と、搬入センサ50により通過が検知される検知タイミングに基づいて、被検査物Wを検査する通常検査モードから検査部3の動作確認を行う動作確認モードに動作モードを切替える制御部8と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】産業用X線CT装置のCT画像の空間分解能を高めること、及びそれに寄与するX線検出器を提供する。
【解決手段】X線を被検体に照射するX線源と、被検体を透過したX線を検出する複数のX線検出器2がアレイ化配置されて構成されたリニアアレイセンサと、そのX線源とそのX線検出器2の間に配置された被検体を水平回転させるターンテーブルと、X線検出器2で計測されたX線透過量を数値化する信号処理回路とこれらの信号を元に画像を再構成する演算装置からなるX線CT装置において、そのX線検出器2は、X線を検出するための半導体部材12と、これを埋設したベース板18と、その半導体部材12の面であって、アレイ化配置方向側の片側面に限定して装着されて漏れ電子を遮蔽する遮蔽板14を有する。 (もっと読む)


【課題】 少なくとも1回の撮像から、被検体の微分位相像または位相像を取得することができるX線撮像装置およびX線撮像方法を提供すること。
【解決手段】 本発明に係るX線撮像装置は、位相格子130と吸収格子150と検出器170と演算装置180を有する。演算装置180は、検出器で取得したモアレの強度分布をフーリエ変換することにより、空間周波数スペクトルを取得するフーリエ変換工程を実行する。また、フーリエ変換工程により得られた空間周波数スペクトルから、キャリア周波数に対応したスペクトルを分離し、逆フーリエ変換を用いて微分位相像を取得する位相回復工程を実行する。 (もっと読む)


【課題】位相イメージングにおいて、ノイズが低減された高品位の位相像あるいは微分位相像を生成可能な技術を提供する。
【解決手段】干渉パターンのデータからx方向とy方向の微分位相データを抽出し、抽出されたx方向の微分位相データをx方向に関して微分しx方向の二階微分位相データを算出し、y方向の微分位相データをy方向に関して微分しy方向の二階微分位相データを算出する。そして、x方向とy方向の二階微分位相データを関数として含む二階微分方程式を解くことによって、被検体の位相像のデータを算出する。 (もっと読む)


【課題】2段に重ねられた検出器の画素間での対応がとれなくなったことを検出し、画素間での対応がとれるように輝度データを補正する非破壊検査装置を提供すること。
【解決手段】非破壊検査装置1は、X線照射器20、低エネルギ検出器32、高エネルギ検出器42、低エネルギ透過率算出部72、高エネルギ透過率算出部74、検出部76及び補正部78を備えている。算出部72は、透過X線の低エネルギ範囲における透過率を示す値を算出する。算出部74は、透過X線の高エネルギ範囲における透過率を示す値を算出する。検出部76は、両算出部72,72で算出された透過率の比に基づいてX線照射器20の位置ずれ内容を検出する。補正部78は、検出部76でX線照射器20の位置ずれ内容が検出された場合に、当該位置ずれ内容に応じて、検出器32,42で検出されたX線の輝度データを補正する。 (もっと読む)


【課題】S/TEM分析のためにサンプルを抽出および取り扱うための改善された方法および装置を提供すること。
【解決手段】本発明の好適な実施形態は、ラメラを基板表面を有する基板から抽出するための装置であって、1以上のステージ・コントローラに接続された基板用の可動ステージと、マイクロプローブと、可動ステージ上に設けられて基板を保持する基板ホルダと、基板ホルダが基板を保持しているときに基板表面に対してある斜角で基板表面に光を当てるための斜照明と、基板を撮像する光学顕微鏡とを備える。 (もっと読む)


【課題】2段に重ねられた放射線検出器の画素間での対応がとれなくなったことを早期に知ることができる非破壊検査装置を提供すること。
【解決手段】非破壊検査装置1は、X線照射器20、低エネルギ検出器32、高エネルギ検出器42、低エネルギ透過率算出部72、高エネルギ透過率算出部74及び検出部76を備えている。低エネルギ透過率算出部72は、被検査物Sを透過したX線の低エネルギ範囲における透過率を、低エネルギ検出器32で検出された輝度データから算出し、高エネルギ透過率算出部74は、被検査物Sを透過したX線の高エネルギ範囲における透過率を、高エネルギ検出器42で検出された輝度データから算出する。検出部76は、低エネルギ透過率算出部72で算出された透過率と、高エネルギ透過率算出部74で算出された透過率との比に基づいてX線照射器20の位置ずれを検出する。 (もっと読む)


【課題】画像形成システムを用いて対象領域の三次元モデルを生成するための方法及び装置を提供する。
【解決手段】本発明は、x線画像形成システムにおいて、ターゲット・オブジェクト上の対象領域の三次元表現を生成する方法を提供する。本方法は、既知の幾何学的形状の基準マーカーを使用する。対象領域及び基準マーカーが、複数の所定位置において画像形成される。各々の所定位置についての基準マーカーの予測される画像を計算し、各々の所定位置における基準マーカーのキャプチャされた画像と比較する。予測される画像とキャプチャされた画像との間の相違を用いて、各々の所定位置についての対象領域の修正された画像を生成し、これらの修正された画像を用いて、対象領域の三次元モデルを生成する。本方法は、高価な機械的位置決めシステムを必要とすることなく、x線画像形成システムにおける対象領域の有用な三次元モデルを生成することを可能にする。 (もっと読む)


【課題】大規模な施設を要することなくMRT用のX線ビームを生成することができる。
【解決手段】子ビームが照射されると制動X線をX線ビームXとして出射する金属ターゲット5と、スリット状のX線透過部6aを有し、X線ビームXの一部分がX線透過部6aを透過し、X線透過部6a以外の領域に入射したX線ビームXを遮蔽するように、金属ターゲット5のX線ビームXの出射方向下流側に配置されたX線遮蔽体6と、出射されるX線ビームXの発生点の径がX線透過部6aの入口部の長手方向に沿った長さより短い電子ビームを金属ターゲット5に照射する電子ビーム発生装置と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】基板が含む検査対象に3次元的な変位が生じても、検査対象の正確な位置に基づいて検査を実行させる技術を提供する。
【解決手段】検査対象と測定点とを含む平面状の基板に対して互いに方向が異なる第1照射方向および第2照射方向に放射線が照射されるように、基板が保持される保持基準位置と放射線発生器の焦点位置との少なくとも一方を移動させる移動制御手段と、基板に対して第1照射方向に放射線を照射した場合における相対焦点位置と相対投影位置とを結ぶ直線と、基板に対して第2照射方向に放射線を照射した場合における相対焦点位置と相対投影位置とを結ぶ直線との交点の位置を測定点の位置として特定する測定点位置特定手段と、測定点の位置に基づいて特定した検査対象の位置について検査を実行する検査手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】実際のアルミダイカスト部品の内部欠陥、特に破断チル層の状態を適正に検出することが可能なアルミダイカスト部品の欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】超音波探傷で得られる画像及びX線CTで得られる画像の同一欠陥に対する欠陥面積が同等になるように予め両者の画像出力を調整し、アルミダイカスト部品の予め設定された所定範囲の内部欠陥を超音波探傷及びX線CTし、当該所定範囲の超音波探傷による内部欠陥を画像解析して求めた欠陥面積の総和を超音波探傷による欠陥総量として算出し、当該所定範囲のX線CTによる内部欠陥を画像解析して求めた欠陥面積の総和をX線CTによる欠陥総量として算出し、超音波探傷による欠陥総量からX線CTによる欠陥総量を減じてアルミダイカスト部品の予め設定された所定範囲の破断チル層の総量を算出する。 (もっと読む)


【課題】高エネルギーの荷電粒子ビームにより測定試料中の物質ごとに1μm〜0.1μm等といった高空間分解能で定量的に材料分析できるとともに、前述した高精度の材料分析を研究室規模の施設で可能とする材料分析装置を提供する。
【解決手段】パルスレーザを射出するパルスレーザ射出部1と、前記パルスレーザが照射される金属薄膜Fを有し、当該金属薄膜Fから荷電粒子ビームを生成する荷電粒子ビーム生成部2と、前記荷電粒子ビーム生成部2から射出された荷電粒子ビームを磁場又は電場により収束して、測定試料Sに照射する荷電粒子ビーム収束部3と、前記荷電粒子ビームが測定試料Sに照射された際に生じる放射線Rを測定する放射線測定部4と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】簡素化された構成によりX線の照射範囲の調整を可能とし、部品点数や組立工数を減らすことで安価なX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置10は、筐体11と、X線源と、搬送部30と、スリット形成部材24と、X線ラインセンサ40と、を備える。筐体11には、X線により物品の検査が行われる検査空間Siの上に配される第1空間S1および検査空間の下方に配される第2空間S2が内部に形成される。筐体11は、開口部を有し第1空間と検査空間とを仕切る仕切り板部材13を有する。X線源は、第1空間に配置され、物品にX線を照射する。搬送部は、検査空間に配置され、物品を所定の方向へ搬送する。スリット形成部材は、仕切り板部材の開口部の検査空間側に配置され、物品の搬送方向に交差する方向に延びるスリットAを形成する。X線ラインセンサは、第2空間に配置され、スリットを通って物品を透過したX線を検出する。 (もっと読む)


【課題】エネルギーサブトラクション法により得る2つのX線画像上の被検査物の大きさと形状を略一致させ、異物検出性能の低下を防止することができるX線異物検出装置を提供すること。
【解決手段】X線管31を、搬送面に平行な平面上において搬送部2の搬送方向上流側または搬送方向下流側に位置調整可能に支持する支持機構100と、第1のX線画像データおよび第2のX線画像データから被検査物Wの搬送方向の濃淡変化を示す第1の波形および第2の波形をそれぞれ取得し、第1の波形形状と第2の波形形状の差異に基づいて、X線管31の調整方向を判定する調整判定部81と、調整判定部81により判別された調整方向を表示する表示器5と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】フレキシブル基板の振動、変形を抑制する放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線画像撮影装置10は、照射された放射線を電気信号に変換する放射線検出パネル14と、信号処理を行う信号処理基板18と、信号処理基板18を保持する保持基材16と、一端が放射線検出パネル14に接続され、他端が信号処理基板18に接続されたフレキシブル基板20と、フレキシブル基板20に張力を掛ける張力付与手段32a、32bと、放射線検出パネル14、信号処理基板18、保持基材16、フレキシブル基板20及び張力付与手段32a、32bが内蔵される筐体12と、を有している。 (もっと読む)


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