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Fターム[2G001CA01]の内容

Fターム[2G001CA01]に分類される特許

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【課題】 多層プリント配線板の内層の各導体層の変形量を観測、記録する。
【解決手段】 多層プリント配線板60の内層用の両面配線板61の表裏の導体層に中実ガイドマーク22と中空ガイドマーク23が形成され、例えば、中実ガイドマーク22−1bに、隣接した導体層に設けられた中空ガイドマーク23−2aが同心に配置され、隣接した導体層毎に同心に配置された中実、中空ガイドマーク22、23を形成する。X線カメラの視野内に納まる外形のガイドマーク枠21内に、例えば3行3列に、同心の中実、中空ガイドマーク22(1a〜5a)、23(1b〜5b)の組が配されている。ガイドマーク群20は多層プリント配線板の、たとえば4隅に配置され、1個のガイドマーク群は1回のX線照射で枠内のガイドマーク全ての像を取り込み、それらの座標値が計算される。4個のガイドマーク群内のガイドマークの座標値から、各導体層に形成された配線用パターンの変形量が計算され、結果を記録できる。 (もっと読む)


【課題】 従来に比してX線ラインセンサの有効長を短くしても、従来と同等もしくはそれ以上の視野を得ることのできるX線CT装置を提供する。
【解決手段】 複数のX線ラインセンサ2a,2bを、X線照射方向中心線Cを挟んで両側に間隙Gを開けて、中心線Cからの距離L/2内に配置し、トータルの有効長をL/2以上とする。また、各X線ラインセンサ2a,2bは、中心線Cで片側の領域を他側に折り返して重畳させたとき、長さL/2の領域の全てがいずれか一方側のX線ラインセンサ2aまたは2bでカバーするように配置することにより、z軸の回りに試料Wが360°回動することで、断層像を再構成するために必要なデータを採取可能とし、短い有効長のX線ラインセンサを複数個用いて、そのトータルの有効長のラインセンサを用いた場合と同等の視野を得ることを可能とする。 (もっと読む)


【課題】 試料を支持する試料板からの回折X線の影響を排除して、試料に関する正確なX線回折測定をできるようにする。
【解決手段】 単結晶試料板21によって支持する試料SにX線を照射し、試料Sから発生する回折X線を2次元X線検出器2によって検出し、検出された回折X線の座標及び強度をX線読取り装置によって読み取り、そしてその読取り結果に基づいて演算を行って回折X線強度分布を求めるX線測定装置である。単結晶試料板21から出る回折X線が2次元X線検出器2によって検出される座標位置を、回折X線強度分布の演算に寄与させないブランク領域として認識する。単結晶試料板21からの回折X線がX線強度の演算に算入されないので、試料Sからの回折X線だけに関して正確にX線強度分布を求めることができる。 (もっと読む)


【課題】 磁気ヘッドなどに用いられる金属多層膜の構造評価に有効な、金属多層膜のX線反射率プロファイルの新しい解析法を提供する。
【解決手段】 金属多層膜のX線反射率プロファイルの解析のための各層の膜厚の初期値t1 i 〜t3 i として、蛍光X線測定から求めた各層の膜厚を用いるようにする。この初期値t1 i 〜t3 i としては、蛍光X線測定により得られた各層の付着量F1 〜F3 を各層の材料の理論密度ρ1 i 〜ρ3 i で割って算出した値を採用するのが有利である。 (もっと読む)


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