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Fターム[2G001CA01]の内容

Fターム[2G001CA01]に分類される特許

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【課題】簡易な操作により容易かつ迅速に分析を行うことができるとともに、公定法との良好な相関性を得ることができる石炭灰中における砒素濃度の簡易分析方法を提供する。
【解決手段】石炭灰中における砒素濃度の簡易分析方法は、まず石炭灰にX線を照射し、該石炭灰から発せられる蛍光X線の強度を測定する蛍光X線法により得られる砒素濃度と、アメリカ環境保護庁の定める公定法(EPA Method 3051)により得られる砒素濃度との間で検量線を作成する。次いで、分析対象物としての石炭灰について前記蛍光X線法により砒素濃度を分析する。そして、蛍光X線法で得られた砒素濃度の分析値から、前記検量線に基づいて公定法により得られる石炭灰中の砒素濃度が推定可能である。 (もっと読む)


【課題】ラスタ素子のハニカム格子に起因する強度ムラを均一化することができる回折X線検出方法およびX線回折装置を提供する。
【解決手段】ポリキャピラリで形成されたラスタ素子10を介して行なう回折X線検出方法であって、試料により回折させたX線をラスタ素子10に入射させ、試料中心Sからの距離を維持しX線の回折角度に対するラスタ素子10の位置を変えつつ、ラスタ素子10を通過したX線を検出器20により検出する。これにより、回折角度ごとに生じるハニカム格子による影響が分散され、ハニカム格子に起因する強度ムラを均一化することができる。その結果、ラスタ素子を応用し、試料の周りからの散乱線を排除したり、いわゆる微小角入射X線回折測定で分解能を向上させたりする測定を有効に行なうことができる。 (もっと読む)


【課題】 イメージングプレートの取付け精度の良否によらず、測定対象物の残留応力を精度よく測定できるようにする。
【解決手段】 コントローラCTは、残留応力が0である基準物体BOB及び測定対象物OBに、X線出射器13からのX線をそれぞれ照射して、イメージングプレート28上に基準物体BOB及び測定対象物OBの回折環をそれぞれ撮像する。そして、コントローラCTは、前記撮像した両回折環の形状をそれぞれ検出し、測定対象物OBの回折環の形状を、基準物体BOBの回折環の形状を用いて補正して、イメージングプレート28のテーブル27に対する取付け誤差の影響を少なくする。 (もっと読む)


【課題】2段に重ねられた放射線検出器の画素間での対応がとれなくなったことを早期に知ることができる非破壊検査装置を提供すること。
【解決手段】非破壊検査装置1は、X線照射器20、低エネルギ検出器32、高エネルギ検出器42、低エネルギ透過率算出部72、高エネルギ透過率算出部74及び検出部76を備えている。低エネルギ透過率算出部72は、被検査物Sを透過したX線の低エネルギ範囲における透過率を、低エネルギ検出器32で検出された輝度データから算出し、高エネルギ透過率算出部74は、被検査物Sを透過したX線の高エネルギ範囲における透過率を、高エネルギ検出器42で検出された輝度データから算出する。検出部76は、低エネルギ透過率算出部72で算出された透過率と、高エネルギ透過率算出部74で算出された透過率との比に基づいてX線照射器20の位置ずれを検出する。 (もっと読む)


【課題】2段に重ねられた検出器の画素間での対応がとれなくなったことを検出し、画素間での対応がとれるように輝度データを補正する非破壊検査装置を提供すること。
【解決手段】非破壊検査装置1は、X線照射器20、低エネルギ検出器32、高エネルギ検出器42、低エネルギ透過率算出部72、高エネルギ透過率算出部74、検出部76及び補正部78を備えている。算出部72は、透過X線の低エネルギ範囲における透過率を示す値を算出する。算出部74は、透過X線の高エネルギ範囲における透過率を示す値を算出する。検出部76は、両算出部72,72で算出された透過率の比に基づいてX線照射器20の位置ずれ内容を検出する。補正部78は、検出部76でX線照射器20の位置ずれ内容が検出された場合に、当該位置ずれ内容に応じて、検出器32,42で検出されたX線の輝度データを補正する。 (もっと読む)


【課題】チゲサイクリンの結晶性固体、フォームI、フォームII、フォームIII、フォームIV、およびフォームV、これらの結晶性固体を含む組成物、ならびにこれらの結晶性固体を提供すること。
【解決手段】チゲサイクリンの結晶性固体、フォームI、フォームII、フォームIII、フォームIV、およびフォームV、これらの結晶性固体を含む組成物、ならびにこれらの結晶性固体を調製する方法が本明細書に記載される。 (もっと読む)


【課題】画像形成システムを用いて対象領域の三次元モデルを生成するための方法及び装置を提供する。
【解決手段】本発明は、x線画像形成システムにおいて、ターゲット・オブジェクト上の対象領域の三次元表現を生成する方法を提供する。本方法は、既知の幾何学的形状の基準マーカーを使用する。対象領域及び基準マーカーが、複数の所定位置において画像形成される。各々の所定位置についての基準マーカーの予測される画像を計算し、各々の所定位置における基準マーカーのキャプチャされた画像と比較する。予測される画像とキャプチャされた画像との間の相違を用いて、各々の所定位置についての対象領域の修正された画像を生成し、これらの修正された画像を用いて、対象領域の三次元モデルを生成する。本方法は、高価な機械的位置決めシステムを必要とすることなく、x線画像形成システムにおける対象領域の有用な三次元モデルを生成することを可能にする。 (もっと読む)


【課題】大規模な施設を要することなくMRT用のX線ビームを生成することができる。
【解決手段】子ビームが照射されると制動X線をX線ビームXとして出射する金属ターゲット5と、スリット状のX線透過部6aを有し、X線ビームXの一部分がX線透過部6aを透過し、X線透過部6a以外の領域に入射したX線ビームXを遮蔽するように、金属ターゲット5のX線ビームXの出射方向下流側に配置されたX線遮蔽体6と、出射されるX線ビームXの発生点の径がX線透過部6aの入口部の長手方向に沿った長さより短い電子ビームを金属ターゲット5に照射する電子ビーム発生装置と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】測定時間を短くすることができ、且つ簡易な構成で完全分光を実現することができるX線分光検出装置を提供する。
【解決手段】X線分光検出装置1Aは、X線若しくは電子線の照射によって該試料10表面における直径100μm以下の微小分析点Pから放射された特性X線2を波長毎に分光して検出する。X線分光検出装置1Aは、分光結晶20及び二次元X線検出器30を備える。分光結晶20は、微小分析点Pから放射された特性X線2を受ける平坦な回折反射面20aを有し、特性X線2に含まれる波長成分のうち該回折反射面20aへの入射角に応じた波長成分を回折反射することにより、特性X線2を波長毎に分光する。二次元X線検出器30は、分光結晶20において回折反射した特性X線2を受ける受光面30aを有し、該受光面30aに入射した特性X線2の入射位置および強度に関するデータを生成する。 (もっと読む)


【課題】基板が含む検査対象に3次元的な変位が生じても、検査対象の正確な位置に基づいて検査を実行させる技術を提供する。
【解決手段】検査対象と測定点とを含む平面状の基板に対して互いに方向が異なる第1照射方向および第2照射方向に放射線が照射されるように、基板が保持される保持基準位置と放射線発生器の焦点位置との少なくとも一方を移動させる移動制御手段と、基板に対して第1照射方向に放射線を照射した場合における相対焦点位置と相対投影位置とを結ぶ直線と、基板に対して第2照射方向に放射線を照射した場合における相対焦点位置と相対投影位置とを結ぶ直線との交点の位置を測定点の位置として特定する測定点位置特定手段と、測定点の位置に基づいて特定した検査対象の位置について検査を実行する検査手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】高エネルギーの荷電粒子ビームにより測定試料中の物質ごとに1μm〜0.1μm等といった高空間分解能で定量的に材料分析できるとともに、前述した高精度の材料分析を研究室規模の施設で可能とする材料分析装置を提供する。
【解決手段】パルスレーザを射出するパルスレーザ射出部1と、前記パルスレーザが照射される金属薄膜Fを有し、当該金属薄膜Fから荷電粒子ビームを生成する荷電粒子ビーム生成部2と、前記荷電粒子ビーム生成部2から射出された荷電粒子ビームを磁場又は電場により収束して、測定試料Sに照射する荷電粒子ビーム収束部3と、前記荷電粒子ビームが測定試料Sに照射された際に生じる放射線Rを測定する放射線測定部4と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】高エネルギーの荷電粒子ビームにより測定試料中の物質ごとに1μm〜0.1μm等といった高空間分解能で定量的に材料分析できるとともに、前述した高精度の材料分析を研究室規模の施設で可能とする材料分析装置を提供する。
【解決手段】パルスレーザを射出するパルスレーザ射出部1と、前記パルスレーザが照射される金属薄膜Fを有し、当該金属薄膜Fから荷電粒子ビームを生成する荷電粒子ビーム生成部2と、前記荷電粒子ビーム生成部2から射出された荷電粒子ビームIBを磁場又は電場により収束して、測定試料Sに照射する荷電粒子ビーム制御部3と、前記荷電粒子ビームIBが測定試料Sに照射された際に生じる放射線Rを測定する放射線測定部4と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】省スペースを実現するX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置10は、X線照射部と、X線検出部と、画像生成部と、本体11と、表示部30とを備える。X線照射部は、検査対象物にX線を照射する。X線検出部は、検査対象物を透過したX線を検出する。画像生成部は、X線検出部によって検出されたX線の強度に応じて、検査対象物のX線画像を生成する。本体は、X線照射部、X線検出部、および画像生成部を収容する。表示部は、本体に移動可能に取り付けられる。また、表示部は、画像生成部によって生成された検査対象物のX線画像を表示する。 (もっと読む)


【課題】実際のアルミダイカスト部品の内部欠陥、特に破断チル層の状態を適正に検出することが可能なアルミダイカスト部品の欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】超音波探傷で得られる画像及びX線CTで得られる画像の同一欠陥に対する欠陥面積が同等になるように予め両者の画像出力を調整し、アルミダイカスト部品の予め設定された所定範囲の内部欠陥を超音波探傷及びX線CTし、当該所定範囲の超音波探傷による内部欠陥を画像解析して求めた欠陥面積の総和を超音波探傷による欠陥総量として算出し、当該所定範囲のX線CTによる内部欠陥を画像解析して求めた欠陥面積の総和をX線CTによる欠陥総量として算出し、超音波探傷による欠陥総量からX線CTによる欠陥総量を減じてアルミダイカスト部品の予め設定された所定範囲の破断チル層の総量を算出する。 (もっと読む)


【課題】エネルギーサブトラクション法により得る2つのX線画像上の被検査物の大きさと形状を略一致させ、異物検出性能の低下を防止することができるX線異物検出装置を提供すること。
【解決手段】X線管31を、搬送面に平行な平面上において搬送部2の搬送方向上流側または搬送方向下流側に位置調整可能に支持する支持機構100と、第1のX線画像データおよび第2のX線画像データから被検査物Wの搬送方向の濃淡変化を示す第1の波形および第2の波形をそれぞれ取得し、第1の波形形状と第2の波形形状の差異に基づいて、X線管31の調整方向を判定する調整判定部81と、調整判定部81により判別された調整方向を表示する表示器5と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】長期間にわたって使用できるとともに、正確なドリフト較正をすることができる、液体試料の蛍光X線分析用の較正試料等を提供する。
【解決手段】本発明の較正試料20は、液体試料Sの蛍光X線分析において、分析対象金属元素の測定X線強度の経時変化を較正するための固体の較正試料20であって、分析対象金属元素を含む金属層21と、水素、ホウ素、炭素、窒素、酸素およびフッ素のうち少なくとも1つの軽元素を最大のモル分率とする厚さ1mm以上の軽元素層22と、が重ねられて形成され、金属層21において、軽元素層22との対向面の反対側の面を分析面23とする。 (もっと読む)


【課題】高エネルギーの荷電粒子ビームにより測定試料中の物質ごとに1μm〜0.1μm等といった高空間分解能で定量的に材料分析できるとともに、前述した高精度の材料分析を研究室規模の施設で可能とする材料分析装置を提供する。
【解決手段】パルスレーザを射出するパルスレーザ射出部1と、前記パルスレーザが照射される金属薄膜Fを有し、当該金属薄膜Fから荷電粒子ビームを生成する荷電粒子ビーム生成部2と、前記荷電粒子ビーム生成部2から射出された荷電粒子ビームIBを磁場又は電場により収束して、測定試料Sに照射する荷電粒子ビーム制御部3と、前記荷電粒子ビームJBが測定試料Sに照射された際に生じる放射線Rを測定する放射線測定部4と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】簡素化された構成によりX線の照射範囲の調整を可能とし、部品点数や組立工数を減らすことで安価なX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置10は、筐体11と、X線源と、搬送部30と、スリット形成部材24と、X線ラインセンサ40と、を備える。筐体11には、X線により物品の検査が行われる検査空間Siの上に配される第1空間S1および検査空間の下方に配される第2空間S2が内部に形成される。筐体11は、開口部を有し第1空間と検査空間とを仕切る仕切り板部材13を有する。X線源は、第1空間に配置され、物品にX線を照射する。搬送部は、検査空間に配置され、物品を所定の方向へ搬送する。スリット形成部材は、仕切り板部材の開口部の検査空間側に配置され、物品の搬送方向に交差する方向に延びるスリットAを形成する。X線ラインセンサは、第2空間に配置され、スリットを通って物品を透過したX線を検出する。 (もっと読む)


【課題】フレーム間の画素の対応関係を考慮してアベレージングを行うことにより、高周波成分の劣化を回避しつつノイズ成分を低減する。
【解決手段】実施形態によれば、画像処理方法は、注目フレーム内の濃度値変化と参照フレーム内の濃度値変化との間の差分の大きさを示すマスク画像内の各濃度値を閾値と比較し、マスク画像の注目位置の濃度値が閾値以下であれば参照フレームの参照フレームの高周波成分の注目位置の画素を平均化有効に設定し、そうでなければ参照フレームの高周波成分の注目位置の画素を平均化無効に設定し、参照フレームの高周波成分内の各画素の平均化有効/平均化無効の設定に従って注目フレームの高周波成分及び参照フレームの高周波成分を合成して合成高周波画像を生成すること(S507,S508,S509)と、合成高周波画像を注目フレームの低周波成分に加算すること(S510)とを含む。 (もっと読む)


【課題】エネルギーサブトラクション法により得る2つのX線画像上の被検査物の大きさと形状を一致させ、異物検出性能の低下を防止することができるX線異物検出装置を提供すること。
【解決手段】X線管31を、X線ラインセンサ51に対する相対位置を調整可能に支持する第1支持機構100と、第1および第2のX線画像データから被検査物Wの検出幅方向の濃淡変化を示す第1および第2の波形をそれぞれ取得し、第1の波形がなす台形形状の下底の一方の端点の角度(角度θ1)が第2の波形がなす台形形状の同方向の端点の角度(角度θ2)より小さい場合に、X線管31の調整方向が、搬送面と平行な平面上であって被検査物Wの搬送方向と直交する方向(Y軸)において、第1の波形がなす台形形状の他方の端点から一方の端点の方向であると判別する調整判定部81と、調整判定部81により判定された調整方向を表示する表示器5と、を備えた。 (もっと読む)


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