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Fターム[2G001CA01]の内容

Fターム[2G001CA01]に分類される特許

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【課題】小型でリップルが少なく、効率的にX線を発生できるようにする。
【解決手段】X線発生器20の電源部22は、商用交流電源を、整流・平滑し、その平滑出力をスイッチングして交流化し、これを昇圧トランスで昇圧して、位相が異なる複数相の交流を出力する多相型インバータ23と、コンデンサとダイオードの多段接続により構成され、多相型インバータ23から出力される各交流をその段数に応じた高電圧までそれぞれ昇圧・整流する複数のコッククロフト回路31、31と、それらの複数のコッククロフト回路31、31の出力を並列に重畳してX線管21に与える並列重畳回路35とを有している。 (もっと読む)


【課題】波高分析器で選別される所定の波高範囲が変更されても、計数手段で求められたパルスの計数率を正確に補正できる波長分散型蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】数え落とし補正手段11が、検出器7のデッドタイムに基づいて計数手段10で求められたパルスの計数率を補正するにあたり、波高分析器9で選別される所定の波高範囲とデッドタイムとの相関をあらかじめ記憶しており、その記憶した相関に基づいて、測定時の所定の波高範囲に対応するようにデッドタイムを決定する。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成で安定したパルスX線を発生させることができるX線装置を提供する。
【解決手段】X線装置1は、X線源10、照射部20、結像部30、検出部40、真空容器50および制御部60を備える。X線源10は、X線を連続的に出力する。照射部20は、入力端21および出力端22を有し、X線が或る特定の方位に沿って入力端21に到達すると、そのX線を出力端22から試料90へ出力することができる。結像部30は、試料90で発生した二次X線の像を検出部40の受光面上に結像する。検出部40は、照射部20の出力端22から出力されたX線が試料90に照射されたときに試料90で発生した二次X線(蛍光X線または散乱X線)を入力して、この二次X線の入力に応じて電荷を発生して蓄積し、その蓄積した電荷を読み出す。 (もっと読む)


【課題】X線照射手段側のX線照射のON/OFF状態を検出する、あるいはX線照射手段側のX線照射の異常を検出することができるX線制御装置を提供する。
【解決手段】X線管21も含めてX線発生装置31の消費電流に基づいて、X線照射のON/OFF状態を電流検出回路11aが検出することで、消費電流をモニタリングすればX線発生装置31側のX線照射のON/OFF状態を検出することができる。また、当該消費電流とX線照射条件との比較に基づいて、設定されたX線照射条件における電流と、実際にモニタリングされている消費電流との間に不一致が生じる場合には、X線照射の異常を電流検出回路11aが検出することで、消費電流をモニタリングすればX線発生装置31側のX線照射の異常を検出することができる。 (もっと読む)


【課題】 強い強度の互いにコヒーレントな少なくとも2つのX線ビームを得ることができるX線ホログラフィ光源素子を提供する。
【解決手段】 入射したX線を分割して互いにコヒーレントな少なくとも2つのX線ビームを出射するX線ホログラフィ光源素子であって、コアとクラッドとを有し、入射したX線を分割するX線導波路と、前記X線導波路の出射側の終端部に配されており、X線ビームを出射する少なくとも2つの開口部が設けられている遮蔽部材とを備え、前記コアは、複数の屈折率実部の異なる物質を含む基本構造が周期的に配された周期性構造体であり、前記コアと前記クラッドとの界面における前記X線の全反射臨界角は、前記コアの前記基本構造の周期性に対応するブラッグ角よりも大きいX線ホログラフィ光源素子。 (もっと読む)


【課題】対象物から過去に撮影された画像を検索することができる、または過去に撮影された画像から対象物あるいは対象物中のどの部分かがわかることができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】テーブルに過去に記憶された複数の外観像からなる外観像群Iの中から対象となる外観像Iを選択する。選択された外観像Iに関連付けられ、かつテーブルに過去に記憶されたX線透視像F100を読み出してモニタ10Mに表示すると、選択された外観像Iの対象物(サンプル)から、それに関連付けられたX線透視像F100を表示することができ、対象物から過去に撮影された画像を検索することができる。 (もっと読む)


【課題】X線画像を用いて被検査対象を検査する場合に、被検査対象における検査領域を精度よく設定することが可能なX線検査方法を提供する。
【解決手段】被検査物の検査を実行するX線検査装置において、被検査物における検査領域を設定する検査領域設定方法は、被検査物の検査対象を含む第1の領域の可視画像を撮像するステップ(S104)と、被検査物の検査対象を含む第2の領域に対して、X線画像を撮像するステップ(S112)と、第1の領域についての可視画像と第2の領域についてのX線画像を、位置および倍率をそろえて、検査対象の位置を示すマークとともに同時に表示するステップ(S118)と、表示した検査対象のマークの位置およびX線画像における検査対象の位置について確認の入力を受け付け、検査領域を確定するステップ(S120)とを備える。 (もっと読む)


【課題】X線検査装置において、検査対象領域を広くしつつ、対象物を確実に保持できるようにする。
【解決手段】X線検査装置において、クランプ50は上方から基板10を支持する。クランプ50の上記端面は傾斜を有する。これにより、クランプ50に確実に基板10を支持させつつ、X線源2から放射されるX線(符号XRで示されている)の基板10による透過光がクランプ50によって遮蔽されることを極力回避できる。 (もっと読む)


【課題】樹脂用X線造影剤、当該樹脂用X線造影剤を用いて樹脂成形体の内部構造の変化を検出する方法、及び当該樹脂用X線造影剤を用いて樹脂成形体の内部構造を決定する方法を提供する。
【解決手段】特定の炭化水素系化合物を樹脂用X線造影剤として用いる。樹脂用X線造影剤とは、樹脂成形体に浸透させて、上記樹脂成形体の内部構造を分析するための樹脂用X線造影剤であり、上記樹脂成形体を構成する樹脂の質量吸収係数よりも高い質量吸収係数を有する、炭化水素系化合物から構成される。ハロゲン系炭化水素化合物を樹脂用X線造影剤として使用することが好ましい。 (もっと読む)


【課題】X線蛍光(XRF)分光計により、タンパク質の特徴を測定し、生体認証解析に利用できるセキュリティシステムを含む装置を提供する。
【解決手段】X線蛍光(XRF)分光計は、タンパク質と小分子の結合現象を検出し、化学物質と受容体の間の結合選択性を測定するために使用される。XRFは、セキュリティシステムへの利用の他、タンパク質の純度を測定し化学物質の治療指数を推測するために、化学物質対化学物質類縁体の結合選択性を推測し、タンパク質の翻訳後修飾を測定するために、及び薬物の製造のためにも使用することができる。 (もっと読む)


【課題】分析対象の測定面が曲率を有する場合でも、分析対象に含まれる成分の被分析元素の量についての情報を正確に得る。
【解決手段】制御部11Cで、分析対象20の表面の曲率1/Rまたは半径Rに基づいて、蛍光X線強度から算出される量的情報を補正する。 (もっと読む)


【課題】縞走査法を用いて被検体の位相微分画像を生成する放射線撮影装置において、格子の移動精度を向上させる。
【解決手段】X線源とX線画像検出器との間に第1の格子21と第2の格子22とが対向配置されている。走査機構は、第1の格子21に対して第2の格子22を、格子線に直交する方向(x方向)に対して角θをなす方向に相対的に並進移動させ、第1の格子21に対する第2の格子22の相対位置を複数の走査位置に順に設定する。X線画像検出器は、各走査位置において、第2の格子22により生成されるG2像を検出して画像データを生成する。位相微分画像生成部は、X線画像検出器により生成される複数の画像データに基づいて位相微分画像を生成する。第1及び第2の格子21,22に代えて、線源格子を上記方向に並進移動させてもよい。 (もっと読む)


【課題】簡単な機構を付加するだけで、測定室内の雰囲気を短時間でヘリウムガスから空気に置換することが可能な蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】開口部3を有するベース板1の下方に測定室2が設けられ、該開口部3を塞ぐように試料Sを載置し、試料SにX線光源4から一次X線を照射して、発生する蛍光X線を検出器5で検出して試料Sに含まれる元素を分析する蛍光X線分析装置において、測定室2にヘリウムガスを注入するヘリウムガス注入手段Aと、測定室2に空気を強制送入する空気送入手段Bと、ベース板1の試料Sの上方空間14を囲う着脱可能な蓋体15とを備え、ヘリウムガス注入手段Aは、測定室2の壁板2aに形成されたガス注入口6と、該ガス注入口6からガスボンベ7に接続する配管8とからなり、空気送入手段Bは、測定室2の壁板2aに形成された空気注入口9と、該空気注入口9から空気供給源10に接続する配管11とで構成する。 (もっと読む)


【課題】抗張体の周囲をも含めて劣化を判断することが可能な乗客コンベアハンドレールの検査装置を提供する。
【解決手段】乗客コンベアのハンドレールを透写することによって生成された透写画像に基づいてハンドレールを検査する乗客コンベアハンドレールの検査装置であって、輝度を示す情報を各画素として生成された透写画像を取得する画像データ入力部21と、輝度と色とが対応付けられた色変換テーブルに基づき、透写画像を構成する各画素を色の情報に変換して色付け画像を生成する色付け処理部25と、色付け画像を構成する各画素の色に基づいてハンドレールの劣化を判断する劣化判定部28とを含む。 (もっと読む)


【課題】回折環の形状を短時間で精度良く検出できる、安価なX線回折装置を提供する。
【解決手段】測定対象物OBにX線を照射するX線出射器13、測定対象物OBにて回折したX線を受光して回折環を記録するイメージングプレート28を固定するテーブル27及びレーザ光をイメージングプレート28に照射して、回折環の形状を読み取るレーザ検出装置PUHを設ける。テーブル27の中心に、X線を通過させる貫通孔を設ける。回折環を撮像した後、スピンドルモータ24及びフィードモータ18によって、テーブル27を回転させるとともにイメージングプレート28の受光面に平行に移動させた状態で、レーザ検出装置PUHによって、イメージングプレート28にレーザ光を照射して、イメージングプレート28が発する光の強度が極大となるときのレーザ照射位置を取得する。 (もっと読む)


【課題】安全性の向上や装置の小型化等を図ることのできる錠剤検査装置及びPTP包装機を提供する。
【解決手段】錠剤検査装置17は、その外郭をなす外防壁37を備えると共に、当該外防壁37の内部において、PTPフィルム6のポケット部2をポケット受け孔部57に嵌め込みつつ当該PTPフィルム6の搬送に伴い回転する回転ローラ38と、当該回転ローラ38の外側に配置されかつ回転ローラ38の最上部にくるポケット受け孔部57の方に向けX線を照射するX線源41と、当該X線源41に対向して回転ローラ38の内側に配置されかつ前記ポケット受け孔部57に嵌め込まれたポケット部2を透過してくるX線を撮像するX線カメラ42とを備え、X線カメラ42により撮像された画像データを基に錠剤5の検査を行う。 (もっと読む)


【課題】 露光マスクを必要とせず、溝のアスペクト比の高い回折格子を容易かつ高精度で製造することができるX線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにX線タルボ干渉計を提供する。
【解決手段】紫外線透過性の基板22上に、金属製のX線吸収部10b、20bが一方向に沿って所定間隔で畝状に複数形成され、隣接するX線吸収部の間の溝部に紫外線硬化したフォトレジスト壁26が介装され、X線吸収部は、基板上の金属膜2bxを切削して形成され、溝部の側壁の表面粗さがJIS B0601で規定された算術平均高さRaで0.1μm以下である切削金属層2bと、該切削金属層上にフォトレジスト壁を鋳型とする電鋳によって積層される1層以上の電鋳層4b、6bとを備えているX線タルボ干渉計用回折格子10、20である。 (もっと読む)


【課題】 溝のアスペクト比の高い回折格子を容易かつ高精度で製造することができるX線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにX線タルボ干渉計を提供する。
【解決手段】基板22上に、金属製のX線吸収部10b、20bが一方向に沿って所定間隔で畝状に複数形成され、隣接するX線吸収部の間の溝部10a、20aに樹脂26が介装され、X線吸収部は、2以上の単位金属層2b、4b、6bを基板の表面に垂直に積層してなり、単位金属層は金属膜を切削して形成され、該単位金属層の溝部の側壁2s、4s、6sの凹凸がJIS B0601で規定された算術平均高さRaで0.1μm以下であるX線タルボ干渉計用回折格子10、20である。 (もっと読む)


【課題】分析対象試料に赤外線とX線とを同時に透過させて測定することができると共に、装置の小型化を図ることができる赤外透過スペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】赤外線を照射するための赤外線発生器10と、赤外線発生器10からの赤外線を分析対象試料30に向けて反射させる第1反射鏡11と、分析対象試料30を透過した赤外線を赤外線検出器13に向けて反射させる第2反射鏡12とを備え、受光した赤外線をフーリエ変換分光法によって分光して分析対象試料を測定する赤外透過スペクトル測定装置において、分析対象試料30に照射するためのX線発生器20と、分析対象試料30を透過したX線を受光する小角散乱検出器21または広角散乱検出器22のいずれか一方または両方とを備え、X線を挟んだ一方の側に第1反射鏡11を配置し、X線を挟んだ他方の側に第2反射鏡12を配置した。 (もっと読む)


【課題】
ディスクブレーキやドラムブレーキに使用される摩擦材において、摩擦材内部の気孔の状態や亀裂による空隙の有無を迅速、正確、且つ容易に観察することができる摩擦材の分析方法を提供すること。
【解決手段】
摩擦材の成分に含まれず、且つX線に対する感度の高い元素である塩素を含む物質を含浸させ、X線分析装置を用いて摩擦材内部に侵入した塩素を検出し、検出した塩素の分布状態を分析する。
前記塩素を含む物質は、4,4’-メチレンビス(2-クロロアニリン)が好ましい。
摩擦材の内部構造を分析することにより、要求される摩擦特性や振動特性を得るための好適な製造条件を求めることができ、所望の特性の摩擦材を容易に製造することができる。 (もっと読む)


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