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Fターム[2G001EA00]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 分光;弁別(E、λ、e/m、粒子) (939)

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【課題】本発明の課題は、観測上の精度の限界と消滅則の影響を考慮し、かつ、高速な指数付けを可能とする技術を提供することである。
【解決手段】本発明の情報処理装置は、q値の集合を取得する手段と、q値の集合から、組合せに含まれない他のq値を算出可能な第1のq値の組合せを取得する手段と、第1のq値の組合せと他のq値から、結晶格子の逆格子の2次元部分格子の基底に係る第2のq値の組合せを取得する手段と、2次元部分格子の基底がそれぞれ共通する第2のq値の組合せ同士を関連付ける手段と、互いに関連付けられた第2のq値の組合せに含まれる異なるq値の数による比較を行う手段と、比較の結果が所定の条件を満たす関連付けに係る第2のq値の組合せから、結晶格子の逆格子に係る第3のq値の組合せを特定し、該特定した第3のq値の組合せから結晶格子の格子定数の候補を取得する手段と、を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】光ファイバーを用いずに伝送する光検出装置及び光伝送装置を提供する。
【解決手段】チャンバ2内の試料台5に試料4が載置される。電子線照射部1から楕円面鏡3の孔部30を通過して試料4の試料面に電子線が照射される。照射スポットに位置する試料4の試料面の一部が励起して散乱光を発する。散乱光は、楕円面鏡3の内面での反射により楕円面鏡3の2焦点と異なる位置に集光されて非散乱光に変換される。非散乱光は、チャンバ2の開口部24を気密封止しているコリメートレンズ21を通過して平行化され、チャンバ2外の分光部7へ伝送される。分光部7は、伝送された光を検出する。 (もっと読む)


【課題】X線放射器/検出器システム内の信号雑音を低減する。
【解決手段】共通クロックが、X線放射器/検出器システムの少なくとも2つのサブシステムに接続され、X線放射器/検出器システム内の少なくとも2つのサブシステムに関連付けられる複数の雑音源が共通クロックと相関できるようになる。複数のタップを有する少なくとも1つの適応フィルタが、所望の信号及び相関雑音推定信号を受信すると共に誤差信号を出力するように構成される。更新アルゴリズムが、出力される誤差信号を最小にするように複数のタップの値を更新するために用いられ、それにより、X線放射器/検出器システム内の少なくとも1つの可変フィルタのそれぞれにおいて複数の雑音源のうちの少なくとも1つが実質的に除去され、X線放射器/検出器システムの出力のより正確な表示が与えられる。 (もっと読む)


放射線透過データおよび特に物体の画像を、構成要素の物質の相対的な比率についての一部のデータが導き出され得る方法にて取得するための方法および装置を記載する。放射線源のスペクトル内の複数の周波数全体に亘って透過強度を分解することができる放射線源および放射線検出器システムが、各々のこのような周波数についての透過強度データを生成するために用いられる。少数の予期される構成要素の物質のために、その構成要素の物質に関して、指数減衰法、すなわちl/l=exp[−(μ/ρ)ρt]によって与えられる関係に適合させ、かつ、構成要素の物質から、強度データアイテムを生成する透過経路内の各々の要素の物質の相対的な比率の指標を導き出すために、測定されたデータが、個々で、または集合的に、質量減衰データを保存する質量減衰データライブラリと数値的に比較される。画像は分解された透過強度データから生成されてもよい。 (もっと読む)


【課題】薄膜結晶についても容易に表面形状や結晶性を評価可能な技術を提供する。
【解決手段】X線波面センサは、入射されるX線を複数の光束に分割する波面分割素子と、各光束を試料の異なる領域に照射し、それぞれの反射光を干渉させて検出する計測器とを備える。例えば、X線発生装置10から入射されるX線をX線プリズム12によって波面分割し、一方の光束はそのまま試料14に当て反射光を検出器16で検出する。もう一方の光束は、X線プリズム15によって偏向して試料14に当て反射光を検出器16で検出する。検出器16に現れる干渉縞の向きや間隔から、試料結晶14の表面形状や結晶性の評価が可能となる。 (もっと読む)


多段式工程は、船積みコンテナ内の放射線、爆発物および特殊な物質を検出し、特定する。工程は、分散ネットワーク上のノードとして構成された放射線センサを利用する。工程は、ノードから放射線データを収集する。放射線データは、コンテナおよびその内容物に関連する。収集された放射線データは、水面、陸上、空気、地面および他の構造物などに関連して動的に変化するバックグラウンド放射線データに従って動的に調整される。工程は、存在する1つまたは複数の同位元素を特定するために、収集され調整されたデータを同位元素を表すスペトクトル画像と比較する。特定された同位元素は、それらが表す可能性のある物質と一致する。コンテナ内に含まれる物質の特定を立証するため、またはコンテナ内の認可されない物質を検出および/または特定するために、可能性のある物質は、コンテナの積み荷目録と比較される。隠蔽されている物質、爆発物および他のタイプの物質を特定するのに、中性子パルス装置を使用することができる。 (もっと読む)


【課題】微小化構造を有する物体を検査及び加工するための電子顕微鏡、微小化構造を有する物体の製造方法を提供する。
【解決手段】製造方法は、反応ガスを供給すると同時に、加工すべき箇所に電子ビームを当てて、材料を堆積するか、あるいは、材料を切除することにより、物体を加工する工程と、物体の表面を電子ビームによって走査し、生成された後方散乱電子及び二次電子をエネルギー選択器7に導入し、二次電子をエネルギー選択器7によって反射させ、エネルギー選択器7を通過する後方散乱電子を検出し、検出された後方散乱電子に応じて走査領域の電子顕微鏡像を形成して、物体を検査する工程と、形成された電子顕微鏡像を調べて、材料のさらなる堆積又は切除を実施すべきか否かを決定する工程とを含む。並びに、この方法を実施するように構成された電子顕微鏡及び加工システム。 (もっと読む)


【課題】形状の異なる様々な試料を蛍光X線分析するために用いられる下面照射蛍光X線分析用の試料保持具ならびにそれを備えた下面照射型蛍光X線分析装置を提供することにより、異形試料の分析作業の効率化と費用の削減を図ることを目的とする。
【解決手段】試料の下面に1次X線を照射して蛍光X線分析するために用いられる下面照射蛍光X線分析用の異形試料保持具であって、枠体2と、枠体2に回転自在に支持された支持部31を一端に有し、試料の下面Saと当接する試料当接部41および試料の側面を把持する把持部51を他端に有し、支持部31から把持部41に延びるアーム部61を有する4個の保持アーム11〜14とを備え、各試料当接部の試料の下面Saとの当接面が同一平面上に位置するように保持アーム11〜14が枠体2に支持部31〜34で支持され、試料当接部41〜44および把持部51〜54によって枠体2の内周よりも内側で試料Sを保持する。 (もっと読む)


検出システムは、中性子およびγフォトンの両方を含む高エネルギー粒子のパルス束を発生させ、かつ該パルス束(140)を分析すべき物品(600)の方向に指向させるための粒子供給装置(500)、該粒子は該物品中の物質の核と反応させるためのもの;少なくとも3つの検出器アセンブリを含む検出ユニット(400)、これらの検出器アセンブリは、それぞれのエネルギー範囲において、該高エネルギー粒子パルス束に応答して該物品から来て、それに衝突する中性子およびγフォトンに応答性であって、対応する経時信号を送給することができる;および時間関連信号特性を含む、前記物品への前記パルス束の印加後の前記信号からのサインを、このサインを格納ずみ参照サインと比較するために発生させることができる、前記検出器の出力側に接続されたデータ処理ユニット(800)を備える。本発明は対応する検出方法も提供する。特に空港での手荷物保安検査、地雷検出などに適用。
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本発明は、第1ステップにおいて、分光器に既知の濃度の既知の元素の試料を配置し、試料に含まれる異なる元素の強度I1、I2...Inを測定し、第2ステップにおいて、試料に含まれる元素の既知の濃度C1、C2...Cnを測定強度I1、I2...Inに対して関係付けるて、含まれるそれぞれの元素について100%純粋な元素に対する仮想強度を計算する段階と、第3ステップにおいて、測定強度I1、I2...Inと、対応する100%純粋な元素の計算強度との間の関係として、それぞれの元素の較正定数K1、K2...Knを計算する段階と、第4ステップにおいて、未知の濃度の前記元素の試料を分光器に配置し、異なる元素の強度を読み取る段階と、第5ステップにおいて、測定強度に、試料中に存在する元素の各較正定数を乗じて、直前に述べた試料中の各元素の濃度を計算する段階とによって特徴付けられる。
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【課題】 不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるX線回折図形を短時間で容易に取得することを実現する。
【解決手段】 単色の入射X線6の光軸、試料4、および二次元位置敏感型検出器7を固定した状態で単色の入射X線6の波長を変えながら試料表面の被測定領域A全体を照らし、被測定領域A内の異なる部位から出射する回折X線10を二次元位置敏感型検出器7の別々の検出素子でそれぞれ区別して検出し、それぞれの波長について、各検出素子が検出した回折X線強度を各画素値とする二次元の回折X線画像を形成し、複数の波長値に対する回折X線画像を一つのセットとして記録する。 (もっと読む)


【課題】
非破壊検査による検査・試験パスの短縮を図り例えば薬剤開発期間の短縮、しいては製造・品質の安定化を図った分子構造複合同定装置を提供することにある。
【解決手段】
本発明は、被検試料載置板16に載置された同じ被検試料17に対して0.5mm以下の直径に制限したX線ビームと赤外線・可視光・紫外線の何れか一つあるいは複数の波長ビームを照射する照射光学系(1,12;2,22,11)と、前記被検試料から得られるX線回折パターン及び前記被検試料から放出される反射光又は散乱光を検出する検出光学系(9;11,3,5)とを備え、前記被検試料から同時または連続して少なくともX線回折スペクトル及び可視光による反射光像を検査できるように構成した分子構造複合同定装置である。 (もっと読む)


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