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Fターム[2G001FA02]の内容

Fターム[2G001FA02]に分類される特許

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【課題】検出精度の低下を抑制できるX線装置を提供する。
【解決手段】X線装置は、物体にX線を照射して物体を通過した透過X線を検出する。X線装置は、第1空間を形成するチャンバ部材と、第1空間に配置され、物体にX線を照射するX線源と、第1空間に配置され、物体を保持するステージと、X線源から射出され、物体を通過した透過X線の少なくとも一部を検出する検出器と、第1空間に配置され、X線源及びステージを支持する支持部材と、を備える。 (もっと読む)


【課題】2段に重ねられた検出器の画素間での対応がとれなくなったことを検出し、画素間での対応がとれるように輝度データを補正する非破壊検査装置を提供すること。
【解決手段】非破壊検査装置1は、X線照射器20、低エネルギ検出器32、高エネルギ検出器42、低エネルギ透過率算出部72、高エネルギ透過率算出部74、検出部76及び補正部78を備えている。算出部72は、透過X線の低エネルギ範囲における透過率を示す値を算出する。算出部74は、透過X線の高エネルギ範囲における透過率を示す値を算出する。検出部76は、両算出部72,72で算出された透過率の比に基づいてX線照射器20の位置ずれ内容を検出する。補正部78は、検出部76でX線照射器20の位置ずれ内容が検出された場合に、当該位置ずれ内容に応じて、検出器32,42で検出されたX線の輝度データを補正する。 (もっと読む)


【課題】画像形成システムを用いて対象領域の三次元モデルを生成するための方法及び装置を提供する。
【解決手段】本発明は、x線画像形成システムにおいて、ターゲット・オブジェクト上の対象領域の三次元表現を生成する方法を提供する。本方法は、既知の幾何学的形状の基準マーカーを使用する。対象領域及び基準マーカーが、複数の所定位置において画像形成される。各々の所定位置についての基準マーカーの予測される画像を計算し、各々の所定位置における基準マーカーのキャプチャされた画像と比較する。予測される画像とキャプチャされた画像との間の相違を用いて、各々の所定位置についての対象領域の修正された画像を生成し、これらの修正された画像を用いて、対象領域の三次元モデルを生成する。本方法は、高価な機械的位置決めシステムを必要とすることなく、x線画像形成システムにおける対象領域の有用な三次元モデルを生成することを可能にする。 (もっと読む)


【課題】透過電子顕微鏡像の観察時に試料が受ける磁場の影響を低減することができる透過電子顕微鏡を提供する。
【解決手段】透過電子顕微鏡100は、電子線源2と、照射レンズ4と、対物レンズ6と、第2対物レンズ8と、制限視野絞り16と、投影レンズ10と、検出器12と、少なくとも照射レンズ4、第2対物レンズ8、および投影レンズ10を制御する制御部と、を含み、第1面17は、第2対物レンズ8と投影レンズ10との間に位置し、制御部22は、試料Sに電子線Lが照射されるように照射レンズ4を制御し、試料Sの回折パターンが第1面17に結像されるように第2対物レンズ8を制御し、第2対物レンズ8で結像された試料Sの透過電子顕微鏡像が第2面(受光部13)に結像されるように投影レンズ10を制御する第1処理を行う。 (もっと読む)


【課題】長期間にわたって使用できるとともに、正確なドリフト較正をすることができる、液体試料の蛍光X線分析用の較正試料等を提供する。
【解決手段】本発明の較正試料20は、液体試料Sの蛍光X線分析において、分析対象金属元素の測定X線強度の経時変化を較正するための固体の較正試料20であって、分析対象金属元素を含む金属層21と、水素、ホウ素、炭素、窒素、酸素およびフッ素のうち少なくとも1つの軽元素を最大のモル分率とする厚さ1mm以上の軽元素層22と、が重ねられて形成され、金属層21において、軽元素層22との対向面の反対側の面を分析面23とする。 (もっと読む)


【課題】個人差を生じさせずにROI範囲を設定して検量線を算出することが可能な、検量線算出方法、及び情報処理装置を提供すること。
【解決手段】測定スペクトル上のROI範囲を設定するROI範囲設定工程と、設定されたROI範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程とを含み、前記ROI範囲設定工程において、前記測定スペクトル上のROI範囲を変更し、変更後のROI範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるROI範囲を決定する。 (もっと読む)


【課題】ステージの正しい高さと実際の高さとのズレを割り出し、該ズレを補正することができるパターン計測装置、ステージ高さ調整方法およびパターン計測方法を提供する。
【解決手段】パターン計測方法は、計測対象である周期構造のパターンが形成された基体を支持するステージと、前記ステージの位置と高さを制御するステージ制御手段と、電磁波を生成し、任意の仰角で前記基体へ照射する電磁波照射手段と、前記基体で散乱された電磁波の強度を検出する検出手段と、データ処理手段と、ステージ高さ補正手段と、を持つ。前記データ処理手段は、周期が既知である周期構造の領域に、照射位置を変えながら前記電磁波を照射して得られた検出信号から散乱プロファイルを作成し、該散乱プロファイルから前記周期が既知である周期構造の周期を算出し、算出された周期と前記既知の周期とのズレ量を算出して前記ステージの高さの位置のズレ量を算出する。 (もっと読む)


【課題】適量の物品と粉粒物が充填された製品か否かの判定が行えるX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線照射器21は、物品および粉粒物を含む被検査物にX線を照射する。X線ラインセンサ22は、被検査物を透過したX線を検出する。画像生成部82aは、X線ラインセンサ22によって検出された透過X線の透過量に応じてX線画像を生成する。暗部特定部82bは、第1の閾値に基づいてX線画像のうち所定の濃淡値を有する暗部を特定する。第1判定部82cは、X線画像に含まれる暗部の総面積と第2の閾値に基づいて、正量品を判定する。 (もっと読む)


【課題】磁石は、構成元素およびその組成により特性が大きく異なるが、従来の磁石のリサイクル方法では組成による選別が行われていなかった。そのため、回収された磁石には種々の組成の、特性の異なった磁石が混在しており、個々の元素の酸化物のような粗原料まで精製してから新たな再生磁石を製造する必要があった。
【解決手段】磁石を搭載した使用済み製品について、搭載されている磁石がネオジム磁石か否かを選別し、更にネオジム磁石中のDy組成によりネオジム磁石を選別、回収することにより、品質が良好で安定した磁石のリサイクル原料を効率よく製造する方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】高感度検査や高精度計測を行うことが必要な部分領域を、効率的に決定する。
【解決手段】領域決定装置は、試料を検査して得た試料上の欠陥位置あるいは試料上において欠陥が発生する可能性があると予測された欠陥位置を撮像した画像を含む欠陥データの、少なくとも複数種の欠陥属性情報に基づき欠陥の発生度合いを算出する算出部と、発生度合いが所定以上となる欠陥データを抽出し、該抽出された欠陥データから観察または検査を行う試料上の領域を決定する領域決定部と、を有する。 (もっと読む)


【課題】前置増幅部前段の性能特性の変動による影響が抑制されたX線分析装置を提供する。
【解決手段】標準サンプルから放出された蛍光X線を検出する半導体X線検出素子、及び半導体X線検出素子の出力信号を受信する初段FET回路を含む前置増幅部前段と、前置増幅部前段を冷却する冷却装置と、前置増幅部前段から出力される検出信号を分析する信号分析装置と、検出信号を分析して得られる前置増幅部前段の性能特性を示す性能値、及び前置増幅部前段の温度をリアルタイムで監視し、冷却装置を制御して性能値が規定値を満たすように前置増幅部前段の温度を調整させる制御装置とを備え、前置増幅部前段が調整された温度において、測定対象物から放出された蛍光X線を分析する。 (もっと読む)


【課題】樹脂中の塩素濃度を蛍光X線分析で正確に測定することが可能な塩素濃度測定方法を提供する。
【解決手段】本発明の塩素濃度測定方法は、真空中での蛍光X線分析により樹脂中の塩素濃度を測定する方法であって、対陰極としてロジウムを用いて発生させたX線を、クロム測定用フィルタ23を通して測定試料Sに照射し、測定試料Sとの比重差が0.15以内の標準試料を用いて作成した検量線に基づき、照射により測定試料Sから発生した蛍光X線の強度から塩素濃度を算出する。 (もっと読む)


【課題】複数種の構成材料を含む試料中の特定の構成材料を精度よく識別する識別する方法、および特定の構成材料の成分を分析する分析方法を提供する。
【解決手段】複数種の構成材料を含む試料から、変質する温度が既知である特定の構成材料を識別する方法であって、試料の表面を複数の小区画に区分し、各小区画に放射線を照射して、試料より発生する信号によって、特定の構成材料に含まれる元素の各小区画における濃度を測定する第一測定工程と、特定の構成材料が変質する温度で試料の表面を加熱する加熱工程と、加熱後の試料の各小区画に放射線を照射して、試料より発生する信号によって、元素の各小区画における濃度を測定する第二測定工程と、各小区画における元素について、第一測定工程で測定した濃度と、第二測定工程で測定した濃度とを比較して、濃度の変化率が所定の率である小区画を特定の構成材料であると判定する判定工程とを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】小型で取り扱いが簡単なステレオX線放射装置を提供する。
【解決手段】X線管装置は、アノード4の後端よりも更に外側には配置した電磁石7に通電すると瞬時にアノード4の後端を吸着する機構を備える。これにより左右のアノード4,4は軸方向外方に移動する。その結果2つのX線発生源間の距離が瞬時に拡大したことになる。 (もっと読む)


【課題】鮮明な高倍率断層画像を取得することができるX線CT装置を提供する。
【解決手段】本発明によれば、テーブル2の載置位置のファントムを撮影するプレ撮影を行ったあと、テーブル2および検出器3をプレ撮影と同じ様式で移動させて試料を撮影する実撮影を行って断層画像を再構成する構成となっている。再構成部10は、実撮影X線画像Qの撮影時におけるテーブル2の移動の様式を考慮することができる。しかし、テーブル2がプレ撮影と実撮影で全く同じように移動するとは限らない。そこで、本発明によれば、テーブル2のウラ面のマーカを撮影し、実撮影マーカ画像Nとプレマーカ画像Mとによってプレ撮影と実撮影との間で生じたテーブル2の位置ズレを認識する。結果として高解像度の断層画像を取得可能なX線CT装置が提供できる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、試料の中央が凸状になる場合や、凹状になる場合であっても、試料を短時間で簡単に精度よく測定することができる蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】蛍光X線分析装置は、試料SにX線源1から1次X線2を照射して発生する2次X線4の強度をX線検出器7で測定し、1次X線2および2次X線4の光路上の光学素子について、第1の光学素子31または第2の光学素子32を選択する光学素子選択手段3と、第1の光学素子での2次X線の強度対第2の光学素子での2次X線の強度の強度比と試料高さとの、あらかじめ求められた相関を記憶する強度比/試料高さ記憶手段8と、未知試料Sについて、第1の光学素子での2次X線の強度対第2の光学素子での2次X線の強度の強度比を記憶手段8が記憶した相関に適用して、試料高さを算出して第1の光学素子31での2次X線の強度を補正する強度補正手段9とを備える。 (もっと読む)


【課題】 中性粒子ビームの強度を測定することができる、中性粒子ビーム形成装置、それを用いた表面分析装置、中性粒子ビーム形成方法、および表面分析方法を提供する。
【解決手段】 中性ガスを導入してイオンビームを該中性ガスにより中性化して中性粒子ビームに変換する中性化室3と、中性粒子ビームの強度をモニタする中性粒子ビーム強度モニタ機構とを備え、中性粒子ビーム強度モニタ機構は、中性ガスとイオンビームとの電荷交換反応によって中性ガスが帯電して生じる帯電粒子の電荷を計測する機構であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】被検査物を効率的に連続搬送可能な極めて実用性に秀れたX線検査装置の提供。
【解決手段】X線照射部2とX線検知部3とこれらを覆う本体カバー部4とを備え、本体カバー部4の開口部8から内部に搬入される被検査物1を検査するX線検査装置であって、本体カバー部4内の中央搬送機構5の搬送上流側に供給側搬送機構6を設け、搬送下流側に排出側搬送機構7を設け、供給側搬送機構6及び排出側搬送機構7に開口部8を有する供給側カバー部10及び排出側カバー部11を夫々設け、各カバー部の各開口部8に開閉自在にX線遮蔽体9を設け、X線検知部3で検知したX線に基づいて作成される画像を表示する画像表示手段を備え、X線照射後の被検査物1を排出する排出作動信号が入力された際、排出側搬送機構7により当該被検査物1を搬送排出すると共に、当該被検査物1の画像を画像表示手段に表示する連動制御機構を備える。 (もっと読む)


【課題】テストピースを被検査物が流れるパイプの中に投入しなくても、簡単にX線の検
出感度を調整することができるX線異物検査装置を提供することを課題とする。
【解決手段】パイプ内を流れる被検査物にX線を照射し、透過したX線を被検査物の流れ
方向と直交する方向に配置されたラインセンサでもって検出するその検出領域のパイプの
外側に、被検査物の流れ方向に沿って延びるテスト用の線材を設け、その線材を被検査物
の流れ方向と直行する方向に前記ラインセンサと平行を保って移動させるようにする。 (もっと読む)


【課題】2つのX線画像上の被検査物の大きさの違いを、異物検出性能の低下が無視できる程度に低減することができるX線異物検出装置を提供すること。
【解決手段】X線管32をその鉛直軸上の位置を調整可能に支持する支持機構71と、第1のX線画像データにおける被検査物Wの幅方向の波形である第1の波形と第2のX線画像データにおける被検査物Wの幅方向の波形である第2の波形とを取得して比較し、第2の波形の幅が第1の波形の幅より大きいときは、X線管32の調整方向が鉛直軸上方であると判定するとともに、第2の波形の幅が第1の波形の幅より小さいときは、X線管32の調整方向が鉛直軸下方であると判定する調整判定部81と、調整判定部81により判定された調整方向を表示する表示器5と、を備えた。 (もっと読む)


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