三次元物体（１０２、１０４、１０６、１０８）を作成する方法およびシステム。１つの方法は、三次元物体内に識別構造（「Ａ」、「Ｂ」、および「Ｃ」ボクセル）を形成することを含む。三次元物体内の識別構造は、非侵襲的撮像装置を使用して検出することができる。
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異なるレベルのコントラストを有する画像を比較する方法論およびシステムが提供される。異なるコントラストレベルを有する画像間でコントラストが正規化され、輝度が設定される。コントラストを正規化する際、第１のコントラストレベルを有する第１のデジタル画像について、グレーレベルの導関数が求められ、第１のコントラストレベルよりも大きい第２のコントラストレベルを有する第２のデジタル画像について、グレーレベルの導関数が求められる。第１のデジタル画像についてのグレーレベルの導関数と第２のデジタル画像についてのグレーレベルの導関数との比率が求められ、第１のデジタル画像についてのグレーレベルの導関数は、第２のデジタル画像についてのグレーレベルの導関数と等化される。少なくとも一方の画像の輝度は、バックグラウンドおよびテキストを除いて平均画素値を計算することなどによって自動で、または手動で設定されてもよい。
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【課題】密輸品を検出する。
【解決手段】この方法は、第一の脅威タイプの参照物体を走査したときに測定される参照量の第一の分布を表わすデータを記憶するステップと、当該被検査物体の値を測定するために被検査物体を走査するステップと、上述の値の参照値の中での位置を求めるステップと、被検査物体が第一の脅威タイプである可能性の指標として、上述の値に対応する第一の分布を表わすデータの得点を決定するステップと、を含んでいる。 （もっと読む）

ＣＳＣＴデータからのデータの再構成は、通常は、長い再構成時間を要する。本発明によると、エネルギ分解検出器素子を用いて収集されたスペクトルを有するＣＳＣＴデータのフィルタ逆投影が提供され、前記フィルタ逆投影は、再構成体積内の波数ベクトル移動量により表される曲線に沿って実行される。有利には、再構成時間が減少されることができる上に、良い画質を可能にする。
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【課題】環境基準の極めて微量な測定対象物質の溶出量を、現場で迅速に測定することができる土壌の重金属類の溶出量の分析方法及び分析装置、並びにこれに用いる試料を提供する。
【解決手段】土壌に含まれる重金属類の溶出量分析方法において、土壌から作成した検液に所定の割合でキレート剤を加え、このキレート剤に検液中の測定対象物質を吸着させる手順と、その検液をろ過し、測定対象物質を吸着したキレート剤を回収する手順と、蛍光Ｘ線分析装置により、回収したキレート剤が吸着した測定対象物質を定量分析し、この分析結果を検液中の測定対象物質の溶出量に換算する手順とを行う。 （もっと読む）

【課題】 元素分布および状態分布を二次元的に把握しやすく、また、一度の観測で多数の特定元素分布データを得ることができる、ＳＴＥＭを用いたＥＥＬＳ分析方法およびＥＥＬＳ分析装置を実現する。
【解決手段】 試料表面の座標（Ｘ，Ｙ）の各点でそれぞれ、ＥＥＬＳスペクトルデータを採取する。各ＥＥＬＳスペクトルデータのコア・ロス吸収端及びＥＬＮＥＳ吸収端を探索し、両者のエネルギー損失量の差Ｅｄを（Ｘ，Ｙ，Ｅｄ）の分布像として表示する。Ｅｄは伝導帯の状態密度を反映するので、（Ｘ，Ｙ，Ｅｄ）は状態分布像に相当する。また、各座標のコア・ロス吸収端のデータから元素同定して元素濃度Ｃを（Ｘ，Ｙ，Ｃ）の分布像として表示する。各座標ごとにＥＥＬＳスペクトルデータを採取しているので、一度の観測で複数の元素の濃度分布を計算することができる。 （もっと読む）

【課題】 従来に比してＸ線ラインセンサの有効長を短くしても、従来と同等もしくはそれ以上の視野を得ることのできるＸ線ＣＴ装置を提供する。
【解決手段】 複数のＸ線ラインセンサ２ａ，２ｂを、Ｘ線照射方向中心線Ｃを挟んで両側に間隙Ｇを開けて、中心線Ｃからの距離Ｌ／２内に配置し、トータルの有効長をＬ／２以上とする。また、各Ｘ線ラインセンサ２ａ，２ｂは、中心線Ｃで片側の領域を他側に折り返して重畳させたとき、長さＬ／２の領域の全てがいずれか一方側のＸ線ラインセンサ２ａまたは２ｂでカバーするように配置することにより、ｚ軸の回りに試料Ｗが３６０°回動することで、断層像を再構成するために必要なデータを採取可能とし、短い有効長のＸ線ラインセンサを複数個用いて、そのトータルの有効長のラインセンサを用いた場合と同等の視野を得ることを可能とする。 （もっと読む）

【課題】 試料を支持する試料板からの回折Ｘ線の影響を排除して、試料に関する正確なＸ線回折測定をできるようにする。
【解決手段】 単結晶試料板２１によって支持する試料ＳにＸ線を照射し、試料Ｓから発生する回折Ｘ線を２次元Ｘ線検出器２によって検出し、検出された回折Ｘ線の座標及び強度をＸ線読取り装置によって読み取り、そしてその読取り結果に基づいて演算を行って回折Ｘ線強度分布を求めるＸ線測定装置である。単結晶試料板２１から出る回折Ｘ線が２次元Ｘ線検出器２によって検出される座標位置を、回折Ｘ線強度分布の演算に寄与させないブランク領域として認識する。単結晶試料板２１からの回折Ｘ線がＸ線強度の演算に算入されないので、試料Ｓからの回折Ｘ線だけに関して正確にＸ線強度分布を求めることができる。 （もっと読む）

【課題】 磁気ヘッドなどに用いられる金属多層膜の構造評価に有効な、金属多層膜のＸ線反射率プロファイルの新しい解析法を提供する。
【解決手段】 金属多層膜のＸ線反射率プロファイルの解析のための各層の膜厚の初期値ｔ₁ ⁱ 〜ｔ₃ ⁱ として、蛍光Ｘ線測定から求めた各層の膜厚を用いるようにする。この初期値ｔ₁ ⁱ 〜ｔ₃ ⁱ としては、蛍光Ｘ線測定により得られた各層の付着量Ｆ₁ 〜Ｆ₃ を各層の材料の理論密度ρ₁ ⁱ 〜ρ₃ ⁱ で割って算出した値を採用するのが有利である。 （もっと読む）