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Fターム[2G001FA08]の内容

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Fターム[2G001FA08]に分類される特許

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【課題】視野を移動させながら、目的の領域の画像を画像のぶれなどの劣化無く取得する。
【解決手段】視野を移動させながら目的の領域の前後で複数枚の画像を取得し、それらを数枚ごとのグループに分けて各グループの積算画像を作成し、積算画像同士を比較することで算出した像移動量と撮像枚数との関係式を算出する。その関係式より取得した複数枚の画像間の移動量を算出して、その移動量だけ画像を補正し積算することで、目的の領域の画像を再構成する。 (もっと読む)


【課題】 複数種類の検査結果を同時に見易く表示することのできる物品検査システムを提供する。
【解決手段】 ワークWに対応する所定の物理量を特定してその物理量を表わす測定信号を出力する物理量測定部13と、ワークWについての所定の品質検査を実行してその品質検査の結果を表わす検査結果信号を出力する品質検査部15とを備えた物品検査システムであり、更に、測定信号および検査結果信号に基づいて、測定信号で表わされる物理量および検査結果信号で表わされる品質検査結果を含む検査結果情報を、表示画面上の時間軸方向に各ワークWの測定順に並べて表示する表示部21を備える。 (もっと読む)


【課題】気相分解−全反射蛍光X線法における分析精度、感度を高める。
【解決手段】複数の波長を用いた気相分解−全反射蛍光X線分析において、あらかじめ校正用試料の乾燥痕に対して求められた複数の内標準元素の定量値の相関関係である感度校正直線を利用することによって、被測定試料の乾燥痕中に添加される内部標準用元素を1種類とした場合においても、高い精度で被測定試料の乾燥痕中の元素の定量分析を可能とするものである。 (もっと読む)


【課題】 アナターゼ型結晶とルチル型結晶が不均一に混合共存する酸化チタン試料の混合比分布画像を得る方法を提供する。
【解決手段】 単色の入射X線で酸化チタン試料表面の被測定領域全体を照らし、各部位からの回折X線を二次元位置敏感型検出器で区別して検出して強度分布画像を形成する。単色の入射X線の波長を変えてアナターゼ型結晶の所定の格子面とルチル型結晶の所定の格子面での強度分布画像を取得し、それらを割り算して換算した混合比分布画像を形成する。 (もっと読む)


【課題】本発明が解決しようとする問題点は、観測されるスペクトルにエネルギーシフトが発生しているため速い掃引はできなかったという点である。
【解決手段】1次ビーム源と、前記1次ビーム源より照射された1次ビームにより試料から発生した2次ビームを分光するための静電型エネルギーアナライザと、掃引信号を発生する掃引信号発生手段と、前記掃引信号に基づいて前記静電型エネルギーアナライザに掃引電圧を印加する掃引電圧発生手段と、を備えた表面分析装置において、前記掃引電圧のエネルギーシフト成分を打ち消すように、前記掃引信号に補正信号を加算することを特徴とする表面分析装置。 (もっと読む)


【課題】フラットパネルX線検出器の欠陥画像を正しく補正し、欠陥のない画像として表示する。
【解決手段】 フラットパネルX線検出器では線状につながった線欠陥が生じる場合があり、さらにその線欠陥に隣接するラインに一目では欠陥とわかりづらい不確かな欠陥ラインが存在する場合がある。その不確かな欠陥ラインを欠陥かどうか判定するために、不確かな欠陥ラインの平均輝度と、隣接する複数の正常画素からなるラインの平均輝度とを比較して欠陥かどうかを判定する。 (もっと読む)


【課題】
新たな斜め入射補正式を考案し、従来の補正精度を上回る精度を得る。
【解決手段】
X線構造解析における回折X線の検出器への斜め入射時の強度を、cosνに加えてf(0)/f(ν)を乗ずることにより補正する斜め入射強度補正法であって、f(ν)が所定の式で表される。 (もっと読む)


【課題】X線反射率測定等において、試料から散乱されるX線ビームを限定するアパーチャの位置、サイズを容易に決定することができる。
【解決手段】試料(204)からの偏向X線ビーム(206)を検出するためのX線検出システム(400)であって、検出器(402)でX線ビームエリアを受信可能とされた画素アレイを有する検出器(402)と、試料画像を検出器(402)から読み出す画像処理手段(404)と、第1のエリアのサブ画像を試料画像から抽出する対象領域抽出手段(406、408)とを備える。サブ画像は、一般に「仮想アパーチャ」画像を得るための画素アレイの狭い細片か、あるいは「仮想アパーチャ」画像を得るための画素アレイの円形エリアである。検出器(402)から取り込んだ試料画像から複数のサブ画像を抽出することができる。 (もっと読む)


興味対象を検査する本発明に係るコンピュータ断層撮影装置は、興味対象から散乱された電磁放射線を、検出信号として、エネルギー分解して検出するように適応された検出素子、及び、興味対象に関する構造情報を決定するために処理されるべきデータ量を削減するように、別々の検出素子によって検出された検出信号を結合させるように適応された結合ユニットを有する。
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CSCT物質識別装置において、物質識別のためにCT情報及び微分散乱断面積が使用される。本発明の一態様に従って、微分散乱断面積と全散乱断面積との双方を使用する物質識別が提供される。これにより、改善された物質識別、すなわち、より良好な検出率と、より低い誤警報率とがもたらされる。

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【課題】 測定範囲の全域にわたって分解能の改善を図った物理量測定装置およびこの装置を用いた物理量測定装置を提供する。
【解決手段】 放射線を含む線源から出射され、シ―ト状の被測定体を透過したエネルギーの減衰量を検出器により検出し、前記被測定体の物理量の測定を行う物理量測定装置において、前記線源と検出器の間の空気層を測定した検出器の出力信号を正規化して検量線を作成する第1検量線作成手段と、前記線源と検出器の間に標準サンプルを挿入した状態の検出器の出力信号を正規化して検量線を作成する第2検量線作成手段を備えている。 (もっと読む)


【課題】
電子線を照射し、その二次電子などを検出する検出系では高速で検出するには検出器の面積が重要なファクタである。現在の電子光学系、検出器の技術では一定以上の面積の検出器が必要で、面積に逆比例する周波数で制約を受け、200Msps以上の検出は実質的に困難である。
【解決手段】
例えば必要面積4mm角、4mm角時の速度を150Mspsとして400Mspsで検出するには、単体の高速な2mm角の検出器を4個並べ、それらを増幅後、加算してA/D変換する。又は、二次電子偏向器で順次8mm角の検出器に二次電子を入射させ、100Mspsで検出、A/D変換後並べる。いずれも、4mm角の面積と400Mspsの速度を達成可能である。
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【課題】被検体のスキャンデータ自身からエラーしにくく回転中心を求めることが可能なCTスキャナの提供。
【解決手段】回転軸13をX線管1の方向に相対移動させるxシフト機構8により回転軸13をx移動したとき、透過データ上で移動する回転中心位置を回転中心予想部21により予想し、被検体4の多数の透過データを回転の間に加算した加算透過データ上で前記予想された回転中心位置を反映して回転中心位置を回転中心求出部22により求める。 (もっと読む)


【課題】放射線を用いて高圧容器内を観察し、高圧容器内の観察対象の鮮明な処理画像を得ることができる高圧容器内観察装置およびその観察方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る高圧容器内観察装置10は、内部流体11等の観察対象を収容した高圧容器12と、この高圧容器12に外部から放射線Rを照射する放射線源13と、前記高圧容器12を透過した放射線Raを検出して画像信号に変換する放射線検出器14と、この放射線検出器からの画像情報から撮影画像とバックグランド画像を作成し、上記撮影画像からバックグランド画像を差分処理して処理画像を得る画像処理装置15とを有する。上記画像処理装置15で高圧容器12内の観察対象の状態観察を行なう処理画像を作成するものである。 (もっと読む)


干渉散乱コンピュータ断層撮影では、回転平面のライン上にあるオブジェクトポイントからの散乱角度は、検出装置ローのファン角度の非線形関数として可変とされる。本発明の実施例によると、同一の散乱角度の下で円弧上のオブジェクトポイントからの散乱したフォトンを測定するCSCTデータ取得のためのシングルラインエネルギー分解検出装置が利用される。これは、パラレルリビニング検出装置上でのデカルトqサンプリングを自動的にもたらす。効果的には、これは、パラレルリビニングフィルタリングバックプロジェクション再構成前のq補間を回避する。
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【課題】X線CT装置で被検体を撮像して得られる撮像データに基づいて被検体の密度を分析する密度分析について分析精度を高める。
【解決手段】X線CT装置で被検体を撮像して得られる撮像データに基づいて被検体の密度を分析する密度分析方法において、撮像データに設定される複数の密度分析対象部位について、密度分析対象部位ごとにそれを中心にして複数の画素からなる密度検査領域を設定し、その密度検査領域における複数の画素の各密度値の平均値を求め、求めた平均値を密度分析対象部位の密度値として密度分析を行うようにしている。 (もっと読む)


【課題】X線検査によって不良品と判定された物品が、良品側に混入することを確実に防止できるX線検査システムを提供する。
【解決手段】X線検査装置10は、物品5をコンベア41によって搬送しつつX線を照射することによって、物品5のX線画像データを取得する。次に、X線画像データに基づき、物品5に異物が混入しているか否かの検査を実行する。振分装置80は、X線検査装置10による異物検査の結果に基づき、物品5を良品用のコンベア82と不良品用のコンベア83とに振り分ける。振分処理後、光電センサ85、86の検出結果に基づき、正しく振り分けられたか否かの確認処理が実行される。これにより、X線検査装置10によって不良品と判断された物品5が良品側のコンベア82に混入することを防止でき、物品5の振分動作を確実に実行できる。 (もっと読む)


本発明は、放射線撮影装置に関するものである。この装置は、重水素−重水素間のまたは重水素−三重水素間の核融合反応によって生成された実質的に単一エネルギーの高速中性子を生成するための中性子線源であるとともに、シールされたチューブ状のまたは同様の態様の中性子線源を具備している。装置は、さらに、撮影対象をなす対象物を実質的に透過し得る程度に十分なエネルギーを有したX線源またはガンマ線源と、中性子線源とX線源とガンマ線源とを包囲するコリメート用ブロックであるとともに、実質的に扇型形状でもって放射させるための1つまたは複数のスロットが形成されているような、ブロックと、を具備している。さらに、線源から放射された放射エネルギーを受領しさらにその受領したエネルギーを光パルスへと変換する複数のシンチレータ画素を備えた検出器アレイを具備している。
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【課題】
非破壊検査などでは、物体の透過データを測定して、画像処理により物体の2次元もしくは3次元の画像を作成、画像から物体上での対象物の位置、あるいは大きさなどの計測を行う。透過データを検出する検出面には幾何学歪がある場合、透過データに幾何学歪が内在する。従来の手法はこの検出面の幾何学歪を測定する手段と物体座標―画像座標を関連づける測定を個別に行っていたため、測定が煩雑でより誤差を含む課題があった。
【解決手段】
本発明では、物体座標を測定する物体基準治具と、検出面幾何学歪および検出座標と物体座標を同時に関連図ける検出面基準治具との組み合わせで、検出面の幾何学歪の計測と物体座標―画像座標との関連づけを同時に測定することを実現するため、より簡便で高精度な補正パラメータの測定とその補正パラメータを用いた幾何学補正を達成する。 (もっと読む)


従来のCT又はX線手法を利用して関心領域が特定される。次いで、複数のペンシルビーム28を利用して関心領域がスキャンされ、複数の異なる散乱X線スペクトルが得られる。次いで、スペクトルが関心領域の特徴のみによるものであるかの如く、各スペクトルに対して幾何補正が適用される。前記ビームを利用して記録された種々のスペクトルは組み合わせられ関連付けられ、関心領域32の特徴を決定し、一方でサンプル30中の他の部分における特徴の影響を最小限にする。
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