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Fターム[2G001FA10]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 信号処理とその周辺手段(測定出力提供とその精度向上関連) (1,977) | 補正;補償(≠CT算自体) (373) | 測定系内に基因する誤りの補正(検出系の応答の非線型性、数え落し等) (6)

Fターム[2G001FA10]に分類される特許

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【課題】波高分析器で選別される所定の波高範囲が変更されても、計数手段で求められたパルスの計数率を正確に補正できる波長分散型蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】数え落とし補正手段11が、検出器7のデッドタイムに基づいて計数手段10で求められたパルスの計数率を補正するにあたり、波高分析器9で選別される所定の波高範囲とデッドタイムとの相関をあらかじめ記憶しており、その記憶した相関に基づいて、測定時の所定の波高範囲に対応するようにデッドタイムを決定する。 (もっと読む)


【課題】画素毎に、検出素子の個体差を考慮した校正を施す。
【解決手段】格子状に等間隔に配列された複数の検出素子61を有し、各検出素子61が検出した被写体としてのプリント基板Wの画像を画素毎に分解して出力する撮像ユニット20、40を備えている装置に適用される。個々の画素の個体差を表す個体差ファクタα、βを記憶し、記憶された個体差ファクタα、βに基づいて、当該検出素子61毎に線形な校正値を出力し、前記検出値校正処理部225が演算した校正値Iχcに基づいて、画素毎に目標物理量としての輝度値Bや材料厚さχを演算する。 (もっと読む)


【課題】被検体に対する撮影画像を使った検査を容易かつ高精度で行うことができる検査装置と、コンピュータをそのような検査装置として動作させる検査プログラムを提供する。
【解決手段】同一の被検体に対する、互いに撮影時刻が異なる複数の撮影画像を入手する画像入手部310と、複数の撮影画像のうちの2つの撮影画像について、一方の撮影画像の変形によりそれら2つの撮影画像を一致させるのに要する変形量を算出する変形量算出部330と、その変形量に基づいて、2つの撮影画像相互間における時間経過で被検体に生じた変形の箇所を検出する変形検出部370と、その時間経過で被検体に生じた亀裂等の箇所を検出する欠陥検出部360とを備えた。 (もっと読む)


【課題】 ワーク厚さに対する直線性の良好な等価厚画像濃度データが得られる濃度データ変換方法および装置を実現し、体積や質量等の測定精度が高いX線検査システムを提供する。
【解決手段】 ワークWのX線透過量に対応するX線画像濃度データPからワークWの厚さに対応する等価厚画像濃度データQ(P)への変換処理を施す方法であって、X線画像における背景の濃度値Pと、X線画像における前景の代表濃度Pと、等価厚画像の最大濃度Qmaxとをそれぞれ設定し、変換処理を、次式〔1〕により実行し、
Q(P)=[{ln(P)−ln(P)}/{ln(P)−ln(P)}]γ・Qmax ・・・〔1〕
等価厚画像の濃度データQ(P)の直線性を確保するよう式〔1〕中の補正指数値γを調整する。 (もっと読む)


【課題】 試料に電子線を照射してX線分析を行う電子プローブX線分析装置において、試料表面形状や状態の変化による影響を低減した元素分布像を得る。
【解決手段】 試料または電子線を走査して複数元素の特性X線強度データを二次元的に収集し、二次元データの全ての座標位置について、標準試料を用いて各元素の特性X線強度データを相対強度に変換する。これら相対強度に定量補正計算を施し、各々の元素の質量濃度を得る。座標位置毎の全元素の相対強度または質量濃度の合計値を用いて、各元素の相対強度または質量濃度を規格化し、その値をレベル分けして元素分布像として表示するようにした。さらに必要に応じて、質量濃度を用いて、座標位置毎の原子濃度、化合物濃度、原子個数などを求め、規格化して表示するようにしたので、試料表面形状や状態の変化による影響を低減した元素分布像を得ることができるようになった。 (もっと読む)


【課題】
即発ガンマ線分析法で使用する即発ガンマ線スペクトル中には即発ガンマ線と壊変ガンマ線は同一に記録され、お互いを明白に分離することは困難であった。本発明は即発ガンマ線と壊変ガンマ線を明白に分別して測定することで分析の確度を向上させる技術を提供することを謀題とする。
【解決手段】
パルス中性子ビームを利用し、中性子パルス発生信号をスタート信号として、スタート信号からの時間情報とガンマ線検出事象をリストモードで保存し、これを解析して時間分解即発ガンマ線及び壊変ガンマ線スペクトルの測定を行う。 (もっと読む)


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