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Fターム[2G001FA18]の内容

Fターム[2G001FA18]に分類される特許

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【課題】熱交換器のアルミニウムフィンに鉄が強固に固着する以前に除去する必要があるが、そのためには、冷凍装置の熱交換器の運転状態を常に監視しなければならず、装置が大規模となるほか、鉄粉の腐食による目詰まりであるか、油にごみ等が付着したために生じた目詰まりであるかを判別することはできない。
【解決手段】この発明に係る検知装置は、アルミニウムの成型品にX線を照射する照射部と、成型品から放出される蛍光X線を分析する分析部と、分析部における分析結果からアルミニウムと鉄の信号強度の比を算出する算出部とを備え、この比により成型品に固着した鉄の固着度を検知する。 (もっと読む)


【課題】2段に重ねられた放射線検出器の画素間での対応がとれなくなったことを早期に知ることができる非破壊検査装置を提供すること。
【解決手段】非破壊検査装置1は、X線照射器20、低エネルギ検出器32、高エネルギ検出器42、低エネルギ透過率算出部72、高エネルギ透過率算出部74及び検出部76を備えている。低エネルギ透過率算出部72は、被検査物Sを透過したX線の低エネルギ範囲における透過率を、低エネルギ検出器32で検出された輝度データから算出し、高エネルギ透過率算出部74は、被検査物Sを透過したX線の高エネルギ範囲における透過率を、高エネルギ検出器42で検出された輝度データから算出する。検出部76は、低エネルギ透過率算出部72で算出された透過率と、高エネルギ透過率算出部74で算出された透過率との比に基づいてX線照射器20の位置ずれを検出する。 (もっと読む)


【課題】エネルギーサブトラクション法により得る2つのX線画像の画像ずれを低減し、異物検出性能の低下を防止することができるX線異物検出装置を提供すること。
【解決手段】X線ラインセンサ51を、X線ラインセンサ52に対して平行となる姿勢を保って支持するとともに、被検査物搬送方向に位置調整可能に構成された第1支持部材71と、第1支持部材71の被検査物搬送方向に対する位置の調整操作を行う位置調整部材74と、第1のX線画像データにおける被検査物搬送方向の波形である第1の波形と第2のX線画像データにおける被検査物搬送方向の波形である第2の波形とを取得するとともに、第1の波形の先端部に対する第2の波形の先端部の位相差に基づいて第1支持部材71の位置調整方向および位置調整量を判定する位置調整判定部と、位置調整判定部による判定結果を表示する表示器と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】被測定試料中に含まれる元素および放射性物質をそれぞれ特定することができる、蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】
本発明の蛍光X線分析装置は、X線領域(1keV〜50keV)を計測する蛍光X線検出器と、γ線領域(50keV〜1.5MeV)を計測するγ線検出器と、分析処理手段とを備える。励起X線管が、被測定試料に対してX線を照射する。蛍光X線検出器は被測定試料に含まれる元素固有の蛍光X線を検出し、γ線検出器は核種固有のγ線を検出する。分析処理手段が、蛍光X線のスペクトルとγ線のスペクトルとを求める。
必要に応じて、分析処理手段は、蛍光X線のスペクトルに基づいて試料に含まれる元素を特定してその含有量を求め、γ線のスペクトルに基づいて試料に含まれる放射性物質の核種を特定してその含有量を求める。 (もっと読む)


【課題】周期性のある領域を簡易に且つ精密に設定することが困難であり、検査時に領域に対する位置ずれで誤検出が発生する場合がある。
【解決手段】ストライプ状に電子線画像を連続して取得し、画像の明るさ変化より領域情報を設定あるいは補正することで精密に帯電等の影響も含めた領域情報を設定することができるようになる。
【効果】簡易,短時間に精密に領域を設定でき、領域情報と画像との位置ずれによる誤検出を低減でき、検査結果の信頼性,安定性が向上するため、高感度検査が実現できる。 (もっと読む)


【課題】外管と内管とからなる二重管の溶接部の検査を、精度良く行うことのできる二重管の溶接部の検査方法を提供する。
【解決手段】内管同士の溶接位置と、外管同士の溶接位置を前記所定長さ軸方向にずらすとともに、溶接部にX線源からX線を照射し、二重管を挟んで前記X線源とは反対側に設けられたフィルムによって撮像する。二重管の内径をD、内管の厚さをd、内管と外管との間隔をd、外管の厚さをd、外管とX線源との距離をL、外管の溶接ビードの最大幅をm、軸方向におけるX線源と外管の溶接ビードのX線源側端部との距離をm、軸方向における外管の溶接ビードと内管の溶接ビードとの最小間隔をmとした時に、
>(m+m)(D+2d+d+d)/L
を満たすようにした。 (もっと読む)


【課題】炉体内面に施された耐火物の残厚を、簡便に高精度に測定する方法を提供する。
【解決手段】鉄皮6内面に耐火物7が施された停機中の炉体5内部から、耐火物厚みtを測定する耐火物厚み測定方法で、炉体5内部の耐火物7表面に沿って高速中性子線源2と中性子検出器3を配置し、高速中性子線源2から照射される高速中性子の一部が、鉄皮6と線源2及び中性子検出器3の背面に配置した金属板4の間で多重反射されて耐火物7中で熱中性子に変化する一方、照射した高速中性子が耐火物形成物質中の軽元素に衝突して減速し、弾性散乱して戻ってくる熱中性と共に、これらの熱中性子を中性子検出器3で計数して耐火物7中の軽元素の量を求め、この軽元素の量と予め測定して求めておいた耐火物7中の軽元素の量を比較演算することにより耐火物厚みtを求める。 (もっと読む)


【課題】従来の三元散布図では表現できなかった3元素の強度の絶対値情報を併せて表示することにより、相解析の効率化や精度向上を図る。
【解決手段】
3元素の強度を強度和で規格化した相対値を表す軸(A軸、B軸、C軸)を正三角形の三辺に割り当て、その三角形が載る平面に直交する方向に3元素の強度の和を表す軸(D軸)を追加した、三角柱状の3次元空間を、マッピング分析において1箇所の微小領域で得られたデータ点をプロットする空間として設定する。そして、この3次元的なグラフを平面化して表示部の画面上に描画する。3次元的なグラフを見る方向を任意に変化可能とすることにより、従来の三元散布図上でのデータ点の位置も把握可能であるとともに、三元素の強度の絶対値も容易に知ることができる。 (もっと読む)


【課題】低速陽電子パルスビーム寿命測定法による薄膜材料の空孔サイズ計測の精度を向上させるために、従来よりも時間分解能に優れた低速陽電子パルスビーム測定方法及び測定装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】陽電子消滅ガンマ線を真空中で電場を印加した多孔材料体に照射し、ガンマ線照射により空孔壁から真空中に放出される電子を直接検出することによって陽電子消滅のタイミング計測を行うことを特徴とする低速陽電子パルスビーム寿命測定方法及び陽電子発生源と、パルス化装置と、試料と、陽電子消滅ガンマ線を電子に変換する多孔材料体と、該多孔材料体とアノード間に電場を印加する高電圧源を備えた低速陽電子パルスビーム寿命測定装置。 (もっと読む)


【課題】 分光可能な特性X線を発する元素及び分光可能な分光素子を一覧でき、容易に分析条件を選択できる分析条件選択支援装置及び分析条件選択支援方法を提供する。
【解決手段】分光素子のボタンを配列した分光素子選択部と元素のボタンを配列した元素選択部を有する分析条件選択画面を表示させる選択画面表示手段31、元素が発する特性X線と分光素子の関係の情報を格納した分光範囲記憶装置26、分光範囲記憶装置26から情報を読み出し、分光素子選択部で指定された分光素子によって分光可能な元素のボタンに対し、特性X線の種類を元素のボタンに分類表示させる元素選択部表示手段32、分光範囲記憶装置26から情報を読み出し、指定された元素によって発せられる特性X線の種類を元素の特性X線を分光可能な分光素子のボタンに分類表示させる分光素子選択部表示手段33とを備える。 (もっと読む)


【課題】
空港での手荷物検査官の訓練の効率を上げるなどのため、任意のX線撮影装置を用いて撮影された、異なる被写体に対する複数のX線画像を合成し、当該X線撮影装置を用いて異なる被写体を1画像として撮影されたX線画像と同等のX線画像を作成できるX線画像合成装置、方法及びプログラムを提供することを目的とする。
【解決手段】
試験体データ入力手段1からX線撮影装置に固有な試験体データ2を入力する。合成係数算出手段3で、X線合成係数を算出し、X線合成係数DB4に登録する。合成対象物データ入力手段5よりX線部品画像を入力し、X線部品画像DB6に登録する。X線部品画像DB6には複数のX線部品画像を保持することができる。合成画像作成手段7で、合成先画像のオペレータが指定した位置にX線部品画像DB6から複数の画像部品を配置し、各画像部品とX線重ね合わせ用データ4から合成X線画像データ9を作成する。表示部10で、合成X線画像データ9を表示する。 (もっと読む)


【課題】GaN系試料をX線回折測定して、twist 分布の存否を判定する。
【解決手段】GaN系試料をX線回折測定して、選択した複数の異なる反射指数hklごとのhklプロファイルを求める。選択した反射指数hklで特定される反射指数hkl面と試料表面との角度を面角度θcとし、各hklプロファイルの横軸であるスキャン角度Δθをsinθcで割り、hklプロファイルの横軸をΔθ/sinθcに規格化しなおし、複数の選択した反射指数hklごとの再規格化したhklプロファイルを求める。しかも、面角度θcを60度より小さい範囲とする。複数の再規格化したhklプロファイルを、ピーク頂点をそろえる状態にして重ね、重ねた複数の再規格化したhklプロファイルのピーク拡がり形状が一致する場合には、hklプロファイルのピーク拡がり形状は、結晶のモザイク性により生じる局所的なtwist 分布に起因して生じるピーク拡がり形状だと判定する。 (もっと読む)


【課題】被検査物の重なり等により、被検査物の透過X線データ濃度が異物の透過X線データ濃度のほぼ同一になったとしても、確実に異物を検出するX線異物検出装置を提供する。
【解決手段】被検査物Pを透過した複数の異なるネルギー帯の透過量を検出するX線検出手段10によって得られる検出信号を異なるネルギー帯毎の透過画像として記憶する透過画像記憶手段21と、透過画像記憶手段21に記憶された複数の異なるエネルギー帯の透過画像から独立成分として異物画像を含む複数の分離画像を分離抽出する独立成分分析手段24を有する画像処理手段23を備え、独立成分分析手段24によって分離抽出された異物画像に基づいて被検査物Pの中に異物が含まれているか否かを判定する。
(もっと読む)


【課題】X線CT装置を用いることなく、X線透視を行うことにより、アルミダイキャスト部品のボイド等の欠陥をはじめとして、透視対象物内部の特異部位の3次元位置情報を正確に知ることができ、加えて3次元の概略形状を知ることのできるX線透視を用いた3次元観測方法と、その方法を用いたX線透視装置を提供する。
【解決手段】X線源1とX線検出器2の対と透視対象物Wとの相対位置を変化させ張ることにより、透視方向を少なくとも3方向に相違させた透視対象物Wの透視像を取得し、その各透視像上で特異部位の像を抽出し、各透視方向の透視像上で抽出された特異部位の像対応付けした後、各透視方向の透視像上の特異部位の像と、これらの各透視像を得たときのX線源1とX線検出器2の透視対象物Wに対する相対的な3次元位置情報を用いて、特異部位の3次元位置および/または3次元形状を算出し、表示する。 (もっと読む)


【課題】高次回折の特性X線を用いる状態分析において、高次線の測定を行う条件を自動的に設定し、得られたスペクトルを1次線の値に換算して表示できるようにする。
【解決手段】 入力装置12から状態分析を行う元素の元素名、特性X線種及び回折次数を入力する。測定制御装置11は指定された元素の特性X線種に従って記憶装置14から1次線の波長データを読出し、回折次数に基づいて実際の分光波長位置と測定波長範囲を求める。さらに、指定された回折次数のX線信号のみが選別されるように、WDS測定系8内のPHAの条件を設定する。
測定された高次回折線のスペクトルを1次線の値に換算し、表示装置13に表示する。 (もっと読む)


【課題】小角X線散乱曲線の始点から終点までの散乱角度についての積分値であるX線散乱積分強度と、被測定物の比表面積とがほぼ比例関係にあることに基づき、被測定物のX線散乱積分強度から比表面積を測定する比表面積測定装置において、散乱角度が0.1°未満の領域における超小角X線散乱曲線を容易に計測でき、被測定物の比表面積を0.2m2/gから30m2/gの範囲においても高精度で測定することができるようにする。
【解決手段】第一分光結晶2aと第二分光結晶2bとの間隔が100mm以上である二結晶型分光器2と、二結晶型分光器2で分光されたX線から目的とする入射X線を取り出すためのスリット3と、被測定試料4にて散乱したX線を再度単色化し、しかも散乱X線の方向を入射X線の方向からずらす分光結晶5と、散乱X線の散乱角度を測定する散乱角度測定器14と、前記分光結晶5を経た散乱X線の散乱強度を測定するX線検出器6とを備えた小角X線散乱装置Aを用いて小角X線散乱曲線を測定する。 (もっと読む)


【課題】 波長分散形X線分光器及びエネルギー分散形X線分光器を用いて試料分析を行うに際して、波長分散形X線分光器による試料分析を効率良く行うことのできる試料分析方法及び試料分析装置を提供する。
【解決手段】 試料7に電子線12を照射し、電子12線の照射により試料7から発生する特性X線13をWDS8により分光して検出し、これによる特性X線ピークの検出位置における特性X線強度の測定を行うに際して、該特性X線ピークの検出位置での特性X線13のバックグランド強度を、試料7上の対応する分析位置におけるEDS11により測定された特性X線強度に基づく定量分析値によって算出された平均原子番号に基づいて求め、WDS8により検出された特性X線ピークの検出位置でのピーク強度から該バックグランド強度を差し引いて正味の特性X線強度を求める。 (もっと読む)


【課題】それぞれ異なる分光結晶を搭載する複数のX線分光器を装備し各X線分光器毎に検出する波長を設定して複数の元素の同時分析を行う波長分散型のX線分析装置において、X線分光器に対する分析対象元素の割り当てを適切に行うことで測定回数を減らしながら正確な測定を行う。
【解決手段】複数の分析対象元素の中で濃度の低い順に、より高い感度での分析が可能な分光結晶と特性X線の種類の組合せを選択し(S2、S3)、選択した分光結晶が装置に装備されているか否か、既に他の分析対象元素に割り当てられているか否か、さらには選択された特性X線に他の元素の特性X線の重畳がないかどうか、をそれぞれチェックし(S4〜S7)、問題がなければ選択された分光結晶(X線分光器)に分析対象元素を登録する(S9)。これを濃度の低い順に繰り返して、全元素をX線分光器に割り当てる。 (もっと読む)


【課題】 AESを用いて異なる化学状態の混在する試料を分析する方法を提供する。
【解決手段】 FeO(2価)とFe(3価)を標準試料、Feを被験試料として、FeOとFeの標準スペクトルを用いて、Feからのスペクトルに対して最小二乗法のフィッティング計算による波形分離計算を行う。convolution曲線は、最もよいフィッティング結果を与えるときの、FeOとFeの標準スペクトルに各々係数を乗じて合成されたスペクトルである。このときのFeOとFeの係数に基づいて、Fe中の2価と3価の鉄原子の存在比率を求めることができる。 (もっと読む)


【課題】1μm以下の高空間分解能を有するX線セクショントポグラフィーを達成して、鮮明で均一な多次元のトポグラフ像を生成すること。
【解決手段】所定の集光ビーム形状を有する集光X線ビームを測定用結晶媒体に入射させた状態で、測定用結晶媒体をその集光X線ビームを含む所定の領域内において複数の方向に移動させ、この移動と共に集光X線ビームがその測定用結晶媒体の所定の領域内において回折して得られた回折X線ビームの強度を測定し、測定した強度に基づいて測定用結晶媒体の所定の領域内での移動方向に即した結晶切断面形状に対応するトポグラフ像を生成する。 (もっと読む)


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