【課題】ガスの除湿および原子炉格納容器の外部へのサンプリングを必要としない水分濃度測定装置及びその測定方法を提供する。
【解決手段】実施形態の水分濃度測定装置３０では、原子炉格納容器７０内の陽電子源１から放出された陽電子と雰囲気に含まれる水分子とにより衝突して生ずる対消滅により発生するγ線を複数のγ線検出器３が検出する。原子炉格納容器７０外の同時計数回路５が複数のγ線検出器３により検出されたγ線を時系列的に計測して対消滅により発生した対となる２個のγ線を検出したγ線検出器の位置を特定する。第１の信号処理ユニット６ａが特定されたγ線検出器の位置から陽電子の飛程を算出して水分子の濃度と陽電子の飛程との相関関係に基づいて水分子の濃度を求める。 （もっと読む）

【課題】面方位測定とノッチ方位測定の両方を１つの測定で同時に行うことができるようにする。
【解決手段】Ｘ線源Ｆからの連続Ｘ線を平行化して単結晶試料位置へ導くコリメータ３３と、試料の格子面（００１）に対応したラウエ像を検出できる第１位置に配置された第１の２次元検出器３１と、試料の格子面（ｈｈｌ）に対応したラウエ像を検出できる第２の位置に配置された第２の２次元検出器３２と、第１の２次元検出器３１の出力に基づいて格子面（００１）の法線ベクトルＶ_００１を演算し、第２の２次元検出器３２の出力に基づいて格子面（ｈｈｌ）の法線ベクトルＶ_ｈｈｌを演算し、ベクトルＶ_００１とベクトルＶ_ｈｈｌとに基づいて方位マークの方向を演算する演算装置とを有するＸ線結晶方位測定装置である。２つの格子面（００１）及び（ｈｈｌ）は方位マークを付けようとしている結晶方位を晶帯軸とするときにその晶帯軸に属する格子面である。 （もっと読む）

【課題】 エアーデータの収集作業に煩わされること無く被検体の断層撮影を行うことにある。
【解決手段】 予め、所定の管電圧と管電流とラミノ角において、被検体４をＸ線検出器２の視野から外して透過データが飽和しないようにエアーデータを収集した後、被検体４をＸ線検出器２の視野内で撮影位置設定するとともに断層撮影条件を設定し、回転機構８によりＸ線と被検体４とが相対的な回転を行いつつ、複数の回転位置で検出した透過データを取得し、先に収集したラミノ角ごとのエアーデータから、断層撮影条件に適合する推定エアーデータを求め、得られた推定エアーデータを用いてエアー補正を施して再構成処理し、被検体４の３次元画像を得る円錐軌道断層撮影装置である。 （もっと読む）

【課題】飛行時間型質量分析器を用いた分析の高感度化と高精度を計る。
【解決手段】１次入射粒子としてクラスター粒子を用い、１次入射粒子１パルス当り２次粒子を複数個発生させ、２次粒子を飛行時間型質量分析器１８で分析する。デジタルオシロスコープ２５により、１次入射粒子をパルス化するパルス化信号を基準時間信号として、２次粒子の検出信号を２次粒子の飛行時間によらず均等な確率で計数する。 （もっと読む）

【課題】結晶端面Ｓｃのカソードルミネッセンス画像から、貫通転位などの欠陥数を自動計数する場合に、その誤差を小さくしてより正確に計数できるようにする。
【解決手段】欠陥像の面積に対する欠陥像数の分布から、孤立欠陥による欠陥像と近接欠陥による欠陥像とを推定的に分離したうえで、孤立欠陥の数と孤立欠陥像の面積を算出し、その後、前記孤立欠陥数と孤立欠陥像面積を用いた補正演算によって、近接欠陥による欠陥像から欠陥数を算出するようにした。 （もっと読む）

【課題】オペレータの経験等によらずに、Ｘ線像に要求される正確さに係る情報の入力により、自動的に最適なＸ線検出出力の積算回数を設定することのできるＸ線撮影装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線像に要求される正確さに係る情報を入力するための入力手段と、Ｘ線発生装置１の管電圧と、Ｘ線発生装置１とＸ線検出器３間の距離とを含み、かつ、Ｘ線検出器３の画素出力の積算回数を含まない撮影条件を設定することにより、その条件下で略一様なＸ線がＸ線検出器３の複数の画素に入射したときの各画素出力の積算回数と、その各画素出力ごとの積算値相互のばらつきとの関係を求め、その関係と入力手段１５により入力された正確さに係る情報とから、当該正確さを得ることのできる積算回数を算出して自動的に設定する検出器出力積算回数設定手段を設けることにより、入力された正確さを有するＸ線像を得ながら、最も少ない積算回数でのＸ線撮影を可能とする。 （もっと読む）

【課題】長期間ＣＴ撮像に使用された半導体放射線センサにおいても、Ｘ線ＣＴ装置の起動時の半導体放射線センサからの出力信号の時間変動を抑制し、Ｘ線ＣＴ装置のＣＴ撮像開始までの待ち時間を低減できるＸ線ＣＴ装置及びＸ線ＣＴ装置の運転方法を提供することである。
【解決手段】ＣｄＴｅ結晶をＸ線センサ４（図中４−１〜４−５１２で表示）に用いるＸ線ＣＴ装置１００において、Ｘ線センサ４のバイアス電圧を逆方向と順方向の両極性で供給できる両極性バイアス電圧供給装置３０を設け、Ｘ線ＣＴ装置１００の運転中にはＸ線センサ４に逆方向のバイアス電圧を、Ｘ線ＣＴ装置１００の運転休止中には順方向のバイアス電圧を供給するように制御装置６が両極性バイアス電圧供給装置３０を制御する。 （もっと読む）

測定ウィンドウ全体にわたる変数の変化を推定する方法であって、測定ウィンドウの間に変数の複数のサンプルを採取するステップ、各サンプルと対応づけられる重みを定義するステップであって、該重みは測定ウィンドウ内でサンプルの位置の関数として変動する前記ステップ、変数の変化の推定値を形成するために、サンプルを、それらの重みを考慮して処理するステップを含む、前記方法。
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【課題】
本発明は、硬組織についてより精密な評価を行ない、正確かつ迅速に骨粗鬆症の評価を可能とする骨粗鬆症の評価方法を提供することにある。
【解決手段】
本発明の骨粗鬆症の評価方法は、硬組織における結晶の配向性を分析することにより、骨粗鬆症の評価を行うこと特徴とする。本発明の骨粗鬆症の評価方法の好ましい実施態様において、さらに、骨粗鬆症の原因因子に応じて、骨粗鬆症の評価を行うことを特徴とする。また、本発明の骨粗鬆症の評価方法の好ましい実施態様において、原因因子が、原発性骨粗鬆症、又は続発性骨粗鬆症であることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】
本発明は、硬組織についてより精密、かつ迅速な評価を行なうことを可能とする硬組織の評価方法を提供することにある。
【解決手段】
本発明の硬組織の評価方法は、硬組織における結晶の配向方位を決定し、当該配向方位の結晶の配向性を分析することを特徴とする。また、本発明の硬組織の評価方法の好ましい実施態様において、前記配向方位が、前記硬組織における結晶の配向方位の中で最大の配向方位であることを特徴とする。 （もっと読む）

本発明は、測定時間として設定した時間後でないと濃度の計算結果が得られないという従来の蛍光Ｘ線分析の問題点を解決するものである。
本発明の蛍光Ｘ線分析方法および蛍光Ｘ線分析装置は、試料の測定条件の設定を行った後測定を開始し、試料に含まれている元素の測定濃度と測定精度の計算を行い、この測定精度が予め定めた測定条件を満たす値となったときに測定を終了し、そのときの濃度を出力するように構成されている。 （もっと読む）