【課題】高い精度でモルタル圧縮強さ推定値を得る方法を提供することにより、セメントの品質異常を未然に防止することができる信頼性の向上した状態での出荷を可能とすること。
【解決手段】セメント製造プラントの運転において、品質管理情報として収集した、セメント中のクリンカー構成鉱物及び添加材の量の情報、クリンカー構成鉱物の結晶構造の情報、クリンカーの少量成分の量の情報、およびセメントの粉末度及び４５μｍ残分の情報を、過去に蓄積されているそれら情報及びモルタル圧縮強さ実測データの間の重回帰分析を基に求めたモルタル圧縮強さの推定式に適用することにより、モルタル圧縮強さを推定することを特徴とするセメントの品質推定方法。 （もっと読む）

【課題】各種材料、製品、部品よりなる被検体に、ＲｏＨＳ指令で規制対象となっている六価クロムが検出される可能性があるクロメート膜が存在する可能性の有無を、非破壊で迅速に検査・判定することが可能となる有害材料判定方法および装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線で励起した特性Ｘ線を用いてクロムの有無を検査し、クロムを検出した場合に、クロムがある特性値以下であり、アルミニウムがある特性値以上、銅がある特性値以上、亜鉛がある特性値以上、およびニッケルがある特性値以上の少なくともいずれか一つの条件が充足された場合に、クロメート膜が存在する可能性があると判定する。 （もっと読む）

【課題】外観撮影手段を用いなくとも物品やその検査条件を視覚的に把握可能な画像を用いて、品種選択作業を容易化したり検査中の品種の照合・判定を容易化したりし得る低コストのＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】物品Ｗを透過したＸ線を検出するＸ線検出手段１０と、その情報に基づき物品Ｗの品質状態に対応するＸ線画像を生成する画像生成手段２１と、品種ごとの物品情報とＸ線検出手段１０及び画像生成手段２１の動作条件とを設定する設定手段２２と、その設定情報を記憶する設定情報記憶手段２３とを備え、Ｘ線画像に基づき物品Ｗの品質状態を検査する装置で、設定情報記憶手段２３は、設定手段２２により品種ごとにＸ線検出手段１０及び画像生成手段２１の動作条件が設定されるときのＸ線画像を品種ごとの情報に関連付けた設定時Ｘ線画像として記憶する。 （もっと読む）

【課題】 高分解能の電子顕微鏡の特徴であるノイズ成分を多く含む画像に対し、ノイズの低減と画像の輪郭の強調という、従来技術では相反する画像処理を同時に行うことのできる電子顕微鏡の画像処理システムを提供する。
【解決手段】 走査電子顕微鏡１０は、電子銃から電子線を試料に照射し、試料から発生した二次電子を検出することによって顕微鏡画像を生成する。パーソナルコンピュータ２０は電子顕微鏡１０によって生成された顕微鏡画像を取得し、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す。パーソナルコンピュータ２０は、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す際に、あらかじめ取得された大照射電流量の電子顕微鏡画像と、最大エントロピー法を用いた画像との比較に対する評価結果に基づいて前記画像処理のためのフィルタリング条件を決定する。 （もっと読む）

【課題】高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルX線による材料識別の方法と装置を提供する。
【解決手段】本発明の方法は、（a）高速中性子源及び連続エネルギー・スペクトルX線源でそれぞれ産生された高速中性子ビーム及び連続エネルギー・スペクトルX線ビームを被検対象に照射する；（b）X線検出器アレー及び中性子検出器アレーにて、透過したX線ビーム及び高速中性子ビームの強度を直接計測する；（c）被検対象の異なる材料を透過した中性子ビームとX線ビームの減衰差によって形成された曲線により、被検対象の材料に対して材料識別を行う；ステップを含む。 高速中性子と連続エネルギー・スペクトルX線との透過減衰強度が異なるように構成され、被検対象の厚さと無関係に被検対象の等効原子番号Zとのみ関係するn-X曲線を利用して材料識別を行う。 （もっと読む）

【課題】 画質向上の問題と視野移動に対する追従性との相反する課題を解決し、使い勝手のよいＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線測定光学系１３のＸ線検出器により撮影された映像信号に基づいて透視Ｘ線像のコマ画像データを１コマずつ繰り返し作成するコマ画像データ作成部３１と、画像バッファメモリ２４に精細画像データ作成用の画像データを蓄積し、蓄積した画像データと最新の透視Ｘ線像のコマ画像データとを用いて精細画像データを作成する精細画像データ作成部３２と、画像データを表示する表示装置２３と、被測定物とＸ線測定光学系との位置関係を調整して被測定物に対する測定視野を変動させる視野調整部１４、３３と、測定視野の変動の有無を判定する視野変動判定部３４と、視野が変動している判定のときはコマ画像データを表示し、視野が一定である判定のときは精細画像データを表示する画像モード切替部３５とを備える。 （もっと読む）

【課題】 ２つの画像のパターンマッチングの成功率および精度を向上させ、しかも、測長などの検査作業の効率を低下させない画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡を提供する。
【解決手段】 走査型顕微鏡１０は、第１の画像と第２の画像とのパターンマッチングを行なう画像処理装置４を含んで構成される。画像処理装置４は、第１の画像に基づき塗り分け画像を生成する塗り分け画像生成部４１と、塗り分け画像を平滑処理して重心分布画像を生成する重心分布画像生成部４２と、第２の画像に基づき輪郭線線分群を生成する輪郭線線分群生成部４３と、重心分布画像と前記輪郭線線分群とに基づきマッチングスコアを算出するマッチングスコア算出部４４と、前記マッチングスコアが最大になる位置を検出する最大スコア位置検出部４５とを含む。 （もっと読む）

【課題】
従来の有害元素分析法では、たとえばＸＲＦは、その精度（誤差３０％〜５０％）に問題があり、判定が困難な場合がある。また、Ｘ線のエネルギーが低いことから、その測定領域は固体試料表面の数十μｍに限定されることが問題である。それを解消するために試料を冷凍，粉砕等により一様化し、粉体状態で測定することがなされているが、その時点で非破壊の状態ではなくなる。また時間もそれだけかかる。
【解決手段】
本発明はＤＴ中性子発生管内に、二次元的に配列されたα線検出器アレイを備え、中性子発生管外部に、二次元的あるいは三次元的に複数の区画に分けられた試料収納部を備え、さらにα線・γ線同時計数回路，データ収集装置を備えている。α線検出器アレイのそれぞれの個別検出器は試料収納部の各区画と１対１に対応するように配置されている。 （もっと読む）

【課題】
中性子を用いた簡易な軽元素分析装置を提供する。
【解決手段】
α線検出器を備えた中性子発生管と、軽元素の飛行方向とエネルギーを同定可能な軽元素検出器を用い、それぞれの検出器からの信号を同時計数することにより、加速器等の大型の装置を用いることなく、簡便な装置で試料中の水素及び重水素等の軽元素分布を非破壊で計測することができる。 （もっと読む）

【課題】平坦な基板に数十nmの深さに注入した不純物の深さ分布を非破壊で精度よく測定する方法を提供する。
【解決手段】数十nmの深さに不純物を注入した基板に、入射角度を走査しながらＸ線を入射し、被測定試料によって反射されたＸ線の干渉振動曲線を測定し、干渉振動曲線のデータから、被測定試料に注入された不純物元素の深さ分布を測定する。干渉振動曲線のデータの解析は、Ｘ線反射率を表す解析式に干渉振動曲線をフィッティングすることにより行う。この際、不純物分布を適当な関数に近似し、関数に含まれるパラメータを最適化することにより深さ分布を得る。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線画像中における異物をノイズ成分と確実に分別し得る高異物検出感度のＸ線異物検出方法及び装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線画像内の任意の注目画素に対してその近傍画素を含む単位処理範囲を設定し、複数の注目画素について各単位処理範囲ごとに注目画素及び近傍画素の画像濃度レベルを平均化する平滑化処理段階と、平滑化処理がなされた画像データの濃度レベルを所定の異物候補抽出用の閾値と比較してそれを超える異物候補の画像領域を抽出する抽出処理段階と、異物候補の画像領域についてその周縁部の有効画素を減じるようにその画像領域を縮小した後に縮小画像領域内の有効画素数を増加させるように縮小画像領域を拡大する収縮・膨張処理段階と、を含み、収縮・膨張処理された画像データによって生成される画像領域中に有効画素が所定数以上集まった孤立領域が形成されるか否かで検出すべき異物の有無を判定する。 （もっと読む）

【課題】複数の試料について，同時にＸ線回折測定と熱分析測定を実施できるようにする。
【解決手段】集中法によるＸ線回折測定の際には，第１アーム２０と第２アーム２２を互いに逆方向に，同じ角速度で連動回転する。Ｚ方向に細長いライン状のＸ線ビーム３０について，入射側のソーラースリット２６でＺ方向の発散を制限してから，このＸ線ビーム３０を粉末試料１４，１６に同時に照射する。試料１４からの回折Ｘ線と，試料１６からの回折Ｘ線を，受光側のソーラースリット３２でＺ方向の発散を制限してから，少なくともＺ方向に位置感応型のＸ線検出器３４で，区別して検出する。また，Ｘ線回折測定と同時に，二つの試料１４，１６について，熱分析測定を実施する。 （もっと読む）

【課題】未知サンプルを測定するのに用いられる分光計と同様の分解能及び効率である基準物質からのスペクトルを測定するのに用いられる分光計を提供する。
【解決手段】Ｘ線放射特性を用いた物質同定方法が提供される。監視されるＸ線放射特性を表すＸ線データは、入射エネルギービームに応答して試料から得られる。同様に、複数の物質の組成データを含むデータセットが得られる。試料物質はデータセット内に含まれる。組成データを用いてデータセット内の物質の各々について予測Ｘ線データが計算される。取得Ｘ線データと予測Ｘ線データとが比較され、この比較に基づいて試料物質の可能性のある素性が判定される。 （もっと読む）

【課題】
MEM構造解析により得られる電子密度を、たんぱく質に代表される高分子に適用して、その高分子の静電ポテンシャルの計算に応用する。
【解決手段】
実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線による異物検出精度を要求レベルに維持しつつ処理能力を高めることができるＸ線異物検出装置を提供する。
【解決手段】 被検査物を搬送する搬送手段１０と、搬送手段１０により搬送される被検査物に所定の検査領域内でＸ線を照射して被検査物に含まれる異物を検出する異物検出手段２０とを備えたＸ線異物検出装置において、搬送手段１０が、検査領域内で並列する複数の管路状の搬送路ｐ１、ｐ２を有し、異物検出手段２０が、複数の搬送路ｐ１、ｐ２の中の被検査物に向かってＸ線を照射するＸ線発生部２１と、複数の搬送路中の被検査物を透過したＸ線を検出するＸ線検出部２２とを含んで構成されている。 （もっと読む）

【課題】 放射線発生装置との煩雑な接続なしに放射線発生装置と撮像手段の同期動作が可能となる放射線撮影装置を提供する。
【解決手段】 放射線撮影装置は、放射線発生装置から放射された放射線パルスに基づいて放射線画像を撮像する撮像手段と、前記放射線パルスを検出する検出手段と、前記検出手段の検出結果に基づいて前記撮像手段を制御する制御手段と、を備える。前記制御手段は、前記検出手段の検出結果に基づいて前記放射線パルスのパルス幅および周期を演算する演算手段を有し、前記演算手段で演算した前記放射線パルスの前記パルス幅及び前記周期に基づいて、前記撮像手段を制御する。 （もっと読む）

【課題】試料の表面分析方法を提供する。
【解決手段】（イ）Ｎ個の相異なる元素を含む試料表面のＭ個の相異なるデータポイントを設定し、各データポイントでの元素成分比を測定するステップと、（ロ）測定された元素成分比からデータポイント間の濃度距離値を計算するステップと、（ハ）計算されたデータポイント間の濃度距離値を利用し、試片表面の相分布を決定するステップとを含む試料表面での構成元素の成分比を利用した相分布を決定する試料表面の分析方法である。 （もっと読む）

【課題】加重平均処理およびパターンマッチングを行なう画像処理において、ランダムノイズが含まれている撮影画像（被サーチ画像）の撮影回数を減らしても、良好なパターンマッチング結果を得られる画像処理方法及び装置を実現する。
【解決手段】ランダムノイズが含まれる撮影画像の中から目的のパターンを認識するために、撮影画像を複数取得（１A-１L）して、その画像のマッチング候補像２A-2Lに加重平均処理を施し、加重平均処理された画像２´とテンプレート画像３とをパターンマッチングする。上記加重平均処理を行う場合に、加重平均処理を補助するための画像５（５A−５M）としてテンプレート画像３と同じパターンを含む画像を用意する。加重平均処理は、前記マッチング候補画像に加重平均補助用の画像も加えることにより行われる。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線直接検出型の半導体センサを用いる場合に、Ｘ線検出面である半導体受光素子の表面に異物が付着することを長期間にわたって確実に防止できるようにする。
【解決手段】 ＣＣＤセンサ４２をパッケージ４０でパッケージングして成るＣＣＤモジュール３２を有するＸ線検出装置である。ＣＣＤセンサ４２は、複数のＣＣＤ素子を並べることによって形成されていて、それらのＣＣＤ素子によってＸ線を直接に受光する。パッケージ４０におけるＣＣＤセンサ４２のＸ線受光面に対向する領域は保護膜４３となっている。この保護膜４３は、Ｘ線を通すことができる材料によって形成されている。保護膜４３は、ＣＣＤセンサ４２のＸ線受光面に異物が付着すること防止する。保護膜４３の周囲は膜支持部材４４によって囲まれている。膜支持部材４４はＸ線を減衰する材料、例えばガラスによって形成されているので、配線４７にＸ線が直接に当たることを防止できる。 （もっと読む）

【課題】
缶詰の被検査物に混入した異物を確実に検出できる異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置を提供する。
【解決手段】
缶詰の被検査物を透過したＸ線画像を処理して前記被検査物内の混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、前記Ｘ線画像から周縁部及び周縁部に隣接した異物を示す周縁部異物画像と周縁部から孤立した異物を示す孤立異物画像からなる異物候補画像を生成する異物候補画像生成段階（Ｓ３）と、前記異物候補画像から前記孤立した異物を抽出する第１の異物抽出段階（Ｓ４）と、前記異物候補画像から前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出することにより前記周縁部に隣接した異物を抽出する第２の異物抽出段階（Ｓ５）と、抽出された前記孤立した異物と前記周縁部に隣接した異物を合成して出力する異物合成出力段階（Ｓ６）とから構成されている。 （もっと読む）