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Fターム[2G001FA30]の内容

Fターム[2G001FA30]に分類される特許

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【課題】 凹凸のある試料でも装置と試料との衝突を回避することが可能なX線分析装置及びX線分析方法を提供すること。
【解決手段】 試料S上の照射ポイントに1次X線X1を照射するX線管球2と、試料Sから放出される特性X線及び散乱X線を検出し該特性X線及び散乱X線のエネルギー情報を含む信号を出力するX線検出器3と、信号を分析する分析器4と、試料Sを載置する試料ステージ1と、該試料ステージ1上の試料SとX線管球2及びX線検出器3とを相対的に移動可能な移動機構6と、試料Sの最大高さを測定可能な高さ測定機構7と、測定した試料Sの最大高さに基づいて移動機構6を制御して試料SとX線管球2及びX線検出器3との距離を調整する制御部8と、を備えている。 (もっと読む)


コンピュータ断層撮影システム用の圧縮サブシステムは、効率的なデータ送信及び記憶のために投影データを圧縮する。この圧縮は、投影データサンプルのアレイに減衰プロフィールを適用することを含む。この減衰プロフィールは、サンプル座標の関数であり、サンプルに適用する減衰値を決定する。減衰サンプルは、データ転送のためにエンコードされ、パックされる。或いは又、差の演算器が減衰サンプルに適用され、差がエンコードされる。圧縮サンプル当たりの平均ビット数が監視され、圧縮サンプル当たり希望のビット数を達成するように減衰プロフィールを変更することができる。圧縮サンプルは、画像再構成処理の前に解凍される。解凍は、圧縮サンプルをデコードし、そのデコードされたサンプルに利得プロフィールを適用して、オリジナルのダイナミックレンジを回復することを含む。 (もっと読む)


【課題】従来のものよりも高精細な画像を高速に取得することができる画像処理装置及びそれを備えたX線異物検出装置並びに画像処理方法を提供すること。
【解決手段】画像処理装置5は、画像を復元する画像復元手段52を備え、画像復元手段52は、関数近似PSFを生成するPSF生成手段522、関数近似PSFに基づいて画像復元処理を行うデコンボリューション手段523、エッジ保存平滑化処理を行うエッジ保存平滑化手段524を備え、エッジ保存平滑化手段524は、画像復元処理後に、第1及び第2のエッジ保存平滑化処理をそれぞれ行う第1のエッジ保存平滑化部524a及び第2のエッジ保存平滑化部524bを備え、第1及び第2のエッジ保存平滑化処理をそれぞれ順次2回ずつ実施する構成を有する。 (もっと読む)


【課題】基準値(しきい値)の設定を変更する際の指標を作業者に提供することにより、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能な、X線検査装置を得る。
【解決手段】X線検査装置1は、複数の物品100に関する検査によってX線検出部5で取得された、X線の強度に関する複数の検出データS1を蓄積する蓄積手段22と、所定の基準値として、複数の物品100に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段24と、仮想基準値と、蓄積手段22に蓄積されている各検出データS1との比較結果に基づいて、各物品100内への異物の混入の有無を判定する判定手段25と、複数の物品100の総数における、判定手段25によって異物が混入されていると判定された物品100の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段26と、仮想異物混入率を表示部9に表示させる表示制御手段27とを備える。 (もっと読む)


【課題】 測定位置特定の操作性に優れていると共に、高精度で距離測定を行うことができるX線分析装置及びX線分析方法を提供すること。
【解決手段】 試料S上の照射ポイントに1次X線X1を照射するX線管球2と、試料Sから放出される特性X線及び散乱X線を検出し該特性X線及び散乱X線のエネルギー情報を含む信号を出力するX線検出器3と、信号を分析する分析器4と、照射ポイントP1を決定するために試料S上を光学的に観察可能な第1観察系5と、該第1観察系5よりも被写界深度が小さくかつ狭域を光学的に観察可能であると共に決定した照射ポイントP1との距離を焦点調整によって測定可能な第2観察系6と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】断層像の座標変換を伴うことなくリングアーチファクトを除去することを可能とし、断層像の精度を低下させることなく確実にリングアーチファクトを除去した断層像を得ることのできるX線CT装置を提供する。
【解決手段】互いに対向配置されたX線発生装置1とX線検出器2の対と、これらの間に配置された試料ステージ3とを相対回転させることにより、複数の角度での対象物WのX線投影データを収集し、その投影データを用いて回転軸Rに直交する面に沿った断層像を構築するX線CT装置において、断層像を構成する各画素について、当該断層像上で回転軸Rに相当する位置を中心とした扇形状のコンボリューションフィルタカーネルを用いてフィルタ処理を施すことにより、断層像に現れるリングアーチファクトを抽出し、その抽出した画像をフィルタ処理を施す前の画像から減算することにより、リングアーチファクトを実空間において除去または低減することを可能とし、当初の断層像の精度を維持したままリングアーチファクトの除去を実現する。 (もっと読む)


【課題】
エネルギー損失量と測定位置情報の二軸で形成される電子エネルギー損失スペクトル像について、各測定位置間での電子エネルギー損失スペクトルの相違点を高効率かつ高精度に補正する透過型電子顕微鏡を提供する。
【解決手段】
電子分光器を備えた電子顕微鏡の電子エネルギー損失スペクトル像の補正システムであって、基準スペクトル像に含まれる基準位置のスペクトル及び基準位置以外のスペクトルの相違点に基き、分析対象試料のエネルギー損失スペクトル像の各測定位置のスペクトルを補正することを特徴とする補正システム。 (もっと読む)


【課題】X線異物検査装置において、微細な異物を検出可能とする。
【解決手段】X線検査画像メモリ11がX線エリアセンサ6から出力されたX線検査画像データを記憶し、基準良品画像メモリ12が異物の有無を判定するための基準良品画像データを記憶する。画像除算演算処理器13が、X線検査画像データから基準良品画像データを除算処理することにより、異物の画像データを算出し、異物判定処理器14が画像除算演算処理器13によって算出された異物の画像データに基づいて異物の有無を判定する。画像除算演算処理器13が行なう除算処理によって検査対象物の材質又は形状に起因するノイズが除去され、異物に関する高品位なX線画像を取得できるので、微細な異物が検出可能になる。 (もっと読む)


【課題】X線異物検査装置において、微細な異物を検出可能とする。
【解決手段】X線検査画像メモリ11に記憶されているX線検査画像データに基づいて、ずらし画像データを作成するずらし画像作成器12と、ずらし画像作成器12によって作成されたずらし画像データを記憶するずらし画像メモリ13と、X線検査画像メモリ11に記憶されているX線検査画像データとずらし画像メモリ13に記憶されているずらし画像データを画素毎に加算してずらし加算画像データを算出するずらし画像加算演算処理器14と、ずらし画像加算演算処理器14によって算出されたずらし加算画像データに基づいて、検査対象物内の異物の有無を判定する異物判定処理器15によって構成する。 (もっと読む)


【課題】GaN系試料をX線回折測定して、twist 分布の存否を判定する。
【解決手段】GaN系試料をX線回折測定して、選択した複数の異なる反射指数hklごとのhklプロファイルを求める。選択した反射指数hklで特定される反射指数hkl面と試料表面との角度を面角度θcとし、各hklプロファイルの横軸であるスキャン角度Δθをsinθcで割り、hklプロファイルの横軸をΔθ/sinθcに規格化しなおし、複数の選択した反射指数hklごとの再規格化したhklプロファイルを求める。しかも、面角度θcを60度より小さい範囲とする。複数の再規格化したhklプロファイルを、ピーク頂点をそろえる状態にして重ね、重ねた複数の再規格化したhklプロファイルのピーク拡がり形状が一致する場合には、hklプロファイルのピーク拡がり形状は、結晶のモザイク性により生じる局所的なtwist 分布に起因して生じるピーク拡がり形状だと判定する。 (もっと読む)


【課題】 エアーデータに煩わされること無く被検体の断層撮影を行うことにある。
【解決手段】 被検体4に向けてX線を照射するX線管1と、被検体4の透過X線を検出する2次元検出チャンネルのX線検出器2と、X線と被検体4とを相対的に回転させる回転手段8と、被検体4をX線検出器視野に入れ、X線条件を設定する撮影条件設定部15aと、エアーデータが飽和していないかを判定する判定部15cと、被検体をX線検出器視野から外し、設定したX線条件から管電流を変更して飽和しないエアーデータを得た後、被検体とX線条件を元に戻して断層撮影を実施する撮影制御部15bと、このときX線検出器2で検出した透過データに対し、エアーデータにて感度補正を行い、被検体の断層像を再構成する再構成部15dとを設けた断層撮影装置である。 (もっと読む)


【課題】
電子ビーム式検査装置の高スループット化および検査画質向上には、偏向制御回路の出力波形の振り戻し時間短縮が課題となる。
【解決手段】
本発明は、検査試料の帯電特性に応じてGUI画面上スキャンモードを切り替え機能を行い時、スキャンモードと検査視野、画素サイズ、光学条件等具体的な検査条件に応じて、従来画像を取得しない偏向信号の振り戻す期間中、登録したパターンを有する試料を照射することにより画像を取得する。取得したから偏向信号の振り戻すアナログ波形を換算し、同アナログ波形と理想的な振り戻し波形を比較して補正データを抽出する。同補正データを偏向波形データ生成部に入力し、実際の波形が理想の波形に近づくように偏向波形データ生成を行うことで振り戻し時間を短縮する。 (もっと読む)


【課題】3次元的にスキャン領域を広げて被検体の3次元画像を再構成する。
【解決手段】 放射線源1と、被検体2を透過してくる放射線ビームを検出する放射線検出器4と、放射線ビームと端部付近で交差する回転軸に対し、被検体を、前記放射線ビームに対して相対的に回転させ、かつ、回転軸の方向に相対移動させるヘリカルスキャン手段5,7と、このヘリカルスキャンの間に検出された多数の透過画像から、回転軸を中心として片側が放射線ビームに包含される半径の円柱領域をスキャン領域とし、当該スキャン領域内の被検体の3次元画像を再構成処理する再構成処理手段8eとを設けたコンピュータ断層撮影装置である。 (もっと読む)


【課題】放射線源と検出器が取り付けられたC型アームの回転角度に応じて生ずる透過像の位置ずれを補正して、分解能の高い検査画像を得る。
【解決手段】 放射線源101と検出器102との間に位置させて、校正ファントム104を支持構造部材103に着脱可能に取り付け、支持構造部材の予め設定された基準回転角度において検出器により取得された透過像を基準に、異なる回転角度における透過像の位置変化を求めて回転角度と透過像の位置ずれデータをデータベース115aに格納しておき、被検体の検査実行時に、画像処理手段115はデータベースに格納された位置ずれデータに基づいて被検体の透過データを補正して検査画像を再構成する。 (もっと読む)


【課題】架空送電線の腐食の程度を定量的に測定して評価(寿命予測)できる架空送電線の腐食測定方法、余寿命測定方法、ならびに腐食測定および余寿命測定装置を提供する。
【解決手段】架空送電線にX線を照射して得られたX線撮影データをディジタルデータ記録装置に記録し、前記X線撮影データに、異常箇所の性質に応じて前記X線撮影データが示す傾向に着目したクラスタ分類を施すとともに、前記架空送電線の長手方向に対して垂直方向の上下クラスタ値差の算出を含む処理をして腐食の程度を測定する架空送電線の腐食測定方法。上下クラスタ値差を複数のクラスに分類し、各クラスの相対頻度を入力値とするニューラルネットワークを構築する。 (もっと読む)


【解決手段】各々が個々のフォトンに対応している複数のステップエッジを有するプリアンプ信号の傾きに基づいて、FIRフィルタのような、パルスプロセッサのエネルギー測定フィルタの応答を調整する方法が提供され、当該方法は、各々がデジタル値を有する連続的な複数のデジタルサンプルを含むプリアンプ信号のデジタルバージョンを受信する工程を含んでおり、プリアンプ信号は、複数のステップエッジの中の第1ステップエッジと、複数のステップエッジの第1ステップエッジの直後に続く、複数のステップエッジの中の第2ステップエッジとで規定される部分を有している。当該方法は、当該部分に関するデジタルサンプルの各々のデジタル値を用いて、当該部分の長さで規格化された当該部分の傾きの平均値を決定する工程と、エネルギー測定フィルタの応答を補正するために当該部分の長さで規格化された当該部分の傾きの平均値を用いる工程とを含んでいる。 (もっと読む)


【課題】対象サンプルに関するX線エネルギースペクトルの放射線量子の背景補正された計数を正確かつ速く決定する方法。
【解決手段】本発明の方法は、対象サンプルから蛍光X線ビームを発生させるステップであって、前記X線ビームは、解析結晶及び検出器に入射されるステップと、前記解析結晶を、前記蛍光X線ビームに対して角度θが得られるように回転させ、前記検出器を、前記蛍光X線ビームに対して角度2θが得られるように回転させるステップと、一定の検出器角度2θで、前記検出器を用いて、パルス高分布エネルギースペクトルを測定するステップとを有する。 (もっと読む)


【課題】好都合な歪み補正の計算方法を使用して、試験物体内部の選択された断面平面の断面影像を効果的に生成すること。
【解決手段】断層撮影検査システムが、放射線源、影像平面を画定する複数の線形影像検出器、放射線源と影像検出器の間の固定された位置に試験物体を配置する固定式テーブル、および影像検出器から獲得された試験物体の複数の影像を処理するコンピュータ装置を備える。放射線源および影像検出器は、試験物体の全領域に亘り複数の平行な線形走査を実行して、異なる視角のもとでの試験物体の影像を獲得する。獲得されたデータに基づき、コンピュータ装置が、歪み補正を決定し、試験物体内部の選択された断面の断面影像を生成する。 (もっと読む)


【課題】ピーク測定条件で測定したネット強度とバックグラウンド測定条件で測定したバックグラウンド強度との強度比を用いて、測定値の統計変動を小さくし、分析を精度よく行うことができる蛍光X線分析装置およびその方法を提供する。
【解決手段】試料Sに1次X線2を照射するX線源1と、試料Sから発生する2次X線4の強度を測定する検出器8A、8Bと、測定条件設定手段91と、ピーク測定条件で測定したネット強度Inを記憶するネット強度測定手段92と、バックグラウンド測定条件で測定したバックグラウンド強度Ibxを記憶するバックグラウンド強度測定手段93と、ネット強度Inとバックグラウンド強度Ibxとの強度比を演算する強度比演算手段94と、演算された演算値In/Ibxにより試料Sを定量分析する定量分析手段95とを有する蛍光X線分析装置10。 (もっと読む)


【課題】指定された座標に試料ステージを移動して試料を観察する観察装置において、ズレ量の測定を必要最小限にしてスループットの低下を抑え、また、検出画像の観察視野サイズを最適化する。
【解決手段】まず、ADRを開始する前に、上位の検査装置が出力した試料位置と実際に観察装置で検出した試料位置とのズレ量を測定して、ズレ量が最小となるように座標補正式を最適化するファインアライメント処理を開始するS201。ファインアライメント処理S201では、座標補正式に基づく補正座標と、実際に検出した試料位置とのズレを測定し(S202)、座標補正式を最適化する手順を繰り返す(S203)。ズレ量を算出した後に、ズレ量の収束判定を行う(S204)。ズレ量が収束していなければ、ファインアライメントを継続する(S208)。ズレ量が収束していれば、ADRの観察視野がズレの収束値以上になるように設定し(S205)、ファインアライメントを終了し(S206)、ADRを開始する(S207)。 (もっと読む)


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