Fターム[2G001GA00]の内容
放射線を利用した材料分析 (46,695) | 測定内容、条件、動作等関連変数、量ψ (4,673)
Fターム[2G001GA00]の下位に属するFターム
E:λ (769)
e/m;m (94)
時間、dn/dtn、回数等 (166)
x(点;位置) (260)
l(長さ、距離、線、径) (247)
〔x、y〕(面;2次元) (1,299)
Z(上下;3次元;厚み、奥行方向) (451)
V、E(電位、電圧、クーロンカ) (224)
H(磁場、磁力) (27)
I(電流) (123)
Q(電荷) (388)
θ;ω等(角;向:立体角) (564)
熱力変数(P、T、S……) (49)
他変数 (11)
Fターム[2G001GA00]に分類される特許
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X線結晶方位測定装置及びX線結晶方位測定方法
【課題】面方位測定とノッチ方位測定の両方を1つの測定で同時に行うことができるようにする。
【解決手段】X線源Fからの連続X線を平行化して単結晶試料位置へ導くコリメータ33と、試料の格子面(001)に対応したラウエ像を検出できる第1位置に配置された第1の2次元検出器31と、試料の格子面(hhl)に対応したラウエ像を検出できる第2の位置に配置された第2の2次元検出器32と、第1の2次元検出器31の出力に基づいて格子面(001)の法線ベクトルV001を演算し、第2の2次元検出器32の出力に基づいて格子面(hhl)の法線ベクトルVhhlを演算し、ベクトルV001とベクトルVhhlとに基づいて方位マークの方向を演算する演算装置とを有するX線結晶方位測定装置である。2つの格子面(001)及び(hhl)は方位マークを付けようとしている結晶方位を晶帯軸とするときにその晶帯軸に属する格子面である。
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