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Fターム[2G001HA02]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 表示、記録、像化、観察、報知等 (3,732) | g〔f(ψ)〕 (21)

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【課題】回路基板等の被検査物を加熱しつつ、その板厚方向に透視する場合等においても、被検査物を均一に加熱しつつX線透視を行うことのできるX線検査装置を提供する。
【解決手段】試料ステージ(テーブル)3上に配置された被検査物Wに熱風を噴射する加熱ユニット10を設け、この加熱ユニット10の熱風噴射部材12は、X線の透過度の高い材料で形成され、試料ステージ3の被検査物Wに対してX線光軸方向に対向する位置に設けた構成とすることにより、被検査物Wに対して熱風を一様に噴射してその温度を均一に保ちながら、被検査物WのX線透視像に対して熱風噴射部材12による影響を殆ど与えず、その画質の低下等を防止する。 (もっと読む)


【課題】X線システム、CTシステム及び同様のシステムにおいて物質組成を算出する。特に、画像化される物質の実効原子番号を決定する又は推定することを可能にする。
【解決手段】放射線検査モダリティによって画像化された物体を形成する物質の原子番号を算出する手法を提供する。この方法は、第一のエネルギ・レベルにおいて取得された物体の第一の単色画像及び第二のエネルギ・レベルにおいて取得された該物体の第二の単色画像にアクセスするステップ(76)を含んでいる。第一の単色画像と第二の単色画像との間の質量減弱係数の比を求めることができる(78)。この質量減弱係数の比に基づいて物体の物質の原子番号を算出することができる(82)。 (もっと読む)


本発明は、軽元素、すなわち、無機材料中のモル質量23未満の元素を定量するプロセスに関する。5〜22keVのスペクトル分析を使用する。スペクトルは材料にX線を照射することにより得られる。とりわけ、本発明は、鋼及び合金の炭素含量を直接定量することに関する。本発明のプロセスによれば、無機材料がX線放射にさらされ、スペクトルがマトリックスとして整理され、適切に選択された計量化学ツールを使用して数学的に処理される。 (もっと読む)


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