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Fターム[2G001KA01]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 分析の目的、用途、応用、志向 (3,508) | 成分;濃、密度 (1,118)

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【課題】被検査物の正確な階調情報を得ることができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】輝度毎データLD2において被検査物に対応する階調情報から当該被検査物が載置されたベルトコンベアに対応する階調情報を減ずる補正が補正部260により行われる。当該補正は、素子配設方向の各位置に応じた補正量HRを用いて行われる。補正量HRは、素子配設方向の各位置におけるX線透過距離および当該素子配設方向の位置に対応するベルトコンベアの厚さに基づいて決定される。 (もっと読む)


【課題】本発明は、簡便な操作により高い精度で、セメントモルタルの圧縮強さを推定する方法を提供する。
【解決手段】本発明は、試料作成工程と、水和率算出工程と、圧縮強さ推定工程からなるセメントモルタルの圧縮強さの推定方法であり、前記の水和率算出工程が、セメントペースト硬化体の反射電子像から求めた未水和の水硬性粒子の面積率を下記式に代入して、水硬性粒子の水和率を算出するセメントモルタルの圧縮強さの推定方法をも含む。
={1−(S−S)/S}×100
但し、R;材齢t日の水硬性粒子の水和率(%)
;水和率ゼロの未水和の水硬性粒子の面積率(%)
;材齢t日の未水和の水硬性粒子の面積率(%)
また、前記のセメントが高炉セメントであるセメントモルタルの圧縮強さの推定方法をも含む。 (もっと読む)


【課題】 試料とX線検出器の距離の変化による異物検出についての誤検出を防ぐこと。
【解決手段】 検査対象試料元素にX線を試料に照射するX線管球11と、X線が試料を透過した際の透過X線を検出するX線検出器13と、透過X線の透過像からコントラスト像を得る演算部17と、試料と検出器間の距離を算出するセンサーと、X線検出器の位置を調整する機構を備え、試料とX線検出器間の距離を一定に保ちながらX線透過像を撮像する。 (もっと読む)


【課題】ランダムに搬入される物品の識別を正確に行い、かつ当該物品の品質を正確に判定することができる検査装置を提供することである。
【解決手段】
当該検査装置100の品質検査装置110においては、複数種の物品がランダムに搬送され、該種類の異なる物品の検査を計量コンベア612にて行う。搬送装置610によりバーコードの付された物品が搬送され、バーコードリーダ400により物品に付されたバーコードが読み取られる。制御部301により、読み取られたら該バーコードに基づいて物品の品質の検査条件が変更され、バーコードリーダ400により読み取られた回数が内部カウンタ340の値に1だけ加算される。制御部301は、内部カウンタ340の値が2以上の場合、異常と判定する。 (もっと読む)


【課題】被検査物に不均一な分布の吸収がある場合においても、該被検査物におけるX線の透過率分布の影響を低減し、画質の良い位相像の撮像が可能となるX線撮像装置を提供する。
【解決手段】透過するX線によってタルボ効果により周期的な明暗パターンを形成する第1の格子と、
明暗パターンが形成される位置に配置され、明暗パターンの一部を遮光する第2の格子と、
X線強度分布を検出するX線強度検出器と、
X線強度検出器により検出されたX線の強度からX線の位相情報を取得する演算装置と、を備え、
第2の格子は明暗パターンの周期方向に対してそれぞれ逆方向の第1の遮光パターンによる第1の領域と第2の遮光パターンによる第2の領域を有し、
第1の領域と第2の領域を透過しX線の強度情報を用いて、前記被検査物におけるX線の透過率分布の影響を低減する演算を行なう。 (もっと読む)


【課題】 材料や複合電子部品などに含まれる有害物質の検査において、X線マッピング分析された画像から、正常か異常かを視覚的に判断することを可能とする、X線分析装置及びX線分析のマッピング方法を提供する。
【解決手段】 X線分析装置にて、予め正常であることが確認されている試料のX線マッピング像を参照マッピング像として取得しておく。検査する試料のマッピング分析を行い参照マッピング像と画素毎に差分を求め差分マッピング像を表示する。指定元素を基準より多く含まれる場所が、高輝度で表示されるため、異常個所を簡単に見つけることができる。 (もっと読む)


【課題】 クロメート処理された製品の6価クロム含有クロメート処理皮膜を判別し、皮膜の膜質を把握することを迅速に行えるクロメート処理皮膜質量測定方法を提供する。
【解決手段】 クロメート皮膜を有する製品のクロメート処理皮膜質量測定装置であって、前記製品のクロメート処理皮膜からクロム含有の抽出液を抽出する抽出部100と、前記抽出部100で抽出された抽出液に6価クロムが含有することを同定し、定量分析によって前記クロメート処理皮膜中の6価クロムの絶対質量を求める定量部200と、前記抽出部100で前記クロム含有抽出液が抽出された後の前記製品の前記クロメート処理皮膜の質量を測定する質量測定部300とを有する。 (もっと読む)


【課題】撮影時間を短縮化して、動きを止めにくい動物などのCT画像を短時間で得る。
【解決手段】本発明のCT装置1は、回転中心を基点に所定の半径を保ちつつ回転すると共に、回転中心に配置された患部に対して透過線2を照射する照射部3と、回転中心を挟んで照射部3の反対側に設けられると共に照射部3から患部を透過してきた透過線2を面状に撮影する撮影部4と、照射部3と撮影部4とが回転中心を基準として同じ位置関係を保つように照射部3と撮影部4とを回転中心回りに回転させる回転機構5と、撮影部4で撮影された撮影データを取り込む検査用コンピュータ7と、を備えたものである。 (もっと読む)


【課題】試料の損失及び汚染を防止し、銀粉中の塩素を迅速かつ高感度に定量する方法を提供する。
【解決手段】銀粉試料を硝酸で溶解させる溶解工程(S1)と、溶解工程にて得られた溶液に所定量の臭化カリウム溶液を添加し、塩化銀を含む沈殿物を生成させる沈殿工程(S2)と、沈殿工程にて得られた沈殿物から塩素を定量する定量工程(S3)とを有する。 (もっと読む)


【課題】実際のゴム材料の変形挙動が大きい場合でも、変形挙動を精密に解析することを可能とする。
【解決手段】ゴムにゴムとは異なる材料を配合した所定形状のゴム材料について、ノードにより構成される3次元モデルを生成するステップと、各ノードに歪と応力との関係を定めた構成条件を付与するステップと、構成条件が付与された3次元モデルを用いて変形挙動を解析するステップとを備える。 (もっと読む)


【課題】触媒濃度の極めて低い条件下においてEPMA分析を実施するに際し、高強度の電子線の照射に対して亀裂の起点となり得る触媒コート層と包埋樹脂層の間の低強度な界面の存在を許容しながら、ゴースト信号がマッピングされることのない、高精度のEPMA分析結果を得ることのできる触媒特定方法を提供する。
【解決手段】マトリックス担体に金属触媒が担持されてなる触媒コート層10において、該金属触媒の濃度もしくは分布を特定する触媒特定方法であり、触媒コート層10上にダミー層30を形成し、該ダミー層30上に包埋樹脂層20を形成する第1のステップ、電子線を照射した際の金属触媒に固有のX線強度を測定する電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)を使用して、包埋樹脂層20とダミー層30と触媒コート層10に該電子線を照射して、触媒の濃度もしくは分布を特定する第2のステップ、からなる。 (もっと読む)


【課題】4以上の元素を含む試料の相解析を効率良く行えるようにする。
【解決手段】相解析画面上に表示された2元散布図(又は3元散布図)上で、分析者がマウス操作等によりプロット点の集まり(クラスター)を異なる色の囲み線a、b、cで指定すると、各囲み線内に含まれるプロット点は囲み線と同色に変更される(a)。同時に、相解析画面上に表示された分布図上では、散布図上のプロット点に対応した位置が同色で示される。したがって、分布図上でクラスターに対応する領域がそれぞれ異なる色Ma、Mb、Mcで示される(b)。表示される散布図が別の元素組合せのものに切り替えられても、分布図上の各位置に対応したプロット点に同じ色が与えられる(c)。これにより、異なる元素組合せの散布図を関連付けることができる。また、異なる散布図上で指定したクラスターの位置を1つの分布図上で確認することができる。 (もっと読む)


【課題】対象とする設備の腐食リスク調査を、多くの手間を必要とせずに、より容易に正確に行えるようにする。
【解決手段】腐食リスク調査装置は、測定対象となる屋外設備の表面にX線を照射して屋外設備の表面に付着している腐食原因物質を構成している元素からの蛍光X線強度を測定する蛍光X線測定部101と、蛍光X線測定部101により測定された蛍光X線強度から、上記屋外設備の表面に付着している腐食原因物質の付着量を算出する付着量算出部102とを備える。 (もっと読む)


【課題】従来の処理方法では、前面板と背面板を分離する工程が必要であり、数多くのフラットディスプレイパネルを処理するには、不向きであった。また、設備面やエネルギー面においても多大な負荷がかかっていた。
【解決手段】背面板と前面板とが対向配置される配置面の外周を接着するシールガラスと、前面板および背面板の配置面側に備える表示部材と、放電空間にするために、背面板の対向配置面と反対の面に備える排気管を接着するシール材と、を含むようにプラズマディスプレイパネルの少なくとも一部を切断して切断断面を形成する切断ステップと、切断断面を蛍光X線で分析する分析ステップと、分析ステップによって切断された切断断面における鉛の有無を判別する判別ステップと、を備えるプラズマディスプレイパネルの鉛含有判別方法。 (もっと読む)


【課題】本発明はX線検出装置に関し、X線透過膜に対して大きな圧力差を生じさせないようにしたX線検出装置を提供することを目的としている。
【解決手段】試料室とX線検出器との間に設けられたゲート弁3と、その一端が前記ゲート弁3に、他端がX線検出器の第1の容器Aに接続されたベローズ12と、その一端にX線透過膜7が形成された第2の容器Bと、該第2の容器B内に取り付けられたX線検出センサ1aと、前記第1の容器Aと第2の容器Bとで仕切られる空間を真空にする第1の非蒸発型ゲッター9と、前記第2の容器内を真空にする第2の非蒸発型ゲッター8と、前記X線検出器の空間をシールするOリング10とを有して構成される。 (もっと読む)


【課題】外来電磁ノイズ(N)が真空断熱容器(2)の内部に侵入することを防止する。
【解決手段】真空断熱容器(2)の開口(2a)を着脱可能に塞ぐ蓋板(3)と真空断熱容器(2)の間に挟まって真空断熱容器(2)の内部を気密に封止する真空封止用リング(4)を設けると共に、真空断熱容器(2)と蓋板(3)の間に挟まって外来電磁ノイズが真空断熱容器(2)の内部に侵入するのを防止する外来電磁ノイズ遮蔽用リング(7)を設ける。
【効果】外来電磁ノイズが真空断熱容器(2)の内部に侵入して正常なX線検出が妨げられることを防止できる。 (もっと読む)


【課題】試料が搭載される基板(基材)の元素と、試料に含まれる元素が同一でも、安定して、微小部分の成分計測が可能な微小部X線計測装置を提供する。
【解決手段】X線発生装置と、放出されるX線を50μm径以下の断面積に収束照射するX線光学素子と、蛍光X線を検出するX線検出器と、光学像を撮像可能な光学顕微鏡と画像認識機能を備え、試料を二次元で移動して位置決めが可能で、かつ、高さ方向にその位置調整が可能な試料相対移動機構とを備え、試料の特定位置における蛍光X線計測が可能であり、かつ、基材の上に置かれた測定試料からの蛍光X線も計測可能な微小部X線計測装置では、X線の照射位置と前記X線検出器との間の蛍光X線の光路を蛍光X線の減衰を抑制する構造(真空又はヘリウム置換)とし、かつ、基材上の測定試料が基材と同一の金属元素を含んでも、測定試料の同一の金属元素の含有が判定可能なデータ処理機能を備えたデータ処理部を備えている。 (もっと読む)


【課題】固体試料中における低濃度の水素を二次イオン質量分析法によって正確に分析する手法を提供することを課題とする。
【解決手段】質量数1の水素同位体と物理的な挙動が酷似し、単体または化合物として大気中での存在量が極めて少ない質量数2の水素同位体をイオン注入によって分析対象とする固体試料中に導入する。そして、固体試料を加熱処理し、固体試料中に含まれる質量数1及び質量数2の水素同位体の濃度を減少させ、二次イオン質量分析法を用いて固体試料中における質量数2の水素同位体の濃度を分析し、その数値を固体試料中に残留する質量数1の水素同位体の濃度として同定する。 (もっと読む)


【課題】4以上の多数の元素の中から相解析を行う3元素を簡便に且つ的確に選択できるようにする。
【解決手段】分析者により指定された6元素をx、y、z軸の原点を中心とする+x、+y、+z、−x、−y、−zの各方向に割り当て、8個の象限の各空間に、分析した各微小領域の3元素のX線強度データをプロットした3次元散布図(XYZ表示)を表示部の画面上に表示させる。3次元散布図上で分析者が任意の位置をクリック操作すると、その位置に応じた3元素が選択され、3次元散布図は、選択された3元素の3元散布図を底面としそれに直交する方向に3元素の強度和をとった三角柱状のグラフ(トライアングル表示)に変更される。同時に、相解析画面には選択された3元素の3元散布図が表示され、該散布図を用いて相解析が可能となる。これにより、簡便な操作で6元素中の任意の3元素の組み合わせを選択することができる。 (もっと読む)


【課題】複数本のX線ラインセンサを被検査物の搬送方向に備える構成であっても、各X線ラインセンサからの検出信号から生成される被検査物の画像の境界を一致させることができるX線異物検出装置およびX線異物検出方法を提供すること。
【解決手段】搬送路21上を搬送される被検査物WにX線を照射するX線発生器9と、被検査物Wの搬送方向に複数配置され、被検査物Wを透過するX線に応じた検出信号を出力するX線ラインセンサと、X線ラインセンサからの検出信号が入力され、X線ラインセンサの間隔および被検査物Wの搬送速度に基づいて、搬送方向の上流側のX線ラインセンサほどX線ラインセンサの検出信号を遅延させて出力する遅延部44と、遅延部44からの検出信号を合成して被検査物Wに対応する画像データとして出力する合成部46と、合成部が出力する画像データに基づいて被検査物W中の異物の有無を判定する判定部48と、を備えた。 (もっと読む)


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