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Fターム[2G001KA01]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 分析の目的、用途、応用、志向 (3,508) | 成分;濃、密度 (1,118)

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CSCTにおいて、扇形プライマリビームを用いて、2次元検出器と組み合わせて、単一スライス透過断層撮影及び散乱断層撮影を同時に測定することができる。このようなシステムでは、単一色ソースの放射線を用いない限り、ぼけた散乱関数が測定される。本発明によると、エネルギー分解1次元または2次元検出器システムを提案する。これは、断層撮影再構成と組み合わせて、多色プライマリビームを用いてもよいスペクトル分解能を提供できる。さらにまた、本発明の一態様によると、減衰スペクトルを取得するために必要なエネルギー分解検出器ラインは1つだけである。本発明によるシステム及び方法の有利な応用には、医療画像化及び手荷物検査等の物質分析がある。
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【課題】 薄膜の組成比が未知の場合はロッキングカーブ測定により基板と薄膜の膜厚方向の格子定数の差を評価することはできるが、結晶歪み度合いを評価することはできない。格子定数が組成比、結晶歪みの両方の影響を受けている場合に、それらを切り分けて結晶歪み度合いを評価する方法を提供する。
【解決手段】 XRDによるロッキングカーブと蛍光X線ファンダメンタル・パラメータ法の併用により、結晶性の基板または層上に製膜された、格子定数のミスマッチによる結晶歪みを有する組成比未知の結晶性固溶体薄膜の結晶歪み度合いを分析する。 (もっと読む)


【課題】 元素分布および状態分布を二次元的に把握しやすく、また、一度の観測で多数の特定元素分布データを得ることができる、STEMを用いたEELS分析方法およびEELS分析装置を実現する。
【解決手段】 試料表面の座標(X,Y)の各点でそれぞれ、EELSスペクトルデータを採取する。各EELSスペクトルデータのコア・ロス吸収端及びELNES吸収端を探索し、両者のエネルギー損失量の差Edを(X,Y,Ed)の分布像として表示する。Edは伝導帯の状態密度を反映するので、(X,Y,Ed)は状態分布像に相当する。また、各座標のコア・ロス吸収端のデータから元素同定して元素濃度Cを(X,Y,C)の分布像として表示する。各座標ごとにEELSスペクトルデータを採取しているので、一度の観測で複数の元素の濃度分布を計算することができる。 (もっと読む)


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