【課題】 本発明は探針による試料電位分布像の取得方法及び装置に関し、試料の微小電圧変動を捉えることが可能な探針による試料電位分布像の取得方法及び装置を提供することを目的としている。
【解決手段】 試料１４のパターン面に接触させる第１の探針と第２の探針とからなる２本の探針１１，１２と、試料１４上を電子ビーム又はイオンビームで走査する走査手段と、試料１４上の任意の位置の電位を前記２本の探針を用いて検出する電位検出手段１８と、該電位検出手段１８の出力と電子ビーム又はイオンビームとを同期させて試料電位分布像を取得する取得手段２１とを有して構成される。 （もっと読む）

【課題】 未知の被検体に対しても、管電圧と管電流を容易に設定できるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線管と、このＸ線管の管電圧と管電流とを制御するＸ線制御部と、被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器とを有し、このＸ線検出器で得られた被検体の透過データから透過画像を作成するＸ線検査装置において、Ｘ線管の管電圧と管電流を設定する管電圧管電流設定部と、管電圧または管電流の設定を変えたときに表示部にリアルタイムで動画表示される透過画像の階調をリアルタイムで略一定に保ち表示させるようにする階調保持手段とを有する。 （もっと読む）

【課題】コンピュータ断層撮影を行なうためのシステムにおいて、多数の部品を同時にスキャンするために使用できるようにすること。
【解決手段】コンピュータ断層撮影を行なうためのシステムは、放射線源２２と、放射線源２２から間隔を開けてあり放射線源２２から受信した放射線の強度を表わす出力信号を生成する少なくとも１個の放射線検出器２４と、放射線源２２と少なくとも１個の検出器２４の間に配置されて複数の部品３２を支持するためのテーブル３０と、少なくとも１個のテーブル３０と放射線源２２とが相対的に又少なくとも１個の検出器２４に対して移動可能にしてあることと、少なくとも１個の検出器２４からの出力信号を入力信号として受信し、プログラム制御下にテーブル上に支持された部品３２の内部構造の少なくとも一部を表わす出力を生成するプロセッサ４０と、を含む。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、鋳造品のＸ線ＣＴ測定による鋳巣計測方法で、三次元鋳巣モデルにおける鋳巣の大きさや体積などの計測精度を評価することのできる鋳巣計測方法を提供することである。
【解決手段】Ｘ線ＣＴ画像群における仮想ボクセル空間内に所定の大きさの複数の仮想鋳巣を三次元的に作成し、この仮想鋳巣に基づいて実測により得られた鋳巣の計測精度を評価する。仮想鋳巣は球形と仮定して、基準試料を用いて輝度値テーブルを作成し（Ｓ１）、仮想鋳巣の中心座標からのボクセル座標の距離を求め（Ｓ２）、仮想断面画像を作成し（Ｓ３）、三次元仮想鋳巣モデルを作成し（Ｓ４）、球形の仮想鋳巣を基準として三次元仮想モデルの計測精度を評価する（Ｓ５）。 （もっと読む）

【課題】 測定データの改ざんを容易に確認できる分析装置を提供する。
【解決手段】 試料に対して測定を行って測定データを得る測定装置２と、測定データ及び測定関連データを記憶する第１記憶領域２１と、測定データ及び測定関連データを第１記憶領域２１とは異なったファイル形式で記憶する第２記憶領域２２と、第１記憶領域２１内のデータ及び第２記憶領域２２内のデータを画像として表示する表示装置４と、それらのデータを印字して表示するプリンタ６とを有する分析装置１である。第１記憶領域２１内のファイルと、そのファイルに対応する第２記憶領域２２内のファイルには、共通の履歴情報が記憶される。第１記憶領域２１内のデータ及び第２記憶領域２２内のデータを表示して比較することにより、データの改ざんを判断する。第２記憶領域２２はＸＭＬファイルによって構成できる。 （もっと読む）