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Fターム[2G001KA08]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 分析の目的、用途、応用、志向 (3,508) | 結晶パラメータ (230)

Fターム[2G001KA08]に分類される特許

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【課題】原子番号の低い結晶材料或いはワークに用いられる短波長X線回折測定装置及びその方法を提供する。
【解決手段】その装置はX線管1と、入射絞り2と、テーブル4と、サンプルまたはワーク3の位置制限部分に用いられる位置制限受光スリット5、測角器7と、検出器6と、エネルギー分析器9とを備えており、X線管1と検出器6はサンプルまたはワーク3が置かれるテーブル4の両側に位置し、検出器6は回折透過X線の受光に用いられる。本発明の短波長X線回折透過方法によれば、サンプルまたはワーク3を破壊せずに、より厚い結晶材料サンプルまたはワーク3の異なる深さと異なる箇所のX線回折スペクトルを測定し、コンピュータ10でデータ処理を行い、サンプル又はワーク3における各点の位相、残留応力等のパラメーター及びその分布を得ることができる。本発明は、操作が簡単で、測定時間が短いという利点を有し、正確で、かつ信頼できるX線回折スペクトルを得ることができる。 (もっと読む)


【課題】 試料のガスとの反応量に対する試料の結晶構造等の回折結果を同時に測定可能なX線回折装置及び試料の測定方法を提供する。
【解決手段】
X線発生手段1とチャンバー部2-1とX線検出器3とを備え、チャンバー部2-1内の試料にX線を照射し、当該試料からの回折X線を測定するX線回折装置において、チャンバー部2-1を真空とする真空排気手段(符号11,12等)と、チャンバー部2-1に各種ガスを導入するガス導入手段(符号13等)と、チャンバー部2-1内のガス変化量を測定するガス量測定手段(符号5,6,7等)とを有し、X線検出器3は、同時に複数の回折X線を検出できるように複数のX線検出素子を配列してなり、少なくともガス量測定手段とX線検出器とを制御すると共に、これらからデータを取得する制御手段(符号10等)を備えたX線回折装置とする。 (もっと読む)


【課題】 測定データの改ざんを容易に確認できる分析装置を提供する。
【解決手段】 試料に対して測定を行って測定データを得る測定装置2と、測定データ及び測定関連データを記憶する第1記憶領域21と、測定データ及び測定関連データを第1記憶領域21とは異なったファイル形式で記憶する第2記憶領域22と、第1記憶領域21内のデータ及び第2記憶領域22内のデータを画像として表示する表示装置4と、それらのデータを印字して表示するプリンタ6とを有する分析装置1である。第1記憶領域21内のファイルと、そのファイルに対応する第2記憶領域22内のファイルには、共通の履歴情報が記憶される。第1記憶領域21内のデータ及び第2記憶領域22内のデータを表示して比較することにより、データの改ざんを判断する。第2記憶領域22はXMLファイルによって構成できる。 (もっと読む)


本発明は、核燃料棒上のクラッドの分析を遂行する方法及び道具を提供する。該方法は、核燃料棒の外面上にクラッドの層を有する核燃料棒を用意し、この燃料棒から該クラッドをクラッド掻取り道具で掻き取り、そしてこのクラッド掻取り道具からクラッドフレークを採集すると述べられる。該方法はまた、該クラッドフレークを粒子画分に分別し、そして走査電子顕微鏡で該クラッドを分析することを備え、しかも該掻取り道具は、クラッド付着物の予想剪断強さに合っている剛性を備えたブレードを有する。 (もっと読む)


1以上の試料を特徴付けるための超高速システム(および方法)である。本システムはステージ組立部を含み、ステージ組立部は特徴付けられる試料を有する。本システムは持続時間が1ピコ秒未満の光パルスを放射することができるレーザー源を有する。本システムはレーザー源に接続されているカソードを有する。特定の実施例において、カソードは1ピコ秒未満の電子パルスを放射することができる。本システムはステージ上に配置された試料上に電子パルスの焦点を合わせるために適合されれる電子レンズ組立部を有する。本システムは試料を通過する1以上の電子を捕らえるために適合された検出部を有する。検出部は試料の構造を代表する試料を通過する1以上の電子に関連付けられた信号(たとえば、データ信号)を供給する。本システムは検出部に接続されているプロセッサを有する。プロセッサは、試料の構造に関連付けられた情報を出力するために、試料を通過する1以上の電子に関連付けられたデータ信号を処理するために合わせられる。本システムはプロセッサに接続されている出力デバイスを有する。出力デバイスは試料の構造に関連付けられた情報を出力するために合わせられる。

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固体の分子状結晶化化合物もしくは分子状共結晶性化合物、または少なくとも2種類の固体の分子状結晶化化合物からなる固溶体の、多形もしくは疑似多形を、各容器ごとに異なる条件下にある一配列からなる容器内で並行調査するための装置を用いた一連調査で検出する方法であって、実質的に、結晶化化合物の無定形形態、もしくは結晶化化合物の溶媒和物のみか、または実質的に、少なくとも2種類の化合物の混合物中の一化合物の無定形形態もしくは溶媒和物のみを、懸濁液または溶液として用いて、無定形化合物の溶液が、同じ温度では、対応する結晶性化合物で達成されるより高い結晶可能化合物含量を有する方法。 (もっと読む)


in−situ状態で、試料の既知の特性を測定するX線回折技術に関する。その技術は、実質的に発散するX線放射を放射するためのX線源を使用するステップを含み、発散X線放射を受けるとともに、試料に向けて発散X線放射の発散経路を向け直すことによって、平行なX線放射のビームを発生させるために前記固定されたX線源に対して配置されたコリメーティング光学素子を備えている。第1のX線検出器が試料からの回折放射を収集する。X線源及びX線検出器は、その動作中、試料の既知の特性についてのアプリオリな情報に従って、互いの相対位置、及び試料に対する少なくとも1つのディメンションが固定されている。第2のX線検出器は、特に本発明の晶相モニタリングの実施形態において、試料の既知の特性についてのアプリオリな情報に従って、第1のX線検出器に対して固定することができる。

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【課題】 薄膜の組成比が未知の場合はロッキングカーブ測定により基板と薄膜の膜厚方向の格子定数の差を評価することはできるが、結晶歪み度合いを評価することはできない。格子定数が組成比、結晶歪みの両方の影響を受けている場合に、それらを切り分けて結晶歪み度合いを評価する方法を提供する。
【解決手段】 XRDによるロッキングカーブと蛍光X線ファンダメンタル・パラメータ法の併用により、結晶性の基板または層上に製膜された、格子定数のミスマッチによる結晶歪みを有する組成比未知の結晶性固溶体薄膜の結晶歪み度合いを分析する。 (もっと読む)


【課題】 焼戻しマルテンサイト鋼等の耐熱鋼についてのクリープ損傷評価を可能とする耐熱鋼の高温損傷評価法を提供するにある。
【解決手段】 焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷評価法として、電子線後方散乱像のパターンクオリティが高くなるほど寿命が短いと評価することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 試料を支持する試料板からの回折X線の影響を排除して、試料に関する正確なX線回折測定をできるようにする。
【解決手段】 単結晶試料板21によって支持する試料SにX線を照射し、試料Sから発生する回折X線を2次元X線検出器2によって検出し、検出された回折X線の座標及び強度をX線読取り装置によって読み取り、そしてその読取り結果に基づいて演算を行って回折X線強度分布を求めるX線測定装置である。単結晶試料板21から出る回折X線が2次元X線検出器2によって検出される座標位置を、回折X線強度分布の演算に寄与させないブランク領域として認識する。単結晶試料板21からの回折X線がX線強度の演算に算入されないので、試料Sからの回折X線だけに関して正確にX線強度分布を求めることができる。 (もっと読む)


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