【課題】 面方位測定の大幅な時間短縮を実現し、サブグレイン構造やリネージ構造の試料に対し高速マップ測定が可能なＸ線結晶方位測定装置及び方法を提供する。
【解決手段】 被測定結晶Ｓの測定面にＸ線を照射し、当該Ｘ線の照射により結晶の格子面に対応して得られる回折スポットをＸ線検出器３０で検出し、当該検出した回折スポットの中心位置を測定して結晶の格子面法線を算出するＸ線結晶方位測定装置及び方法において、当該被測定結晶の測定面の照射点からの回折スポットを、ＴＤＩ読み出しモードで動作するＣＣＤ（TDI-CCD）３４により構成した二次元検出器で検出する。 （もっと読む）

【課題】 結晶粒の方位分布測定を短時間で実行可能としてインライン又はオンラインで検査可能な方位分布測定方法及びそのための装置を提供する。
【解決手段】 測定試料における結晶粒の方位分布測定を行なう結晶粒の方位分布測定方法であって、単色化したＸ線をＸ線ビームに形成し、当該形成したＸ線ビームを前記測定試料の表面に対し、所定の入射角を中心にした所定の角度幅で入射し、当該所定の角度幅で入射したＸ線の回折像を、ＴＤＩ読み出しモードで動作するＣＣＤ３４により構成した二次元検出器で検出して、その回折方向において積分して極点図を取得し、当該得られた極点図から結晶粒の方位分布測定を行なう。 （もっと読む）

【課題】介在物を介して結晶粒が時間の経過と共にどのように変化するのかを、従来よりも容易に且つ正確に解析できるようにする。
【解決手段】ライン変更処理部１１９において、結晶粒の同一の粒界上で互いに隣接する２つの粒界点を両端点とするラインが、インヒビター設定部１１８で設定されたインヒビター内を通る場合、当該インヒビター内に固定点を発生させる。また、粒界エネルギー（Ｅ）算出部１２１において、当該固定点が属する粒界における粒界エネルギーＥｉと、当該固定点を固定位置から平衡位置に移動させた際の粒界における粒界エネルギーＥｉ'を算出する。そして、固定点処理部１２０において、粒界エネルギーＥｉ'が粒界エネルギーＥｉ未満である場合に当該固定点を解除する処理を行い、インヒビターによって結晶粒の粒界移動が抑制される状態をシミュレーションできるようにする。 （もっと読む）

【課題】表面を皮膜で被覆された強誘電体の分極方向及び分極の大きさを、非破壊で評価する。
【解決手段】強誘電体の表面の２次元格子から回折される散乱Ｘ線の強度プロフィルを測定し、強度プロフィルの非対称性を、分極方向及び分極の大きさが知られている標準試料の非対称性（基準非対称）（分極域の面積比ｓ＝１、０）と比較することで、強誘電体の分極方向及び分極の大きさを評価する。散乱Ｘ線は、分極の方向及び大きさに応じた一定の非対称を有す。従って、試料の非対称性と一致する基準非対称性を有する標準試料の分極の大きさ及び方向を、試料のそれと評価することができる。 （もっと読む）

【課題】
パッケージに封入された結晶試料の形状を非破壊で評価できる技術を提供する。
【解決手段】
結晶試料の形状評価方法は、（ａ）仮想ｘｙｚ直交座標系を有する空間の、ｘｙ面上に結晶試料を配置し、ｘｚ面に平行にＸ線を結晶試料上に照射し、結晶試料の所定結晶面からｘｚ面に平行に回折されるＸ線を検出するように、Ｘ線ソース、Ｘ線検出器を配置し、ｙ軸回りのωスキャンを行なって回折Ｘ線強度が最大となる角度ωを、結晶試料面内の位置の関数として検出する工程と、（ｂ）回折Ｘ線強度が最大となる角度ωを結晶試料のｘ軸方向に積分し、結晶試料のｘ軸方向の形状を評価する工程と、を含む。 （もっと読む）

【課題】部材を極力損傷させることなく、部材表面から試料片を採取可能な試料片採取方法を提供する。
【解決手段】試料片採取方法は、翼１０（１１）の表面１１４ａから試料片２０を採取する方法であり、、円筒状の刃２０２を備える超音波カッタ２００を翼１０（１１）の表面１１４ａから基材１００の表面１００ａまで送って切削することで、円筒状の切り込み１２１を形成する。円盤状の刃２２２を備える回転カッタ２２０により円筒状の切り込み１２１から内側に向けて切削することで、切り込み１２１の内側にある部分２０ａを切り取り、これが試料片となる。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線回折測定を用いて結晶の構造を正確に解析する。
【解決手段】対象試料にＸ線を照射したときに対象試料にて回折した回折Ｘ線の強度を、広い開口角条件と狭い開口角条件にて検出して、「広開口角での対象試料の回折Ｘ線強度」と「狭開口角での対象試料の回折Ｘ線強度」とし、両者の相対比を「対象試料の回折Ｘ線強度比」とする。また結晶の完全性が保証された参照試料にＸ線を照射したときに参照試料にて回折した回折Ｘ線の強度を、広い開口角条件と狭い開口角条件にて検出して、「広開口角での参照試料の回折Ｘ線強度」と「狭開口角での参照試料の回折Ｘ線強度」とし、両者の相対比を「参照試料の回折Ｘ線強度比」とする。そして、「対象試料の回折Ｘ線強度比」を、「参照試料の回折Ｘ線強度比」で除算した値を、「規格化された回折Ｘ線強度比」としこの値から結晶状態を解析する。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線回折測定を用いて結晶の構造を正確に解析する。
【解決手段】対象試料にＸ線を照射したときに対象試料にて回折した回折Ｘ線の強度を、広い開口角条件と狭い開口角条件にて検出して、両者の相対比を「対象試料の回折Ｘ線強度比」とする。また結晶の完全性が保証された参照試料にＸ線を照射したときに参照試料にて回折した回折Ｘ線の強度を、広い開口角条件と狭い開口角条件にて検出して、両者の相対比を「参照試料の回折Ｘ線強度比」とする。参照試料に対してＸ線解析をする際の反射指数は、対象試料に対してＸ線解析をする際における反射指数に対して独立選択したものとしている。そして、「対象試料の回折Ｘ線強度比」を、「参照試料の回折Ｘ線強度比」で除算した値を、「規格化された回折Ｘ線強度比」としこの値から結晶状態を解析する。 （もっと読む）

【課題】薄膜の結晶粒子の配列状態を簡便に得る方法とこれを用いた薄膜の製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜面を測定して得たＸ線回折パターンＰａと、前記薄膜面に対して直角な薄膜断面を測定面として測定して得たＸ線回折パターンＰｂとを用い、薄膜を構成する結晶粒子の面方位に該当するピークの実測強度の総和をＩｐｓ１とし、所望面方位に該当するピークの実測強度の和をＩｐｏ１とし、無配向のＸ線回折パターンを用いて、薄膜を構成する結晶粒子の面方位に該当するピークの強度の総和をＩｐｓ２とし、無配向のＸ線回折パターンを用いて、前記所望方位に該当するピークの強度の和をＩｐｏ２とし、下記式に代入して配向度Ｋを求める。
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【課題】ノッチ形状誤差等によるノッチ位置決め誤差が補正でき、半径方向結晶方位の測定の精度が高い結晶方位測定装置を提供する。
【解決手段】円筒状結晶２をその円筒軸に対し回転させる回転部１１と、円筒状結晶２を回転し、円筒状結晶２の周側面に設けられたノッチ２ａを基準に円筒状結晶２を位置決めする位置決め部１２と、円筒状結晶２が位置決めされると、回転軸に対するノッチ２の位置を測定するノッチ測定部１２と、周側面にＸ線を照射して半径方向の結晶方位を測定する結晶方位測定部１３と、結晶方位測定部１３で測定した結晶方位をノッチ測定部１２で測定したノッチの位置で補正して半径方向の結晶方位を求める補正部１４２とを備える。 （もっと読む）

【課題】 試料を固定しながら、小角Ｘ線散乱装置により実現可能な、薄膜状の試料に対する小角Ｘ線散乱の測定方法を提供する。
【解決手段】 Ｘ線発生装置によりＸ線を発生し、当該Ｘ線発生装置から発生したＸ線を光学系により所定のＸ線入射ビームに形成し、当該形成したＸ線入射ビームを、試料保持部に搭載した測定試料に照射し、当該試料からの小角散乱Ｘ線をＸ線検出器により検出する小角Ｘ線散乱の測定方法において、板状の基板表面に薄膜状に形成された当該試料に対し、前記Ｘ線入射ビームをその側端面から、当該薄膜状試料の表面に対して負の角度を有する入射角度で入射する小角Ｘ線散乱の測定方法。 （もっと読む）

【課題】ガラスからなる底板と、所定の配列で設けられた多数個の貫通孔を有するガラスからなる本体ブロックを融着によって接合一体化してなる、有機溶剤を安全に使用でき、さらにＸ線等の電磁波を用いた解析に用いることが可能である多穴型容器およびその製造方法を提供する。
【解決手段】リドロー加工によって厚さを０．２ｍｍ以下としたガラスからなる底板と、所定の配列で設けられた多数個の貫通孔を有するガラスからなる本体ブロックとを研磨した後にこの研磨面で重ね合わせ、これら底板および本体ブロックを一対の押圧部材で押圧し、その後冷却して底板と本体ブロックを接合する工程を有し、前記押圧部材のうち本体ブロックと直接接触する方の押圧部材の表面に、貫通孔と底板で区画形成された空間を外界と連通させて前記空間内のガスを外気圧に維持するガス圧調整手段を設けることを特徴とする製造工程からなる。 （もっと読む）

【課題】化学反応により生成した結晶を、容易にかつ効率良く採取することができるキット及び方法の提供。
【解決手段】反応容器に挿脱自在の非磁性有底筒状体と、当該非磁性有底筒状体に挿脱自在な、かつ磁石又は磁性体を備えた挿入体と、反応液中に投入される磁石とから成る結晶採取キット；反応液中に磁石を投入するステップと、当該磁石を取り出すことなく結晶化せしめるステップと、結晶が付着形成された磁石を反応容器から取り出すステップとを有する結晶採取方法。 （もっと読む）

【課題】化学反応により生成した結晶を、容易にかつ効率良く採取することができるキット及び方法の提供。
【解決手段】反応容器に挿脱自在な、かつ上部に磁石を備えた棒状磁性体と、当該棒状磁性体が挿通自在の貫通穴を備えた非磁性板状体と、当該貫通穴の径より大きな径を有し、かつ反応液中に投入される磁石とから成る結晶採取キット；反応液中に磁石を投入するステップと、当該磁石を取り出すことなく結晶化せしめるステップと、結晶が付着形成された磁石を反応容器から取り出すステップとを有する結晶採取方法。 （もっと読む）

結晶質形態の化合物であるPh(3-Cl)(5-OCHF₂)-(R)CH(OH)C(O)-Aze-Pab(OMe)（化合物Ａ）およびPh(3-Cl)(5-OCHF₂)-(R)CH(OH)C(O)-Aze-Pab(OH)（化合物Ｂ）、それらを含有する医薬組成物、それらを得るための方法、ならびに医療処置におけるそれらの使用が提供される。 （もっと読む）

本発明は、1つ以上の結晶性平面分子の回折パターンの1組の校正不要な特性から、前記1つ以上の結晶性平面分子の結晶構造及び/又は結晶構造の範囲を決定する方法、コンピュータプログラム、及び装置に関する。
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【課題】 酸素分子を選択的に検出可能であり、簡便に行うことができる酸素分子検出方法を提供する。
【解決手段】 下記式(I)で表されるピリジニルピラジンと下記式(II)で表されるメタロセニウムイオンと酸素分子（O₂）とを反応させ、前記反応工程の生成物を検出することで間接的に酸素分子を検出する。
【化１】


前記式(I)中、Rは、それぞれ、水素原子、アルキル基等であり、Xは、N、CH、等であり、Yは、任意の原子団である。 （もっと読む）

【課題】キャピラリーの回転ぶれを簡便に抑制することができるキャピラリー回転装置を提供する。
【解決手段】キャピラリー回転装置１０は、キャピラリーＣの先端部側から後端部側に向けて順に配置された第１案内部材１１と第２案内部材１２と第３案内部材１３と回転支持機構１４とを備える。回転支持機構は、キャピラリーの後端部を支持すると共に、キャピラリーを軸方向周りに回転させるように動作する。第１及び第３案内部材の凹溝はキャピラリーの同じ側面側に配置される一方、第２案内部材の凹溝は対向する側面側に配置され、少なくとも回転支持機構によってキャピラリーを軸方向周りに回転させる際、第１及び第２案内部材の凹溝の離間距離はキャピラリーの外径と略同等に設定される一方、第３案内部材の凹溝は該凹溝によってキャピラリーが第２案内部材の凹溝側に押圧されるように位置決めされる。 （もっと読む）

【課題】半導体ウェーハの大口径化に対応して、縦方向における発散角の拡大と共に、横方向の視野の拡大可能な２結晶法Ｘ線トポグラフィ装置を提供する。
【解決手段】回折Ｘ線を、試料である第２結晶２の表面を走査しながら所定の角度で入射し、試料である第２結晶の表面から得られる回折Ｘ線をＸ線フィルム４上に記録して、Ｘ線トポグラフィを得る２結晶法Ｘ線トポグラフィ装置において、Ｘ線源５と、コリメータ１０と、所定の幅でＸ線を入射するスリット６とによってＸ線発生部を構成し、第１結晶１と第２結晶２、Ｘ線フィルム４上を含めてトポゴニオ部を構成し、トポゴニオ部を定盤３上に搭載すると共に、Ｘ線発生部を、定盤に対して移動可能な走査台７上に搭載し、もって、Ｘ線源５からのＸ線から第１結晶１を介して得られる回折Ｘ線を第２結晶２の表面上で走査する。 （もっと読む）

【課題】高強度化、高導電率化とともに、優れた曲げ加工性を兼備した銅合金を提供することを目的とする。
【解決手段】強度と導電率とのバランスからＮｉ、Ｓｉ、Ｔｉを各々特定量含有する銅合金組織の、５０〜２００ｎｍの特定サイズの析出物の数密度を保証した上で、この範囲のサイズの析出物に含まれるＴｉの平均原子濃度を一定範囲に制御して、一定量のＴｉ含有析出物を存在させ、このＴｉ含有析出物による結晶粒成長抑制のピン止め効果によって、平均結晶粒径を２０μm 以下に微細化させ、前記銅合金に高強度、高導電率および曲げ加工性を兼備させる。 （もっと読む）