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Fターム[2G001KA08]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 分析の目的、用途、応用、志向 (3,508) | 結晶パラメータ (230)

Fターム[2G001KA08]に分類される特許

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【課題】粗粒かつ微少試料であっても均一な回折リングを得ることができるX線回折試料揺動装置、X線回折装置及びX線回折パターンの測定方法を提供する。
【解決手段】X線回折試料を保持する試料保持部31をX線入射方向と平行にした第1の回転軸の周りに揺動可能な第1の揺動部21と、前記第1の回転軸と直交する第2の回転軸の周りに揺動可能な第2の揺動部22と、前記第1及び第2の回転軸と直交する第3の回転軸の周りに揺動可能な第3の揺動部23を有するX線回折試料揺動装置11を用いることによって前記課題を解決できる。 (もっと読む)


【課題】有機光学結晶にレーザー光を照射して連続的に使用するために、あらかじめ非破壊で容易かつ簡便な有機光学結晶のレーザー被照射耐性を評価する方法を確立すること、またその評価方法によって評価されたレーザー被照射耐性を有する有機光学結晶を提供すること。
【解決手段】有機光学結晶にレーザーを照射する前に回折解析工程により、有機光学結晶のレーザー被照射耐性の有無を判断する評価方法を確立することができ、またその評価方法によって評価されたレーザー被照射耐性を有する有機光学結晶を非破壊で容易かつ簡便に幅広い分野へ提供することができる。 (もっと読む)


【課題】 簡易的なスクリーニングを迅速に実施することができるX線回折測定データの解析方法を提供する。
【解決手段】 X線回折装置5から出力されたX線回折測定データに基づき回折X線のピーク位置と積分強度を求め、当該求めた回折X線のピーク本数を計数し、あらかじめ設定したピーク本数に達したときに解析処理を開始する。解析処理は、測定開始からそれまでに得られたX線回折測定データに対して繰り返し実行する。具体的には、測定開始から当該解析処理までに得られたX線回折測定データから回折X線のピーク位置と積分強度とを求め、それらをあらかじめデータベース化してある標準ピークカードデータと照合して、測定試料Sに含まれる物質を検索する定性分析と、測定試料Sに含まれる物質の量を求める定量分析とを行う。 (もっと読む)


【課題】回折線による分析精度の低下を抑制することができる蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】蛍光X線分析装置100は、スペクトルから、二次X線ピークを抽出する二次X線ピーク抽出部12と、抽出された前記二次X線ピークのエネルギー幅を算出する二次X線ピーク幅算出部13と、抽出された前記二次X線ピークのエネルギー値における蛍光X線ピークのエネルギー幅の情報を取得する蛍光X線ピーク幅情報取得部14と、二次X線ピーク幅算出部13が算出した前記二次X線ピークのエネルギー幅が、前記二次X線ピークのエネルギー値における蛍光X線ピークのエネルギー幅よりも大きい場合に、抽出された前記二次X線ピークを回折線ピークと判定する回折線ピーク判定部15と、を含む。 (もっと読む)


【課題】測定試料およびX線照射装置の姿勢を制御する駆動機構を有さず、測定可能な試料の大きさや形状に特段の制約がなく、測定面上に標準試料を安定して固定することができ、かつX線回折測定を行う際にX線の漏洩が防止されたX線回折装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るX線回折装置は、X線照射装置と二次元X線検出器とを有し前記二次元X線検出器よりも大きい測定対象物に対してX線回折測定を行うX線回折装置であって、前記二次元X線検出器は平板状に設置されており、前記X線照射装置は前記二次元X線検出器を貫通するように配設され、前記二次元X線検出器と前記X線照射装置とが一体に固定され、前記X線照射装置の姿勢を規定しかつX線の漏洩を防止するための筒状シールド部材が前記二次元X線検出器の周縁に配設されており、前記測定対象物の表面に前記X線回折測定に用いる標準試料粉末を付着させ固定する付着固定機構を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】比較的大きな試料であっても、その試料全域において、金属組織レベルで金属材料の残留応力分布を、簡易的に、精度よく測定する方法を提供する。
【解決手段】金属材料の後方散乱電子回折像から結晶方位分布を取得するステップS1と、結晶方位分布から隣接格子点間の格子ひずみを算出するステップS2と、結晶方位分布における方位差で示す転位密度から塑性ひずみを算出するステップS3と、格子ひずみと塑性ひずみの差分から弾性ひずみを算出するステップS4と、金属材料に所定の荷重を負荷して塑性変形させた後、塑性変形後の金属材料について、再度ステップS1〜ステップS4を実行し、かつ、塑性変形後の金属材料表面の座標変位を測定するステップS5と、座標変位から塑性変形前後の座標を対応させて、塑性変形前の残留応力成分と塑性変形後の残留応力成分との差分を求めるステップS6とにより金属材料の残留応力を測定する。 (もっと読む)


【課題】多結晶材上に非晶質材が積層されてなる積層膜において、積層膜を構成する非晶質材の内部歪みを精緻に特定することができる非晶質材の内部歪み特定方法を提供する。
【解決手段】多結晶材上に非晶質材が積層されてなる積層膜における非晶質材の内部歪みを特定する方法であって、X線回折法を使用して、多結晶材1の第1の内部歪みを測定する第1のステップと、多結晶材1'上に非晶質材2を形成して積層膜5を作製する第2のステップと、X線回折法を使用して、積層膜5を構成する多結晶材1'の第2の内部歪みを測定する第3のステップと、第1の内部歪みと第2の内部歪みの差分から非晶質材2の内部歪みを特定する第4のステップからなる。 (もっと読む)


【課題】タンパク質結晶に損傷を与えることなく、かつ、簡便に、X線回折実験に適用するためのタンパク質結晶試料の調製方法を提供する。
【解決手段】タンパク質及びゲル化剤を含む溶液をイオン架橋形成溶液に加えて、タンパク質溶液を内包したイオン架橋ゲルカプセルを形成させる工程を含む、タンパク質結晶化用カプセルの製造方法。 (もっと読む)


【課題】X線回折測定において測定対象試料を気密状態で測定装置内に保持するために使用されるホルダーであって、試料のセットが容易で、かつX線透過窓等の試料以外の部分からの回折を検出する問題も生じさせないX線回折測定用気密試料ホルダーを提供する。
【解決手段】測定対象試料を設置する試料設置板、前記試料設置板を保持する保持部を有する底板とこの底板に対して垂直方向に延設される複数の壁又は柱と前記壁間又は柱間に設けられたX線透過部とからなる試料搭載具、及び、柔軟、非透気性かつX線透過性の膜からなり、前記試料搭載具を気密状態で封入可能な気密袋からなることを特徴とするX線回折測定用気密試料ホルダー。 (もっと読む)


【課題】試料棒と低温ガス吹付方向とが鋭角になる場合があるX線分析装置において試料に霜が付着する現象を解消する試料冷却装置を提供する。
【解決手段】試料棒23によって支持された試料Sをω軸線を中心として回転させ、試料SにX線を照射し、試料Sから出るX線をX線検出器11によって検出するX線分析装置1に用いられる試料冷却装置5である。試料Sに冷却ガスを吹付けるノズル26と、試料Sを通過したガスを開口34を通して吸引するガス吸引装置28とを有する。試料棒23はω軸線を中心として回転するときに試料Sを頂点とする円錐面を形成するように移動し、ノズル26は試料棒23とノズル26のガス吹付方向とが90度以下の鋭角になることがあるように設けられている。ガス吸引装置28は、試料棒23とノズル26のガス吹付方向Dとが鋭角を成すときに、試料棒23に当ったガスをその流路を曲げるように吸引する。 (もっと読む)


【課題】nAレベルのきわめて小さいエミッション電流値の電子線を利用して反射電子像回析パターンを生成することができる反射高速電子回析方法を提供する。
【解決手段】反射高速電子回析方法は、蛍光スクリーン18の直前に配置されて反射電子を電流増幅するマイクロチャンネルプレート17a,17bを含み、nAのレベルのエミッション電流値の電子線28を電子銃15から薄膜表面に向かって発射し、マイクロチャンネルプレート17a,17bによって電流増幅された反射電子を蛍光スクリーン18に入射させ、反射電子から生成される反射電子像回析パターンを蛍光スクリーン18に映し出す。 (もっと読む)


【課題】回折環の形状を短時間で精度良く検出できる、安価なX線回折装置を提供する。
【解決手段】測定対象物OBにX線を照射するX線出射器13、測定対象物OBにて回折したX線を受光して回折環を記録するイメージングプレート28を固定するテーブル27及びレーザ光をイメージングプレート28に照射して、回折環の形状を読み取るレーザ検出装置PUHを設ける。テーブル27の中心に、X線を通過させる貫通孔を設ける。回折環を撮像した後、スピンドルモータ24及びフィードモータ18によって、テーブル27を回転させるとともにイメージングプレート28の受光面に平行に移動させた状態で、レーザ検出装置PUHによって、イメージングプレート28にレーザ光を照射して、イメージングプレート28が発する光の強度が極大となるときのレーザ照射位置を取得する。 (もっと読む)


【課題】走査型電子顕微鏡により高分子材料の相分離構造、ラメラ構造および結晶の配向状態を解析することが可能な高分子材料の微細構造の観察方法を提供する。
【解決手段】本発明の高分子材料の微細構造の観察方法は、高分子材料を所定の大きさに成形して、観察用の試料とする工程Aと、前記試料を液状の透明樹脂で包埋する工程Bと、前記透明樹脂が硬化した後、クロスセクションポリッシャーにより、前記透明樹脂および前記試料を研磨し、前記試料の観察面の面出しを行う工程Cと、前記面出しされた観察面に、導電膜を形成する工程Dと、前記導電膜が形成された観察面を、走査型電子顕微鏡により観察する工程Eと、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】結晶性ドメインを自動的に分析すること。
【解決手段】電子顕微鏡像の複数の領域それぞれについてフーリエ変換を行なうことによりフーリエ像を生成し(S16)、前記フーリエ像の角度に対する強度を演算し(S18)、前記強度に基づいて、前記電子顕微鏡像内の結晶性ドメインを分析する(S26)結晶粒方位の分析方法。 (もっと読む)


【課題】本発明の課題は、観測上の精度の限界と消滅則の影響を考慮し、かつ、高速な指数付けを可能とする技術を提供することである。
【解決手段】本発明の情報処理装置は、q値の集合を取得する手段と、q値の集合から、組合せに含まれない他のq値を算出可能な第1のq値の組合せを取得する手段と、第1のq値の組合せと他のq値から、結晶格子の逆格子の2次元部分格子の基底に係る第2のq値の組合せを取得する手段と、2次元部分格子の基底がそれぞれ共通する第2のq値の組合せ同士を関連付ける手段と、互いに関連付けられた第2のq値の組合せに含まれる異なるq値の数による比較を行う手段と、比較の結果が所定の条件を満たす関連付けに係る第2のq値の組合せから、結晶格子の逆格子に係る第3のq値の組合せを特定し、該特定した第3のq値の組合せから結晶格子の格子定数の候補を取得する手段と、を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】多孔質材料の構造を容易かつ詳細に解析することを目的とする。
【解決手段】本発明の多孔質材料の構造解析方法は、小角電子線散乱により多孔質材料の電子線回折像の中央部に現れる小角電子線散乱部分を結像させることで小角電子線散乱像15を形成することを特徴とする。特に、小角電子線散乱像15の画像データに構造解析処理を施すことができる。また、小角電子線散乱部分の構造解析処理を併用することができる。さらに、透過像を併用することもできる。 (もっと読む)


【課題】微粒子を三次元配向させる際の配向精度を高めることができる微粒子配向装置及び微粒子配向方法を提供する。
【解決手段】微粒子配向装置1は、磁場発生部12と、微粒子を懸濁させた試料容器2を、回転磁場を形成するのに必要な速度で前記磁場発生部12に対して相対回転させる駆動部13と、前記試料容器2が180度回転するたびに、静磁場を形成するのに必要な所定時間tの間、前記相対回転を一時的に略停止させるように前記駆動部13を駆動制御する制御部14とを備える。 (もっと読む)


【課題】粗大粒を有した材料の内部応力を短時間かつ高精度に測定可能な方法を提供する。
【解決手段】本発明の内部応力の測定方法は、被測定物に放射光X線を照射する照射工程(S1)と、被測定物から透過したX線回折のゲージ体積を2次元スリットにより制限する制限工程(S2)と、制限されたゲージ体積中の回折スポットを2次元X線検出器により検出する検出工程(S3)と、被測定物を移動させて照射工程から検出工程までを繰り返す工程(S4)と、検出された回折スポットに基づいてゲージ体積中心に相当する位置の回折角を決定する解析工程(S5)と、を備える。解析工程では、回折スポットの位置と回折強度とを関係を放物線近似し、かつ、放物線の頂点に対応する位置の回折角の値をゲージ体積中心に相当する位置の回折角に設定することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】構造が簡単であり、グローブを着けての作業も行い易く、電極と外部電位との電気的な接続を安定的にとることができる電池構造体を提供する。
【解決手段】電界物質を含んでいるセパレータ7の両面に配置された正極材8及び負極材9と、正極材8に接触している正極側シール部材3bと、負極材9に接触している負極側シール部材3aと、正極側シール部材3bに接触している正極側弾性部材4bと、負極側シール部材3aに接触している負極側弾性部材4aと、正極側弾性部材4bと負極側弾性部材4aとを互いに近づく方向へ押し付ける弾性部材押圧機構5a、5b,18、22とを有するX線測定用電池構造体1である。シール部材3b,3aは耐食性を有しており、シール部材3b,3a及び弾性部材4b,4aはX線を通過させる部分を有しており、弾性部材押圧機構5b、5a、18、22はX線経路を妨げない。 (もっと読む)


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