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Fターム[2G001KA09]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 分析の目的、用途、応用、志向 (3,508) | 合金;メッキ情報 (14)

Fターム[2G001KA09]に分類される特許

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【課題】低接触抵抗、高はんだ濡れ性及び低挿入力を有するSn系めっき材を提供する。
【解決手段】Sn系めっき材10は、金属基材11、金属基材11上に形成された下地めっき12、下地めっき12上に形成されたAgを含むSn系めっき13を備える。Sn系めっき材10は、XPS(X線光電子分光装置)でDepth分析を行ったとき、Snの原子濃度(at%)の最高値を示す位置(DSn)及びAgの原子濃度(at%)の最高値を示す位置(DAg)がSn系めっき13表面からDSn、DAgの順で存在し、Sn系めっき13に含まれるAgが1〜200μg/cm2であり、Sn系めっき13に含まれるSnが2〜220μg/cm2である。 (もっと読む)


【課題】耐食性に優れるマグネシウム合金およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】マグネシウム合金の表面を、ショット角30°以下でショットブラスト処理することで、マグネシウム合金の表面から可固溶元素が除去され、耐食性が向上する。この方法で製造したマグネシウム合金の表面には、Mg結晶粒を含む改質部と、改質部以外の部分であり改質部を構成するMg結晶粒よりも粒径の大きなMgを主成分とするMg相と少なくとも1種の可固溶元素を含む共晶相とを有する非改質部と、が形成され、改質部における可固溶元素/Mgの値は、非改質部における可固溶元素/Mgの値を1としたときに0.5以下となる。 (もっと読む)


【課題】高品位のアルミニウム合金展伸材をそのまま展伸材として水平リサイクルし、省エネルギー化・省資源化に役立てることができるアルミニウム合金の材質判定技術を提供する。
【解決手段】下記材質判定のうち、少なくとも一方を有することを特徴とするアルミニウム合金の材質判定方法。
(A)測定対象であるアルミニウム合金に強度の異なる2以上のX線を別々に照射し、透過X線強度を測定し、その測定値から減弱係数の比の値を求め、求めた比の値に基づきアルミニウム合金の材質を判定すること、
(B)測定対象であるアルミニウム合金に渦電流プローブを用いて渦電流を形成させ、形成された渦電流を検出し、その検出結果から渦電流によるアルミニウム合金のインピーダンスを求め、求めたインピーダンスの値に基づきアルミニウム合金の材質を判定すること。 (もっと読む)


【課題】非破壊かつ高空間分解能で、試料の表面付近に存在する軽元素の面内分布を測定する。
【解決手段】試料10にイオンビーム13を間欠的に入射させ、試料から放出されるイオン・粒子をその入射に同期して検出14する、すなわち飛行時間分析することによって、試料表面に存在する軽元素(特に水素、リチウム)の分析を行う。また、試料表面の各点での分析結果をマッピングすることで、試料表面における注目元素の空間分布を可視化して表示することができる。 (もっと読む)


【課題】X線の利用効率、計測感度が向上され、装置の小型、軽量化、コストダウンを実現できるX線装置を実現する。
【解決手段】X線を照射するX線源と、このX線源の下方に設けられ前記X線の照射方向に直交して流れる測定試料を透過した光を受光検出するX線検出器とを具備するX線装置において、前記測定試料の流れ方向に略直交して前記X線源と前記測定試料との間に設けられ前記X線の反射線束を前記測定試料に照射する反射鏡を具備したことを特徴とするX線装置である。 (もっと読む)


【課題】 解析対象領域の境界線の部分において結晶粒が時間の経過と共にどのように変化するのかを、従来よりも正確に解析できるようにする。
【解決手段】 境界点i21〜i24と隣接する点i25〜i34と、解析対象領域に対して線対称となる仮想点81〜88を設定し、これら境界点i21〜i24と、点i25〜i34と、仮想点81〜88とにより定まる円弧91〜98の曲率(曲率半径Ri(t)の逆数)と、その境界点iが属する粒界uの単位長さ当たりの粒界エネルギーの大きさ(絶対値)γiとの積に基づいて、境界点iの駆動力Fi(t)の大きさを決定する。 (もっと読む)


【課題】プリント基板に形成されたスルーホールの内壁に施された導通用メッキ処理の
状態の検査を非破壊で行うことができ、大型のプリント基板の検査についても精度良く行
うことができるX線検査装置を提供すること。
【解決手段】試料Sを載置するXY軸方向に移動可能な試料台11を上下に挟んで、X
線焦点12aを含んで構成されたX線発生器12とX線検出器13とが対向して配置され
、X線焦点12aから放射され、試料Sを透過したX線がX線検出器13にて検出される
ように構成されたX線検査装置において、X線焦点12aが、試料台11の載置面と直交
する軸L2を中心に回転するように、X線発生器12を回転させる回転機構16と、軸L
2を中心にX線検出器13を回転させる回転機構18とを備えると共に、X線発生器12
の回転とX線検出器13の回転とを同期させる。
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【課題】試料の深さ方向の元素を容易に測定する技術を提供する。
【解決手段】試料にシートを当て、試料とシートとの間に押圧を加え、試料をシート面に平行に相対的に移動させることによって削り取られた試料粉中の元素を、その移動方向に沿って蛍光X線測定法により測定することにより、試料の深さ方向の元素を間接的に測定する。 (もっと読む)


【課題】 メッキ被膜の微量成分検査等において、分析目的元素が被膜又は下地のどちらか又は両方に含まれているかを迅速に判別する方法を提供する。
【解決手段】 被膜のみに含まれている分析目的元素から発生する2種類の特性X線ピーク強度測定値の強度比n(=Bp/Ap)及び下地のみに含まれている分析目的元素から発生する2種類の特性X線ピーク強度測定値の強度比m(=Bb/Ab)が被膜の膜厚に応じて変化する関係を表す関係式を用いて、膜厚が既知のとき、膜厚に対応するnとmを被膜及び下地について関係式により求め、nとm及び2種類の特性X線ピーク強度測定値A(=Ap+Ab)とB=Bp+Bb)とから、AとBを下地に起因する測定強度の推定値(Ab、Bb)と被膜に起因する測定強度の推定値(Ap、Bp)にそれぞれ分離して求める。 (もっと読む)


【課題】上記従来技術の現状を踏まえて、変形を受けたフェライト鋼板の変形組織を、迅速かつ大量に計測する方法を提供する。
【解決手段】変形されたフェライト鋼板のミクロ組織の評価において、走査電子顕微鏡を利用して得られる鋼板内部の反射電子像から、フェライト粒内に形成された転位セル構造の形態を示す二値化像を画像処理により抽出し、さらに、電子後方散乱回折法により得られる同一観察視野の結晶方位マップに、抽出された転位セル構造の形態を示す二値化像を重ね合わせることにより、フェライト粒ごとの転位セル構造の形成状態を結晶方位とともに可視化するフェライト鋼板の変形組織の評価方法である。 (もっと読む)


【課題】合金化溶融亜鉛めっき鋼板における組成が深さ方向に不均一なめっき被膜の付着量および組成を十分正確に分析できる蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】所定の入射角φで試料1に1次X線6を照射するX線源7と、所定の取り出し角α,βで試料1から発生する蛍光X線8の強度を測定する検出手段9とを備え、前記入射角φと取り出し角α,βの組合せにおいて少なくとも一方が相異なる2つの組合せで蛍光X線8の強度を測定し、蛍光X線8の強度が測定対象膜の付着量を増大させたときの上限値の99%となる付着量で示される測定深さについて、前記2つの組合せでの測定深さがいずれも前記めっき被膜3の付着量よりも大きくなるように、各組合せにおける入射角φおよび取り出し角α,βが設定されている。 (もっと読む)


【課題】WC基超硬合金に存在するVとWとCrを含む複炭化物相の面積率の測定方法を提供する。
【解決手段】WC基超硬合金の複炭化物相の面積率を測定する方法であって、第1の手段はWC基超硬合金の鏡面仕上げ面を作成する手段、第2の手段はEPMAのマッピング機能により複炭化物相のラインプロファイルを採取する手段、第3の手段はTEMにより複炭化物相の形態とその寸法値を測定する手段、第4の手段は該ラインプロファイルと該寸法値より、複炭化物相のラインプロファイルの閾値を設定する手段、第5の手段は、複数の画像を閾値により2値化し、画像処理することにより複炭化物相の面積率を演算によって求める手段であり、該第1から該第5の手段を有する事を特徴とするWC基超硬合金の複炭化物相の面積率の測定方法である。 (もっと読む)


【解決手段】トモグラフィックエネルギー分散型回折撮像装置は、支持体に設置された試料(4)に入射放射線(1、3)を当てるための放射線源と、入射の方向に対して所定の角度で試料(4)を通って伝達された放射線を検出するために設置された検出手段(9、10)とを具えている。検出手段は、エネルギー分散型検出器(9)のアレイとコリメータ(10)のアレイとを具え、各エネルギー分散型検出器(9)はそれに付随したそれぞれのコリメータ(10)を有する。コリメータアレイの各コリメータは、伝達された放射線の方向に沿って間隔が空けられ、中にアパーチャが形成された複数のコリメータ板を具えていてもよい。
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in−situ状態で、試料の既知の特性を測定するX線回折技術に関する。その技術は、実質的に発散するX線放射を放射するためのX線源を使用するステップを含み、発散X線放射を受けるとともに、試料に向けて発散X線放射の発散経路を向け直すことによって、平行なX線放射のビームを発生させるために前記固定されたX線源に対して配置されたコリメーティング光学素子を備えている。第1のX線検出器が試料からの回折放射を収集する。X線源及びX線検出器は、その動作中、試料の既知の特性についてのアプリオリな情報に従って、互いの相対位置、及び試料に対する少なくとも1つのディメンションが固定されている。第2のX線検出器は、特に本発明の晶相モニタリングの実施形態において、試料の既知の特性についてのアプリオリな情報に従って、第1のX線検出器に対して固定することができる。

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