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Fターム[2G001KA11]の内容

Fターム[2G001KA11]に分類される特許

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【課題】大口径の配管を現地で非破壊検査ができる配管の断層撮影装置およびその制御方法を提供する。
【解決手段】配管検査装置本体100は、放射線源1と2次元放射線検出器2を対向配置する支持装置3と、軸方向駆動機構19と、支持装置3を介して、放射線源1と2次元放射線検出器2を、配管横方向に並進移動させる横方向駆動機構17,18を備えている。制御コンソール23において、軸方向駆動機構19による並進走査の距離を設定するとともに、横方向駆動機構17,18の並進移動の横方向最大移動距離を設定する。また、横方向駆動機構17,18による配管横方向の並進移動の間隔を、2次元放射線検出器2の配管横方向の幅と、放射線源1と2次元放射線検出器2間の距離と、放射線源1と配管15の放射線源1側表面までの所定距離とにもとづいて決定する。 (もっと読む)


【課題】複数のエネルギー帯のX線を用いて測定対象の成分を計測できるとともに、測定対象に応じて識別すべきエネルギー帯を容易に変更できるX線成分計測装置を提供する。
【解決手段】X線発生器10から照射されたX線は、計測対象30を透過して、X線検出器20に入射する。X線検出器20は、量子計数方式の検出器であって、予め設定された2個以上のしきい値で区切られたエネルギー帯のX線量子数を計数する。X線検出器20により計数されたX線量子数に基づいて3種類以上の成分比を算出することができる。しきい値は、測定対象に応じて変更でき、しきい値を3個以上にとると、4種類以上の成分比を算出することができる。 (もっと読む)


【課題】被検査板の裏側の硬化物に生ずる空隙の厚さを、被検査板の外側に熱中性子線子カウント装置を設置して得られる計数率比から算定する方法を提案する。
【解決手段】型枠に注入する充填材の水分量(W)を測定し、水分量から、構造体の内部状態を中性子線で探知できる検知厚さ(D)を、関数式を用いて算定する過程と、充填材を同じ含水量で空隙を生じないように型枠に注入してなる試験体を用いて、空隙のない状態で速中性子線を照射したときに試験体の外へ放出される熱中性子線のカウント量(NO)を求める過程と、構造体の被検査板の任意の場所に試験体と同量の速中性子線を照射したときに構造体の外へ放出される熱中性子線のカウント量(N)を求める過程と、(N/NO)を求め、これから空隙比率(T)を求める過程と、この空隙比率に検知厚さを乗じて空隙の厚さ(D)を求める過程とからなる。 (もっと読む)


【課題】既知の反射特性を有する第1層と、第1層上に形成された第2層を有するサンプルの検査方法を提供する。
【解決手段】本方法は、サンプル表面へ放射線を向けること、表面に対する仰角の関数として反射信号を生成するためにその表面で反射された放射線を検知することを含む。第1層からの放射線の反射による特徴は反射信号で同定される。同定された特徴と第1層の既知の反射特性とに対応して反射信号が較正される。その較正された反射信号は第2層の特性を決定するために分析される。他方で、向上された検査方法も同様に開示する。 (もっと読む)


本発明は、(a)支持構造体(108)の第1の面上に配置されている第1の材料層(110)であって、この第1の材料層はこれに入射荷電粒子(104)が当るのに応答して二次電子を発生するように構成されているとともに、開口(112)を有しており、この開口は入射荷電粒子の一部がこの開口を通過するように構成されている当該第1の材料層と、(b)支持構造体の第2の面上に前記第1の材料層から例えば、0.5cm以上の距離だけ離間されて配置されている第2の材料層であって、この第2の材料層は、荷電粒子が前記開口を通過してこの第2の材料層に当るのに応答して二次電子を発生するように構成されている当該第2の材料層とを具える装置、システム及び方法を提供するものであり、装置は荷電粒子検出器とする。
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【課題】 異物起因のコントラストのみを明確に判別して過検出及び誤検出を防ぐこと。
【解決手段】 測定対象元素のX線吸収端より低いエネルギーの第1の特性X線を試料Sに照射する第1のX線管球11と、元素のX線吸収端より高いエネルギーの第2の特性X線を試料に照射する第2のX線管球12と、第1の特性X線及び第2の特性X線が試料を透過した際の第1の透過X線及び第2の透過X線を検出する第1のX線検出器13及び第2のX線検出器14と、第1の透過X線の第1の透過像と第2の透過X線の第2の透過像との差分からコントラスト像を得る演算部15と、を備え、試料と第1のX線管球との間に第1の特性X線よりも高いエネルギーのX線吸収端を有する元素の第1のフィルタF1を配すると共に、試料と第2のX線管球との間に第2の特性X線よりも高いエネルギーのX線吸収端を有する元素の第2のフィルタF2を配する。 (もっと読む)


【課題】設置スペースの増加を最小限に抑えつつ、再検査の対象の物品を自動で再供給することが可能なX線検査装置を得る。
【解決手段】X線検査装置1は、通常検査の対象の物品50を搬送する領域6Pと、再検査対象物品50Qを搬送する領域6Qとを有するベルトコンベア6と、ベルトコンベア6が搬送している物品の検査を行う検査手段と、領域6Pを搬送されてきた物品50を、検査手段による検査結果に応じて良品50Pと再検査対象物品50Qとに振り分ける振分部10Pと、ベルトコンベア6の下方に配置され、振分部10Pから受け渡された再検査対象物品50Qを、ベルトコンベア6による搬送方向とは逆方向に搬送するベルトコンベア17と、ベルトコンベア17から受け渡された再検査対象物品50Qを、ベルトコンベア6の上流部において領域6Qに供給する供給部14とを備える。 (もっと読む)


【課題】 異物起因のコントラストのみを明確に判別して過検出及び誤検出を防ぐことができるX線透過検査装置及びX線透過検査方法を提供すること。
【解決手段】 測定対象の元素のX線吸収端より低いエネルギーの第1の特性X線を試料Sに照射する第1のX線管球11と、元素のX線吸収端より高いエネルギーの第2の特性X線を試料Sに照射する第2のX線管球12と、第1の特性X線が試料Sを透過した際の第1の透過X線を受けてその強度を検出する第1のX線検出器13と、第2の特性X線が試料Sを透過した際の第2の透過X線を受けてその強度を検出する第2のX線検出器14と、検出された第1の透過X線の強度の分布を示す第1の透過像と検出された第2の透過X線の強度の分布を示す第2の透過像とを作成し、第1の透過像と第2の透過像との差分からコントラスト像を得る演算部15と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】X線反射率法を用いて積層体の層構造を正確に解析することのできる方法、装置及びプログラムを提供する。
【解決手段】このX線反射率法を用いた積層体の層構造解析方法は、例えば多層膜である試料にX線源からX線を照射する照射工程と、該試料から反射されるX線を検出器で検出する検出工程と、この検出されたX線の前記照射されたX線に対する割合であるX線反射率を測定器で測定する測定工程と、解析器で、前記試料に表面粗さ又は界面粗さがある場合において該試料の表面又は界面において該表面又は界面の凹凸により鏡面反射方向以外の方向にX線が散乱する、散漫散乱に伴う該表面又は界面での反射X線と透過X線の干渉成分の減少を加味して、前記測定されたX線反射率を解析する解析工程とを備えている。 (もっと読む)


【課題】検査対象物の残肉厚を適切に検出することができる非破壊検査方法を提供する。
【解決手段】所定の厚みを有する配管10B等の検査対象物にγ線Eをその厚さ方向に照射し、コンプトン効果により散乱された散乱γ線Eのうち特定のエネルギーを有する単色の散乱γ線Eを弁別し、弁別した散乱γ線Eに基づき前記配管10Bの散乱γ線Eによる二次元の画像C1´,C2´を得、この二次元の画像C1´,C2´を正常な配管10Aの画像C1,C2と比較することにより前記配管10Bの状態を検査するようにした。 (もっと読む)


【課題】密閉容器においても、非破壊で、被検体の内容物と内容物表示物に記載の内容物との整合性の評価が可能な密閉容器の非破壊検査方法及び非破壊検査装置を提供すること。
【解決手段】検査対象物が密閉容器に収容された被検体に放射線を側面から照射して前記被検体を透過した放射線をイメージセンサにより検出することにより放射線の強度に応じた強度信号を得る第1の信号取得工程と、前記第1の信号取得工程により得られた前記強度信号を処理して前記被検体の検査対象物の画像情報を生成する第1の画像情報生成工程と、前記第1の画像情報生成工程により得られた前記画像情報に基づいて、前記被検体の検査対象物と前記被検体の検査対象表示物に表示された検査対象物との整合性を判断する判断工程と、を有することを特徴とする密閉容器の非破壊検査方法を使用する。 (もっと読む)


【課題】短時間で干渉性のX線を試料に位置合わせ可能な試料分析装置を提供する。
【解決手段】X線光軸と試料1との位置合わせ時、分光器11により、干渉性のX線または干渉性のX線の光軸と一致させた光軸を有するX線から、試料測定時よりも長い波長のX線を抽出して照射し、分析対象の試料1へのX線の照射位置に開口部14hを有し照射位置外に照射されるX線を吸収するX線吸収層14cが形成された試料保持部14により、照射位置外に照射されるX線を吸収し、検出器15により、試料保持部14に保持される試料1に照射したX線の透過X線強度を検出する。 (もっと読む)


【課題】 リサイクルの対象となる樹脂片を材質別または特定物質の含有率別に精度よく選別可能な樹脂選別装置を提供することを目的としている。
【解決手段】 樹脂選別装置1においては、樹脂片2を各々吸着筒5により個別に吸着保持、搬送される樹脂片2に電磁放射線を照射し、樹脂片2より取り出された電磁放射線量を検出し、樹脂片2の材質または樹脂片に含有されている特定物質の含有率を識別して、樹脂片2を選別基準に従って選別回収するものである。これにより、樹脂片を材質別または特定物質の含有率別に精度よく選別回収することが容易にできるといった効果が得られる。 (もっと読む)


【課題】 膜の評価方法及び強誘電体メモリの製造方法に関し、表面に凹凸の多い薄膜の膜厚等をX線反射率法により精度良く測定する。
【解決手段】 膜を構成する結晶粒の平均粒径が200nm以上、或いは、平均粒径が200nm以上の結晶粒同士の一部が融合した融合結晶粒を含む被膜を被測定膜の表面に成膜する工程と、前記被膜及び前記被測定膜にX線を照射する工程と、前記被膜及び前記被測定膜から反射したX線の強度を測定してX線反射率法によって前記被測定膜の少なくとも膜厚を測定する工程とを設ける。 (もっと読む)


【課題】FIBにより試料を作製する際に試料の表面に形成されたアモルファス層の厚さを、試料を破壊することなく正確に確認、評価する。そして、その結果に基づいて、多くの時間と手間を掛けることなく、アモルファス層を的確に可能な限り低減、除去して、良好な観察を行うことができるTEM試料を提供する。
【解決手段】表面にアモルファス層が形成されている試料の表面に電子線を照射し、試料を透過して得られた電子回折図形の輝度に基づいて、アモルファス層の厚さを評価する。電子回折図形内の回折スポットを結ぶ直線における輝度のラインプロファイルの内、最も高い輝度をY2とし、最も低い輝度をY1としたときの輝度の比率(Y1/Y2)を、アモルファス層の厚さが既知である他の試料における輝度の比率(Y1/Y2)と比較してアモルファス層の厚さを評価して、アモルファス層の厚さが所定の値以下となるまで、アモルファス層を低減、除去する。 (もっと読む)


基板のシート上に堆積されたコーティング材料の重量を測定するために、改良された差分コート重量技術は、新規なアルゴリズムを採用する。本発明は、デュアルx線または原子力ゲージを採用し、下流のセンサは、コートされていないシート基板にさらされることはないが、下流のセンサに、コートされていないシート基板を測定したときに生じるであろう結果を予測する能力を備えさせ、上流および下流のセンサからの測定値から直接的に確かめていた連量の測定方法から、コート重量較正プロトコルの発展を導く。結果の引き算は必要ではない。さらに、2つのセンサは、コーティングおよび基板の相対的な比率が変化したとしても再較正の必要がない。本技術は、特に、コーティング材料および基板が、原子量の大きく異なる材料から形成されるような用途に好適である。 (もっと読む)


【課題】物品供給装置からX線検査装置の搬送コンベアへの物品供給量を適正に制御することにより、正確な異物検査を実行することが可能なX線検査装置を得る。
【解決手段】X線検査装置1は、検査対象である物品50にX線を照射するX線照射部7と、物品50を透過したX線を検出するX線検出部8と、上流の物品供給装置12から供給された物品50を、X線照射部7とX線検出部8との間のX線照射経路100を通過するように搬送する搬送コンベア6と、X線検出部8の検出結果(データS1)から求めた物品50の厚みに基づいて、物品供給装置12から搬送コンベア6への物品供給量を制御するコンピュータ9とを備える。 (もっと読む)


【課題】層界面領域に達する前に、照射面の層界面領域への近接を検出することが可能な電子分光分析方法を提供する。
【解決手段】試料に電子を励起させる励起線を照射し、試料から放出され、第1の層の構成元素に由来する第1の電子の信号強度を測定し、試料から第1の電子とともに放出され、第2の層の構成元素に由来する第2の電子の信号強度であって、前記第2の層が前記試料の表面を形成しているときに測定される運動エネルギーである第1の運動エネルギー(Ek(Si2s)、Ek(Si2p))よりも低い第2の運動エネルギー(Ek(1)、Ek(2)、Ek(3))を有する第2の電子の信号強度を測定し、第2の電子の信号強度の変化度合いが所定のレベルに達したときは、試料の分析条件を変更する。 (もっと読む)


【課題】 X線管の第1グリッド電圧の制御代を正規化し、VI特性の器差を抑えると共に、寿命予測を標準化することを可能としたX線式厚さ測定装置を実現する。
【解決手段】 第1グリッド及び第2グリッドを有し、前記第1グリッド電圧により管電流が制御されるX線管から放出されるX線をシート部材に照射し、その透過減衰量に基づき前記シート部材の厚さを測定するX線式厚さ測定装置において、
前記第2グリッドに接続される可変電圧源を備える。 (もっと読む)


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