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Fターム[2G001KA12]の内容

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Fターム[2G001KA12]に分類される特許

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【課題】
非破壊検査による検査・試験パスの短縮を図り例えば薬剤開発期間の短縮、しいては製造・品質の安定化を図った分子構造複合同定装置を提供することにある。
【解決手段】
本発明は、被検試料載置板16に載置された同じ被検試料17に対して0.5mm以下の直径に制限したX線ビームと赤外線・可視光・紫外線の何れか一つあるいは複数の波長ビームを照射する照射光学系(1,12;2,22,11)と、前記被検試料から得られるX線回折パターン及び前記被検試料から放出される反射光又は散乱光を検出する検出光学系(9;11,3,5)とを備え、前記被検試料から同時または連続して少なくともX線回折スペクトル及び可視光による反射光像を検査できるように構成した分子構造複合同定装置である。 (もっと読む)


【課題】
新たな斜め入射補正式を考案し、従来の補正精度を上回る精度を得る。
【解決手段】
X線構造解析における回折X線の検出器への斜め入射時の強度を、cosνに加えてf(0)/f(ν)を乗ずることにより補正する斜め入射強度補正法であって、f(ν)が所定の式で表される。 (もっと読む)


【課題】X線反射率測定等において、試料から散乱されるX線ビームを限定するアパーチャの位置、サイズを容易に決定することができる。
【解決手段】試料(204)からの偏向X線ビーム(206)を検出するためのX線検出システム(400)であって、検出器(402)でX線ビームエリアを受信可能とされた画素アレイを有する検出器(402)と、試料画像を検出器(402)から読み出す画像処理手段(404)と、第1のエリアのサブ画像を試料画像から抽出する対象領域抽出手段(406、408)とを備える。サブ画像は、一般に「仮想アパーチャ」画像を得るための画素アレイの狭い細片か、あるいは「仮想アパーチャ」画像を得るための画素アレイの円形エリアである。検出器(402)から取り込んだ試料画像から複数のサブ画像を抽出することができる。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】 結晶の高解像度三次元再構成を達成する方法で、結晶を微結晶に粉砕し、微結晶の試料をクライオTEM用にガラス状にし、傾斜系列を記録し、FB+COMET法を用いて最初の三次元再構成を得る工程を特徴とする技術で知られる方法で結晶を成長させる工程からなる方法。試料が高品質であれば、反復構造と、可能であれば、結晶の空間群が決定される。空間群が決定されれば、第二の三次元再構成が空間群についての情報をも含めて得られる。結晶の高解像度三次元再構成を達成する方法で、結晶を微結晶に粉砕し、微結晶の試料をクライオTEM用にガラス状にし、傾斜系列を記録し、FB+COMET法を用いて最初の三次元再構成を得る工程を特徴とする技術で知られる方法で結晶を成長させる工程からなる方法。試料が高品質であれば、反復構造と、可能であれば、結晶の空間群が決定される。空間群が決定されれば第二の三次元再構成が空間群についての情報をも含めて得られる。本発明の方法によれば、1nmオーダでの高解像度三次元再構成を達成するために、微結晶を使用することができる。
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薬理学的に重要な各種の新規化合物および治療方法を得るために、特定の天然のタンパク質と相互作用しうる分子の合理的な識別方法を提供する。概述すると、この方法は、特定の目的タンパク質の一部を形成するスイッチ制御リガンドを識別し、このタンパク質の一部を形成し、上記のスイッチ制御リガンドと相互作用する相補的なスイッチ制御ポケットを識別する過程を含むものである。このリガンドは、インビボで上記のポケットと相互に作用して上記のタンパク質のコンホメーションおよび生物学的活性を調節し、調節は、リガンドとポケットが相互に作用すると、上記のタンパク質が第一コンホメーションおよび第一生物学的活性を示し、リガンドとポケットが相互に作用しない場合には、上記のタンパク質が、第二の、上記とは異なるコンホメーションおよび生物学的活性を示すよう進行する。次に、上記のタンパク質の第一コンホメーションおよび第二コンホメーションの各サンプルを用意し、そして、これらのサンプルの1以上の候補分子に対するスクリーニングを、候補分子とサンプルとを接触させることによって行る。この過程により、このタンパク質のポケット領域と結合する小型の分子を識別することができる。新規なタンパク質とモジュレータとのアダクト、およびタンパク質の活性の変更方法も提供する。
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【課題】本発明が解決しようとする問題点は、分析器の真空系と分析室の真空系を隔壁を用いて遮断した場合、低エネルギーのX線の検出が困難であったという点である。
【解決手段】試料を収容する真空に保持された分析室と、1次ビームを前記試料に照射する1次ビーム照射手段と、前記1次ビームにより前記試料から発生するX線を集束する集光手段と、前記X線の集束点に位置し、前記集束したX線を通過させるアパーチャと、前記アパーチャを通過したX線を分光・検出する真空に保持された分光手段と、を備える表面分析装置であって、前記分析室と前記分光手段を仕切る前記アパーチャにより前記分光手段内の真空度と異なる分析室内の真空度を保持することを特徴とする表面分析装置。 (もっと読む)


【課題】 光電子顕微鏡内の10-5Pa以下という超高真空下において確実にガス吸着を実現でき、かつ、この超高真空を安定して維持できる試料装置を提供する。
【解決手段】 光電子顕微鏡内において試料表面のガス吸着反応を観察するための試料装置において、試料ステージ上に保持した試料の表面に反応ガスを吹き付ける噴霧ノズルを該試料ステージと一体に設置し、該噴霧ノズルによる反応ガス吹き付け角度を該試料表面に対して5〜30度、該試料表面から該噴霧ノズルの先端までの高さを1〜5mmとしたことを特徴とする。 (もっと読む)


本発明は、阻害剤メトキシアラキドニルフルオロホスホネート(MAFP)と複合体を形成したFAAH結晶、及びこれら結晶を使用してFAAHの三次元構造を決定することを目的とする。本発明は更に、関連タンパク質の構造のモデリング又は決定のために前記構造を使用することを目的とする。本発明は更に、ドラッグデザインの研究において前記構造を使用してFAAHの活性部位、基質チャネル、生成物チャネル又は調節部位と結合する作用物質を特定、性状決定又は最適化することを目的とし、更に、これら作用物質を評価して、FAAH及び/又はその活性を刺激、阻害、再配置、安定化又は脱安定化することができる作用物質を特定することを目的とする。本発明は更に、設計操作によって改変された可溶性、触媒プロフィール又は基質特異性を示すFAAH変種を開発する工程で前記構造を使用することを目的とする。本発明は更に、設計操作により改変された膜トロピズムを有する異種タンパク質を開発する工程で前記構造を使用することを目的とする。 (もっと読む)


【課題】測定ヘッド下の検出器以外、クレードル(円弧)又はその他の構造体がなく、測定距離は、ソフトウェアにより自由に選択可能であり、ほとんどの部品が購入できるくらいに簡易な設計のため、複雑、不正確、さらにコスト高な構造を避けることができるゴニオメータを提供する。
【解決の手段】ゴニオメータ(1)は、応力測定及び粒子の微細構造の特定を行い、フレーム(4)と、測定位置(31)において測定を実行するため、第1の線形移動装置(5)、第2の線形移動装置(6)及び傾動装置(16)により移動可能にフレーム(4)に設けられた測定ヘッド(7,8,9,10)とを備え、傾動装置(16)の回転軸(12)が測定位置(31)に一致せず、測定中に、前記移動装置(5,6,16)により、測定ヘッド(7,8,9,10)の円弧形(30)の移動を作り出す手段を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】結晶構造解析により得られる原子座標と等方性温度因子を用いて結晶内の分子全体又その一部の分子の分子運動を解析するための手段の提供。
【課題解決手段】X線、中性子線、もしくは電子線を用いて解析された結晶構造の原子座標と等方性温度因子(Uiso)より、一般的特性を保持する異方性温度因子(Uij)を算出すること、異方性温度因子(Uij)を算出することに引き続いて、剛体振動(Uijrigid)及び内部運動(Uijint)を算出することにより、分子全体又その一部の分子の分子運動を解析する方法。 (もっと読む)


【課題】反射電子線検出装置において、結晶粒界とその方位情報を得る他に、磁性材料解析機能や、特定結晶方位の分布検査機能を付加し、より広範な解析を行うことがでるようにする。
【解決手段】操作部14を使ったオペレータの操作により、解析情報の取得領域が電子線照射軸に対して垂直とされたとき、システム制御部15の制御に基づいて、前記電子線像における前記取得領域の縦方向に画素の輝度を積算し、解析情報として試料の磁区パターン情報を得、システム制御部15に送る。システム制御部15は、前記磁区パターン情報に応じた画像を表示部13に表示する。 (もっと読む)


【課題】試料の表面分析方法を提供する。
【解決手段】(イ)N個の相異なる元素を含む試料表面のM個の相異なるデータポイントを設定し、各データポイントでの元素成分比を測定するステップと、(ロ)測定された元素成分比からデータポイント間の濃度距離値を計算するステップと、(ハ)計算されたデータポイント間の濃度距離値を利用し、試片表面の相分布を決定するステップとを含む試料表面での構成元素の成分比を利用した相分布を決定する試料表面の分析方法である。 (もっと読む)


【課題】 サンプルの迅速なXRR及びXRDに基づいた分析用の装置及び方法を提供する。
【解決手段】 サンプルの分析用の装置は、サンプルの表面に向かってX線の収束ビームを案内するべく適合された放射源を含んでいる。同時に、サンプルから散乱したX線を、仰角の範囲にわたって、仰角の関数として検知し、この散乱したX線に応答して出力信号を生成するべく、少なくとも1つの検出器アレイが構成されている。この検出器アレイは、グレージング角で、サンプルの表面から反射したX線を検出器アレイが検知する第1の構造と、サンプルのBragg角の近傍において、表面から回折したX線を検出器アレイが検知する第2の構造と、を具備している。そして、信号プロセッサが、サンプルの表面層の特性を判定するべく、この出力信号を処理する。 (もっと読む)


【課題】薄膜の2次電子放出能を複雑な機構を用いることなく、感度よく、さらには成膜装置内でも測定して評価できる表面検査方法および装置を提供する。
【解決手段】検査対象物としての、基板8の表面に形成された薄膜8aに高周波プラズマ13を接触させて、高周波プラズマ発生手段の回路に接続させたインピーダンス測定器14で高周波プラズマ13のインピーダンスを測定し、そのインピーダンスの測定値より、予め求めたインピーダンスと薄膜からの2次電子の放出数との相関に基づいて、薄膜8aの2次電子放出能を評価する。従来用いられていたイオンビームに代えて高周波プラズマ13を使用するので、2次電子の放出量が多くなり、2次電子を高感度に測定できる。イオンビームを用いる従来法に必要であった基板8と電極とを覆うコレコタは不要なので、測定系をシンプルにすることができ、成膜装置内での2次電子の測定が可能となり、成膜工程の安定化を実現できる。 (もっと読む)


【課題】 複雑な空孔/粒子構造の薄膜中の空孔/粒子サイズの分布評価を高い信頼性で実現する。
【解決手段】 試料に対して所定の入射角αで照射線を入射し、前記試料からの照射線の強度を、前記試料に対して垂直な測定面から所定の角度χだけ傾けた面内で取得する。所定の角度χは、5°〜90°の範囲で設定される。角度χの範囲は、5°〜60°の第1領域と、60°〜90°の第2領域を含み、前記第1領域で、小角散乱成分を取得し、第2領域で、試料の横方向の干渉情報を取得する。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、結晶表面層における結晶の歪みを、直接かつ確実に評価することができる結晶表面層の結晶性評価方法を提供する。
【解決手段】 X線回折法を用いて、結晶1の表面1sから深さ方向への結晶性の変化を評価することにより、結晶表面層の結晶性を評価する方法であって、結晶の一つの結晶格子面に対する回折条件を満たすように、連続的にX線侵入深さを変えて結晶にX線を照射して、この結晶格子面についての回折プロファイルにおける面間隔および回折ピークの半価幅ならびにロッキングカーブにおける半価幅のうち少なくともいずれかの変化量を評価することを特徴とする結晶表面層の結晶性評価方法。 (もっと読む)


【課題】
従来の中性子ラジオグラフィやトモグラフィでは実空間構造情報が得られない欠点を解消し、結晶粒又は磁区の方位情報をも含めた測定を可能とする新しい3次元マッピング法を提供する。
【解決手段】
パルス中性子源から導かれた中性子ビーム孔と移動機構を備えた試料部分とコリーメーターとスリットを備えたカウンター部分からなり、試料の一部分に中性子ビーム孔を絞ることで、その部分のみの原子核及びスピンの構造情報を測定し、試料全体の構造分布をマッピングする方法。 (もっと読む)


【課題】 表面層を備えたサンプルの検査方法及び検査装置を提供する。
【解決手段】 その検査方法はX線の平行光線でサンプル22を照射中に、サンプル22の第1の反射率スペクトルを取得し、サンプル22の散漫反射特性を測定するために第1の反射率スペクトルを処理する。X線の収束光線でサンプル22を照射中に、サンプル22の第2の反射率スペクトルが取得される。サンプル22の表面層の特性を求めるために散漫反射特性を使用して、第2の反射率スペクトルが解析される。 (もっと読む)


本発明は、UMPキナーゼの結晶構造、ならびにUMPキナーゼの阻害薬およびアロステリックモジュレーターをスクリーニング、同定および設計するためのコンピューター支援法に関する。 (もっと読む)


【課題】蛋白質結晶のX線結晶解析を行うに当たり、蛋白質結晶を崩壊させることなく、かつ該結晶を結晶母液のない状態で凍結させる。
【解決手段】一方の端部に内径50〜1000μmの環状突起体を備えたキャピラリーに母液を含む結晶をすくい取り、母液を吸引除去すると同時に結晶を凍結し、環状突起を屈曲し、X線結晶回折測定を行う。 (もっと読む)


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