本発明は、1つ以上の結晶性平面分子の回折パターンの1組の校正不要な特性から、前記1つ以上の結晶性平面分子の結晶構造及び/又は結晶構造の範囲を決定する方法、コンピュータプログラム、及び装置に関する。
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【課題】アルカリ金属またはアルカリ土類金属としてＫ，Ｃａ，Ｒｂ，Ｓｒ，ＣｓまたはＢａを含む有機発光ダイオードの電子輸送層の化学的な結合状態をＸＡＦＳ法で分析するために有機発光ダイオードを分解すると、大気中の酸素や水分により上記した金属が酸化してしまい、電子輸送層に含まれている化学的な結合状態が変化してしまうため、電子輸送層の化学的性質を分析することが困難であるという課題がある。
【解決手段】有機発光ダイオード１１およびその周辺の構成を、ＸＡＦＳ法を用いて非破壊で分析できるよう各層の厚さおよび材質を選択した構造を用いる。有機発光ダイオード１１およびその周辺の構成を非破壊で測定することで、電子輸送層２４の化学的な結合状態を大気中の酸素や水分により変質させることなく分析することを可能とする有機発光ダイオード１１の構成元素の化学状態評価方法を提供することができる。 （もっと読む）

【課題】二次電子放出量を正確に測定できる表面分析装置を提供する。
【解決手段】赤外線ランプ３０によって裏面から加熱した試料２１に、グラウンド電極に電流が流れないように径を絞ったイオンビーム５を照射する。グラウンド電極１５とコレクタ電極１８の間に配置した制御電極に負電圧を印加し、試料２１から放出した二次電子だけをコレクタ電極１８で捕集するようにする。試料２１がチャージアップした場合、サプレッサ電極１２の電圧を調節し、試料２１に電子を照射し、正電荷を中和する。二次電子放出比を正確に求めることが可能になる。 （もっと読む）

【課題】印下電圧を連続的に変化させて各層間に生じるポテンシャル差を調査することができる装置を提供する。
【解決手段】電子分光測定装置は、真空チャンバー内に配置した多層構造を有する試料の上層に電気的に接続する第一端子と、前記試料の下層に電気的に接続する第二端子と、前記チャンバー外に配置した変圧式電圧印下器と、前記両端子と変圧印可器の出力端子とを前記チャンバーの隔壁を貫通して接続する配線とにより構成された電圧印可装置を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】散乱イオンのエネルギースペクトルを測定するにあたり、特定の散乱イオンを検出対象から除外するためのデフレクタに求められる必要電力を削減する。
【解決手段】散乱イオン１８をそのエネルギーに応じて第１の方向に偏向する磁気形成手段２４と、その偏向された散乱イオンの到達位置を検出するイオン検出器２８と、特定のイオンを検出対象から除外するデフレクタ２６とが用いられる。デフレクタ２６は、イオン検出器２８に向かう散乱イオン１８を第１の方向と直交する第２の方向に偏向する電場を形成して、当該第２の方向への偏向量が一定以上の散乱イオンを前記イオン検出器の散乱イオン検出可能領域から逸脱させる。その電場は、当該電場を通過する散乱イオンのエネルギーが大きいほどその偏向量を大きくするような強さ分布または形状を有する。 （もっと読む）

【課題】ビーム照射を行う軟質材料の試料を測定装置に動かないように簡易に固定することができ、さらに試料に溶液を均一になるように流した状態を簡易に維持して計測を行うビーム照射による軟質材料の構造解析方法及び軟質材料保持装置を提供する。
【解決手段】軟質材料の皮膚１が溶液透過性を有する板状の試料収容部材２２の試料収容孔２３に挿入され、試料収容部材２２が保持金具２５の保持孔２７ａに保持され、保持金具２５の両面に薄肉の被覆材３８を被せられ、さらに一対のケース金具４１，４２が保持金具２５に固定されることにより、皮膚１が試料収容孔２３内に動かない状態で固定される。さらに、ペリスタポンプ装置５５によって保持孔内に溶液を所定の割合で流通させることにより、試料収容部材２２を溶液が流れて皮膚１を均一に溶液が流れる。Ｘ線回折装置によってビーム通過孔４７を通して皮膚１にＸ線を照射して計測が行われる。 （もっと読む）

対をなす照射されるボクセルから求められる減衰に基づいて、検査される物体を特徴付ける方法である。伝播方向及びエネルギー分布によって特徴付けられる透過性放射線のビームが物体にわたって走査され、コリメートされた視野を有する散乱検出器が、透過性放射線の入射ビームによって遮断された、検査される物体の各ボクセルによって散乱した放射線を検出する。入射ビームの入射ボクセルの対間の透過性放射線の減衰を計算することによって、透過性放射線の１又はそれ以上のエネルギーの物体における減衰の、よって、種々の物質特性の３次元分布を特徴付ける断層撮影画像が得られる。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。
【解決手段】Ｘ線回折装置のＸ線受光器開口角が広い条件（without a receiving slit）と狭い条件（with analyzer crystal）とで、同一の反射指数（０００６）をもつ回折プロファイルのピークトップ点での回折強度値を測定し、開口角が広い条件における回折強度値に対する狭い条件における回折強度値の相対比の大小を評価することにより結晶の完全性や構造劣化の程度を判定する。 （もっと読む）

本発明は、220、143、又は270位のβサンドイッチ領域中に突然変異を有するp53の結晶に関する。この構造は、βサンドイッチ領域内に結合してタンパク質を安定化できるβリガンドを同定する、コンピューターに基づく薬剤設計のために使用することができる。 （もっと読む）

【課題】それぞれ異なる分光結晶を搭載する複数のＸ線分光器を装備し各Ｘ線分光器毎に検出する波長を設定して複数の元素の同時分析を行う波長分散型のＸ線分析装置において、Ｘ線分光器に対する分析対象元素の割り当てを適切に行うことで測定回数を減らしながら正確な測定を行う。
【解決手段】複数の分析対象元素の中で濃度の低い順に、より高い感度での分析が可能な分光結晶と特性Ｘ線の種類の組合せを選択し（Ｓ２、Ｓ３）、選択した分光結晶が装置に装備されているか否か、既に他の分析対象元素に割り当てられているか否か、さらには選択された特性Ｘ線に他の元素の特性Ｘ線の重畳がないかどうか、をそれぞれチェックし（Ｓ４〜Ｓ７）、問題がなければ選択された分光結晶（Ｘ線分光器）に分析対象元素を登録する（Ｓ９）。これを濃度の低い順に繰り返して、全元素をＸ線分光器に割り当てる。 （もっと読む）

【課題】透過型電子顕微鏡を用いた観測により、種々の方向における観測対象物の観測データを取得することが可能な、透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法を提供する。
【解決手段】本発明のマイクログリッド１０は、グリッド本体１２と、グリッド本体１２の縁部に形成された触媒層１４と、触媒層１４の表面上に形成されたカーボンナノチューブ１６とから構成される。また本発明の試料２０は、本発明のマイクログリッド１０と、マイクログリッド１０を構成するカーボンナノチューブ１６の側面に被覆した観測対象物（例えば、蛋白質層１８）とから構成される。さらに本発明の観測方法は、本発明の試料２０を試料ホルダーにセットして透過型電子顕微鏡に装着する事により行う。 （もっと読む）

原子力発電所の伝熱面の表面から物質の試料を摘出し、試料の高解像度走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光法と、試料の走査透過電子顕微鏡/制限視野電子線回折/スポット分析および元素マッピング分析との少なくとも1つを行うことをも含む、原子力発電所の伝熱面の表面上の堆積物中の結晶を分析する方法。
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【課題】 ＡＥＳを用いて異なる化学状態の混在する試料を分析する方法を提供する。
【解決手段】 ＦｅＯ（２価）とＦｅ_２Ｏ_３（３価）を標準試料、Ｆｅ_３Ｏ_４を被験試料として、ＦｅＯとＦｅ_２Ｏ_３の標準スペクトルを用いて、Ｆｅ_３Ｏ_４からのスペクトルに対して最小二乗法のフィッティング計算による波形分離計算を行う。convolution曲線は、最もよいフィッティング結果を与えるときの、ＦｅＯとＦｅ_２Ｏ_３の標準スペクトルに各々係数を乗じて合成されたスペクトルである。このときのＦｅＯとＦｅ_２Ｏ_３の係数に基づいて、Ｆｅ_３Ｏ_４中の２価と３価の鉄原子の存在比率を求めることができる。 （もっと読む）

【課題】 たんぱく質の結晶構造解析のモデルを修正して、水素結合とファンデルワールス（ＶＤＷ）結合による水のネットワークを分断することなく表し、かつ、たんぱく質分子と水のネットワークとの結合を全て表すモデルとするプログラムおよびコンピュータシステムを提供する。
【解決手段】 水チェックプログラム２１は、モデル内の個々の水を、空間群の全ての対称操作によって単位格子内で移動させ、かつ、並進操作によって隣接する単位格子に移動させて、水素結合またはＶＤＷ結合によって相互に繋がる１以上の水のネットワークを検出するとともに、ネットワーク内の水が水素結合またはＶＤＷ結合をするアミノ酸残基またはリガンドを検出して、モデル内の水の位置をアミノ酸残基またはリガンドに結合するネットワークに含まれる位置に変更する。コンピュータシステム１は、上記プログラム２１を記憶する記憶部１１と、その処理を実行する演算部１２を備える。 （もっと読む）

【課題】高倍率の仕事関数顕微鏡を提供する。
【解決手段】仕事関数顕微鏡１は、光を放出する高輝度紫外光ランプ２と、高輝度紫外光ランプ２から放出された光を分光して試料２２の表面に導き、試料表面の仕事関数に応じた光電子放出を生じさせるダブルモノクロメータ３と、ダブルモノクロメータ３からの光が照射された試料表面の仕事関数に応じて生じた光電子放出に基づいて、試料表面のコントラスト画像を生成する光放出電子顕微鏡ユニット２３とを備え、ダブルモノクロメータ３は、前段分光ユニット４と後段分光ユニットとを有しており、前段分光ユニット４と後段分光ユニットとの少なくとも一方に、トロイダル鏡７を設けた。 （もっと読む）

【課題】被検査物から離れた位置から高いＳ／Ｎ比で後方散乱Ｘ線を検出することができ、これにより被検査物に接近することなく被検査物を透視検査することができる遠隔Ｘ線透視装置および方法を提供する。
【解決手段】広がり角が十分小さい高指向性のパルスＸ線３を周期的に発生するＸ線源１２（逆コンプトン散乱Ｘ線源）と、パルスＸ線３を被検査物１に向けて走査するＸ線走査装置１４と、被検査物内で発生する散乱Ｘ線３を検出する散乱Ｘ線検出器１６と、被検査物内で発生する散乱Ｘ線のみを検出するように、散乱Ｘ線の検出をパルスＸ線の発生と同期させて制限する検出制御装置１８とを備える。 （もっと読む）

病的状態にある被検体から採取したケラチンサンプル中の異常成分を検出する方法であって、
ａ）ケラチンサンプルを膨潤物質に曝し、当該ケラチンサンプルに浸透させることにより誘導化学材料を得る工程、
ｂ）誘導化学材料からデータを得る工程、
ｃ）誘導化学材料から得たデータを参照データベースに含まれている第２のデータ群と比較し、ケラチンサンプル中の異常成分を特定する工程
を含み、異常成分の検出と被検体の病的状態の存在とが一致する方法。
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【課題】強誘電体の分極の極性を非破壊・非接触で評価する。
【解決手段】分極の極性が既知の強誘電体のＸ線回折測定を行い、用いたＸ線のエネルギー、回折ピークの指数、分極の極性、回折ピーク強度を含むデータベースをあらかじめ作成しておく（ステップＳ１〜Ｓ３）。そして、分極の極性が未知の強誘電体のＸ線回折測定を行って所定方位の回折ピーク強度を求め（ステップＳ４）、その回折ピーク強度をデータベースのデータと比較することによって、その強誘電体の分極の極性を判別する（ステップＳ５）。これにより、強誘電体の分極の極性を、Ｘ線を用いて、非破壊・非接触で評価することができると共に、その分極の極性を適正にかつ簡便に評価することができる。 （もっと読む）

【課題】 金属材料の塑性ひずみを同定するための高精度なパラメータを簡単且つ迅速に得られるようにする。
【課題解決の手段】 電子後方散乱回折を用いて多結晶体金属の表面観察を行い、当該表面観察により得られた結晶方位データに基づいて金属材料の塑性ひずみを同定する方法において、先ず材料表面を格子分割して各点で結晶方位を測定し、当該測定した結晶方位を用いて結晶方位分布を求めると共に、当該結晶方位分布から結晶粒を同定し、次に、同一結晶粒内の複数の点において結晶方位を測定し、当該測定した結晶方位を用いて当該結晶粒についての中心方位を演算すると共に、当該中心方位と当該結晶粒内の各点との間の方位差の平均値である結晶方位差を演算し、更に、前記多数の結晶粒について算出された各結晶粒の結晶方位差の対数平均を演算すると共に、当該対数平均値を用いて、予め知得されている対数平均値を塑性ひずみ量との相関関係から、前記演算した対数平均値に対応する塑性ひずみ量を求める。 （もっと読む）

【課題】上記従来技術の現状を踏まえて、変形を受けたフェライト鋼板の変形組織を、迅速かつ大量に計測する方法を提供する。
【解決手段】変形されたフェライト鋼板のミクロ組織の評価において、走査電子顕微鏡を利用して得られる鋼板内部の反射電子像から、フェライト粒内に形成された転位セル構造の形態を示す二値化像を画像処理により抽出し、さらに、電子後方散乱回折法により得られる同一観察視野の結晶方位マップに、抽出された転位セル構造の形態を示す二値化像を重ね合わせることにより、フェライト粒ごとの転位セル構造の形成状態を結晶方位とともに可視化するフェライト鋼板の変形組織の評価方法である。 （もっと読む）