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Fターム[2G001NA01]の内容

Fターム[2G001NA01]に分類される特許

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【課題】ガスの除湿および原子炉格納容器の外部へのサンプリングを必要としない水分濃度測定装置及びその測定方法を提供する。
【解決手段】実施形態の水分濃度測定装置30では、原子炉格納容器70内の陽電子源1から放出された陽電子と雰囲気に含まれる水分子とにより衝突して生ずる対消滅により発生するγ線を複数のγ線検出器3が検出する。原子炉格納容器70外の同時計数回路5が複数のγ線検出器3により検出されたγ線を時系列的に計測して対消滅により発生した対となる2個のγ線を検出したγ線検出器の位置を特定する。第1の信号処理ユニット6aが特定されたγ線検出器の位置から陽電子の飛程を算出して水分子の濃度と陽電子の飛程との相関関係に基づいて水分子の濃度を求める。 (もっと読む)


【課題】長期間にわたって使用できるとともに、正確なドリフト較正をすることができる、液体試料の蛍光X線分析用の較正試料等を提供する。
【解決手段】本発明の較正試料20は、液体試料Sの蛍光X線分析において、分析対象金属元素の測定X線強度の経時変化を較正するための固体の較正試料20であって、分析対象金属元素を含む金属層21と、水素、ホウ素、炭素、窒素、酸素およびフッ素のうち少なくとも1つの軽元素を最大のモル分率とする厚さ1mm以上の軽元素層22と、が重ねられて形成され、金属層21において、軽元素層22との対向面の反対側の面を分析面23とする。 (もっと読む)


【課題】
多元素同時分析を可能とし、運転に必要とされる洗浄作業や消耗品交換の保守作業を低減し、測定データをオンライン伝送する水質管理システムにも好適な蛍光X線水質計を提供する。
【解決手段】
測定試料の一部は脱泡槽14の下部からノズル13に導かれ、大気中に噴出することでセル等を用いずに流束を形成し、X線発生素子5からX線を投影する。陰極電圧可変用電源装置6はX線発生素子5が発生するX線のエネルギーが測定目的の元素に固有の蛍光X線エネルギーより大きくなるように調整され、流束から放射される固有の蛍光X線を半導体X線検出素子7で検出し、信号処理装置9で処理することで測定試料中に含まれる複数の元素を同時に測定し、その測定データを管理センターに伝送することで水質管理システムを構成する。 (もっと読む)


【課題】容器中の二相流状態における液膜厚さの分布情報を求めるために、CT画像により計測領域を2次元又は3次元の連続的情報として得る。CT装置での時間平均画像において液膜厚さを評価しようとした場合に、液膜分布を計測するために液膜の真値との相関関係を把握することが必要となる。
【解決手段】被検体を透過するエネルギーを持つX線源と、透過X線を検出する検出器と、被検体の全周方向からの透過データが取得可能な機構とからなるX線CT装置と、該被検体内の容器表面の液膜厚さを計測可能な厚さ計測器を少なくとも1つ有し、X線CT装置が取得するCT画像において厚さ計測器の計測位置と対応する箇所の液膜厚さを、厚さ計測器の計測値によりキャリブレーションを実施し、CT画像から液膜厚さを算出する。 (もっと読む)


【課題】固体試料中における低濃度の水素を二次イオン質量分析法によって正確に分析する手法を提供することを課題とする。
【解決手段】質量数1の水素同位体と物理的な挙動が酷似し、単体または化合物として大気中での存在量が極めて少ない質量数2の水素同位体をイオン注入によって分析対象とする固体試料中に導入する。そして、固体試料を加熱処理し、固体試料中に含まれる質量数1及び質量数2の水素同位体の濃度を減少させ、二次イオン質量分析法を用いて固体試料中における質量数2の水素同位体の濃度を分析し、その数値を固体試料中に残留する質量数1の水素同位体の濃度として同定する。 (もっと読む)


【課題】本発明は帯電液滴エッチングを用いた試料表面汚染物除去方法及び装置に関し、帯電液滴エッチング銃装着チャンバ内の吸着水を除去することを目的としている。
【解決手段】試料表面に形成された汚染物を除去する装置であって、真空環境下に置かれた試料3に対して、帯電液滴を照射する帯電液滴エッチング銃5と、試料表面に付着した水滴を離脱させるための近赤外ランプ4とを有し、前記帯電液滴エッチング銃5を用いて試料表面に照射させ、その後前記近赤外ランプ4を用いて試料エッチング面に付着した水滴を離脱させるように構成する。 (もっと読む)


【課題】簡単な作業で、被測定物の腐食状態を把握することができる腐食検査方法を提供する。
【解決手段】
腐食検査方法では、被測定物に外装材が取り付けられた状態で、中性子水分計にて、外装材の水分量についてのカウント値を測定し、カウント値が予め設定された閾値よりも高い場合にのみ、渦電流探傷器にて、被測定物の肉厚を測定する。従って、測定速度が速い中性子水分計にて、多数の被測定物から閾値よりも高い被測定物を特定し、その特定した被測定物についてのみ肉厚測定を実施すればよいので、腐食検査に時間がかからず、簡単な作業で、被測定物の腐食状態を把握することができる。また、特定した被測定物については、肉厚を直接測定するため、簡単な作業で適切な保守管理ができる。 (もっと読む)


【課題】 1MeVを超える高エネルギーX線のエネルギーを検出することができる高エネルギーX線の検出装置と検出方法を提供する。
【解決手段】 所定の方向から入射する入射X線1の照射によりこれをコンプトン散乱する散乱体12と、入射X線に対し特定の方向θにコンプトン散乱された散乱X線2のエネルギースペクトルを検出する散乱X線検出器14と、散乱X線のエネルギースペクトルから入射X線のエネルギースペクトルを演算する入射X線解析器16と、コンプトン散乱の断面積から入射X線1のエネルギースペクトルを補正する入射X線補正器18とを備える。 (もっと読む)


【課題】 1MeVを超える高エネルギーX線のエネルギー弁別ができ、かつ高エネルギーX線がパルスで発生しても、パイルアップが生じにくい高エネルギーX線のエネルギー弁別検査装置と検出方法を提供する。
【解決手段】 被検査物6に向けて1MeVを超える高エネルギーX線1aを照射するX線発生装置11と、被検査物を透過して入射する入射X線1をコンプトン散乱させる散乱体12と、コンプトン散乱された散乱X線2の入射X線に対する散乱角を所定の範囲に制限する遮蔽体13と、遮蔽体で制限された散乱X線のエネルギースペクトルを検出する散乱X線検出器14と、散乱X線のエネルギースペクトルから入射X線のエネルギースペクトルを演算する入射X線解析器16とを備える。 (もっと読む)


【課題】対象試料を実条件に近い状態で計測でき、且つ、単純な構成のイオンビーム分析装置を提供することを目的とする。
【解決手段】試料3に向けてイオンビーム6を照射するイオンビーム照射手段1と、該イオンビーム照射手段1に接続され、前記イオンビーム6の通路となる低圧部2と、該低圧部2の外部に配置されて、前記試料3に前記イオンビーム6が照射されるよう試料3を保持する試料保持手段と、前記イオンビーム6によって前記試料3から放射された放射エネルギーを検出する検出手段4とを備え、前記低圧部2が、イオンビーム6の出口部分となる開口部を有し、該開口部には、隔壁部材5が前記低圧部2の内部を気密保持可能に設けられ、前記隔壁部材5が、イオンビーム透過性を有し、且つ、前記低圧部2の内外の圧力差に耐えうる強度を有する材料からなるイオンビーム分析装置10。 (もっと読む)


【課題】保温材で取り囲まれる配管及び容器のいずれかの外面とその保温材を取り囲む保温カバーの外面との間に形成される領域内に存在する水分の検出精度を向上できる水分測定装置を提供する。
【解決手段】水分測定装置1は測定装置本体部5を有し、測定装置本体部5のケーシング25内に、中性子源装置3及び中性子検出装置6が設けられる。中性子源装置3は高速中性子を放出する中性子源2を有し、中性子検出装置6は中性子検出器7をコリメータ8で取り囲んでいる。コリメータ8に設けられたコリメータ開口部9には、複数の仕切り部材10が配置され、これらの仕切り部材10によって複数のスリット11が形成されている。中性子源2から放出された高速中性子は、減速材24で減速された後、保温領域内に存在する水分34でさらに減速されて熱中性子になる。この熱中性子はスリット11を通って中性子検出器7で検出される。 (もっと読む)


【課題】被検査板の裏側の硬化物に生ずる空隙の厚さを、被検査板の外側に熱中性子線子カウント装置を設置して得られる計数率比から算定する方法を提案する。
【解決手段】型枠に注入する充填材の水分量(W)を測定し、水分量から、構造体の内部状態を中性子線で探知できる検知厚さ(D)を、関数式を用いて算定する過程と、充填材を同じ含水量で空隙を生じないように型枠に注入してなる試験体を用いて、空隙のない状態で速中性子線を照射したときに試験体の外へ放出される熱中性子線のカウント量(NO)を求める過程と、構造体の被検査板の任意の場所に試験体と同量の速中性子線を照射したときに構造体の外へ放出される熱中性子線のカウント量(N)を求める過程と、(N/NO)を求め、これから空隙比率(T)を求める過程と、この空隙比率に検知厚さを乗じて空隙の厚さ(D)を求める過程とからなる。 (もっと読む)


【課題】強磁場中に配置されるマイクロチャンネルプレートでの二次電子増幅率の減少を抑制して散乱イオンの測定精度の低下を抑制できる散乱イオン分析装置を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明に係る散乱イオン分析装置は、磁場形成手段18と散乱イオン検出器20とアパーチャ16とを備え、散乱イオン検出器は、マイクロチャンネルプレート(MCP)22と二次電子の位置を検出する位置検出手段30とバイアス電圧を印加するためのバイアス電源32とを有し、MCP22では、磁場B方向に対し、微細貫通孔26に入射する散乱イオンの入射方向が傾いているのと同じ側に微細貫通孔26の中心軸26bが傾き、且つ散乱イオンの入射方向の傾きよりも中心軸26bの傾きが小さくなるように当該微細貫通孔26が形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】放射化分析や質量分析の適用が困難な試料に対して、正確に原子核の分析を行う。
【解決手段】この原子核分析装置10は、γ線源11、放射線検出器15、γ線モニタ用検出器16、パーソナルコンピュータ(分析部)17を具備する。この分析方法においては、被測定試料原子核40にγ線12が照射されることによって、被測定試料31中の原子核40に(γ、n)反応を生じさせ、この際に発生する中性子41のエネルギー(スペクトル)を放射線検出器15によって測定することによって、原子核40の核種を特定する。ここで、γ線12のエネルギーを調整することによって特定の反応((γ、n)反応)のみを選択的に生じさせることができる。 (もっと読む)


【課題】 X線管が結露した状態であるか否かを判定して、X線管を破損することを防止することができる蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】 一次X線を筐体14の出射窓14aから出射するX線管10と、試料Sで発生した蛍光X線の強度を検出する検出器30と、入力操作される入力装置82と、入力装置82から入力される分析開始操作信号に基づいて、ターゲット11に高電圧を印加するとともにフィラメント12に低電圧を印加することにより、検出器30で検出された蛍光X線の強度を取得する制御部50とを備える蛍光X線分析装置1であって、X線管10の外側筐体14の外周面に取り付けられ、水分情報を検出する結露センサ17を備え、制御部50は、入力装置82から分析開始操作信号が入力された際に、結露センサ17で検出された水分情報に基づいて、ターゲット11に低電圧を印加するか、若しくは、ターゲット11に電圧を印加しない。 (もっと読む)


【課題】水分の存在の判定に用いる情報のデータベースを予め作成する必要がない水分検出方法を提供する。
【解決手段】単一エネルギーを有するパルス状の高速中性子17が、中性子発生管2から、配管12を取り囲む保温材13に照射される。高速中性子17が保温材13内の水15及び配管12内の液体16で減速されて熱中性子18になる。高速中性子17の照射方向と逆方向に進む熱中性子18をHe比例計数管3で検出する。スケーラー10は、熱中性子の検出信号を用いて設定された時間毎の計数値を算出する。データ処理装置11は、これらの計数値を用いて、各時間幅での熱中性子の強度を求める。この強度がピークになる時間を基に熱中性子の飛行距離を求め、この飛行距離、及びHe比例計数管3と配管12の外面との距離に基づいて、保温材13内の水分の有無を判定する。 (もっと読む)


【課題】 試料から軟X線分光装置に向う軟X線をできるだけ多く回折格子に入射させて、検出される軟X線の強度を高めた軟X線分光装置を提供する。
【解決手段】 入射する軟X線を回折する回折格子と、回折格子によって回折された軟X線を検出する検出器とを備える軟X線分光装置おいて、回折格子に入射する軟X線の中心光線を挟み、回折格子に垂直で中心光線を含む平面に平行かつ中心光線に垂直な方向の曲率が0の一対のミラーを備えて、回折格子の傍らに向って進む軟X線を、ミラーによって反射して回折格子に入射させる。 (もっと読む)


【課題】光ファイバケーブルに工事を施すことなく簡易な方法で、確実に光ファイバケーブル内への水分の浸入の有無を検出することができ、また水分の浸入位置の特定も確実にできる光ファイバケーブル内の水分検出方法とその方法に用いられる中性子水分計を提供する。
【解決手段】光ファイバケーブル1を挟むようにして中性子線源3と計数管4を配置して中性子線源3から計数管4に向けて中性子を放出させ、光ファイバケーブル1内に水分が存在する場合は、その水素原子に中性子を衝突させて弾性散乱させ、光ファイバケーブル1を通過して計数管4に到達する単位時間当たりの中性子数を計数することにより、光ファイバケーブル1内への水分の浸入の有無を検出する。 (もっと読む)


【課題】XPSによる所望の結合エネルギーの測定において、X線照射時間の経過とともに測定結合エネルギー値がシフトする場合、安定的に所定のエネルギー値を測定する。
【解決手段】XPSによって、被測定物の表面に吸着した吸着物に相当するピークスペクトルに関して、X線の継続的な照射による、そのピークの高さや形状の変化を測定し、そのピークが消滅ないし最小化状態で安定化したこと判定して、その表面吸着物が消滅ないし安定化したことを確認して後、所望のピーク測定値から結合エネルギーを測定する。。 (もっと読む)


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