説明

Fターム[2G001NA10]の内容

Fターム[2G001NA10]に分類される特許

1 - 20 / 121



【課題】鋼中介在物の組成や大きさを迅速に測定すること。
【解決手段】鋼中介在物の分析方法は、鋼片試料に電子線を第1の加速電圧で照射することによって反射電子像を取得し、取得した反射電子像から鋼組織と鋼中介在物とを識別するステップと、鋼中介在物と判定された鋼片試料領域に電子線を第1の加速電圧とは異なる第2の加速電圧で照射することによって発生する特性X線を検出し、検出された特性X線から鋼中介在物の組成に関する情報を取得するステップと、を含む。これにより、鋼中介在物の組成や大きさを迅速に測定することができる。 (もっと読む)


【課題】前置増幅部前段の性能特性の変動による影響が抑制されたX線分析装置を提供する。
【解決手段】標準サンプルから放出された蛍光X線を検出する半導体X線検出素子、及び半導体X線検出素子の出力信号を受信する初段FET回路を含む前置増幅部前段と、前置増幅部前段を冷却する冷却装置と、前置増幅部前段から出力される検出信号を分析する信号分析装置と、検出信号を分析して得られる前置増幅部前段の性能特性を示す性能値、及び前置増幅部前段の温度をリアルタイムで監視し、冷却装置を制御して性能値が規定値を満たすように前置増幅部前段の温度を調整させる制御装置とを備え、前置増幅部前段が調整された温度において、測定対象物から放出された蛍光X線を分析する。 (もっと読む)


【課題】透過X線装置で検出した異物の位置の元素分析を蛍光X線で正確かつ迅速に行えるX線分析装置を提供する。
【解決手段】第1のX線源12と、第1のX線源から試料100を透過した透過X線12xを検出する透過X線検出器14とを有する透過X線検査部10と、第2のX線源22と、第2のX線源からのX線を試料に照射したときに該試料から放出されるX線22yを検出する蛍光X線検出器24とを有する蛍光X線検査部20と、試料を保持する試料ステージ50と、試料ステージを、第1のX線源の照射位置と第2のX線源の照射位置との間で相対的に移動させる移動機構30と、透過X線検出器にて試料中に検出された異物101の位置を演算する異物位置演算手段60と、異物位置演算手段によって演算された異物の位置が第2のX線源の光軸22cに一致するように移動機構を制御する移動機構制御手段61と、を備えたX線分析装置1である。 (もっと読む)


【課題】無機酸化物系材料中に微量に存在する鉛含有量の簡易かつ迅速な鉛含有量の定量方法を提供する。
【解決手段】無機酸化物系材料中の鉛含有量を、無機酸化物系材料からのPb−Lβ線のX線強度を蛍光X線分析法により測定し、あらかじめ求めた鉛含有量が既知である標準試料からのPb−Lβ線のX線強度と鉛含有量との関係を用いて定量することを特徴とする無機酸化物系材料中鉛含有量測定方法。 (もっと読む)


【課題】極めて容易に短時間で軟質合金の分析用試料を作製することを可能とする。
【解決手段】成型容器1に入れられた軟質合金2を表面3Aが鏡面仕上げされた成型部材3の表面3Aに接した状態で加圧成型することにより、軟質合金2の分析用試料2を作製する。成型部材1は、表面の凹凸が1μm以下に鏡面仕上げされている。軟質合金2を加圧成型する際の加圧力が、60kg重/cm2以上である。軟質合金2は、展性を有する金属材料である。 (もっと読む)


【課題】移送機構用長尺部材のスチールコード、例えば、乗客コンベアのハンドレールに内蔵されるスチールコードの状態からハンドレールの品質を自動的に評価する。
【解決手段】乗客コンベアのハンドレールをX線で撮影するX線撮影部と、前記X線撮影部で撮影された画像を処理して、前記ハンドレールに内蔵されたスチールコードの撚りが素線化したスチールコードを検出し、前記ハンドレールの長手方向における前記スチールコードの素線発生箇所が所定の長さ以上継続する場合には、前記ハンドレールの品質を劣化と判定する画像処理部とを有する。 (もっと読む)


【課題】3元系の酸化物の組成比を容易に測定することができる方法を提供する。
【解決手段】第1元素および第2元素の双方または何れか一方と酸素元素とからなる2元系または3元系の酸化物であって各々の組成比が既知であり互いに異なる複数の標準試料それぞれに対してEPMA測定を行って特性X線スペクトルを求め、これら複数の標準試料それぞれの特性X線スペクトルにおけるエネルギー範囲519〜522eV内のピーク位置に基づいて、このピーク位置と組成比との間の関係式を作成する。この関係式を用いることで、第1元素,第2元素および酸素元素からなる3元系の酸化物である対象物の特性X線スペクトルにおけるエネルギー範囲519〜522eV内のピーク位置から、該対象物の組成比を求める。 (もっと読む)


【課題】容易に精度良く鋼種判定を行うことができる断面略円形の鋼材の鋼種判定方法を提供する。
【解決手段】鋼種判定方法は、X線を照射する照射部21及び蛍光X線を検出する検出部22を具備した測定部2を、予め定めた分析必要時間だけ鋼管4の外周面に沿って鋼管4に対して相対移動させながら照射部21からX線を鋼管4に照射すると共に鋼管4から放射される蛍光X線を検出部22によって検出する検出ステップと、検出ステップによって検出された蛍光X線に基づいて鋼管4の組成を算出する算出ステップと、算出ステップによって算出された組成によって鋼管4の鋼種を判定する判定ステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】屋外に配置されている構造物の表面に付着している物質の正確な量がより簡便に分析できるようにする。
【解決手段】ステップS101で、屋外に配置された測定対象となる構造物の表面に直接X線を照射する。次に、ステップS102で、元素の蛍光X線測定を行い元素の第1蛍光X線強度を得る。次に、ステップS103、X線の吸収量が既知の基材に対象となる元素が既知の含有量で含まれている内標準試料を構造物に重ねた状態で、内標準試料を通して構造物の表面にX線を照射する。次に、ステップS104で、元素の蛍光X線測定を行い上記元素の第2蛍光X線強度を得る。 (もっと読む)


【課題】放射光装置(高エネルギー電子蓄積リング)等の大がかりな装置を用いることなく、比較的簡易な連続X線光源を用い、被測定物に含有される各元素の平均密度、全量等を非破壊で測定することのできる定量分析方法、及び、そのような定量分析方法を実施することのできる元素別定量分析装置を提供する。
【解決手段】炭素系冷陰極電子源、チタンよりも原子番号の小さい導電性の軽元素からなり、冷陰極電子源から放出された電子が入射面に入射され、入射方向に対して前方にX線を放出するターゲット、及び、該ターゲットで発生したX線以外のX線を遮蔽する遮蔽部材を具備する連続X線光源と、エネルギー弁別型検出器とを用いて、被測定物のX線吸収スペクトルにおける含有各元素の吸収端ジャンプ量を求め、あらかじめ標準試料等で決定した元素別の質量吸収端ジャンプ係数と前記含有各元素の吸収端ジャンプ量に基づき、被測定物に含有される各元素について同時にX線透過経路上の面密度を測定することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】画素毎に、検出素子の個体差を考慮した校正を施す。
【解決手段】格子状に等間隔に配列された複数の検出素子61を有し、各検出素子61が検出した被写体としてのプリント基板Wの画像を画素毎に分解して出力する撮像ユニット20、40を備えている装置に適用される。個々の画素の個体差を表す個体差ファクタα、βを記憶し、記憶された個体差ファクタα、βに基づいて、当該検出素子61毎に線形な校正値を出力し、前記検出値校正処理部225が演算した校正値Iχcに基づいて、画素毎に目標物理量としての輝度値Bや材料厚さχを演算する。 (もっと読む)


【課題】簡易な測定が可能であり、かつ、測定対象物を破壊することなく、浸炭深さを定量的に把握しうるCr含有合金の浸炭深さ測定方法を提供する。
【解決手段】浸炭深さが異なるCr含有合金の複数の試料についてポータブル型蛍光X線分析装置により分析を行って(ステップS2)、クロム及びクロム以外の金属元素の濃度と浸炭深さとの関係を予め求めておく(ステップS4)。次に、測定対象物であるCr含有合金について前記ポータブル型蛍光X線分析装置により分析を行って、該測定対象物中のクロム及びクロム以外の金属元素の濃度を測定する(ステップS6)。この後、予め求めた前記関係に基づいて、前記測定対象物中のクロム及びクロム以外の金属元素の濃度の測定結果から、前記測定対象物の浸炭深さを求める(ステップS8)。 (もっと読む)


【課題】本発明は、全反射蛍光X線分析装置を用いた検査結果に基づいて、ミネラルの充足、不足を簡便に、正確に判別する方法を提供する。また、体内に蓄積した有害な重金属を簡便に検査する方法を提供する。
【解決手段】本発明の第1の形態は、蛍光X線分析により、被検者の前頭部、側頭部又は頂頭部の毛髪に含まれるミネラル金属の含有比率及び/又は含有量を測定し、前記含有比率及び/又は前記含有量が正常値を超える場合に生体内のミネラル金属量が異常であると判断する生体内金属元素検査方法であり、本発明の他の形態は、蛍光X線分析により、皮膚、爪、歯又は骨からなる生体内固形物や血液、尿、涙、汗又は唾液からなる生体液に含まれるミネラル金属量又は重金属量の含有比率及び/又は含有量を測定することを特徴とする生体内ミネラル検査方法である。 (もっと読む)


【課題】石灰中の強熱減量の含有率を短時間で精度よく求めることができるX線分析方法およびその装置を提供する。
【解決手段】本発明のX線分析方法は、強熱減量の含有率が既知の石灰からなる標準試料Sに1次X線2を照射し、前記標準試料Sから発生するコンプトン散乱線6の強度を検出し、検出したコンプトン散乱線6の強度と強熱減量の含有率との相関を示す強熱減量の検量線を作成し、石灰からなる未知試料Sに1次X線2を照射し、前記未知試料Sから発生するコンプトン散乱線6の強度を検出し、前記強熱減量の検量線を用いて前記未知試料S中の強熱減量の含有率を求める。 (もっと読む)


【課題】測定対象物へのX線の照射密度を高めた場合にも、バックグラウンドとなる蛍光X線に影響されることなく回折X線のピークを正確に判別することができるX線応力測定装置を提供する。
【解決手段】金属試料表面にX線を照射するX線照射手段と、金属試料表面から発せられる回折X線を検出するX線検出手段と、回折X線の波長変化から金属の応力を演算する演算手段とを備えたX線応力測定装置において、X線検出手段と金属試料表面との間にTiフィルタとCl化合物フィルタとを備えたことを特徴とする。なおTiとCl化合物とを含有するフィルタを用いてもよい。TiフィルタはFeの蛍光X線を低減させ、Cl化合物フィルタはTiの蛍光X線を低減させる。 (もっと読む)


【課題】 蛍光X線強度が弱い場合でも、正確に磁性層厚さが測定できる層厚測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 蛍光X線分析法を用いて非磁性支持体上に少なくとも磁性層を設けた磁気記録媒体の磁性層厚さを測定する層厚測定装置であって、該層厚測定装置は、X線の発生源であるX線管と、磁気記録媒体に照射されたX線により発生した蛍光X線を受ける検出器と、これらを含んで外気と遮断し、前記X線と前記蛍光X線を透過させるX線窓を有する密閉箱と、を含み、該密閉箱内は空気よりも密度の小さい気体で置換されており、前記X線窓と前記磁性層との距離が1〜50mmであることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】薄膜状元素の種類と厚さに対して、輝度コントラストが最大となり且つ再現性よく計測することができるSEM反射電子計測の観測条件を決定する方法および、SEM反射電子計測により識別することが可能な元素種類組み合わせを予測する方法を用いて異種元素が付加された微粒子セットを識別する観察方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、支持体表面の異なる領域を3種類以上の元素で薄膜状に被覆してなる微粒子標識であって、各元素の全反射係数ηの値に基づいて昇順または降順で並べたときに隣接する元素間での全反射係数ηの差が、0.02以上となるような3種類以上の元素の組合せを用いて、前記支持体表面の異なる領域が薄膜状に被覆されている、微粒子標識を提供する。 (もっと読む)


【課題】4以上の元素を含む試料の相解析を効率良く行えるようにする。
【解決手段】相解析画面上に表示された2元散布図(又は3元散布図)上で、分析者がマウス操作等によりプロット点の集まり(クラスター)を異なる色の囲み線a、b、cで指定すると、各囲み線内に含まれるプロット点は囲み線と同色に変更される(a)。同時に、相解析画面上に表示された分布図上では、散布図上のプロット点に対応した位置が同色で示される。したがって、分布図上でクラスターに対応する領域がそれぞれ異なる色Ma、Mb、Mcで示される(b)。表示される散布図が別の元素組合せのものに切り替えられても、分布図上の各位置に対応したプロット点に同じ色が与えられる(c)。これにより、異なる元素組合せの散布図を関連付けることができる。また、異なる散布図上で指定したクラスターの位置を1つの分布図上で確認することができる。 (もっと読む)


【課題】試料が搭載される基板(基材)の元素と、試料に含まれる元素が同一でも、安定して、微小部分の成分計測が可能な微小部X線計測装置を提供する。
【解決手段】X線発生装置と、放出されるX線を50μm径以下の断面積に収束照射するX線光学素子と、蛍光X線を検出するX線検出器と、光学像を撮像可能な光学顕微鏡と画像認識機能を備え、試料を二次元で移動して位置決めが可能で、かつ、高さ方向にその位置調整が可能な試料相対移動機構とを備え、試料の特定位置における蛍光X線計測が可能であり、かつ、基材の上に置かれた測定試料からの蛍光X線も計測可能な微小部X線計測装置では、X線の照射位置と前記X線検出器との間の蛍光X線の光路を蛍光X線の減衰を抑制する構造(真空又はヘリウム置換)とし、かつ、基材上の測定試料が基材と同一の金属元素を含んでも、測定試料の同一の金属元素の含有が判定可能なデータ処理機能を備えたデータ処理部を備えている。 (もっと読む)


1 - 20 / 121