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Fターム[2G011AE00]の内容

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【課題】電池に当接するコンタクトピンの交換及び取り付け作業が簡単な大電流用コンタクトプローブを提供する。
【解決手段】下部には第1のフランジ18を備え、上部に第2の雄ねじ部19を有する筒状のソケット20と、第2の雄ねじ部19に螺合する取り付けナット21と、下部には第2のフランジ23を備え、第2のフランジ23と第1のフランジ18との間に配置されるバネ材24を挟んで、ソケット20に下方から装着され、ソケット20の上端から第1の雄ねじ部16が突出する筒状のアダプター25と、第1の雄ねじ部16に螺合し、接続端子15をアダプター25に固定する複数の締結ナット26〜28と、接触端子13を下部に備えて、アダプター25に下方から装着されるコンタクトピン30と、アダプター25の内側空間部31に配置され、コンタクトピン30に弾性的に接するコンタクト部材32とを有する。 (もっと読む)


【課題】テストリード自体に装置本体が有する複数の機能に対するスイッチング機能(起動、停止)を持たせ、しかも、テストリードの大型化及び重量化を回避した、操作性に優れたテストリード、及び、斯かるテストリードを有する測定装置を提供する。
【解決手段】測定装置本体1に接続ケーブル50を介して接続され、測定対象物に接触して、測定信号を測定装置本体1に送信するためのテストリード10において、長手軸線Ox−Oxに沿って所定長さとされ、テストリード10の握り部を構成し、一端部に測定対象物に接触するテスト棒13を保持したホルダー本体12を備え、ホルダー本体12に加速度センサ22を設置し、加速度センサ22は、ホルダー本体12を空間上で動かすことにより、複数種類の異なる信号を出力することができる。 (もっと読む)


【課題】電気抵抗が小さいうえ適用範囲も広い大電流用プローブピンを実現する。
【解決手段】電気導通用の接触部14aが複数形成されて分散配置されている当接部材14と、棒状の導電体からなりヘッド11aには当接部材14が取り付けられテール11bには電線端部18を接続しうるプランジャ11(進退部材)と、被検体に当接部材14を当接させるようプランジャ11を付勢するコイルばね12(付勢手段)とを具え、当接部材14の周縁部が放射状に分岐して接触部14aを成しており、当接部材14の中央部が凹み11cの中で留具挿通孔14bに差し込んだ留め具15にてプランジャ11に固定され、接触部14aが凹み11cの内周縁(11d)より外周側へ延びている。 (もっと読む)


【課題】アスペクト比、ストローク量、接触面積、形成容易性その他の性能を向上させることができる接触子および接触子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の接触子1においては、ばね部3として、一体化ビーム基材6Bに2個のバイメタル膜7A、7Bをその湾曲方向が反対になるように配置することによりそれら各上端面5Aa〜5Daが電極パッド50aと平行になるように形成されたビーム部5A〜5Dが4個形成されている。このビーム部5A〜5Dは、2個のビーム基材6A1、6A2の各表面に同一のバイメタル膜7A、7Bを1個ずつ形成し、一方のビーム基材6A2を反転させて2個のビーム基材6A1、6A2の各端部を結合することにより形成される。 (もっと読む)


【目的】チップのスクリーニング試験において、試験装置を構成するコンタクトプローブのメンテナンスを短時間で行うことができる半導体チップの試験装置と試験方法を提供する。
【解決手段】IGBTチップ20が破壊した場合に、IGBTチップ20のエミッタ電極に付いたコンタクトプローブ4の圧接痕とIGBTチップ20の破壊痕の距離を測定し、この距離が判定基準距離(例えば0.5mm)以下のときにコンタクトプローブ4を有するコンタクトブロック3をメンテナンスすることで、従来のようにIGBTチップの破壊が発生する都度、コンタクトプローブをメンテナンスしていた場合と比べて、試験装置停止時間及びメンテナンスコストの低減ができる。 (もっと読む)


【解決手段】 本発明は、平面構造物(38)と電気的に接触するための接触側端部(16)と、ケーブル、特に同軸ケーブルに接続するためのケーブル側端部(12)、特に同軸ケーブル側端部とを有し、接触側端部(16)とケーブル側端部(12)との間に、少なくとも2つの導体(18,20)、特に3つの導体を有する共平面導体構造物が配設され、共平面導体構造物(18,20)に対して、ケーブル側端部(12)と接触側端部(16)との間の所定区間にわたって共平面導体構造物(18,20)を支持する誘電体(24)が片側または両側に配設され、共平面導体構造物の導体(18,20)が空間内で自由に、支持誘電体(24)に対して懸架された状態で配設されるように、誘電体(24)と接触側端部(16)との間にテストプロッドが設計され、平面構造物(38)との接触時に平面構造物(38)に面するテストプロッドの片側(32)には、誘電体(24)と接触側端部(16)との間で、空間内で自由に、支持誘電体(24)に対して懸架された状態で配設された共平面導体構造物(18,20)の領域(26)へとシールドエレメント(34)が延出するように、シールドエレメント(34)が配設および設計される、高周波測定用のテストプロッドに関する。
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【課題】測定用機器のリード端子またはリード線と、配電盤における所望の端子台ネジとを、容易かつ確実に接続すること。
【解決手段】支点部103において回動可能に連結され、支点部103を支点として揺動可能に設けられた一対のクリップ片101、102と、一対のクリップ片101、102における一端部101a、102aどうしが当接するように一対のクリップ片101、102を付勢する付勢部材104と、一方のクリップ片101の他端部101bに設けられ、リード端子201またはリード線1102を保持可能な接続部105と、一方のクリップ片101の一端部101aに設けられ、接続部105に対して電気的に接続された端子部107と、他方のクリップ片102に設けられ、当該他方のクリップ片102における少なくとも配電盤が備えた端子台ネジに接触する部分を絶縁する絶縁部108と、を備えた測定用クリップ100を構成した。 (もっと読む)


【課題】 測定時にショートすることが少なく、測定対象物の裏側や、配線等が入り組んだ場所でも測定可能なテストリードを低供する。
【解決手段】 導電線を絶縁被覆したコードと、このコードの一端の導電線に接続され絶縁被覆された接続端子と、前記コードの他端の導電線に接続される接触子とを備え、前記接触子が、前記コードと接続する把持部と、この把持部から延設され導電線と導通した先端部と、この先端部の先端に配置される先ピン部とを有し、前記先端部が、絶縁性樹脂により被覆されるテストリード。 (もっと読む)


【課題】被測定電極の配置がランダムの場合の回路検査に使用することのできる2探針ケルビンプローブを提供する。
【解決手段】断面横長のバネ性を有し且つ絶縁被膜でコーティングした二本のプローブを(一方は電圧用、他方は電流用)プローブ収納スリーブに各々独立して弾性屈曲し得るように装入し、該プローブ収納スリーブを検査用板取付用のスリーブに嵌合させ、前記プローブ収納スリーブの先端部と検査用板取付用のスリーブ先端との間にコイルスプリングを外嵌させ、前記二本のプローブ後端部は、前記プローブ収納スリーブ及び/又は検査用板取付用のスリーブに固定し、2探針ケルビンプローブとした。 (もっと読む)


【課題】作業者単独でのテスターによる測定を可能とすると共に、一対のテストプローブ間の間隔を簡単に調節できるテストプローブを有する測定器を提供する。
【解決手段】テストプローブ18は、測定部に接触させる第1のプローブ14Aと第1のプローブ14Aが取り付けられる第1のプローブ本体16Aとを有する第1のテストプローブ18Aと、測定部に接触させる第2のプローブ14Bと、第2のプローブ14Bが取り付けられる第2のプローブ本体16Bとを有する第2のテストプローブ18Bとで構成される。第2のテストプローブ18Bの挿通孔に第1のテストプローブ18Aの回動軸34を挿入することで、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとが相対的に回動自在に連結され、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとが一体に構成された、いわゆるはさみ構造をなしている。 (もっと読む)


【課題】この発明は、蓄電池の端子に何らの傷を付けずに、しかも簡便で能率的に蓄電池の端子電圧を測定することができるような方法を提供しようとするものである。
【解決手段】蓄電池の端子に接触端子3を押圧して接触させ蓄電池の電池電圧を測定するに当たり、接触端子3を平板状に形成するとともに、接触端子3の両端を押圧力を異ならせた支持部材7で支持し、接触端子3を蓄電池の端子4に偏位して押圧して接触端子を傾斜させることによって接触端子3を横滑りさせる蓄電池の電池電圧を測定する方法である。 (もっと読む)


【課題】簡単な構造でありながら、開封をすることなく内部への浸水状態の有無を確認することができるクロージャを提供する。
【解決手段】容器11が設置される状態での容器11の下部には、電気的導通部30が設けられていて、この電気的導通部30は、容器11の内部100と容器11の外部101とを電気的に導通する第1接触端子部材31と、第1接触端子部材31とは電気的に絶縁され、容器11の内部100と容器11の外部101とを電気的に導通する第2接触端子部材32とを備えている。 (もっと読む)


【課題】円筒面を有する測定対象物に対し、プローブの先端が円筒面で滑ることがなく、且つ周囲に障害部材が有っても測定対象物に容易に当接することが可能な測定用プローブ、又はプローブ保持装置を提供すること。
【解決手段】円筒面を有する測定対象物の導通を検査する導通検査装置に用いる測定用プローブであって、測定用プローブが板状の部材により形成され、前記円筒面に当接する測定用プローブにおける当接面が平面状であることを特徴とする測定用プローブ。 (もっと読む)


【課題】電圧試験の作業効率を向上させ、配線作業の結線ミスや操作ミスを防止することができる電圧試験プラグを提供すること。
【解決手段】電圧試験プラグ40は、運転するときには電気装置9の端末と外部電源回路8の端末とを接続する一方、電気装置9を試験するとき電気装置9の端末と外部電源回路8とを切り離すため、電圧試験端子30へ挿入することによって電気装置9の端末と外部電源回路8の端末とを切り離し、電気装置9の端末と試験器7の端末とを接続するものであり、電圧試験プラグ40が電圧試験端子30へ挿入されたとき電気装置9の端末に電気的に接続される第1の端子(内部接続端子)54と、試験器7の端末と電気的に接続される第2の端子(中心接続端子)43と、第1の端子(内部接続端子)54と第2の端子(中心接続端子)43とを選択的に電気的に接続、非接続の状態に切り換えできるスイッチ手段43(中心接続端子)を備える。 (もっと読む)


【課題】酸化した探針の先端部を新しいものにすることを容易に且つ確実に行うことができる測定用探針を提供する。
【解決手段】所定の測定装置に備えられる測定用探針において、先端部30Aが尖鋭な複数の探針部30が一列に連結されて構成された測定用探針本体3を備え、第1探針部30の後端部30Bに、第2探針部30の先端部30Aを収容する収容部32を備え、第1探針部30の収容部32に第2探針部30の先端部30Aが収容された状態で、第1探針部30と第2探針部30との間の電気的導通が可能な所定の固定手段により、第1探針部30の後端部30Bと第2探針部30の先端部30Aとが連結固定され、第1探針部30と第2探針部30との連結固定部分は分離可能となっている。 (もっと読む)


【課題】測定対象となる端子に対して安定に吸着させることができる構成が簡易な磁石付の計器用測定端子を提供する。
【解決手段】測定対象となる電気端子2に吸着させる計器用測定端子1であって、電気端子2に吸着する端子本体3が磁力を有する導電体からなり、該端子本体3にリード線4を接続してなり、前記端子本体3には、電気端子2の一部を嵌入させる凹部5が形成され、該凹部5の周縁が電気端子2に接触吸着するように構成すると共に、凹部5が形成された端子本体3の前面部以外の部分が絶縁材6で覆われるように構成する。 (もっと読む)


【課題】燃料電池の電流面分布の測定において、電流プローブとセパレータの表面接触抵抗を極力小さくし、多数のプローブを使用する場合に、測定位置による誤差を低減することにある。
【解決手段】電流・電圧プローブ10は、測定対象の測定面上の一点を流れる電流を測定するための電流プローブ8と、電流プローブ8の周辺の平均電圧を測定するための電圧プローブ4と、電流プローブ8と電圧プローブ4を絶縁するためのプローブ導向部3とから構成される。 (もっと読む)


【課題】測定プローブ、測定装置または測定システムに提供される信号伝送用インフラストラクチャを単純化する。
【解決手段】測定装置は、少なくとも1つの物理または電気化学測定プローブを有し、この少なくとも1つの測定プローブは、1つまたは複数の記憶ユニットを備え、ケーブル(2)、好ましくは同軸ケーブルを介して、プロセッサを含む伝送器(3)に接続されている。測定プローブは、接地線(23’)を有し、第1の信号線(21’)を介して記憶ユニットに接続されており、プロセッサの制御下で、伝送プロトコルに従って、第1の信号線(21’)および接続ケーブル(2)が、測定プローブのアナログまたはディジタル測定信号の単方向伝送、ならびに記憶ユニットから読み取られ、または記憶ユニットに書き込まれるディジタル動作データの測定プローブと伝送器(3)の間の好ましくは両方向の伝送を実行する役目を果たす。 (もっと読む)


【課題】SMUやVMUなどの検査ユニットからプローブ先端までの測定系に帯電した電荷を除電し、デバイス破壊が無く、正しい測定値を得る。
【解決手段】半導体装置の電極用パッドに接触するプローブ104を有したプローブカード配線を複数備え、プローブカード配線102を半導体検査装置の複数の検査ユニットおよびグランドユニットに接続可能とした構成において、プローブカード配線どうしを電気的に接続するスイッチング素子111を備え、任意の2つ以上のプローブカード配線が、スイッチング素子によって電気的に接続または切断される。すなわち、複数のプローブカード配線の各々に、対応する半導体検査装置の複数の検査ユニットおよびグランドユニットを接続する。次にスイッチング素子をオン状態にして全ての検査ユニットをグランドユニットに同時に接続し、検査ユニットからプローブ先端までの経路を一括で除電する。 (もっと読む)


本発明は、試験試料(508)の電気的性質を試験するプローブ(502)に関する。プローブは、近位端と反対の遠位端を画成するプローブアーム(506)を有する本体(504)を備え、プローブアームは、プローブアームの近位端において本体から延在し、更に、第1軸心が、近位端と遠位端によって画定される。その上、プローブアームは、第1軸心に沿った、第1軸心に垂直な第2軸心に沿った、更に、第1軸心と第2軸心によって画定される平面に直角な第3軸心に沿ったプローブアームの柔軟な運動を許容する幾何学的構造を画成する。
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