【課題】故障した灯器を現場から離れたところで、容易に知ることができる多灯型色灯信号機の半断線又は全断線を検知する方法及び装置を提供する。
【解決手段】発光源にＬＥＤを使用した各信号灯の監視回線に電流センサＣＴが接続される断線検出装置１において、監視回線に電流センサＣＴを介して接続され、増幅回路１１とＡ／Ｄ変換回路１２を有する入力部１４と、各監視回線の監視回線番号を表す指示情報または該監視回線に流れる電流値を表示する表示器３と、監視回線からの入力情報とメモリに予め設定された各信号灯の閾値とを比較する制御部１５と、監視回線の半断線または全断線の何れかを表示する警報ランプ４と、表示器３に表示された電流値または前記指示情報を表示させる複数の操作ボタン５〜８とを含み、制御部１５が前記指示情報を点滅または点灯させることによって、半断線または全断線の状態にある信号灯を決定する。 （もっと読む）

【課題】 x軸方向及びｙ軸方向にマトリクス状に配置される配線を有するタッチパネルを、非接触検査方式にて検査を実施することで、検査時間を短縮して効率良く検査を実施することが可能となる検査装置の提供。
【解決手段】 ｘ軸表示配線及びｘ軸タブ配線からなるｘ軸配線とｙ軸表示配線及びｙ軸タブ配線からなるy軸配線とを有する検査物の検査装置であって、検査物を載置する導電性の載置台と、検査対象となるｘ軸表示配線の一端に非接触で配置される一端検出部と、他端に非接触で配置される他端検出部と、中央に非接触で配置される中央検出部と、ｘ軸タブ配線の接続端に非接触で配置される第二検出部と、一端検出部と中央検出部の一端検出信号、他端検出部と該中央検出部の他端検出信号並びに、第二検出部のタブ検出信号とを基に、x軸配線の導通状態を判定する判定手段を有していることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】必要に応じて報知回路またはデバイスを動作チェック可能な動作チェッカーを提供する。
【解決手段】メタルケーブルまたはメタルバイパスケーブルの配線前または配線後に拘わらず、必要に応じて、メタルケーブルまたはメタルバイパスケーブルの端末またはそれらの接続材に設けられた報知回路またはデバイスを動作チェックできる。手動スイッチの入力操作で圧電素子から発生したチェック電圧を報知回路またはデバイスに印加する場合には、電池を含む外部電源を必要とせず、構造が簡単でかつランニングコストが不要で報知回路またはデバイスを動作チェックできる。 （もっと読む）

【課題】製造時や使用時にテストパッドに起因する短絡故障が生じ難く、しかもテストパッドの腐食のおそれも少ない表示装置及び表示装置の接続状態検査方法を提供すること。
【解決手段】液晶表示パネル１１と配線基板１３とを電気的に接続する可撓性配線基板１２には、配線基板１３の電極端子２２と可撓性配線基板１２の入力端子２６との間の電気的接続状態及び可撓性配線基板１２の出力端子２５と表示パネル１１の入力端子２０との間の電気的接続状態を測定するための複数本の電気抵抗測定用配線２７ａ〜２７ｄが設けられており、複数本の電気抵抗測定用配線２７ａ〜２７ｄにはそれぞれ絶縁膜で覆われた電気抵抗測定用パッド２９ａ〜２９ｄが設けられている。 （もっと読む）

【課題】使用される入力点数を抑えて、異常を検出することができるスイッチ入力装置を提供する。
【解決手段】走査制御手段１２は、走査ラインＣＯＭ0〜ＣＯＭ7を所定順序で一つずつ選択して、選択した走査ラインに選択期間の間、走査電圧を出力すると共に、いずれの走査ラインにも走査電圧を出力しない走査オフ期間を設けて走査処理を行う。異常検知手段１４は、走査ラインＣＯＭ0に走査電圧が出力されているときに入力ポートP30への入力がLowとなったとき、及び、走査オフ期間において入力ポートP30への入力がHighとなったときに、スイッチ入力装置が異常状態であると検知する。 （もっと読む）

【課題】検出回路の欠陥に起因した検出精度の低下を抑制する。
【解決手段】複数の検出回路Ｕの各々は、被検出物の有無に応じた検出信号Ｓを生成する。駆動回路２０は、複数の検出回路から検出信号Ｓを取得する。欠陥判定部３８は、複数の検出回路Ｕの各々における欠陥の有無を当該検出回路Ｕの検出信号Ｓに応じて判定する。駆動回路２０は、複数の検出回路Ｕに含まれる複数の第１検出回路Ｕ1および複数の第２検出回路Ｕ2のうち欠陥の総数が少ない方から検出信号Ｓを取得する。 （もっと読む）

【課題】 検査対象物がx軸方向及びｙ軸方向にマトリクス状に配置される配線を有するタッチパネルのような検査物であっても、非接触検査方式にて検査を実施することで、検査時間を短縮して効率良く検査を実施することが可能となるタッチパネル検査装置の提供。
【解決手段】 タッチパネル検査装置であって、前記検査対象となるｘ軸配線の導通検査を実施するために交流信号を供給する第一信号供給手段と、前記検査対象となるｙ軸配線の導通検査を実施するための交流信号を供給する第二信号供給手段と、前記検査対象となるｘ軸配線と隣接するy軸配線との短絡検査を実施するための交流信号を供給する第三信号供給手段と、前記検査対象の配線の導通及び短絡を検査するために、各供給手段からの交流信号を供給する複数の給電部と、該配線からの電気信号を検出する複数の検電部を有する検査ヘッド部と、前記検査ヘッド部を前記検査物の表面上を所定軸方向に移動させる移動手段を有するを特徴とする。 （もっと読む）

基板(３)上にプリントされたエレクトロニックコンポーネントの非接触試験のための装置及び方法が提供される。試験回路(１１)は所望のエレクトロニックコンポーネントと同時に基板(３)上にプリントされる。試験回路(１１)は全光型であり、試験回路(１１)に電気エネルギーを供給するための第１の領域(１３)及び検出可能な、エレクトロニックコンポーネントの少なくとも１つの電気特性を示している、光信号を発生するための第２の領域(１５)を有する。試験回路はｅペーパーのような製品のプリントにおいて、実時間で用いられ、使用できないスクラップの製造を最小限に抑える。
（もっと読む）

【課題】 光源をＰＷＭ駆動させるためのＰＷＭ信号の周期が短い場合であっても、光源の断線状態及び非断線状態を確実に検出することが可能な光源制御回路を提供する。
【解決手段】 制御部１１からの指令信号により制御されるトランジスタ１２と、トランジスタ１２のオン／オフ状態を切り換えることにより発光制御される光源１３と、光源１３に電力を供給する電源１４と、光源１３の断線検出を行う断線検出回路１６とを備えた光源制御回路において、制御部１１は、光源１３の発光輝度を調節可能なＰＷＭ制御機能と、断線検出回路１６を介して制御部１０へと入力される信号波形にパルス波形が含まれているか否かを判定可能なパルス判定機能とを有し、信号波形にパルス波形が含まれているとき光源１３が非断線状態であると判断し、信号波形にパルス波形が含まれていないとき光源１３が断線状態であると判断する。 （もっと読む）

【課題】カレントトランスを用いることなく、高価なＩＣや規模の大きな回路構成を必要とすることなく、半導体素子の故障を検出できるようにする。
【解決手段】交流電源２とヒータ３との間の電力供給ラインに設けられてオンオフ制御されるスイッチング素子としてのサイリスタ４，５の故障を検出する回路１２であって、サイリスタ４，５の両端電圧を、波形整形し、閾値と比較してデジタル信号に変換する変換部としての波形整形・比較部１３と、変換されたデジタル信号を、電気的に絶縁して判定部としてのマイコン８に伝達する光結合部１４と、伝達されたデジタル信号およびサイリスタ４，５に対するオンオフの制御指令に基づいて、故障の有無を判定する前記判定部としてのマイコン８とを備えている。 （もっと読む）

【課題】消費電流を抑制して精度よく異常電流を検出する電子機器を得る。
【解決手段】バッテリ１１と、バッテリ１１の端子に接続する電流検出抵抗１３と、電流検出抵抗１３を介してバッテリ１１からの電源電流が供給される複数のデバイスと、デバイスの状態に応じた消費電流に対応する閾値を記憶する記憶部６と、デバイスの動作を制御するとともに電流検出抵抗１３の検出電流値を所定の周期で入力し、検出電流値と閾値とを比較して検出電流値が閾値を超えた回数をカウントし、この回数が所定の回数になったときに異常が発生したと判断する制御部２とを備え、制御部２は、比較に用いる閾値を第１の閾値から第２の閾値へ変更したとき、第１の閾値により検出した閾値を超えた回数をリセットし、第２の閾値へ変更した次の周期において電流検出抵抗１３が検出した検出電流値から閾値を超えた回数のカウントを始める。 （もっと読む）

【課題】発光素子基板に配置された複数の発光素子のうち、何れの発光素子が破損しているかを迅速に判別でき、かつ、発光素子基板を備える装置に内部発熱などの負荷を及ぼさない破損発光素子検出システムを提供する。
【解決手段】ｉ列ＬＥＤ基板１００ｉにおいて直列接続されたＬＥＤ素子１１０の数と同数であるｍ個の抵抗Ｒを直列に接続した抵抗部１０を備え、基板接続部１３０と検出器接続部２０により、ｉ列ＬＥＤ基板１００ｉと接続する。そして、電源１２０より所定の電圧が印加されると、各抵抗Ｒによりｉ列ＬＥＤ基板１００ｉに備えられた各ＬＥＤ素子１１０に所定の電流が流れるので、発光していないＬＥＤ素子１１０を確認することで、破損したＬＥＤ素子１１０を検出することが出来る。 （もっと読む）

【課題】誘導コイルなどの負荷の短絡検出時におけるスイッチング素子への過電流の入力を防止することのできる負荷短絡検出装置及びこれを備える画像形成装置を提供すること。
【解決手段】少なくとも電源１，誘導コイル２２１，ＩＧＢＴ２３１が順に接続され，ＩＧＢＴ２３１の駆動の有無によって電源１から誘導コイル２２１への電力供給を制御する電気回路Ｘに，ＩＧＢＴ２３１に並列接続され，該ＩＧＢＴ２３１の非駆動状態で誘導コイル２２１に通電して該誘導コイル２２１の短絡の有無を検出する短絡検出回路２４を設けておき，短絡検出回路２４によって誘導コイル２２１の短絡が検出された場合に，ヒューズ１２を切ることでＩＧＢＴ２３１の駆動，即ちＩＧＢＴ２３１への通電を禁止することを特徴として構成される。 （もっと読む）

【課題】 クリップ開状態保持機構をクリップ式検査治具本体に対して容易に着脱すること。
【解決手段】 クリップ開状態保持機構（６００）は、クリップ式検査治具本体（４００）の操作部（４５２）を基板（３００）側に押圧し、基板とクリップ式検査治具本体の先端間を開状態に保持するものである。クリップ開状態保持機構は、基板に取り付け取り外し自在に設けられたベースフレーム（６１０Ｒ、６１０Ｌ）と、第１の端に操作部（６３４）が設けられたレバー（６３０）と、レバーの第２の端に回動自在に結合されたリンク（６４０）と、一端がリンクの第２の端に回動自在に結合されたプッシャー（６５０）とを備える。レバーの回動操作により、リンクを介してプッシャーを上下動させ、操作部（４５２）を押圧、押圧解除するようにしている。 （もっと読む）

【課題】負荷回路に接続されたコネクタに異常が生じたことによる負荷回路の動作異常を検知可能な電子機器を提供する。
【解決手段】異常検出部５０は、端子Ｔ４の電圧が予め定められた上限値および下限値の間にあるかどうかを検出する。異常検出部５０は、端子Ｔ４の電圧がその上限値および下限値の間にある場合には、電圧レベルがＨ（論理ハイ）レベルである信号ＤＥＴを出力する。一方、異常検出部５０は、端子Ｔ４の電圧が下限値を下回る場合、あるいは端子Ｔ４の電圧が上限値を上回る場合には電圧レベルがＬ（論理ロー）レベルである信号ＤＥＴを出力する。端子Ｔ３，Ｔ４が短絡することにより抵抗４５に過電流が流れた場合には抵抗４５が損傷する可能性がある。端子Ｔ４の電圧が上限値を上回る（端子Ｔ４の電圧が電源電圧にほぼ等しくなる）ので、異常検出部５０は信号ＤＥＴの電圧レベルをＬレベルに設定する。 （もっと読む）

【課題】電力出力装置側から電気的負荷側に対して、逆向きの電力が出力された場合であっても、当該電気的負荷に逆向きの電力が入力されることを防止し得るコネクタ装置を提供する。またかかるコネクタ装置を有効に活用し得る、電力検出装置を提供する。
【解決手段】第１コネクタ部と第２コネクタ部とを有し、第１コネクタ部は、電力入力端子および入力側グラウンド端子を有しており、第２コネクタ部は、電力出力端子および出力側グラウンド端子を有しており、前記電力入力端子と電力出力端子は、第１接続線により接続されており、前記入力側グラウンド端子と出力側グラウンド端子は、第２接続線により接続されており、前記第１接続線と第２接続線は、前記第２接続線から第１接続線の方向にのみ電流を流す整流素子を介して接続されているコネクタ装置とする。また当該コネクタ装置、電力出力装置、および電力検出手段を備えた電力検出装置とする。 （もっと読む）

【課題】非接触シングルサイドプローブ構造を提供する。
【解決手段】非接触シングルサイドプローブの構造を、複数の絶縁膜と導電膜が繰り返し積層された切断面の内側の導電膜断面をプローブ電極とし、プローブ電極の外側領域に積層された導電膜断面をガード部として形成することによって、パターン電極のピッチに対応する導電膜厚にプローブ電極を形成し、微細なパターン電極に対応して断線及び短絡を検査できる他、電極とコンタクトホール間の距離が一定距離以上に維持されノイズに強くなるようにする。 （もっと読む）

【課題】２系統の両側で束ねられたバス配線間のショート個所の検出確率及び検出の時間効率を高める。
【解決手段】絶縁基板上に隣接して形成された第１及び第２の両側で束ねられたバス配線間のショート個所を検出するショート検出装置であって、この第１及び第２の両側で束ねられたバス配線の束ね配線部の任意の点間の抵抗値を測定してショート個所の有無を検出するショート有無検出手段（抵抗測定器８、データ処理装置９及びコントローラ１０）と、このショート有無検出手段がショート個所有りを検出したときに、この第１及び第２の両側で束ねられたバス配線に対向する夫々の一端側の隣接する束ね配線部間の抵抗値及び夫々の他端側の隣接する束ね配線部間の抵抗値を測定する抵抗値測定手段（プローブユニット３、４及び抵抗測定器８）と、この抵抗値を比較する抵抗値比較手段（データ処理装置９）とを有するものである。 （もっと読む）

【課題】複数の基板に対して並列的に短絡検査を実施し、短絡の検査回数を減少させて検査時間を短縮することのできる基板検査装置の提供。
【解決手段】複数の被検査基板の電気的特性を検査する基板検査装置であって、被検査基板の配線パターン上に設定される検査用プローブを複数有し、複数の被検査基板毎に応じて配置される複数の基板検査用治具と、複数の被検査基板毎に、一の配線パターンの検査用プローブを第一検査部と設定し、一の配線パターン以外の配線パターンの検査用プローブを第二検査部と設定する制御手段と、複数の第一検査部を並列接続して第一群αとし、複数の第二検査部を並列接続して第二群βと設定する切替手段４と、第一と第二群間に所定電位差を生じさせる電力供給手段５と、第一と第二群間の電気的特性を検出する検出手段６と、この電気的特性に基づいて短絡の有無を判定する判定手段を有する。 （もっと読む）

【課題】ＦＴアレイ基板において微小欠陥を検出する。
【解決手段】ＴＦＴアレイ基板のピクセル欠陥を検出し分類する方法であり、１ピクセル内の複数の検出信号取得点から検出信号を取得する信号取得工程と、１ピクセルを複数の領域に分割し、分割した各分割処理領域内に存在する検出信号取得点の検出信号を用いて、分割領域を単位としてピクセル内の欠陥判定を行う信号処理工程とを備える。信号取得工程は、ピクセルを複数の分割領域に仮想的に分割し、この各分割領域内において少なくとも１点の検出信号取得点から検出信号を取得する。これによって、１ピクセル内において、少なくとも分割した微小領域を単位にとして検出信号を取得する。 （もっと読む）