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Fターム[2G015AA01]の内容

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【課題】電気機器への通電を行った状態で非接触にて絶縁抵抗値を測定でき、設備の稼働率向上および点検作業の作業性向上や安全性向上を図ることができる絶縁抵抗測定装置を提供することである。
【解決手段】通電されている状態の電気機器の絶縁物の放電音強度と絶縁物の表面絶縁抵抗値との関係式を予め記憶装置13に記憶しておき、電気機器の絶縁物の放電音を放電音検出器15で検出し、振動音成分抽出手段17は放電音検出器15で検出された放電音を高速フーリエ変換し放電音の周波数成分を抽出する。そして、抵抗演算手段18は、振動音成分抽出手段17で抽出された特性の周波数領域の放電音強度及び記憶装置13に記憶した関係式に基づいて絶縁物の表面絶縁抵抗値を求める。 (もっと読む)


【課題】パルス電圧印加による部分放電の発生を絶縁体の温度変化から検出する手法において、電気的絶縁性および化学的腐食耐性に優れ、しかも高い検出感度・精度で部分放電を検出できる。
【解決手段】パルス電源1は、部分放電開始電圧を測定するため、一定周期で一定幅のパルス電圧を徐々に高めながら発生し、このパルス電圧をツイストペア試料の2本のエナメル線A,Bの線間に印加する。光ファイバ式温度センサは、2つのセンサ2A、2Bで構成し、温度センサ2Aはツイストペア試料にセンサ部分を接触固定させてその温度を測定し、温度センサ2Bはツイストペア試料の基準温度測定用としてセンサ部分をツイストペア試料から離してその近傍に配置し、その周辺温度を測定する。温度表示器3は温度センサ2Aおよび2Bで測定する温度T1およびT2の温度差ΔT(=T1−T2)を求めて表示する。 (もっと読む)


【課題】電気機器を停止させることなく、湿度を考慮して、電気機器の絶縁劣化を診断する。
【解決手段】機器診断装置は、事前に絶縁材料の加速劣化試験のデータを取得し、試験データからマスターカーブ及び閾値曲線を作成し、グラフデータ76Cとして記憶する。その後、高電圧機器の湿度及びAEセンサ出力の測定データを取得し、機器測定データ76Dとして記憶する。続いて、グラフデータ76C上において、機器測定データ76Dの湿度76D1及びAEセンサ出力76D2の座標点を点Pとしてプロットし、点Pに対応する実使用時間を特定し、点Pを通り、Y軸に平行な直線と、閾値曲線との交点を点Qとする。点Pが点Qより下にあれば、高電圧機器を更新すべき時期が来ておらず、閾値曲線の実使用時間と、点Pの実使用時間との差が、高電圧機器の余寿命である。一方、点Pが点Qと一致し、又は、点Qより上にあれば、高電圧機器を更新すべきである。 (もっと読む)


【課題】絶縁材料の劣化を診断する。
【解決手段】実施形態に係る劣化診断装置1は、推定手段4と診断手段7とを含む。推定手段4は、絶縁材料に対して予め設定されている評価項目の係数12と、評価項目の実測値14とに基づいて、多変量解析のT法により絶縁材料の絶縁抵抗値を推定する。診断手段7は、推定された絶縁抵抗値と、絶縁材料の使用期間とに基づいて、絶縁抵抗値の使用期間に対する変化を表す推定曲線を求め、推定曲線が予め設定されているしきい値11以下となる時点に基づいて絶縁材料の有効期間を求める。 (もっと読む)


【課題】欠陥検出対象物に放射線を照射しながらその固体絶縁物の欠陥を検出する作業を、効率よく且つ誤判定なく容易に実施する。
【解決手段】マンマシンインターフェース手段は、表示手段を有し、放射線量制御手段、放射線照射位置制御手段、部分放電検出手段および電圧印加手段を制御するとともに、欠陥検出対象物の外形、放射線照射位置、部分放電検出信号波形および印加電圧波形を表示手段の同一画面に表示する。 (もっと読む)


【課題】長期的な電圧印加を必要とせずに、短時間で高精度の検出が可能な半導体装置の絶縁欠陥検出装置を得る。
【解決手段】絶縁欠陥の検出対象である試料1に対して電圧を印加する高電圧電源3と、試料1に対してX線5を照射するX線発生部4と、電圧の印加およびX線の照射を行ったときに、試料1の内部の部分放電から発せられる電磁波をアンテナ6a,6bにより検出する部分放電検出器9と、当該検出を行うときに試料1を収納するとともに、内側の壁面が電磁波を反射するX線遮蔽筐体7とを備え、部分放電から発せられる当該電磁波の検出の有無に基づいて、試料1の絶縁欠陥の有無を検出する。 (もっと読む)


【課題】耐電圧試験において、タイマに設定されている試験時間の途中で、外部から強制終了がかけられた場合でも、判定結果が出されるようにする。
【解決手段】被試験体に試験電圧を所定の試験時間印加して耐電圧試験を行うにあたって、基本的な動作モードとして、被試験体に流れる試験電流が所定の電流閾値よりも大きい場合には、その時点で不合格判定を行って試験を終了し、試験電流が電流閾値よりも小さい場合には、試験時間が経過するまで試験を継続し、試験時間の経過後に合格判定を行って、試験を終了する耐電圧試験装置において、特定制御モードとして、試験時間の経過前に外部指令手段から試験を終了させる強制終了信号を受けたときには、その時点で合否判定を行って試験時間の経過を待つことなく試験を終了する強制ストップモードを備える。 (もっと読む)


【課題】より信頼性が高い測定を行うことができる部分放電電圧計測システムを提供する。
【解決手段】絶縁物8について部分放電開始電圧を測定する場合、電圧制御プログラム9が、所定の時間間隔Δtupで電源装置2の出力電圧レベルを上昇させて、電圧上昇率が一定となるように制御する。また、部分放電判定プログラム19は、部分放電信号計測回路16が商用交流電源の6周期にわたり、部分放電検出ユニット3により出力される部分放電信号波形を計測し、その波形レベルが、開始判定しきい値Thiを超えた時点で部分放電が発生したと判定して、その時点の印加電圧を部分放電開始電圧とする。 (もっと読む)


【課題】絶縁性能を評価する課電試料による課電寿命試験での部分放電のデータ量が低減でき、部分放電のデータを記憶するための記憶容量が少なくて済む部分放電発生監視装置及び方法を提供する。
【解決手段】部分放電発生監視装置2は、課電試料3に交流試験電圧を印加して行う課電寿命試験で、課電試料3に発生する部分放電を部分放電検出装置6により検出、計測して監視するもので、部分放電検出装置6により検出された課電試料3からの部分放電の放電信号Sが入力する入力手段8と、分圧器5を介して入力された試験電圧の電圧波形の極性反転を検出する検出手段9と、入力した放電信号Sの信号レベルが所定の閾値Pを超えたものであるか否かの判定を試験電圧の半周期毎に行い、該半周期毎の放電の有無についての判定結果を1ビットで出力する判定・出力手段11を備えている。 (もっと読む)


【課題】高分子材料表面における電位分布の変化が起こる前の早期の段階で高分子材料の劣化を発見する。
【解決手段】高分子材料表面の物理化学的変化量を定量することにより前記高分子材料の劣化を診断する。前記物理化学的変化量の定量としては前記高分子材料表面上の親水性化学種の分光分析による定量がある。前記分光分析としては赤外線分光分析またはラマン分光分析が挙げられる。前記親水性化学種としてはヒドロキシル基、水素還元されたフェニル基、カルボキシル基、硫酸イオンが例示される。前記物理化学変化量の定量として高分子材料表面の単位面積当たりの平均表面電位分布の測定が挙げられる。前記平均表面電位分布の測定としては原子間力顕微鏡像による測定法が挙げられる。 (もっと読む)


本発明は、少なくとも90体積%の空気を含む内部雰囲気を画定する筐体(1)内に配置された少なくとも1つのローター(3)およびステーター(2)と、任意に前記雰囲気のための冷却システムとを含む回転機械中の絶縁体の劣化を探知する方法に関し、以下の工程:(a)前記回転機械の内部雰囲気を画定するガス中またはガスに接触して位置する1以上の任意の位置でCO(一酸化炭素)の濃度およびNO(二酸化窒素)および/またはO(オゾン)の濃度を測定する工程と、(b)前記測定(7、8、9)の結果を表示する、発信するおよび/または保存する工程とを有する。 (もっと読む)


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