【課題】反射膜の帯電を防止可能な波長可変干渉フィルター、光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器を提供する。
【解決手段】波長可変干渉フィルター５は、固定基板５１と、可動基板５２と、固定基板５１に設けられた固定反射膜５４と、可動基板５２に設けられ、固定反射膜５４と反射膜間ギャップＧ１を介して対向する可動反射膜５５と、反射膜間ギャップＧ１を変化させる静電アクチュエーター５６と、可動基板５２にに設けられ、接地された可動電極５６２と、を備え、可動電極５６２は、平面視において、光干渉領域Ａｒ１を覆って可動基板５２に設けられ、可動反射膜５５は、可動電極５６２を介して可動基板５２に設けられ、固定反射膜５４は、可動電極５６２に電気的に接続された。 （もっと読む）

【課題】高速で予め定められた間隔の波長分解能で分光可能な顕微鏡用分光分析装置を提供する。
【解決手段】顕微鏡用分光分析装置において、試料から発する蛍光やラマン散乱光その他の光を平行光束にする第１の光学手段と、予め定められた透過波長帯域の光を透過する第１及び第２の可変バンドパスフィルタ手段と、光透過の光学板からなり、前記第１及び第２の可変バンドパスフィルタ手段によって生じる、蛍光やラマン散乱光その他の光の光軸における２次元平面の位置ずれ光軸調整手段と、透過波長帯域の試料から発する蛍光やラマン散乱光その他の光を撮像する２次元アレイ光検出手段と、前記２次元アレイ光検出手段の撮像のタイミングを制御し、第１及び第２の可変バンドパスフィルタ手段の透過波長帯域を変更するように第１及び第２の可変バンドパスフィルタ手段とを制御するとともに、前記光軸調整手段を制御する制御手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】波長分解能と回折効率をともに向上し、しかも反射損失を低減できる透過型回折格子を用いた分光装置、検出装置及び分光装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】入射光を透過する透過型回折格子を含む分光装置であって、透過型回折格子は、基材１００より第１方向Ｘに沿って周期的に突出する複数の突起１１０を有し、複数の突起が傾斜面１４０を有し、傾斜面は、基材に垂直な基準線に対して傾斜し、透過型回折格子への入射光の入射角度を基準線に対して角度αとし、回折光の回折角度を基準線に対して角度βとする場合に、入射角度αは、傾斜面に対するブラッグ角度θよりも小さい角度であり、回折角度βは、ブラッグ角度θよりも大きい角度であり、複数の突起の各々は、傾斜面からの第１方向での距離が異なるに従い、複数の突起の各々と空気との界面に至る基材からの突出高さが異なる第１反射防止構造１５０（１６０）を有する。 （もっと読む）

【課題】応答性の向上した波長可変干渉フィルターを提供する。
【解決手段】固定基板５１と、固定基板５１に対向する可動基板５２と、固定基板５１の可動基板５２と対向する面に形成された第１反射膜５４と、可動基板５２に設けられ、第１反射膜５４とギャップを有して対向する第２反射膜５５と、固定基板５１の可動基板５２に対向する面に設けられた第１電極５６１と、可動基板５２に設けられ、第１電極５６１と対向する第２電極５６２と、固定基板５１および可動基板５２の互いに対向する面に設けられ、固定基板５１と可動基板５２とを接合する接合部５３と、固定基板５１および可動基板５２の互いに対向する面のうち、少なくとも一方の面に設けられた溝部５８と、を備え、第１反射膜５４と第２反射膜５５との間のギャップを形成する空間と外部とが溝部５８を介して連通している。 （もっと読む）

【課題】 入射光の偏光方位に偏りがなく、かつ、回折層の偏光依存性が高くても、高い回折効率が得られる透過型回折格子及びそれを用いた検出装置を提供すること。
【解決手段】 透過型回折格子１０は、偏光変換層２０と、偏光変換層の一面側に配置される第１回折層３０と、偏光変換層の他面側に配置される第２回折層４０と、を有する。第１回折層３０及び第２回折層４０は共に、第１方向Ａに沿って周期Ｐで配列される屈折率変調構造３２，４２を有し、かつ、ＴＥ偏光成分に対する回折効率がＴＭ偏光成分に対する回折効率よりも高い。 （もっと読む）

【課題】所望の波長の光を精度よく取り出せる波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び電子機器を提供する。
【解決手段】波長可変干渉フィルター５は、固定基板５１と、可動基板５２と、固定基板５１の可動基板５２に対向する面に設けられた固定反射膜５４と、可動基板５２の固定基板５１に対向する面に設けられ、反射膜間ギャップＧ１を介して固定反射膜５４と対向する可動反射膜５５と、固定基板５１の可動基板５２に対向する面に設けられた固定電極５６１と、を備え、固定基板５１は、固定反射膜５４が設けられる反射膜固定面５１２Ａと、固定電極５６１が設けられ、可動基板５２からの距離が反射膜固定面５１２Ａとは異なる固定電極面５１１Ａと、を有し、反射膜固定面５１２Ａよりも可動基板５２からの距離が大きい固定電極面５１１Ａに、固定反射膜５４及び固定電極５６１が積層された積層部５７が設けられた。 （もっと読む）

【課題】簡素な構成で電極間の導通を可能にする波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置を提供すること。
【解決手段】エタロン５は、固定基板５１と、固定基板５１に対向する可動基板５２とを備える。固定基板５１は、接合膜５３１，５３２を介して可動基板５２に接合される第１接合面５１５と、第１電極５６１の一部が形成される第１電極面５１６とを備える。可動基板５２は、接合膜５３１，５３２を介して第１接合面５１５に接合される第２接合面５２４と、第２電極５６２の一部が形成される第２電極面５２５とを備える。固定基板５１及び可動基板５２が接合膜５３１，５３２により接合された状態において、第１電極面５１６に形成された第１電極５６１と、第２電極面５２５に形成された第２電極５６２とが接触する （もっと読む）

【課題】電極間の絶縁を維持しつつ、低コストで、構造を簡素化できる波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置を提供すること。
【解決手段】第１基板５１に設けられた固定ミラー５４と、第２基板５２に設けられ、固定ミラー５４と所定のギャップＧを介して対向する可動ミラー５５と、第１基板５１に設けられた第１電極５６１と、第２基板５２に設けられ、第１電極５６１に対向する第２電極５６２と、を備える。第１基板５１は、第２基板５２に接合される第１接合面５１３を有し、第２基板５２は、第１接合面５１３に接合される第２接合面５２４を有する。第１基板５１には、第１接合面５１３、及び第１電極５６１の第２電極５６２に対向する面に絶縁性を有する第１接合膜５３１が形成され、第１接合面５１３及び第２接合面５２４は、第１接合膜５３１により接合された。 （もっと読む）

【課題】比較的簡単な構成で、中心波長を連続的に変えることができる分光装置を提供すること。
【解決手段】少なくとも２個の可変バンドパスフィルタで構成された第１および第２のフィルタ群からなり、
これらフィルタ群は、光軸に対して互いに異なる方向に所望の回転角度で交わるように回転可能に取り付けられていることを特徴とする分光装置である。 （もっと読む）

【課題】比較的少ない部品点数で、高速に２次元（ＸＹ）平面を高い波長分解能で分光できる小型で安価な分光装置とそれを用いた顕微鏡を提供すること。
【解決手段】試料を照射する光源と、前記試料の反射光から所望の波長領域を選択する可変バンドパスフィルタと、この可変バンドパスフィルタの透過光が入射される２次元アレイ検出器と、前記可変バンドパスフィルタの波長領域をシフトさせてシフト前後における前記２次元アレイ検出器の各素子の検出出力の差分を算出して分光出力とする制御装置とそれを用いた顕微鏡である。 （もっと読む）

【課題】精度の高い測定を簡便に行うことができる分光測定装置、及び分光測定方法を提供すること。
【解決手段】
本発明の一態様にかかる分光測定装置は、レーザ光源１０１と、レーザ光源１０１からの光ビームを参照用サンプル１２０に集光するレンズ１０４と、第１レンズ１０４を通過した光ビームを測定用サンプル１２１に集光する対物レンズ１０６と、光ビームの照射によって、測定用サンプル１２１、及び参照用サンプル１２０で発生した光ビームと異なる波長の光を分光する分光器１０９と、分光器１０９で分光された光を検出する検出器１１０と、参照用サンプル１２０及び測定用サンプル１２１から分光器１０９に向かう光の光路を、レーザ光源か１０１から測定用サンプル１２１に向かう光ビームの光路から分岐するビームスプリッタ１０３と、を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】波長分解能と回折効率をともに向上できる分光装置、検出装置及び分光装置の製造方法等を提供すること。
【解決手段】分光装置は、入射光を透過する透過型回折格子を含む。透過型回折格子は、第１の誘電体により形成される傾斜面１４０（または傾斜面１５０）を有する。傾斜面１４０は、基準線１３０に対して傾斜して配列される。透過型回折格子への入射光の入射角度を基準線１３０に対して角度αとし、回折光の回折角度を基準線１３０に対して角度βとする。この場合、入射角度αは、傾斜面１４０対するブラッグ角度θよりも小さい角度であり、回折角度βは、ブラッグ角度θよりも大きい角度である。 （もっと読む）

【課題】高速で予め定められた間隔の波長分解能で分光可能な顕微鏡用分光分析装置を実現すること。
【解決手段】 光源から試料に励起光が照射されると、顕微鏡に入射される前記試料が発する広い波長範囲に亘る多数の散乱光を分析する顕微鏡用分光分析装置において、前記散乱光を平行光束にする第１の光学手段と、入射した光を透過させる透過波長帯域が可変であって、入射した平行光束の前記散乱光のうち予め定められた前記透過波長帯域の光を透過する第１の可変バンドパスフィルタ手段と、前記透過波長帯域の前記散乱光を撮像する２次元アレイ光検出手段と、前記２次元アレイ光検出手段の撮像のタイミングを制御し、このタイミングに合わせて前記第１の可変バンドパスフィルタ手段の前記透過波長帯域を変更する制御手段を、備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】スペクトルを変えるか、又は調整できることができる放射発生装置、スペクトル分析装置提供する。
【解決手段】調整可能な分光組成を有する電磁放射を発生させるための放射発生装置において、駆動時に放射素子固有電磁放射４ａ〜４ｎをそれぞれ発生させるように構成された多数の放射素子１，１ａ〜１ｎであって、そのうちの第１の放射素子を第２の放射素子とは独立に駆動させることができる多数の放射素子１，１ａ〜１ｎと、分光素子２と、光開口３とを備え、分光素子２が放射素子固有電磁放射４ａ〜４ｎをその波長とそれぞれの放射素子固有電磁放射を発生させる放射素子の位置とに応じて偏向させるように構成され、それにより各放射素子固有電磁放射の特定のスペクトル範囲が光開口３から出ることができ、その結果、多数の放射素子１ａ〜１ｎを選択的に駆動させることにより、光開口３を通して出る生成電磁放射２２０の分光組成を調整できる。 （もっと読む）

入射ビームが集束レンズを通して送られると、これから入射スポットを生成することを特徴とする、実質的にコリメートされた入射ビームを受光して圧縮するイメージコンプレッサーと、
圧縮されたビームを受光し、これをスライスされた複数個の部分へとリフォーマットして互いに実質的に平行になるよう垂直に積み重ねるイメージリフォーマッターと、
リフォーマットされたビームが集束レンズを通して送られると、これを入射スポットと比較して第１の方向に拡大し、第２の方向に圧縮された出力スポットを生成することを特徴とする、リフォーマットされたビームを拡大してコリメートされた出力ビームを生成するイメージエキスパンダーと
を含む、出力スポットを生成するための光学スライサー。
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【課題】増倍型アレイ検出器内の光電陰極の量子効率を増大させるシステムおよび方法を提供すること。
【解決手段】装置であって、アレイ検出器と、該アレイ検出器が使用される場合に、該アレイ検出器上に入射する光線の経路内にあるように配置される量子効率（ＱＥ）向上デバイスとを備えている、装置。量子効率向上デバイスは、ＩＣＣＤの前に配置され、光電陰極上に入射する入射光線の入射角の増大を可能にするかまたは容易にするように構成されている。ＩＣＣＤ自体は、増大された入射角を達成するために傾けられ得、そのような傾きは好ましくは、ＩＣＣＤのピクセルの列が延びる方向だけにあり、それによって、ＩＣＣＤへの入射光の入射面が波長分散の方向と直角をなす。量子効率向上デバイスは、再結像光学素子と、光学傾き補償器と、光カプラとを含み得る。 （もっと読む）

【課題】検出対象となる光の検出量の低下を抑制し、且つ、特定波長の光を十分に排除する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】入射光２０ａを波長分散素子２１により波長毎に分散させる。そして、波長分散素子２２と光検出器２６の間であって、特定波長の成分光２０ｄを含む、分散光２０ｂの一部が入射する領域に、波長に依存する光学特性を有する波長制限素子２５を配置する。これにより、特定波長の成分光２０ｄの光検出器２６へ入射が制限される。 （もっと読む）

【課題】ラマン分光分析法における検体分注を簡易に行うことが可能な反応容器及びこの容器を用いた自動分析装置を提供すること。
【解決手段】ラマン分光分析に使用する反応容器及びこの容器を用いた自動分析装置。反応容器１０は、少なくとも容器壁の一部に容器内の反応液が散乱する光の波長とは異なる波長の光を散乱するラマン活性を有した内部標準物質Ｓを含み、自動分析装置は、内部標準物質を少なくとも容器壁の一部に含む反応容器１０を使用し、光学測定部は、ラマン散乱光を分光して測定する分光測定部を有し、光学測定部が測定した容器ラマン散乱光の測定値と反応液ラマン散乱光の測定値とをもとに検体の分析値を演算する分析部を備える。 （もっと読む）

【課題】演算負荷が小さく簡易な設定で精度が高いベースライン設定を行う。
【解決手段】Ｘ軸上に存在する半円、半楕円、又は二次曲線の図形をＸ軸方向に走査させ、前記図形を任意の位置を基準点として固定し、ピークがＹ軸正方向に出る場合は、Ｘ軸上に図形が存在する範囲においてスペクトルと図形の高さの差の最小値を求め、該最小値と前記基準点における図形の高さの和を求め、基準点を含む範囲において図形をずらしていき、それぞれの図形の位置において、同様にスペクトルと図形の高さの差の最小値と前記基準点における図形の高さの和を計算し、それらの計算された値のうち最大値Ｌ_（ｘｉ）を求め、該最大値Ｌ_（ｘｉ）を基準点のＸ座標におけるベースライン値として取得する。 （もっと読む）

携帯して使用可能な小型分光計が知られており、かかる小型分光計は、入射放射線によって物体中に誘導された出射放射線のスペクトルを分析するために用いられる。この装置は、ピンホールアパーチュアを備えた光源、照明ビーム経路、検出ビーム経路及びマイクロスペクトロメータから成る。好ましくは、ダイオードレーザが本発明の小型分光計用のエッジエミッタ（ピンホールアパーチュアなし）として用いられる。エッジエミッタの窓は、好ましくはピンホールアパーチュアなしの状態で照明ビーム経路（光ファイバなし）の入力部で収束レンズの焦点に配置される。エッジエミッタは、楕円形断面の発散ビームを生じさせる。楕円の主軸のアスペクト比は、２：１以上である。楕円の主長軸は、マイクロスペクトロメータの入射スリットの長手方向軸線に平行に延びる。小型分光計は、減少したサイズのものであると共に低強度の出射放射線に対して増大した感度のものである。励起放射線は、物体に応力をそれほど及ぼさない。応力を生じさせないでマイクロリットル又はミリリットル範囲の物体を分析することができる。
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