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Fターム[2G020CB21]の内容

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Fターム[2G020CB21]に分類される特許

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【課題】 外付け付属品や光路切換ミラーの状態を認識できるようにして、誤操作することなく外付け付属品による測定ができるようにした分光光度計を提供する。
【解決手段】 内蔵検出器24と、外付け検出器32とを備え、着脱可能な光路切換部23aを試料室23に装着したときには、内蔵検出器24からの検出信号に基づいた測定に代えて外付け検出器32からの検出信号に基づいた測定が行われるように切り換わる分光光度計10であって、内蔵検出器24または外付け検出器32からの測定データについての閾値Tを記憶する測定データ閾値記憶部51と、測定光を試料室23に導入した状態で、内蔵検出器24または外付け検出器32からの測定データと閾値Tとの比較結果に基づいて、いずれの検出器が測定光の受光が可能な状態かを認識する受光検出器認識部52とを備える。 (もっと読む)


【課題】可撓性チューブをしごくことで小流量の試料をフローセルに流すポンプ機能と、複数個の試料の測定が可能な機能を両立することができる小型の分光光度計を提供する。
【解決手段】試料を収納するセルに特定の波長の光を透過させ、該波長を一定または変化させながら試料で吸収あるいは透過した波長の光量を検知することで、試料の成分や、試料に含まれる成分量を測定する分光光度計であって、モータと、該モータの回転を制御するモータ制御部とを備え、モータの回転軸の端部に他の軸を脱着可能とする受け部を設け、セルを備えたユニットが受け部で脱着可能である構成を有する。そして、ユニットは、可撓性チューブをしごくことで小流量の試料をフローセルに流すポンプ機能を備えたユニットと、複数個の試料を回転するターレットに備えたユニットである。 (もっと読む)


【課題】複数の撮像画素中に複数の焦点検出画素が散在する撮像素子において、撮像画素の出力信号の飽和に先立って焦点検出画素の出力信号が飽和することを低減することができる撮像素子を提供する。
【解決手段】分光測定装置は、光源からの光束を波長に応じた回折角で分光する回折素子と、回折素子によって分光された所定波長の光束を検出する検出器と、分光された所定波長の光束の進行光路中に配置され、所定波長を透過するが、所定波長の略半分の波長を減衰する波長透過特性を有するフィルターと、を備える。 (もっと読む)


【課題】波長領域毎に異なるスペクトル形状を示す測光値データにおいて、リアルタイムに波長領域毎のピーク検知パラメータの決定し、そのピークパラメータ値によるピーク検知処理の結果を提供する。
【解決手段】試料に対して測定光を照射する発光手段と、測定光を任意の波長に分光する分光手段と、分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段21と、測定を実行する測定手段23と、得られたデータを処理するデータ処理手段24と、を有する分光分析装置において、データ処理手段24は、測定手段23から得られた測定データと前記パラメータとからピークを検知し、該ピーク検知の際に波長領域毎の感度を決定する。 (もっと読む)


【課題】ステージの上下動に頼ることなく、1つの試料保持装置で大きさ形状の異なる複数の試料に対して、測定光が中心に位置する試料保持装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の試料保持装置は、回転しながら上下動する第2のベース12と、試料を両側から挟み持つ試料押え19とを有し、第2のベース12の上下動と連動して試料押え19がスライドして試料を保持する保持間隔が変化し、試料が小さいほど回転台が上方へ移動し、試料が小さいほど試料を保持する保持間隔が小さくなる。 (もっと読む)


【課題】 最適な加算数を短時間に求め、高精度の計測を短時間で行うことが可能な分光計測装置を提供する。
【解決手段】 光源12と、光源からの光を分光しサンプル14に照射する分光手段13と、複数個の受光画素からなり、サンプルを経た分光光を受光してその光強度に応じた信号を出力するCCDイメージセンサ21と、CCDイメージセンサから出力される連続するS個の受光画素に対応する各出力を加算して出力するフローティングディフュージョンアンプ34と、計測に用いる波長に係る計測用分光光のエネルギーE(x) ,受光画素の感度をA(x) ,分光手段による減衰率をm(x) ,及びサンプルによる減衰率は仮の値n(x) として、各パラメータE(x) ,A(x) ,m(x) ,n(x) 及びSの積がフローティングディフュージョンアンプの出力値に対して予め設定された値となるようにパラメータSを設定する制御回路22とを有して分光計測装置を構成する。 (もっと読む)


本発明の原理によれば、層状格子干渉計は、放射線をその波長成分に細分する。格子の2組の歯は、互いに対して動かされる。干渉計のスペクトル出力は、諸検出器の配列上に集束され、格子歯の多数の位置に対してデータが記憶される。次いで、収集されたデータはフーリエ変換されて、放射線のスペクトルを回復する。
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【課題】多数のフィルターを装着し、且つ短時間でフィルター切換えが可能な、フィルター式モノクロメータの提供
【解決手段】光学干渉フィルター1が多重の同心円にそって設けた複数の貫通孔にそれぞれ着脱自在に配設された円盤状のターレット10と、ターレット10を周方向に回転させるための第1のモータ30と、ターレットを水平方向に移動させる並行する2本のガイドシャフト40と、シャフト軸方向移動自在の水平移動部材42と、を具備し、光源ランプユニットから集光レンズを介して照射する光路の位置を固定して、その光路の位置を基準にして、前記第1及び第2のモータ30,70を駆動して前記ターレット10を周方向に移動させ、所望の光学干渉フィルター1に逐次切換えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 蛍光基準試料やこの煩雑な校正作業なしに蛍光の影響を除去した全分光放射輝度率を精度よく求める。
【解決手段】 試料に近似の二分光蛍光放射輝度率F(μ,λ)と分光分布が異なる照明光I1、I2の分光分布I1(λ)、I2(λ)と、I1、I2で個別に照明された試料の実測全分光放射輝度率Bx1(λ)、Bx2(λ)とから、蛍光の影響を除去した反射分光放射輝度率Rx(λ)を次の手順で求める。1:F(μ,λ)とI1(λ)、I2(λ)とから理論的な蛍光分光放射輝度率F1(λ)=∫F(μ,λ)・I1(μ)dμ/I1(λ)、F2(λ)=∫F(μ,λ)・I2(μ)dμ/I2(λ)を算出。2:Bx1(λ)及びBx2(λ)をRx(λ)とF1(λ)・K(λ)及びF2(λ)・K(λ)との和とする次の連立方程式からRx(λ)を算出。Bx1(λ)=Rx(λ)+F1(λ)・K(λ)、Bx2(λ)=Rx(λ)+F2(λ)・K(λ) (もっと読む)


【課題】 薄膜の面内モード吸収スペクトルと面外モード吸収スペクトルを、偏光していない通常の電磁波を用いて、一つの同じ薄膜から同時に測定できる。
【解決手段】 透明基板1に対して、非偏光の通常の電磁波を複数の異なる入射角で照射させ、それぞれの入射角での透過シングルビームスペクトルSobsjを測定する。そして、それらの測定スペクトルSobsjから、演算により透明基板1の面内モードスペクトルSa IPと面外モードスペクトルSa OPを算出する。次に、透明基板1と薄膜10が合さったものに対して、同様に、透過シングルビームスペクトルSobsjを測定し、その面内モードスペクトルSb IPと面外モードスペクトルSb OPを算出する。そして、Sa IPとSb IPの比Sb IP/Sa IPを演算することにより、薄膜10の面内モード吸収スペクトルSIPを算出し、Sa OPとSb OPの比SbOP/Sa OPを演算することにより、薄膜10の面外モード吸収スペクトルSOPを算出する。 (もっと読む)


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