【課題】 光フィルターの特性設計を容易化すること。
【解決手段】 エタロンフィルター３００は、第１基板２０と、第１基板に対向する第２基板３０と、第１基板に設けられた第１光学膜４０と、第２基板に設けられ、第１光学膜と対向する第２光学膜５０と、を含み、第１光学膜４０の、反射帯域における各波長の光の反射率によって定まる反射特性Ｌ１と、第２光学膜５０の、反射帯域における各波長の光の反射率によって定まる反射特性Ｌ２とが異なる。第１光学膜４０は、第１波長λ１を中心波長とする反射特性を有し、第２光学膜５０は、第１波長とは異なる第２波長λ２を中心波長とする反射光特性を有することができる。エタロンフィルター３００の分光帯域での中心波長をλ３としたとき、λ１＜λ３＜λ２となるように、各光学膜４０，５０を設計する。 （もっと読む）

【課題】 例えば、高価な光バンドパスフィルターを使用せずに、分光測定装置の測定精度を向上させること。
【解決手段】 分光測定装置は、分光帯域として、所定波長幅の第１波長域〜第ｎ波長域（ｎは２以上の整数）を有する光バンドパスフィルター部３００と、光バンドパスフィルター部からの光を受光する受光部４００と、受光部の出力信号に基づいて得られる受光信号を補正する補正演算を実行する補正演算部５００と、補正演算部５００によって補正された、補正後の受光信号に基づいて所定の信号処理を実行する信号処理部６００と、を含み、補正演算部５００は、受光信号の分光分布の変化に基づいて受光信号を補正する。 （もっと読む）

【課題】受光する光の強度にばらつきが生じたとしても、高精度に測定することができるイメージセンサ、分光装置、及びイメージセンサの作動方法を提供する。
【解決手段】イメージセンサ１は、入力用スイッチ２２を介して受光素子２１の接続された積分回路２３、その出力電圧値が検出閾値を越えたときに検出信号Ｓを出力する電圧検出回路２４、及び出力用スイッチ２５を有する複数の光電変換部１０と、ＡＤＣ１１と、入力用スイッチ２２を閉状態に制御して検出信号Ｓが出力されたときにその入力用スイッチ２２を開状態に制御し、入力用スイッチ２２を閉状態に維持させた時間を電荷蓄積時間として測定すると共に、出力用スイッチ２５を制御して光電変換部１０ごとの出力電圧値を測定電圧値としてＡＤＣ１１から読み込み、各光電変換部１０への入射光の強度を、電荷蓄積時間及び測定電圧値に基づいて演算する制御部１２とを備えている。 （もっと読む）

【課題】本発明は、測定精度を向上する。
【解決手段】本発明は、光源２から照射されて照射面ＩＦで反射した光を２次元配列された複数のレンズ６Ａで集光し、該レンズ６Ａを透過した光をそれぞれプリズム１０Ａで分光して所定帯域ごとにイメージャ１１で受光するようにしたことにより、複数の領域で反射した光を分光して受光するので、複数の領域における測定対象の成分量を測定することができ、かくして測定精度を向上することができる。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成でありながら、より高い波長分解能を有する光スペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】被測定光Ｐ１を放出する光源１と、非線形光学結晶２と、波長選択フィルタ３と、分光器４と、制御部５とを順に備える。非線形光学結晶２は、光源１から入射する被測定光Ｐ１に対して自発的パラメトリック下方変換を生じさせ、変換光Ｐ２を射出する。変換光Ｐ２においては、被測定光Ｐ１におけるわずかな波長の変化が大きく拡大されて表れる。そのため、分析器４によって、比較的高精度な変換光Ｐ２のスペクトルが得られる。被測定光Ｐ１の波長と、変換光Ｐ２の波長との関係を調べることにより、制御部５における換算によって、変換光Ｐ２のスペクトルから被測定光Ｐ１のスペクトルが求められる。このようにして得た被測定光Ｐ１のスペクトルは、分光器４によって直接測定したものよりも高精度なものである。 （もっと読む）

【課題】検定の内容に精通しているいないを問わず、測定者が容易に溶液入りのセルや減光板（フィルタ）の配置を行うことができる分光光度計１を提供する。
【解決手段】複数の試料用セルＳＢ等を配置できる試料用枠７１〜７４を備え、試料用枠７１〜７４を移動させて試料光路４上に配置する試料用セルＳＢ等を入れ替える試料用セルポジショナ７と、複数の対照用セルＲＢ、ＲＡを配置できる対照用枠８１、８２と、を備え、対照用枠８１、８２を移動させて対照光路５上に配置する対照用セルＲＢ、ＲＡを入れ替える対照用セルポジショナ８とを有し、制御部ＣＯＮＴは、検定に必要な試料用セルＳＢ等と対照用セルＲＢ、ＲＡを試料用枠７１〜７４と対照用枠８１、８２のそれぞれに配置させることにより、試料用セルＳＢ等の前記入れ替えと対照用セルＲＢ、ＲＡの入れ替えの制御を行っては、透過率の算出をすることで、検定を実施する。 （もっと読む）

【課題】光学系を正確に調整できる分光測定装置および分光測定装置の調整方法を提供すること。
【解決手段】分光測定に用いる測定用光源と放射光スペクトル上に複数の輝線を有する調整用光源とを交換して取り付けることができる光源部と、光源部が放射した光を分光する分光手段と、前記分光手段が分光した光を受光するようにアレイ状に配列された受光素子群を有し、前記受光素子群は所定の位置に配置された複数の調整用受光素子を含む受光デバイスと、前記調整用受光素子が前記分光した光のうち前記輝線に対応する波長の光を受光するように前記受光デバイスの位置を調整する位置調整機構と、を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】波長分解能とともに空間分解能の高い分光器を提供すること。
【解決手段】入射スリット１１２と、入射スリット１１２を通った光を平行光とするコリメータ鏡１１４と、コリメータ鏡１１４からの平行光を受けて、波長に応じて異なる角度へ光を出力する回折格子１１８と、回折格子１１８からの出力光を平行光とする第一凹面鏡１２０と、第一凹面鏡１２０からの平行光を集光する第二凹面鏡１２２と、第二凹面鏡１２２で集光された光が結像される受光面１２４ａを有する受光手段１２４とを備え、受光手段１２４の受光面１２４ａ上に入射スリット１１２の分散光像を結像させることでスペクトル測定を行うことを特徴とする分光器１１０。 （もっと読む）

【課題】高速、高解像度、かつ高精度で測色を行う。
【解決手段】照射装置１４からの光が素材要素１２に照射され、反射光が光集束装置１６を介し、スペクトル測光センサアセンブリ１８に供給される。スペクトル測光センサアセンブリ１８が素材要素１２からの反射光を分光分析する。また、この分光分析は、波長が可変になっている。 （もっと読む）

本発明は、色収差無発生型且つ吸収低減型の光収集システム、特に光学的分光分析に適合させた同システムに関する。このシステムは、少なくとも１つの光源（５２）によって放射される光を収集し、この収集された光を少なくとも１つの光検出装置（５４）上に集束する。このシステムは、望ましくは、光源によって放射される光を収集し、この収集された光を第２のミラー（６０）上に集束する第１のミラー（５８）を備える。次いでこの第２のミラーは、この集束された光を光検出装置上に集束する。このシステムは、全ての光、特に紫外線放射光に対して透明なチャンバを備え、このチャンバ内に光源、光検出装置とミラー、並びにこのチャンバ内に真空を生成するか、又はこのチャンバ内に紫外線放射光に対して透明であるガスを充填する手段（１１８）が設置される。
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