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Fターム[2G020CB45]の内容

各種分光測定と色の測定 (14,545) | 分光装置 (1,460) | 光源部 (1,057) | 波長 (489) | X線 (5)

Fターム[2G020CB45]に分類される特許

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【課題】本発明はX線分光装置に関し、広い波長範囲でX線の分光を再現性よく得ることができるX線分光装置を提供することを目的としている。
【解決手段】 試料11から発生した特性X線13を受ける互いにほぼ90°の角度で配置された2つの分光素子1,2と、該2つの分光素子からの分散光を同時に受けて電気信号に変換する位置敏感検出器15と、該位置敏感検出器の出力を記憶するメモリと、該メモリに記憶されたデータを読み出して所定の画像処理を行なう画像処理部と、該画像処理部の出力を受けて分光情報を表示する表示部と、を有して構成される。 (もっと読む)


【課題】 試料から軟X線分光装置に向う軟X線をできるだけ多く回折格子に入射させて、検出される軟X線の強度を高めた軟X線分光装置を提供する。
【解決手段】 入射する軟X線を回折する回折格子と、回折格子によって回折された軟X線を検出する検出器とを備える軟X線分光装置おいて、回折格子に入射する軟X線の中心光線を挟み、回折格子に垂直で中心光線を含む平面に平行かつ中心光線に垂直な方向の曲率が0の一対のミラーを備えて、回折格子の傍らに向って進む軟X線を、ミラーによって反射して回折格子に入射させる。 (もっと読む)


本発明は干渉情報を試料の化学的および/または物理学的特性に相関する別のストラテジーを提供する。このストラテジーは、干渉分光学に基づく技術水準を超える実質的な技術的および商業的利点を提供する方法およびシステムで実行することができる。方法は、a.試料の少なくとも一部分から放出された、それに伝達されたかまたはそれを通過して伝達された、またはそれと相互作用した電磁シグナルの変調に対応するインターフェログラムおよび/または少なくとも1のインターフェログラム要素を得、b.i.少なくとも1の関数を用いて該インターフェログラムおよび/またはインターフェログラム要素のインターフェログラムおよび/またはセグメントの少なくとも1の変換、ii.所望により、インターフェログラムおよび/またはインターフェログラム要素のもう1のセグメントについてi)を繰り返すことを行い、ここに、i)を一度だけ行う場合は、変換はフーリエ変換を含まず、c.該少なくとも1のスコアを少なくとも1の化学的または物理的特性に相関する工程を含む。
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【課題】光検出不能領域を有する光センサーの光強度の情報の低下を抑えること、又は、光センサーの光検出不能領域に照射される光を有効に活用すること。
【解決手段】複数個の光検出領域と、光検出領域に隣接した光検出不能領域を持つ光検出面を有する光センサーと、光検出面に光を照射する光照射部と、光の照射位置に対して光検出面を相対的に変位する変位作用部と、を備え、光の照射位置を光検出面に対して相対的に変位して、光検出不能領域に照射されている光を光検出領域に照射する、光検出装置、又は光検出方法。
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発光分光分析法を使用する、溶融材料、例えば鋳鉄あるいは鋼、あるいはスラグ、ガラスあるいは溶岩を分析するための方法及び装置が提供される。少なくとも一つの分光計と、被分析材料を励起させるための少なくとも一つの励起装置とを有する検出素子が使用される。被分析材料を励起させることにより被分析材料から放射物が部分的あるいは完全に発生され、発生した放射物が検出素子内の分光計により分析される。検出素子は溶融した被分析材料との接触状態に持ち来され、分光計によって供給される分析成分を含む情報を伝送する。本発明によれば浸漬センサも提供される。 (もっと読む)


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