【課題】測定の感度向上と確からしさの向上をもたらすＣＤ測定装置及び方法を提供すること。
【解決手段】円二色性測定装置は、直線偏光の互いに直交する２つの偏光成分間の位相差（δ）を変調して、長軸方向の一致する扁平率の大きい左右の楕円偏光を交互に形成する楕円偏光変調手段と、被測定試料を透過した前記左右の楕円偏光から短軸方向の偏光成分を取り出して、該偏光成分の強度変化を測定する偏光強度測定手段と、前記強度変化の直流成分（ＤＣ）、および、前記位相差の変調に同期する前記強度変化の交流成分（ＡＣ）をそれぞれ抽出して、該交流成分および該直流成分の比（ＡＣ／ＤＣ）に前記位相差の変調振幅（δ_０）を掛けた値を算出して、被測定試料の円二色性を取得する演算手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】広視野分光イメージングを行う場合であっても高精度に分光特性を測定することができる分光特性測定装置及びその校正方法を提供する。
【解決手段】測定モードでは被測定物の各輝点から発せられた光を分割光学系を通して第１及び第２反射部に入射させ、そこで反射された光を結像光学系によって干渉像を形成する。第１反射部を移動させることにより分割光学系から第１及び第２反射部を経て結像光学系に向かう第１及び第２反射光の間の相対的な光路長差を伸縮させ、そのときの干渉像の光強度変化に基づき被測定物の各輝点のインターフェログラムを求める。校正モードでは、輝点から出射される所定波長λの光を分割光学系に入射させることにより、該輝点に対応する複数の干渉像を形成させ、そのときの光強度変化に基づき該光強度変化の１周期に対応する第１反射部の移動量を求め、輝点の波長λ、第１反射部の移動量、前記干渉像の画角θから前記第１反射部の設置角を求める。 （もっと読む）

【課題】光路長を可変にするためのメカニズムとして、小型で簡単な装置構成の採用を可能とする光路長可変装置を提供する。
【解決手段】入射光学系２と固定平面鏡Ｍｆと可動平面鏡群Ｍｍを備え、入射光学系２より第１光軸に沿って入射された第１光線Ｌ１が可動平面鏡群で複数回反射されて第２光線Ｌ２となり、第２光線が固定平面鏡で反射されて第３光線Ｌ３となり、第３光線が再度可動平面鏡群で反射されて第４光線Ｌ４となって第１光線とは逆の向きに進んで射出し、可動平面鏡群が固定平面鏡および第１光軸に対して相対運動することにより、入射から射出までの光路長が可変となる光路長可変装置であって、第２光線が固定平面鏡に垂直入射するように第１光軸、可動平面鏡群、固定平面鏡の各々が配置されている。 （もっと読む）

【課題】可動ミラーと固定ミラーが接触するスナップダウン現象を防止し、且つ、低消費電力も実現できる波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置を提供すること。
【解決手段】固定ミラー５６と可動ミラー５７は所定のギャップＧをもって対向配置されており、固定ミラー５６と可動ミラー５７の外側には、ギャップＧよりも大きな電極間距離Ｇ１が設定され、Ｇ１が設定された部位から更に外側には、ギャップＧよりも小さな電極間距離Ｇ２が設定される。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成でありながら、より高い波長分解能を有する光スペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】被測定光Ｐ１を放出する光源１と、非線形光学結晶２と、波長選択フィルタ３と、分光器４と、制御部５とを順に備える。非線形光学結晶２は、光源１から入射する被測定光Ｐ１に対して自発的パラメトリック下方変換を生じさせ、変換光Ｐ２を射出する。変換光Ｐ２においては、被測定光Ｐ１におけるわずかな波長の変化が大きく拡大されて表れる。そのため、分析器４によって、比較的高精度な変換光Ｐ２のスペクトルが得られる。被測定光Ｐ１の波長と、変換光Ｐ２の波長との関係を調べることにより、制御部５における換算によって、変換光Ｐ２のスペクトルから被測定光Ｐ１のスペクトルが求められる。このようにして得た被測定光Ｐ１のスペクトルは、分光器４によって直接測定したものよりも高精度なものである。 （もっと読む）

第１の態様によれば、本発明は、不規則なサンプリングを生成する機器によって取得された狭帯域信号の復元プロセスであって、２つのサンプル列が同じサンプリング周期で取得され、該２つの列は、サンプリング誤差が双方の列にわたって同一又は準同一であるように互いに対してオフセットされる、プロセスに関する。第２の態様によれば、本発明は、本発明の第１の態様によるプロセスを実行するように構成される機器に関する。 （もっと読む）

【課題】微小キャビティを用いたリングダウン分光の測定精度の向上
【解決手段】多数回反射により光が１周するキャビティを用いたキャビティリングダウン分光方法において、全ての偶数回のみの反射経路が通過する位置である、入射点に対する対角位置において、光と結合し、光を吸収する吸収部材を設けた。これにより、キャビティの光の巡回モードを奇数回の反射回数に制限することができる。これにより、理想的な減衰特性を有するリングダウンパルスを得ることができる。 （もっと読む）

【課題】それぞれのＦＴＩＲにおいてゲイン値が最適になるように調整できるようにする。
【解決手段】干渉計制御ＣＰＵ１００は、移動鏡の現在位置と現在速度の測定値を用い、移動鏡のつりあい位置からの距離、移動鏡の現在速度、及び移動鏡の現在速度と目標速度との差のそれぞれにゲインをかけて得られる値に基づいて、移動鏡の移動速度が目標速度になるように移動鏡を駆動するために与える電流をフィードバック制御する。それらのゲインのうちの少なくとも一部のゲインが可変パラメータとして設定されており、パラメータ調整部１０６は調整時に移動鏡の移動速度が目標速度になるようにするために可変パラメータが最適値となるように調整する。 （もっと読む）

本発明は、第１の態様によれば、放射源、及び／又は該放射源と干渉計との間にあり、放射が通過する媒質の特徴変数を測定するための干渉逆変換法であって、干渉計は、放射源と該干渉計との間で同じ経路を進んできた２つの光線間に限られた数の光学的段差を作り出すことによって、該放射のインターフェログラムを生成することができ、該方法は、それによって逆変換の改善を特徴付ける量を決定するステップと、いかなるサンプリング規則性の制約も加えることなく、逆変換の改善を特徴付ける量の最適化に主に寄与する段差を選択するステップと、選択された段差のみを用いることによって、自由なインターフェログラムを生成するステップとを実施することを特徴とする、干渉逆変換法に関する。第２の態様によれば、本発明は、本発明の第１の態様による方法を実施するための干渉計を提供する。
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【課題】観察対象の標本を動かすことなく、ラマン散乱光検出およびＣＡＲＳ光観察を選択的に行うことができ、煩雑な作業を要することなく、ＣＡＲＳ光観察のための振動周波数を効率的に選択できるレーザ顕微鏡を提供する。
【解決手段】レーザ照射光学系（３，４，５，６）により、ＣＡＲＳ励起光とラマン散乱励起光とを同軸で標本に照射して、ＣＡＲＳ光をＣＡＲＳ光検出手段１２で検出し、ラマン散乱光をラマン散乱光検出手段１３で検出するようにする。 （もっと読む）

【課題】生体成分を無侵襲で精度良く計測することができる分光計測装置及びその方法を提供する
【解決手段】手のひらＳの内部の１輝点から多様な方向に向かって放射状に生じる散乱光や透過光は、対物レンズ１２に入射し、透過した後、位相シフター１４の固定ミラー部１５及び可動ミラー部１６に分離して到達する。そして、固定ミラー部１５及び可動ミラー部１６でそれぞれ反射された後、結像レンズ２２により検出部２４の結像面で干渉像を形成する。このような状態で、可動ミラー部１６を移動させると、検出部の結像面における干渉光の強度が徐々に変化し、インターフェログラムと呼ばれる結像強度変化（干渉光強度変化）の波形が得られる。このインターフェログラムをフーリエ変換することにより、散乱光及び透過光の波長毎の相対強度である分光特性を取得することができる。 （もっと読む）

【課題】大気の揺らぎの影響を考慮した大気成分の吸収の影響の除去補正を行うことで、試料の透過率、吸光度の算出精度の向上を図る。
【解決手段】試料測定時とバックグラウンド測定時とでの大気の揺らぎによる変動の影響を除去する係数Δを設定し、その係数Δを仮に決めた上で、試料スペクトル及びバックグラウンドスペクトルについて不要成分の影響を除去する除去補正を行う。その補正後の両スペクトルについて基準スペクトルに対する透過率誤差をそれぞれ求め、その二乗和が最小になるような値を見つけて係数Δとして決定する（Ｓ５）。そして、その係数Δを用いて、不要成分による透過率を表すピークパターンを修正し（Ｓ６）、修正後のピークパターンを用いて試料スペクトル及びバックグラウンドスペクトルに含まれる不要成分の影響の除去補正を行う（Ｓ７）。 （もっと読む）

【課題】半平面ビームスプリッタを使用して、マイクロ機械加工を施した干渉計が得られる。
【解決手段】ビームスプリッタは、入射ビームＩを受容するように光結合しており、入射ビームをそれぞれ異なる媒体内を伝播する２つの干渉ビームＬ１、Ｌ２に分岐するように動作する。こうした媒体の一方に埋め込まれた固定鏡Ｍ２は、一方の干渉ビームＬ２を反射し、この干渉ビームを、上記媒体を通って半平面ビームスプリッタへ戻す。その一方で、アクチュエータによって制御される可動鏡Ｍ１は、他方の干渉ビームＬ１を反射して、この干渉ビームを他方の媒体を通って上記半平面ビームスプリッタへ戻す。検出面Ｄ１またはＤ２は、反射された干渉ビームＬ３、Ｌ４間の干渉によって生成された干渉パターンを検出する。 （もっと読む）

【課題】掃引レーザ12からの光出力の波長を正確且つ迅速に校正する。
【解決手段】 掃引レーザ12からの光出力は、結合器14及び16を介して、光電気信号変換器17及びガス吸収セル28に供給される。光電気信号変換器17は、電気信号の各点に対応する波長が正確に既知になるように、所定光波長レンジにわたって掃引レーザの光波長と循環的である電気信号を発生する。ガス吸収セル28は、掃引光出力から既知のスペクトル吸収線を発生し、検出器30で検出する。このスペクトル吸収線を電気信号の校正基準とする。 （もっと読む）

【解決手段】分光器、好ましくは分光顕微鏡において、標本からの光は対物集光要素にて集光され、カメラ要素に届けられ、さらに光は光感知検出器に提供される。対物集光要素とカメラ要素との間には、焦点面が設けられ、焦点面には１又は複数の開口アレイが配置され、検出器における標本の視野を、開口内の領域に制限する。異なるサイズ及び形状の開口を備えた開口アレイを利用することで、分光器の光学系を変更する必要なしに、分光器の読取値の空間分解能を変化させることができる。その結果、光学系が口径食を最小化するように最適化されているならば、口径食を不利に増加させずに、空間分解能が変化する。 （もっと読む）

本発明は干渉情報を試料の化学的および／または物理学的特性に相関する別のストラテジーを提供する。このストラテジーは、干渉分光学に基づく技術水準を超える実質的な技術的および商業的利点を提供する方法およびシステムで実行することができる。方法は、ａ．試料の少なくとも一部分から放出された、それに伝達されたかまたはそれを通過して伝達された、またはそれと相互作用した電磁シグナルの変調に対応するインターフェログラムおよび／または少なくとも１のインターフェログラム要素を得、ｂ．ｉ．少なくとも１の関数を用いて該インターフェログラムおよび／またはインターフェログラム要素のインターフェログラムおよび／またはセグメントの少なくとも１の変換、ｉｉ．所望により、インターフェログラムおよび／またはインターフェログラム要素のもう１のセグメントについてｉ）を繰り返すことを行い、ここに、ｉ）を一度だけ行う場合は、変換はフーリエ変換を含まず、ｃ．該少なくとも１のスコアを少なくとも１の化学的または物理的特性に相関する工程を含む。
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改良されたアポダイゼーション関数を用いた信号分光測定のための方法及び装置が開示されている。この方法及び装置は、（ｉ）サンプル及び基準時間領域波形を取得するステップと、（ｉｉ）サンプル及び基準アポダイゼーション波形を、サンプル及び基準時間領域波形に適用し、実質的に同じウェイトがサンプル及び基準時間領域波形の実質的に同じ延長を有する範囲に適用されるようにするステップと、（ｉｉｉ）時間領域からのサンプル及び基準アポダイゼーションのなされた波形を周波数領域に変換するステップと、（ｉｖ）変換されたサンプル・スペクトルと基準周波数スペクトルとの比率から信号分析のための基準となるスペクトル分析波形を発生するステップと、を含んでおり、スペクトル分析波形は、アポダイゼーションのなされたサンプル及び基準時間領域波形の対応する実質的に同じ延長を有する範囲と関連する周波数を実質的に除外している。
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【課題】分光光度計を標準化する方法を提供する。
【解決手段】本発明は、分光光度計に当然生じる大気の成分のスペクトルパターンに基づいて赤外分光光度計を標準化するための方法を提供する。本発明はまた、その方法を適用している分光光度計を提供する。その方法は、記録スペクトル中のスペクトルパターンを選択し、パターンの中心などの特徴についての波長依存位置値を決定する。この値は、マスター機器によって記録されたスペクトルから得られうる基準値と比較され、標準化式を決定することができる。２３５０ｃｍ^−１のまわりのＣＯ_２（_ｇ）からの吸収ピークは選択パターンとして好適である。その方法は、不必要な基準サンプルの使用を与えて、関心のあるサンプルのスペクトルの記録と同時に標準化が行なわれることを可能にする。 （もっと読む）