【課題】空間光を簡易な構成で効率的に光ファイバに入力可能な空間光測定用光ファイバ変換器を提供する。
【解決手段】本発明の空間光測定用光ファイバ変換器は、集光鏡と、集光鏡の焦点にその先端が配置され集光鏡で反射された光が入射される光ファイバプローブと、を備える。集光鏡は、例えば放物面鏡や楕円面鏡である。楕円面鏡の場合、光ファイバプローブは、楕円面鏡の一方の焦点にその先端が配置され、楕円面鏡の他方の焦点に配置された点光源からの光が、楕円面鏡で反射されて前記光ファイバプローブに入射される。 （もっと読む）

【課題】本発明は、信頼性の高い分光モジュールを提供する。
【解決手段】 本発明に係る分光モジュール１では、分光部４に進行する光Ｌ１が光通過孔５０を通過するに際し、分光部４側に向かって先細りとなる光入射側部５１を抜け、光入射側部５１の底面５１ｂと対向するように形成された光出射側部５２に入射した光のみが光出射開口５２ａから出射される。このため、光入射側部５１の側面５１ｃや底面５１ｂに入射した迷光Ｍは、光出射側部５２と反対側に反射されるので、光出射側部５２に迷光が入射することを抑制することができる。従って、分光モジュール１の信頼性を向上させることが可能となる。 （もっと読む）

【課題】平行板ばねの一端側がより高い精度で平行な姿勢を維持しつつ振動可能な平行板ばねの固定構造を得る。
【解決手段】平行板ばねの固定構造は、平板６１，６２、移動部６３および基台部６４を含む平行板ばね６０と、位置Ｓ１，Ｓ２から基台部６４を挟持し、基台部６４に付与する所定の保持力によって平行板ばね６０の他端６０Ｂ側を固定する固定部５０，７０とを備え、平行板ばね６０の共振状態において、平行板ばね６０の他端側６０Ｂにおける一次の自由振動モードの節Ｎ１は基台部６４の内部に位置し、固定部５０，７０に固定された平行板ばね６０が共振することにより、基台部６４には回転モーメントＲＡ，ＲＢが発生し、固定部５０，７０は、回転モーメントＲＡ，ＲＢを含む仮想平面ＸＹ内において上記保持力が作用するように基台部６４に上記保持力を付与し、位置Ｓ１，Ｓ２は節Ｎ１を中心とする点対称の位置関係にある。 （もっと読む）

【課題】 少ないエネルギーで回転鏡を反復回動させて正確にセンターバースト位置に停止できる二光束干渉計の提供。
【解決手段】 光源Ａからの光を固定鏡２と一対の回転鏡３ａ、３ｂとに二分割し、これら固定鏡２並びに回転鏡３ａ、３ｂから戻った光を再び合成して干渉光を得る二光束干渉計であって、上下方向に沿って延設され、その上下に前記一対の回転鏡３ａ、３ｂを互いに平行な姿勢で保持する回転アーム４と、回転アーム４を回動可能に保持する支持軸５と、回転アーム４の下端部で支持軸５を支点として回転アーム４を反復揺動させる駆動源７と、回転鏡３ａ、３ｂからの光を反射して回転鏡３ａ、３ｂに戻す固定反射鏡９とからなり、回転アーム４の回動を停止して回転アーム４が自重により静止した位置で、二分割された固定鏡側の光と回転鏡側の光の光路差が０のセンターバースト位置となるように、上下の回転鏡３ａ、３ｂの位置が予め調整される構成とする。 （もっと読む）

【課題】高コスト化を招くことなく、活性層のＰＬピーク波長を精度良く取得することができるフォトルミネッセンス光のピーク波長取得方法を提供する。
【解決手段】 主制御装置は、複数の温度で、戻り光の光強度とＰＬ光の光強度を計測し、該戻り光の光強度に基づいて、試料に入射した励起光の光強度を算出し、計測されたＰＬ光の光強度を規格化する（Ｓ４１５〜Ｓ４２３）。そして、主制御装置は、規格化されたＰＬ光の光強度の温度依存性から、規格化されたＰＬ光の光強度が最大になる温度を求め、ＰＬピーク波長を算出する（Ｓ４４１〜Ｓ４４５）。 （もっと読む）

【課題】 小型化を図り、ウェハプロセスによって容易に大量生産することのできる分光モジュールの製造方法を提供する。
【解決手段】 表面２ａから入射した光を透過させる光透過部２，３と、光透過部２，３の凸曲面３ａ上に設けられ、光透過部２，３を透過した光を分光して表面２ａ側に反射する分光部と、表面２ａ側に設けられ、分光部によって分光されて反射された光を検出する光検出素子７と、を備える分光モジュール１の製造方法は、凸曲面３ａに、回折層４を形成するための材料を配置し、材料にモールドを当接させ、材料を硬化させることにより、凸曲面３ａに沿って回折層４を形成する工程と、回折層４の表面に反射層６を形成することにより、分光部を形成する工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】 光源の、紫外域を含む分光放射輝度を取得する。
【解決手段】 光源の可視域における分光放射輝度の測定値、および、蛍光物質を含む複数の試料の、光源の光に対する反射光の可視域における分光放射輝度の測定値を入力する。そして、光源の分光放射輝度の測定値、複数の試料の分光放射輝度の測定値、および、複数の試料の二分光放射輝度率から、光源の紫外域における分光放射輝度を算出する。 （もっと読む）

【課題】 小型化を図り、ウェハプロセスによって容易に大量生産することのできる分光モジュールを提供する。
【解決手段】 分光モジュール１は、本体部２が板状であるため、本体部２の薄型化により小型化を図ることができる。しかも、本体部２が板状であるため、例えば、ウェハプロセスを利用して分光モジュール１を製造することができる。つまり、多数の本体部２となるガラスウェハに対し、マトリックス状にレンズ部３、回折層４、反射層６及び光検出素子７を設け、当該ガラスウェハをダイシングすることで、分光モジュール１を多数製造することができる。このようにして、分光モジュール１を容易に大量生産することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 小型化を図り、ウェハプロセスによって容易に大量生産することのできる分光モジュールを提供する。
【解決手段】 分光モジュール１は、本体部２が板状であるため、本体部２の薄型化により小型化を図ることができる。しかも、本体部２が板状であるため、例えば、ウェハプロセスを利用して分光モジュール１を製造することができる。つまり、多数の本体部２となるガラスウェハに対し、マトリックス状にレンズ部３、回折層４、反射層６及び光検出素子７を設け、当該ガラスウェハをダイシングすることで、分光モジュール１を多数製造することができる。このようにして、分光モジュール１を容易に大量生産することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 波長可変フィルターの可動範囲を抑制すること。
【解決手段】 光フィルター３００は、第１波長可変バンドパスフィルター可変ＢＰＦ（１）と、第２波長可変バンドパスフィルター可変ＢＰＦ（２）と、駆動部３０１と、各バンドパスフィルターの分光帯域を可変に制御する制御部３０３と、を含み、第１波長可変バンドパスフィルターは、所望波長帯域における第１波長帯域（４００ｎｍ〜４６０ｎｍ）を分光可能とし、かつ、分光帯域として、前記第１波長帯域内の第１波長を中心波長とする第１分光帯域ｂ１と、第１波長帯域内の第２波長を中心波長とする第２分光帯域ｂ２と、を少なくとも有し、第２波長可変バンドパスフィルターは、所望波長帯域における、第１波長帯域に隣接する第２波長帯域（４８０ｎｍ〜５４０ｎｍ）を分光可能とし、かつ、分光帯域として、第２波長帯域内の第３波長を中心波長とする第３分光帯域ｂ５と、第２波長帯域内の第４波長を中心波長とする第４分光帯域ｂ６と、を少なくとも有する。 （もっと読む）

【課題】回転減速機構に波動歯車装置を用いた分光器において従来よりも高い波長精度による単色光の取り出しを可能にする。
【解決手段】モータ２３と、該モータ２３の回転を減速するための波動歯車装置による減速手段２２と、該減速手段２２で減速された回転によって駆動される波長分散素子２１と、前記モータ２３の動作を制御する制御手段６２とを備えた分光器において、前記制御手段６２が、分光器から取り出される光の波長変更を行う際に、前記波動歯車装置の入力軸を１８０°以上回転させた上で該入力軸を目標波長に対応する角度位置に合わせるように前記モータ２３の制御を行うものとする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、偏波多重信号光のＯＳＮＲ（インバンドＯＳＮＲ）を測定することのできるＯＳＮＲ評価装置及びＯＳＮＲ評価方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明のＯＳＮＲ評価装置は、偏波コントローラ１１と、波長可変バンドパスフィルタ１２と、ＰＢＳ１３と、ＰＤ１４−１と、ＰＤ１４−２と、ＯＳＮＲ演算部１５と、偏波コントローラ１１及び波長可変バンドパスフィルタ１２を制御する制御処理部１６と、を備え、２つの信号光が偏波多重された偏波多重信号光の２つの信号光の強度を測定し、信号光の波長近傍の第１波長及び第２波長でのＰＤ１４−１及びＰＤ１４−２の受光レベルを用いてＡＳＥノイズパワーを算出し、２つの信号光の強度及びデータグループのＡＳＥノイズパワーを用いて、２つの信号光のＯＳＮＲを算出する。 （もっと読む）

【課題】 正確で安定した分光特性を得ることができる分光測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】分光測定装置（１００）は、対象物体をヴィネッティング無しで且つテレセントリックに結像可能な対物光学系（１１）と、所定方向に沿って透過波長が異なるように形成された第１透過波長選択フィルタ（１２）と、第１透過波長選択フィルタを移動させる駆動部と、対象物体の像の共役像をヴィネッティングなしで投影する投影光学系（１５）と、対物光学系または投影光学系（１５）に設置されて、第１透過波長選択フィルタ上に物体像を結像し透過する光束のうち、撮像に使う成分をヴィネッティング無しで且つテレセントリックとする開口絞り（１５３）と、共役像を撮像する二次元撮像素子（１６）と、共役像を記憶する記憶部と、対象物体の分光特性を測定する測定部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】分光蛍光光度計において、効率良く三次元傾向スペクトルを取得することによる測定時間の短縮と、試料劣化の低減と、取得データサイズの低減を実現する。
【解決手段】成分分析対象の試料を収納する試料セル、試料セルへ予め定められた波長の励起光を照射させる励起光側分光器、試料セルからの蛍光を予め定められた範囲の波長を走査して分光する蛍光側分光器、蛍光側分光器からの蛍光を検知する蛍光検知器、励起光側分光器で試料セルへ照射する励起光の波長を変えながら、蛍光検知器で検知された蛍光の波長と強度に基づいて、試料の蛍光強度の三次元蛍光スペクトルを得るコンピュータを備え、該コンピュータは、励起光側分光器で分光される励起光の波長の範囲と、蛍光側分光器で分光される蛍光の波長の範囲との組合せを複数種類設定する。 （もっと読む）

【課題】バックラッシュに起因する波長設定誤差の影響を回避し、３次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化を図る。
【解決手段】コンピュータ１０は、励起側分光器２および蛍光側分光器７が輝線スペクトルを有する入射光を往方向および復方向にスペクトルスキャンしたとき、検知器８によって得られる蛍光スペクトルを取得し、その蛍光スペクトルを既知の輝線の波長と比較することによって、励起パルスモータ１２や蛍光パルスモータ１１で設定される往方向および復方向スキャン時の波長設定誤差を取得し、各方向スキャン時の波長校正値とする。従って、両方向スキャン時での蛍光スペクトルの波長校正が可能となる。従って、片方向スキャン時の蛍光スペクトルしか利用できない場合に比べ、３次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化が可能となる。 （もっと読む）

【課題】超高速時間ゲート又は参照光源を用いることなく、正確な光信号の時間波形を簡便に再構成できる波形再構成装置を提供することを目的とする。
【解決手段】波形再構成装置１４０は、光ファイバの自己位相変調に関するパラメータを用いて入力光信号の光ファイバ内の伝播をシミュレーションすることにより、複数の強度の入力光信号の位相スペクトルが所定の位相スペクトルを有すると仮定した場合の出力光信号のパワースペクトルを複数の強度の入力光信号ごとに計算し、計算したパワースペクトルと計測されたパワースペクトルとの差分値が所定閾値以下となる所定の位相スペクトルを入力光信号の位相スペクトルとして算出する位相スペクトル算出部１４３と、算出された位相スペクトルと入力光信号のパワースペクトルとを周波数／時間変換することにより、入力光信号の時間波形を再構成する波形再構成部１４４とを備える。 （もっと読む）

【課題】光源を点灯後速やかに安定で精密な蛍光測定を行うことができる分光蛍光光度計を提供する。
【解決手段】ランプスイッチ２５がＯＦＦの場合、負高圧・ＡＤ変換回路２２はモニター用光電子増倍管２０と蛍光用光電子増倍管２１に印加する負高圧を基準値例えば−５００Ｖに設定しウォーミングアップする。ウォーミングアップ完了後、操作者がランプスイッチ２５をＯＮにし、キセノンランプ１を点灯すると、負高圧・ＡＤ変換回路２２はダイノードフィードバック方式を作動させる。蛍光用光電子増倍管２１の出力値はキセノンランプ１の出力変動の影響が補正された値になり、該出力値はデジタルデータに変換されデータ処理・制御部２３を介して蛍光強度値として表示される。 （もっと読む）

【課題】信号光とその信号帯域内のノイズ光との比を高精度に測定する。
【解決手段】被測定光を光信号分波部２５で受け、被測定光に含まれる信号光成分を強度が異なる２つの信号光成分に分波し、被測定光に含まれるノイズ光成分を等しい強度のノイズ光成分に分波し、その一方の信号光成分とノイズ光成分とからなる第１の分波光Ｐ２を第１の光電変換部２７で光電変換して得られた信号Ｅ１から、一方の信号光成分の中心周波数における信号強度、一方の信号光成分の中心周波数から離間し且つノイズ光成分と信号光成分とが互いに無視できないレベルで含まれる所定ノイズ周波数における信号強度、さらに第１の分波光の全パワーを検出する。また、分波した他方の信号光成分とノイズ光成分とからなる第２の分波光Ｐ３を第２の光電変換部２８で光電変換して得られる信号Ｅ２に対しても同様の検出を行い、各検出値に基づいて被測定光のＳＮ比を算出する。 （もっと読む）

スペクトル分析に適合する配置Aは、光投射手段１０、２aと、測定セルとして使い光学測定距離Lを規定する空洞状の限定空間１１と、前記光投射手段１０から前記光学距離Lを通る電磁波４を検出する光検出手段１２と、少なくとも前記光検出手段１２に接続しスペクトル分析を行うユニット１３とを備える。光投射手段からの電磁波のビームは異なった入射角で光学帯域フィルタを通過するようにされる。フィルタは入射角に依存して波長を透過させるような構造にされる。第１の選択波長成分は第２の選択波長成分から分離され、それぞれは光電手段３ｂ、３b’で受光される。前記ユニットはこのような各波長成分の発生電磁波強度を検出し計算するように構成される。 （もっと読む）

【課題】光スペクトル測定を行うことなく、光増幅器で増幅された信号光の光信号対雑音比（光ＳＮＲ）測定を行う。
【解決手段】本発明の一実施形態によれば、光ＳＮＲを測定する装置が提供される。この装置は、光を電気信号に変換して光パワーを検出する光パワー検出手段と、光に含まれる信号光に対応する電気信号から信号光パワーを検出する信号光パワー検出手段と、光パワーから信号光パワーを減算して光に含まれる雑音光パワーを求める減算手段と、信号光パワーと雑音光パワーを除算する除算手段とを備える。除算手段の出力は、光ＳＮＲに対応しているので光ＳＮＲの測定が可能となる。 （もっと読む）