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【課題】反射膜の帯電を防止可能な波長可変干渉フィルター、光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器を提供する。
【解決手段】波長可変干渉フィルター5は、固定基板51と、可動基板52と、固定基板51に設けられた固定反射膜54と、可動基板52に設けられ、固定反射膜54と反射膜間ギャップG1を介して対向する可動反射膜55と、反射膜間ギャップG1を変化させる静電アクチュエーター56と、可動基板52にに設けられ、接地された可動電極562と、を備え、可動電極562は、平面視において、光干渉領域Ar1を覆って可動基板52に設けられ、可動反射膜55は、可動電極562を介して可動基板52に設けられ、固定反射膜54は、可動電極562に電気的に接続された。 (もっと読む)


【課題】本発明は、従来のリガンド固定化方法を、その少なくとも一方の表面がSiN,Ta25,Nb25,HfO2,ZrO2またはITOからなる基板に適用した場合であっても、リガンドが基板に高密度に結合した基板の製造方法,該製造方法によって得られるリガンド固定化基板,および,該基板を使用する分子間相互作用検出方法を提供することを課題とする。
【解決手段】SiN,Ta25,Nb25,HfO2,ZrO2およびITOからなる群から選択される少なくとも1種からなる基板の表面に、液相でリガンドを固定化させる工程を含むリガンド固定化基板の製造方法であって、該液相に含有される界面活性剤が、0質量%以上0.001質量%未満であることを特徴とする製造方法。 (もっと読む)


【課題】分光システムにおいて、反射しないで受信される信号と反射してから受信される信号を分離する。
【解決手段】各信号強度検出回路(狭帯域フィルタ118、検波器119、AD変換器120)は、受信用ミキサ115からの信号から予め定められた各周波数の成分を分離して抽出する。また、波長可変レーザ光源101からの光の波長が一定の期間において波長可変レーザ光源103からの光の波長を当該波長が複数の波長のそれぞれに等しくなる期間が離散的になるように変化させる。 (もっと読む)


【課題】試料における蛍光の分光放射輝度率を測定するには、特殊な構成からなる測色器を用いる必要があり、さらにかなりの工数がかかっていた。
【解決手段】蛍光物質を含む試料について、白色光源下で一般の測色器を用いて2種類の変角測定を行って分光反射率1402と1403を得る。そして該試料の蛍光波長域外の長波長域において、分光反射率1403に対する分光反射率1402の比率nを算出する。そして分光反射率1403に比率nを乗じた結果である分光反射率1401と分光反射率1402との差分1404を算出する。この差分1404を比率nから1を減じた値で除算することで、当該試料における蛍光の分光反射率すなわち分光放射輝度率が算出される。このように、試料における蛍光の分光放射輝度率を、2回の変角測定を行うのみで効率的に推定することができる。 (もっと読む)


【課題】光通信の変調周波数が高い場合でもOSNRを精度よく測定できる分光器を用いたWDMモニタや光スペクトラムアナライザなどの光測定装置を提供すること。
【解決手段】分光器を用いた光測定装置において、前記分光器の入射光を互いの偏波面が直交する2系統に分離する偏光分離素子と、この偏光分離素子で分離された直交偏波成分をそれぞれ個別に検出する受光素子を設け、変調周波数が高い場合でもOSNRを精度よく測定できるようにしたもの。 (もっと読む)


【課題】 分光測定装置においては、経時変化や温度変化などによって、波長とセンサ上での検出位置が変化する場合があり、予め特定されてある範囲内では検出位置と波長との対応関係を適切に取得することができない場合がある。その結果、正しく分光測定装置の校正を行うことができない。
【解決手段】 分光測定装置の校正装置であって、入射光に含まれる輝線の波長と、探索範囲とを対応付けて記憶し、輝線を含む入射光の探索範囲内における画素値に基づいて、第一の検出位置を取得し、探索範囲内における画素値が所定の条件を満たした場合、探索範囲を変更し、変更された探索範囲内における画素値に基づいて第二の検出位置を取得し、第一の検出位置又は第二の検出位置と、輝線の波長との対応関係に基づいて、前記分光測定装置の校正を行う。 (もっと読む)


【課題】演算負荷が小さく簡易な設定で精度が高いベースライン設定を行う。
【解決手段】X軸上に存在する半円、半楕円、又は二次曲線の図形をX軸方向に走査させ、前記図形を任意の位置を基準点として固定し、ピークがY軸正方向に出る場合は、X軸上に図形が存在する範囲においてスペクトルと図形の高さの差の最小値を求め、該最小値と前記基準点における図形の高さの和を求め、基準点を含む範囲において図形をずらしていき、それぞれの図形の位置において、同様にスペクトルと図形の高さの差の最小値と前記基準点における図形の高さの和を計算し、それらの計算された値のうち最大値L(xi)を求め、該最大値L(xi)を基準点のX座標におけるベースライン値として取得する。 (もっと読む)


【課題】染色標本の染色状態の個体差に起因する分光特性の推定誤差を軽減し、染色標本の分光特性の推定精度を向上させること。
【解決手段】画像処理装置1は、染色標本を撮像した染色標本画像を処理し、染色標本の分光特性を推定するものであり、染色標本画像の色情報を取得する色情報取得部152と、色情報取得部152によって取得された色情報をもとに対象標本の染色状態を評価する染色状態評価部153と、染色状態評価部153による評価結果に応じて染色標本の分光特性を推定する分光透過率推定部158とを備える。 (もっと読む)


【課題】 分光器内で発生する迷光の影響を低減することが可能な分光測定装置、測定方法、及び測定プログラムを提供する。
【解決手段】 試料Sが内部に配置される積分球20と、試料Sからの被測定光を分光して波長スペクトルを取得する分光分析装置30と、データ解析装置50とを備えて分光測定装置1Aを構成する。解析装置50は、波長スペクトルにおいて励起光に対応する第1対象領域、及び試料Sからの発光に対応する第2対象領域を設定する対象領域設定部と、試料Sの発光量子収率を求める試料情報解析部とを有し、リファレンス測定及びサンプル測定の結果から発光量子収率の測定値Φを求めるとともに、リファレンス測定での迷光に関する係数β、γを用い、Φ=βΦ+γによって迷光の影響を低減した発光量子収率の解析値Φを求める。 (もっと読む)


【課題】関数近似によるピーク波長算出に先だってピーク検出演算対象を適切に限定することにより高速かつ高精度にピークを検出する。
【解決手段】複数のFBG19の反射光のサンプリングデータ(23)からピーク波長λP を求めるデジタル演算部20が、外部制御装置8から設定しうる下限波長λL と上限波長λU と下側強度IL と上側強度IU とを含むパラメータ群を複数保持していて(24)、波長区間パラメータ値λL,λU に基づいて波長区間を選定し(S12)、下限波長λL 未満を除外し(S13)、最大値から上側強度IU 以内に絞り込み(S14,S15)、こうしてピーク検出演算対象を限定してから、関数近似にてピーク波長λP を算出する(S16)。 (もっと読む)


【課題】対象物の分光反射率を取得する。
【解決手段】直交関数群にバイアスを付加した分光透過率分布を持つ光学フィルタ群と、バイアスと同じ分光透過率分布を持つ光学フィルタを通して、順次光学フィルタを切り換えて、対象物と、分光反射率が既知の物体とを撮像したときの複数の画像データを取得し、複数の画像データに対して、バイアスと同じ分光透過率を持つ光学フィルタを通して撮像した画像データの画素値を差し引いて複数の差分画像を取得し、複数の差分画像の画素値と、直交関数の自乗の積分値との比を係数とし、直交関数の線形和を計算することで入射光の分光分布と撮像手段の分光感度の積の相対値を推定し、対象物の画像より得られる入射光の分光分布と撮像手段の分光感度の積の相対値から、分光反射率が既知の物体の画像より得られる入射光の分光分布と撮像手段の分光感度の積の相対値を除することで、対象物の分光反射率を取得する。 (もっと読む)


【課題】小型化の実現およびノイズの低減を図り、光学基板間の間隔寸法を精度よく検出して所望の分光特性を達成する。
【解決手段】間隔を空けて対向する第1および第2の光学基板4a,4bの互いに対向する対向面に設けられた光学コート層3と、第1および第2の光学基板4a,4bの間隔を変化させるアクチュエータ4cと、第1および第2の光学基板4a,4bの間隔を検出するためのものであって、第1の光学基板4aに設けられた第1のセンサ部6aと、第1および第2の光学基板4a,4bの間隔を検出するためのものであって、第2の光学基板4bに、第1のセンサ部6aに対向するように設けられた第2のセンサ部6bとを有し、第1および第2のセンサ電極6a,6bの個数が異なる可変分光素子1を提供する。 (もっと読む)


【課題】プラスチック成型品の回折格子やハウジングからなるポリクロメータの熱的、非熱的な変化に起因する分散幅変化及び一律な波長変化を共に補正する。
【解決手段】入射スリットからの入射光を回折格子により回折して入射スリットの分散像を作成しこの分散像の情報を出力する分光装置と、1つ又は複数の定電流により駆動されるLEDと、分光装置からの出力情報に基づき所定の演算を行うとともにLED駆動を制御する演算制御装置とを備え、演算制御装置により以下第1〜第3の演算を行い、該演算結果から分光装置の波長変化を補正する。第1の演算:1つ又は複数の順電圧値及び順電圧初期値を用いてLED単色光の波長変化量を算出。第2の演算:少なくとも2つの回折光出力値及び回折光出力初期値を用いて当該2つの回折光の波長変化量を算出。第3の演算:LED単色光の波長変化量及び上記2つの回折光の波長変化量を用いて分光装置の一律の波長変化量及び分散幅変化量を算出。 (もっと読む)


【課題】熱、ガス、圧力をパルス化し刺激として試料に与えることによって、これらの刺激に基づく反応中間体の時間分解分光解析を実現する。
【解決手段】時間分解分光解析装置は、測定のための試料(32)を保持する試料室(30)と、試料室(30)を加熱する高周波誘導加熱装置(34、36)と、試料室(30)を収容する冷媒タンク(38)と、試料に加熱によって形成された反応中間体検出のためのパルスレーザー光を照射する分析パルスレーザー装置(40)と、高周波誘導加熱装置における高周波周期と分析パルスレーザー装置におけるパルス発振周期とを時差を設けて同期させるための制御装置(44)と、分析パルスレーザー装置による試料からの放射光を受光し検出する検出器(42)と、を備え、検出器による検出は、分析パルスレーザー装置における複数のパルスの積算に基づいて行う。 (もっと読む)


【課題】それぞれ異なる波長にピークを有する複数のスペクトル要素を含む光の品位を評価する。
【解決手段】露光装置は、計測器6によって計測されたスペクトルに基づいて露光光の中心波長を導出する処理部21と、露光光の中心波長に基づいて露光光の品位を評価する主制御系(評価部)21とを備える。処理部21は、計測器6によって計測されたスペクトルに含まれる複数のスペクトル要素のそれぞれの中心波長に基づいて露光光の中心波長を導出する。 (もっと読む)


【課題】本解決法は、分光学的測定結果を高い精度で決定するための測定システムおよび方法に関する。
【解決手段】少なくとも1基の放射源、少なくとも1本の入射スリット、分散素子および線型または行列型の1枚または数枚の平面内に配置された検出器素子を有する検出器から成り、検出器は検出器素子上に、少なくとも2枚の異なる波長選択フィルタの規則的な分割を有し、かつフォトおよびビデオ適用による検出器が使用されるが、本発明の適用は可視スペクトル領域に制限されない。必要な場合カラーカメラ製作の最終ステップにおいて、カラーフィルタは画素上で一部なくすか、または変更することができる。しかし他のタイプの、波長選択フィルタおよび割り当てられた検出器が数枚の平面内で前後して配置されている検出器も使用可能であり、この場合それぞれ個別の画像ポイントに十分なカラー情報が使用に供される。 (もっと読む)


【課題】小型化を図ることができると共に、高感度な計測を実現する分光装置を提供する。
【解決手段】 分光装置1は、入力部13を通して入力される被測定光を分光素子9によって分光した後、分光された各波長の光を集光光学系7で集光して出力部15を通して光信号として出力する分光器3と、光信号の波長を走査する波長走査手段17と、光信号を検出して電気信号に変換して出力する光検出部19と、光検出部29から出力された電気信号から被測定光のスペクトルを算出する演算部21Bと、を備え、出力部15は、集光光学系7によって集光される各波長の光の集光位置を含む面に配置される基体15aに各波長の光を選択する複数の光成分選択部15b〜15eが設けられて構成されており、演算部は、出力部15が有する複数の光成分選択部の空間パターンと電気信号とを利用して被測定光のスペクトルを算出する。 (もっと読む)


【課題】 遠紫外域や真空紫外域のような短波長帯においても高次光や迷光等を抑制し、電気的なノイズに対しても大きなS/N比を得ることができる光チョッパ及びそれを備えた分光装置を提供する。
【解決手段】 光チョッパに、広波長帯域の光を高透過率で透過させる第1領域と、測定目的波長以外の光を低透過率で透過させる第2領域を設ける。検出器に入射する光束をそれらに交互に通過させることにより、振幅変調によって電気的ノイズの除去が、透過帯域特性により迷光の影響の除去を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】 生体組織が水分を多く含む物質に覆われている場合であっても、生体組織の所望の深度までの光断層画像を高精度に取得する。
【解決手段】 低コヒーレンス光Lを射出する光源2を用いて光トモグラフィー計測を行うときに、中心波長λcが0.90μm以上かつ1.15μm以下の範囲にある低コヒーレンス光Lを用いる。
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【課題】
試料セルを用いずに微量な試料の吸光度測定を行なうことのできる分光光度計を提供する。
【解決手段】
測定光を発生させる光源2と、試料4を試料を液滴状で保持する試料保持板6と、試料4からの透過光を検出する検出部8と、試料保持板6に保持されている試料4を撮像するための撮像部10と、撮像部10で得た試料画像から測定光の光路長を算出し、その光路長と検出部8で得た検出データに基づいて吸光度を算出する演算処理部12と、演算処理部12で得られた演算処理結果を表示するための表示部14とが設けられている。
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