【課題】迅速なスペクトル特性の測定が可能な分光測定装置を提供する。
【解決手段】分光測定装置１は、固定反射膜を備えた固定基板、可動反射膜を備えた可動基板、及び電圧印加により可動基板を撓ませて反射膜間ギャップのギャップ量を変化させる静電アクチュエーターを備えた波長可変干渉フィルター５と、光量を検出するディテクター１１と、測定対象光のスペクトル特性を測定する制御部２０と、を備え、制御部２０は、静電アクチュエーターに駆動電圧を印加して反射膜間ギャップを変化させるフィルター駆動部２１と、ディテクター１１により検出される光量を取得する検出光量取得部２３と、検出された光量の遷移状態及び可動基板が有する固有振動周期に基づいて、可動基板の振動中心に対応した光量を目的光量として取得する目的光量取得部２４と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】迅速な分光測定が可能な分光測定装置を提供する。
【解決手段】分光測定装置１は、固定反射膜を有する固定基板、可動反射膜を有する可動基板、固定反射膜及び可動反射膜の間の反射膜間ギャップのギャップ量を変更する静電アクチュエーターを備えた波長可変干渉フィルター５と、波長可変干渉フィルター５により取り出された光の光強度を検出する検出部１１と、静電アクチュエーターに対して連続的に変化するアナログ電圧を印加する電圧設定部２１及び電圧制御部１５と、静電アクチュエーターに印加された電圧を監視する電圧監視部２２と、電圧監視部２２により監視される電圧が所定の測定対象電圧になった際に検出部１１により検出された光強度を取得する光強度取得部２４と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】キセノンフラッシュランプを光源とし、測定波長範囲の各波長で異なるパルス発光時間を設定可能とし、取得信号がＡＤ変換回路において飽和しないように積算時間を設定可能な分光光度計を実現する。
【解決手段】キセノンフラッシュランプ１からの光の波長を選択するとともに、その選択した波長に応じた積算時間をＡＤ変換機回路１３に設定する。発光強度が強い波長に対しては、ＡＤ変換回路１３が飽和しない積算時間を設定する。キセノンフラッシュランプを光源１とし、測定波長範囲の各波長において異なるパルス発光時間を設定可能とし、取得信号がＡＤ変換回路１３において飽和しないように積算時間を設定可能とし、良好なＳ／Ｎ比であり、かつＡＤ変換回路１３の飽和を回避可能な分光光度計及び分光方法を実現することができる。 （もっと読む）

【課題】測定対象に応じた適切な空間分解能で複数位置の分光特性を取得可能な分光特性取得装置を提供する。
【解決手段】光照射手段１１から前記画像担持媒体９０に照射された光の反射光を複数の開口部を有する開口部列により複数の領域に分割し、分光手段１５により複数の開口部に対応する複数の回折像を形成された複数の回折像を受光手段１６の複数の画素で受光して電気信号に変換し、演算手段１７により画像担持媒体の複数の位置における反射光の光量の割合を示す分光特性を演算し、演算手段は隣接するａ個（ａは２以上の自然数）の回折像の電気信号に対応する分光特性を算出するための変換行列を記憶する変換行列記憶手段１７ａと、隣接するａ個の前記回折像の電気信号とそれに対応する変換行列とから隣接するａ個の回折像の開口部に対応する画像担持媒体の位置における分光特性を算出する分光特性算出手段１７ｂとを有する。 （もっと読む）

【課題】 発光材料の評価に好適に用いることが可能な分光測定装置、方法、及びプログラムを提供する。
【解決手段】 試料Ｓが内部に配置され、励起光を入射する入射開口部２１及び試料Ｓからの被測定光を出射する出射開口部２２を有する積分球２０と、被測定光を分光して波長スペクトルを取得する分光分析装置３０と、データ解析装置５０とを備えて分光測定装置１Ａを構成する。解析装置５０は、波長スペクトルにおいて励起光に対応する第１対象領域、及び試料Ｓからの発光に対応する第２対象領域を設定する対象領域設定部と、第１、第２対象領域を用いて波長スペクトルを解析する試料情報解析部とを有し、試料情報解析部は、励起光スペクトルについて、参照波長スペクトルでの励起光ピークを、試料の波長スペクトルでの励起光ピークに合わせ、その状態でスペクトルの減算を行う。 （もっと読む）

【課題】 測定精度を向上させることができる分光光度計を提供すること。
【解決手段】 試料セル６と、試料セル６に測定光を出射する光源部５０と、試料セル６を通過した測定光を検出する光検出器１２と、光源部５０からの測定光が光検出器１２に一定周期で入射しないようにする遮光部４１と、遮光部４１で遮光された遮光期間と、光検出器１２で得られた出力強度信号とを対応付けて記憶する記憶部２３４と、記憶部２３４に記憶された入射期間の出力強度信号Ｓと遮光期間の出力強度信号ＤＳとに基づいて、透過率又は吸光度を算出する制御部２３１とを備え、一周期として入射期間と遮光期間とをこの順で実行する分光光度計２６０であって、制御部２３１は、第Ｎ周期の入射期間の出力強度信号Ｓ_Ｎに含まれる第（Ｎ−１）周期の入射期間の出力強度信号Ｓ_Ｎ−１の影響を除去した第Ｎ周期の真出力強度信号ｓ_Ｎを算出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】単純な構成で、被測定物からの光を拡散させることなく、被測定物から射出される光の位置および方位のムラを均一化して、被測定物の所定の領域の特性を測定する。
【解決手段】被測定物の所定の領域からの発散光束をコレクタレンズ５２により略平行光束とし、コレクタレンズの出射側の焦点位置近傍に配置された第１のフライアイレンズ５３により空間的に分割し、分割された光束を互いにコンデンサレンズ５４により重畳させて、受光部５６により所望の特性に関する信号を検出する。受光部５６は、特性に関する異なる成分特性を検出する複数の受光素子を含む。 （もっと読む）

【課題】光スペクトラムを精度よく分析でき、低価格かつ小型化を実現できるスペクトラムセンサを提供する。
【解決手段】少なくとも１方向における幅が所定幅であるピンホール１１を有する配線層１０と、配線層１０を透過した光の光強度を検出するフォトダイオード２０とを備え、配線層１０は、少なくとも１方向に振動する光において所定幅に対応する所定波長より短い波長の光を、ピンホール１１において透過させる。 （もっと読む）

【課題】反射率の低い被計測物であっても輪郭を正確に計測することができる３次元計測装置を提供する。
【解決手段】
所定の波長領域を有する光を照射し被測定物で反射した反射光と基準反射光との干渉光の各波長の光強度を検出して分光干渉波形を求め、分光干渉波形と理論上の波形関数に基づいて波形解析を実行する制御手段を具備する３次元計測装置であって、被計測面が対物レンズの集光点位置と一致するように予め波形解析後の光強度のピーク位置と共焦点位置の対応をとっておき、制御手段はイメージセンサーからの検出信号に基づいて分光干渉波形を求め、分光干渉波形と理論上の波形関数に基づいて波形解析を実行し、対物レンズの集光点位置に対応する光強度を位置付け手段によって特定されたX、Y座標におけるZ座標の光強度としてメモリに保存し、該メモリに保存されたX、Y、Z座標に基づいて３次元画像を形成する。 （もっと読む）

【課題】小型で持ち運びやすく、設置場所に制限されない装置が実現可能となる、ＰＤを用いた波長スペクトル検出方法を提案することにある。
【解決手段】任意の光の波長スペクトルφ（λ）を検出する方法であって、フォトダイオードの光電変換領域に前記任意の光を入射可能に構成するとともに前記任意の光の入射方向に電界を印加して光電流を生じさせるように構成し、前記任意の光の入射後若しくは遮断後における出力である光電流値の過渡応答Ｉ（ｔ）を検出し、この過渡応答Ｉ（t）に基づいて、前記任意の光の波長スペクトルφ（λ）を計算することにより求める。 （もっと読む）

【課題】波長分解能を上げ、測定可能な被検体の範囲を広げた測定装置とプラズマ処理装置の提供。
【解決手段】厚さＤのウエハＷの表面を反射した光とウエハＷの裏面を反射した光とを入射光として分光する回折格子１０４と、回折格子１０４により分光された光を受光し、受光した光のパワーを検出するフォトダイオードをアレイ状に複数設けたフォトダイオードアレイ１０８と、フォトダイオードアレイ１０８に取り付けられ、入力された電圧を力に変換する圧電素子２００と、を備え、フォトダイオードアレイ１０８は、圧電素子２００により変換された力によって前記アレイ方向の各フォトダイオードの幅ｄに対してｄ／ｍ（ｍは２以上の整数）の変位まで移動したとき、前記受光した光のパワーを検出する、ことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】入射光の入射制限角度を高精度に制御可能な光学センサー及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】光学センサーは、受光素子（例えばフォトダイオード３０）と、受光素子の受光領域に対する入射光の入射角度を制限する角度制限フィルター４０と、を含む。入射光の波長をλとし、角度制限フィルターの高さをＲとし、角度制限フィルターの開口の幅をｄとする場合に、ｄ^２／λＲ≧２を満たす。 （もっと読む）

【課題】光路長差を伸縮させるために低価格の駆動装置を用いながらも、高精度なインターフェログラムを得ることができる分光特性測定装置及び分光特性測定方法を提供する。
【解決手段】本発明の分光特性測定装置は、被測定物Ｓの測定点から発せられた光を対物レンズ２によって固定ミラー部１６１、可動ミラー部１６２に導き、これらミラー部１６１、１６２によって反射された光を結像レンズ１８によって同一点に導く。制御部２２は可動ミラー部１６２を繰り返し移動、停止させて固定ミラー部１６１、可動ミラー部１６１によって反射された光の光路長差を間欠的に伸縮させる。処理部２４は、前記可動ミラー部１６２が各停止位置にあるときに同一点に導かれた光の強度を検出し、これら光強度とそのときの光路長差の値から補間して複数の等間隔の光路長差における光強度を求め、この光強度に基づきインターフェログラムを作成する。 （もっと読む）

【課題】Ｓ／Ｎの低下を抑制しつつ、各セルにより検出された光のゲインをセル毎に設定することができる光検出装置および観察装置を提供する。
【解決手段】標本Ａからの光を検出して電気信号に変換するセルを複数有するマルチセル光検出器５２と、マルチセル光検出器５２により変換された電気信号を増幅する光検出回路５３とを備え、光検出回路５３が、各セルにより変換された電気信号のそれぞれの増幅率を設定する入力部４４と、入力部４４により設定された増幅率に応じて１画素として積算する電気信号のサンプリング数を決定し、決定したサンプリング数の電気信号を積算するＡＤデータ演算部とを備える光検出装置５０を採用する。 （もっと読む）

【課題】読み取った分光情報と対象商品を、適切且つ容易に関連付けることのできる読取装置を提供する。
【解決手段】商品を特定する商品情報を読み取る商品情報読取部（コード読み取り部１１）と、商品情報読取部による商品情報の読み取りをトリガーとして、ハイパースペクトルカメラにより商品の分光情報を読み取る分光情報読取部（商品測定部１２）と、読み取った商品情報および分光情報を関連付けて外部装置に出力する情報出力部（ＰＯＳＩ／Ｆ部３６）と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】異常スペクトルが得られた場合、原因を容易に推測できるフーリエ変換赤外分光光度計を提供する。
【解決手段】本発明のフーリエ変換赤外分光光度計は、密閉室１０内の光学部品と、干渉光を生成する干渉計と、干渉光を検出する検出器と、検出器の検出信号からスペクトルを得る変換処理部２７を有する。検出器は、密閉室１０の窓板１７と試料室２２を透過した後の干渉光を検出する標準検出器２６と、窓板１７を透過する前の干渉光を検出する補償検出器２０とを有し、変換処理部２７は、標準検出器２６と補償検出器２０の検出信号から標準スペクトル及び補償スペクトルを得るように構成され、干渉光を窓板１７を介して密閉室１０外に放射する光路と、干渉光を補償検出器２０に入射させる光路とを切り替え可能な光路切換鏡１８と、光路切替鏡１８を制御する制御部２８を備える。標準スペクトルと補償スペクトルにおける異常の有無を検討して原因を推測する。 （もっと読む）

【課題】 測定精度の安定性と高い検出感度とを有する分光蛍光光度計を提供する。
【解決手段】 照射部１００と、試料室２０と、光検出器３２とを備える検出部３０と、励起分光器１２を制御することにより、光検出器３２で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部５１とを備える分光蛍光光度計１であって、光検出器３２は、光電子増倍管であり、光電子増倍管３２の陰極に、設定印加電圧値を印加する電圧発生部４３と、光電子増倍管３２の陽極から出力される光強度を示す電荷パルス数をカウントするカウンタ回路４４とを備え、制御部５１は、試料を分析する前に、電圧発生部４３を制御することにより、設定印加電圧値を変更し、各設定印加電圧値におけるそれぞれの電荷パルス数の時間変化を測定し、時間変化に基づいて、試料を分析する際に設定する設定印加電圧値となるプラトー電圧を決定する。 （もっと読む）

【課題】太陽電池の照射光量に対する分光感度の非線形性を補償する。
【解決手段】太陽電池評価装置１におけるソーラシミュレータ（照明光源）３の光量校正を行う光源評価装置１０において、分光放射計１３によってソーラシミュレータ３の照射光を取込み、その分光放射照度Ｌ（λ）を求める。一方、分光感度測定装置５では、白色バイアス光の強度を複数ｉ段階に変化させ、都度、分光光源から輝線照射を行うＤＳＲ法によって、太陽電池２の分光感度Ｐｉ（λ）＝Ｐ（λ，Ｉｂ）＝Ｐ（λ，∫Ｌ（λ）ｄλ）を求める。そして演算部１４は、２つの分光放射照度Ｓ（λ）および分光放射照度Ｌ（λ）と分光感度Ｐｉ（λ）とから、基準太陽光で規定の短絡電流Ｉｓｔｃとなるときの照射光エネルギーＥｓｓおよび実際にソーラシミュレータ３による照射光エネルギーＥｓｓを求め、両者が一致するようにソーラシミュレータ３の光量をフィードバック制御する。 （もっと読む）

【課題】 分光器における受光部のスペックルを軽減し、スペクトルＥ９５の高精度な計測を行うこと。
【解決手段】 計測光（レーザ光）をレンズで集光し、光ファイバ１２を通して取り込む。光ファイバ１２の出射側には、ファイバ揺動／移動機構１３が設けられており、計測の間、常時、揺動もしくは移動させる。光ファイバ１２から出射される光は、シリンドリカルレンズから構成されるコリメータレンズ１４により集光され、エタロン１５に入射する。エタロン１５から出た光は、集光レンズ１６で集光され、ＣＣＤセンサなどのセンサ１７上にフリンジ像が結像する。センサ１７により取得したデータは積算処理され、波長スケール変換された後、デコンボリューション処理され、Ｅ９５が計測される。 （もっと読む）

【課題】運用中の光信号のＯＳＮＲを簡易かつ安価な構成によって精度良く測定することのできるＯＳＮＲ測定装置を提供する。
【解決手段】ＯＳＮＲ測定装置１は、可変の通過帯域を有する波長選択部１２により、入力ポート１１に与えられる被測定光Ｌから測定対象の信号光波長に対応した光成分を選択的に取り出して遅延干渉部１４に与え、該遅延干渉部から出力される遅延干渉光のパワーを光検出部１５で検出し、波長選択部の通過帯域の帯域幅および光検出部の検出結果を基に、ＯＳＮＲ演算部１６が測定対象の信号光波長におけるＯＳＮＲを算出する。 （もっと読む）